分子熒光常見的問題和討論

碳糊電極和化學(xué)修飾碳糊電極的制備及性能綜述《生物化學(xué)與生物物理進展》1979年02期李治湘維普“://vmis.cqvip/“://vmis.cqvip/帳號：nm531密碼：131420YG-2型熒光分光光度計的試制生物化學(xué)與生物物理進展1980年第05期林波海儀器工作穩(wěn)定性差，漂移大時，應(yīng)當(dāng)考慮更換光源或光電元件常見的問題有幾個局部：測試過程中熒光峰常受到拉曼峰和銳利散射的干擾。狹縫和掃描速度的選擇對應(yīng)光譜峰的影響格外大。濾光片的不當(dāng)使用。4、如何有效消退雜散光對試驗的影響？5、在光譜區(qū)分力氣、狹縫寬度及光通量的選擇上如何有效地做到優(yōu)化地匹配和選擇？6、如何選擇不同的濾光片，從而實現(xiàn)在測試過程當(dāng)中有效地扣除多級衍射信號的影響，諸2是熒光峰，很可能是拉曼峰或其他峰。似乎并不是固體的特征峰。平頭峰：一般是信號飽和；小峰：據(jù)稱這和偏振有關(guān)。那個平頭峰可能是瑞利散射峰，那個小峰到有可能是樣品的熒光峰。狹縫太大，或者倍頻峰消滅了。粉末材料的散射問題：400-500nm樣品。這時候需要濾光片關(guān)心。一般可將儀器的激發(fā)波長(Ex)先設(shè)定為200nm，然后進展放射波長(Em)模式掃描，(Em)波長210－800nm，然后記錄全部消滅的峰值波長；轉(zhuǎn)變激發(fā)波長(Ex)后再掃描，〔或某些〔或位移很少〔或這些〕〔或峰面積〕發(fā)生轉(zhuǎn)變。將確定的熒光峰的波長作為放射波長(Em(Ex范圍要小于放射波長〔依據(jù)斯拖克斯定律波長固定下來重做真正的放射波長(Em)掃描，可以得到良好的信由于氙燈在250nm及以下力氣很弱，這樣會導(dǎo)致很強的散射光虛假信號，所以不推舉選用250nm250nm325nm，所以看到譜線的鋸齒狀波動線。對于未知樣品，樓上的方法是沒有問題，只是建議首次選取的激發(fā)波長做些修改。比方350nm--300nm--260nm--400nm--450nm激發(fā)找到放射譜后來反推。這些只是個人的閱歷，供參考。最省事的方法，將濾光片設(shè)置為“自動”。做固體時，確定要正確設(shè)置濾光片。最省事的方法，將濾光片設(shè)置為“自動”。做固體時，確定要正確設(shè)置濾光片。對于激發(fā)側(cè)而言，狹縫加大有時熒光強度反而削減。1nm的狹縫是不常常使用的，由于熒光不是紫外可見分光光度計，熒光的信號很弱；假設(shè)使我們所不期望的。一般而言，5nm的狹縫是較為適宜的；除非使用者有特別的要求。1nm5nm.3nm〔例如強度在20左右即可將光電倍增管的暗電流或噪聲也被同時放大的弊病。一般狹縫設(shè)置在1nm，假設(shè)光強度較弱或較強的話，則會增大或減小狹縫大小。5nm的話，未校正的放射光譜的強度會超過2023000，那么相應(yīng)的經(jīng)過校正的放射光譜則會被認為可信度不高?？梢栽囍{(diào)整一下激發(fā)光的狹縫，較大的狹縫可以使波動度削減，但靈敏度變差狹縫越窄,區(qū)分率越高,但靈敏度會隨之下降,信噪比降低.狹縫越寬,區(qū)分率越低,但靈敏度會隨之上升,信噪比提高,同時狹縫進入雜散光的機率也會增大.提，就是“當(dāng)熒光值保持不變時下降，要想回到原值，則必需提高復(fù)高壓。反之則反。注罷了。了儀器的其他緣由時，則要更換氙燈了。325650450樣品本身發(fā)光很弱，激發(fā)側(cè)開的太大了，加濾光片試著轉(zhuǎn)變下狹縫，峰強度太大了轉(zhuǎn)變掃描范圍就行了 那個可能就是個倍頻峰熒光光度計上常用的光柵對于一級光和二級光是沒有方法區(qū)分的。比方1200nm的一級光和600nm400nm假設(shè)以250500250nm倍頻峰。是激發(fā)波長。可以通過增加高通濾光片來去除。一個格外淺顯的說法。容器外表散射。散射光譜隨著激發(fā)波長的轉(zhuǎn)變而轉(zhuǎn)變，但熒光光譜卻不會。熒光光譜中Em=0nm0激發(fā)波長。瑞利光長與入射光一樣。拉曼光功能能量交換，使光子能量發(fā)生轉(zhuǎn)變，其波長可能長于入射光，也可能短于入射光各位請幫幫助，本人承受LS55256nm614600InstrumentParametersMeasurementtype: WavelengthscanScanmode: EmistionDatamode: FluorescenceEXWL: 256.0nmEM StartWL: 300.0nmEMEndWL: 700.0nmScanspeed: 500nm/minEXSlit: 2.5nmEMSlit: 2.5nmPMTVoltage: 800VEMCorr: Off1%T在測試過程中放射峰的位置隨激發(fā)峰位置的不同(256,280,300nm)等總是在500nm,600nm幫助性。建議你選擇更長一些的激發(fā)光波長，其他的峰目前來看有可能是有多個放射峰多導(dǎo)致?？墒羌ぐl(fā)峰我都試過300nm，350nm，每次得到的放射峰都不在同一個位置，就像圖中從其次個峰開頭都是每次變化激發(fā)峰得到的不同位置的放射峰建議其他型號光譜儀測量后比照，找出緣由。4為沒有具體的應(yīng)用工程師，所以都不知道為什么？熒光分析技術(shù)〔置于樣品池后)、樣品池及檢測系統(tǒng)組成。其構(gòu)造如以下圖。二儀器的校正(1)靈敏度校正：熒光分光光度計的靈敏度可用被檢測出的最低信號來表示，或用某一比照品的稀溶液在確定激發(fā)波長光的照耀下，能放射出最低信噪比時的熒光強度的最低濃度表示。由于影響熒光分光光度計靈敏度的因素很多，同一型號的儀器，甚至同一臺儀器在不同時間操作，所得的結(jié)果也不盡一樣。(50％或1001μg/ml(0.05mol/L)硫酸中。波長校正：假設(shè)儀器的光學(xué)系統(tǒng)或檢測器有所變動應(yīng)當(dāng)用汞燈的標準譜線對單色器波長刻度重校正要。激發(fā)光譜和熒光光譜的校正：用熒光分光光度計所測得的激發(fā)光譜或熒光光譜往往存在較明顯的誤差，其緣由較多，光的承受程度不同及檢測器的感應(yīng)與波長不呈線性陡坡時，誤差最為顯著。學(xué)誤差。三、熒光分析技術(shù)簡介用于分子熒光具有很突出的優(yōu)點。間區(qū)分熒光法應(yīng)用于免疫分析，進展成為時間區(qū)分熒光免疫分析法。同步熒光分析在熒光物質(zhì)的激發(fā)光譜和熒光光譜中選擇一適宜的波長差值出△λ系，故可用于定量分析，此法的靈敏度較高。1.5－10nm250nm，卻從220nm開頭掃起，導(dǎo)致儀器總是出錯，顯示什么overflow。熒光物質(zhì)的吸取峰和熒stokeshift〔其次版。并不是激發(fā)波長要比放射波長小多少。固然激發(fā)波長確定是比放射波長小的。通過熒光物質(zhì)的放射峰，掃描它的激發(fā)光譜，可以得到最大激發(fā)波長。然后以它的最大激發(fā)波長，掃描它的熒光放射光譜，這樣熒光才最強。Stokesshift是激發(fā)峰與放射峰之間的距離，即最大激發(fā)波長與最大放射波長之間的波長差。Stokesshift越大，瑞利效應(yīng)越小。熒光物質(zhì)的激發(fā)峰一般狀況下在吸取峰四周。5－10nm的是掃描范圍最大也就是激發(fā)波長的二倍足以。205－220nm之間，由于：這個波長的光能量太高，對反射鏡〔光源后面的那個鏡子〕和激發(fā)光柵、放射光柵以及后面的光電倍增管都是嚴峻的摧殘和虐待！燈，以盡可能延長光源的壽命〔一般是20500。就不用測熒光，由于影響熒光放射強度的因素太多了，什么都對它造成干擾。另外soaring0331SPD-10Avp型紫外檢測器波長不準故障的檢修1波長不準故障的檢修器的自校功能進展一次波長校正〔校正方法見使用說明書。校正后如仍顯示波長不準，則按面板上的Func鍵，把波長設(shè)定為254nm，并且使檢測池布滿甲醇SMPLEN〔流通池〕REFEN〔參比池〕的吸光度值。假設(shè)流VPFunc鍵，查看氘燈的使用時間是否超過2023小時。假設(shè)氘燈使用時間過長，即使氘燈能夠正常啟動，有時也發(fā)不出0nm,486nm和656nm亮故障是由光柵局部引起的。2光柵局部的檢修與調(diào)試光柵局部主要是由M1、M2、M3、石英窗口和光柵組成的，是整個光路的的亮線，從而引起波長不準。假設(shè)故障是由石英透鏡污染或光斑造成的，應(yīng)領(lǐng)先把瞎縫從底板上卸下來，縫。假設(shè)故障是由反射鏡M1、M2、M3鏡面的光斑，霉斑或污染造成的，用甲醇稀釋的棉膠液〔化學(xué)試劑商店有賣，在有光斑、霉斑或污染的鏡面上均勻地把這層薄膜漸漸取下來。用鑷子取薄膜時，確定要留神，不能劃傷鏡面。而光柵是一個相當(dāng)于1600條/mm溝槽的全息光柵，當(dāng)光柵上有光斑、霉斑或污染時，M1M2、M3一起更換。在更換光柵局部的任何一個器件之后，都必需對光路進展調(diào)試。首先，按shift0nm，然后再把模板〔調(diào)試光路的專用模具〕M1、M2、M3和光柵上，假設(shè)沒有模板，可把畫有看0nm亮線，是否與豎線重合，假設(shè)亮線不垂直，可擰松光柵支架上的光柵固M2的位置，使亮線與豎線重合。假設(shè)亮線不能同時照耀在流通池和參比池的窗口上，應(yīng)用內(nèi)六角扳手調(diào)整M2上面的螺絲，使亮線同時穿過流通池器自檢后，再進展一次波長自動校正。一般狀況下，只要0nm亮線調(diào)整準確，486nm、656nm亮線經(jīng)過波長自動校正后，都能將波長的誤差把握在±1nm以CHECKGOOD。光路時，為了削減雜散光引起的波