T-CSTM 00985-2023 低損耗介質板的復介電常數(shù)測試 分離式圓柱諧振腔法

T/CSTM

00985—2023 前

言

...............................................................................

2引 言

...............................................................................

31

范圍

...............................................................................

42

規(guī)范性引用文件

.....................................................................

43

術語和定義

.........................................................................

44

符號和縮略語

.......................................................................

45

原理

...............................................................................

56

環(huán)境條件

...........................................................................

57

儀器設備

...........................................................................

68

樣品要求

...........................................................................

69

測試步驟

...........................................................................

69.1

樣品預處理

.....................................................................

69.2

儀器備

.......................................................................

69.3

樣品尺寸測量

...................................................................

69.4

空腔校測試

...................................................................

69.5

常溫測試

.......................................................................

79.6

高溫測試

.......................................................................

79.7

低溫測試

.......................................................................

710

..............................................................................

810.1

介電常數(shù)溫度系數(shù)

..............................................................

810.2

介質損耗角正切溫度系數(shù)

........................................................

811

注意事項

..........................................................................

812

試驗報告

..........................................................................

9附錄

A（資料性）介電常數(shù)和介質損耗角正切計算

........................................

10附錄

B（資料性）測試系統(tǒng)連接框圖

....................................................

13附錄

C（資料性）起草單位和主要起草人

................................................

15T/CSTM

00985—2023

題。使用者有責任采取適當?shù)陌埠徒】荡胧?，并保證符合家有關法規(guī)規(guī)定的條件。1范圍本文件適用于測試片狀材料在微波和毫米波頻段的介電常數(shù)和介質損耗角正切，電場行于板表面。??

=

2GHz~100GHz；??′??

=

2.0~100；????????

=

1.0×10?5~1.0×10?2；??

=

?65℃~125℃。2規(guī)范性引用文件該日期對應的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。

3 術語和定義

3.1介電常數(shù)

constant

3.2介電損耗角正切

dissipation

factor對電介

4符號和縮略語8.854187817

×10

F/mT/CSTM

00985—20231010、

5原理分離式圓柱諧振腔測試方法采用分離式圓柱諧振腔進行測試，分離式圓柱諧振腔由兩個直徑為的電介質板樣品夾在兩個半腔之間，即可構成諧振腔，該諧振腔的諧振頻率和品質因數(shù)1a)1b)模型。由于法蘭處的邊緣效應所帶來的影響通常較小，所以在測試時采取如圖1b)所示模型近似計算，再通1a) TE

6環(huán)境條件

23

50%5%T/CSTM

00985—20237儀器設備

80

dB?2

?2

+5

0.001

8樣品要求

1.5

0.01

（具視

1/100

9測試步驟9.1

樣品預處理

10

b)

），否則，?2 ?0min+5?2 ?0min23℃）；d)操作前應戴上手套或者用鑷子夾取樣品，請勿用手直接接觸樣品，請勿在樣品上寫字或貼簽等。9.2

儀器備30

9.3

樣品尺寸測量

9.4

空腔校測試 b)

dB

dBT/CSTM

00985—2023d)

9.4

d)

TE

TE

TE9.5

常溫測試 b)

9.4

a)~9.4

d)

9.4

b)

~9.4

9.5

9.6

高溫測試

9.5

b)

d)

9.4

a)~9.4

9.6

b)~9.6

9.6

b)

9.7

低溫測試

9.5

b)

d)

min

9.4

a)~9.4

9.7

c)~9.7

j)

9.7b)

j)

10計算10.1

介電常數(shù)溫度系數(shù)??

10.2

介質損耗角正切溫度系數(shù)????

11注意事項 b)

d) T/CSTM

00985—202312試驗報告 1)2)3) 4) 5) 6)b) 1) 2) 3) 4)、）；5) 、

、Dk(T

、6)

7)8)9) T/CSTM

00985—2023附錄

（資料性）A.1

TE

TE

TETE

TE

2M

）和（2.99792458×10TETEp,

——

個根，其值約等于

3.83173

TE

TETE

銅的電導率，5.8×10??0

4π

×10·

10T/CSTM

00985—2023A.2

）：A.4

）方程：

時，

A.3

）：

A.9

）、公式（）、A.1111Δ/'aΔA/AT/CSTM

00985—2023Δ/'aΔA/AA.12A.4

δ的精確值

）：

Δε'

A.18Δε'

Δε'

Δε'

Δtan

ζ—由于它們的偏差造成

10

0.050.04

TE模D/H=1.4

1010

0.030.02

2

0.01

51010

10100

0.000.000.040.080.120.160.20t/D

12T/CSTM

00985—2023

（資料性）測試系統(tǒng)連接框圖B.1

B