材料科學研究方法智慧樹知到答案章節(jié)測試2023年青島理工大學

第一章測試材料的性能（力學性能和物理性能）是由其內(nèi)部的微觀組織結(jié)構(gòu)決定的。不同材料固然具有不用性能，同種成分的材料具有不同結(jié)構(gòu)時，也具有不同的性能。

A:對

B:錯

答案:A材料的四面體：合成/制備；性質(zhì)；結(jié)構(gòu)/成分；使用性能

A:錯

B:對

答案:B材料的組織形貌是指不同層次材料的相分布、形狀、大小、數(shù)量等各種晶粒的組合特征?？煞譃楸砻嫘蚊埠蛢?nèi)部組織形貌兩種。

A:對

B:錯

答案:A材料的組織形貌分析借助各種顯微技術(shù)探索材料的微觀結(jié)構(gòu)。主要包括（）等。

A:光學顯微

B:透射電子顯微

C:掃描電子顯微

D:掃描隧道顯微

答案:ABCD主要的晶體物相分析方法有X射線衍射(XRD)、電子衍射(ED)、及中子衍射(ND)，其共同的原理是利用電磁波或運動電子束、中子束等與材料內(nèi)部規(guī)則排列的原子作用產(chǎn)生相干散射，獲得材料內(nèi)部原子排列的信息，從而重組出物質(zhì)的結(jié)構(gòu)。

A:錯

B:對

答案:B在化學成分相同的情況下，晶體結(jié)構(gòu)不同或局部點陣常數(shù)的改變不會引起材料性能的變化。

A:錯

B:對

答案:A在材料的結(jié)構(gòu)測定中，X射線衍射分析仍是最主要的方法。

A:錯

B:對

答案:B中子受物質(zhì)中原子核散射，所以輕重原子對中子的散射能力差別比較小，中子衍射有利于測定輕原子的位置。

A:對

B:錯

答案:A成分譜分析用于材料的化學成分分析，包括主要化學成分及少量雜質(zhì)元素，主要基于其它物理性質(zhì)或電化學性質(zhì)與材料的特征關(guān)系而建立。成分譜種類很多，有（）等

A:原子吸收光譜、質(zhì)譜

B:熱譜

C:光譜

D:色譜

答案:ABCD近二三十年，材料測試手段呈現(xiàn)出如下的發(fā)展趨勢：

A:制樣手段個性化

B:從靜態(tài)研究材料結(jié)構(gòu)性能向動態(tài)研究材料形成過程發(fā)展

C:測試設(shè)備大型化、精密化和高科技化

D:多種手段聯(lián)合使用

答案:ABCD第二章測試X射線在穿透物質(zhì)后衰減，除主要部分是由于真吸收消耗于光電效應和熱效應外，還有一部分是偏離原來的方向，即發(fā)生了（）。

A:俄歇效應

B:熒光輻射

C:透射

D:散射

答案:D特征X射線譜：當入射波增大到與陽極靶相適應的強度時，會在連續(xù)譜上出現(xiàn)一系列強度高、范圍窄的線狀譜線，這些譜線都是與特定的物質(zhì)有嚴格恒定的關(guān)系，因此稱為特征X射線譜。

A:對

B:錯

答案:A結(jié)構(gòu)因數(shù)：結(jié)構(gòu)因數(shù)是表征單細胞對衍射強度的影響，只與原子的種類，在晶胞中的位置有關(guān)，而與晶胞大小和形狀無關(guān)。

A:對

B:錯

答案:A在入射電子束作用下被轟擊出來并離開樣品表面的核外電子叫做（）

A:X光子

B:背散射電子

C:二次電子

D:俄歇電子

答案:C當一個K層電子被激發(fā)而形成空位時，一個M層電子填補K空位，產(chǎn)生的特征X射線稱（）射線。

A:Kα

B:Mα

C:Kβ

D:Mβ

答案:C如果(hkl)的晶面間距是d，則(nhnknl)的晶面間距為

A:d

B:d/n

C:dn

D:nd

答案:B布拉格方程式：散射線發(fā)生相干衍射，也可以稱為晶面反射所必需滿足的條件。方程式為2dsinθ=nλ.

A:錯

B:對

答案:B俄歇電子產(chǎn)額隨原子序數(shù)的增加而()。

A:無規(guī)律

B:增加

C:減小

D:不變

答案:C晶體是由原子在三維空間中規(guī)則排列而成的。在研究晶體結(jié)構(gòu)時，一般只抽象出其重復規(guī)律。這種抽象的圖形即為晶面指數(shù)。

A:對

B:錯

答案:BX射線學分為三大分支：X射線透射學、X射線衍射學和X射線光譜學。

A:錯

B:對

答案:B第三章測試只在平行于光的傳播方向的平面內(nèi)的某一方向振動稱為偏振光。

A:對

B:錯

答案:B介質(zhì)的折射率與光在介質(zhì)中的傳播速度成反比。

A:錯

B:對

答案:B折射率色散:同一介質(zhì)的折射率因為所用波長的不同而不同；對于同一介質(zhì)，波長與折射率成反比。

A:對

B:錯

答案:A一束自然光穿過各向異性的晶體時分成兩束偏振光的現(xiàn)象，稱為雙折射現(xiàn)象。

A:錯

B:對

答案:B光率體是表示光波在晶體中傳播時，光波振動方向與相應折射率值之間關(guān)系的一種光學立體圖形（光性指示體）

A:錯

B:對

答案:B對于同一放大倍數(shù)的物鏡，其數(shù)值孔徑越小，分辨率越高

A:錯

B:對

答案:A顯微鏡總放大倍數(shù)=目鏡放大倍數(shù)×物鏡放大倍數(shù)

A:錯

B:對

答案:B晶體在正交偏光鏡下呈現(xiàn)黑暗的現(xiàn)象，稱為消光現(xiàn)象。

A:錯

B:對

答案:B目鏡是顯微鏡最重要的光學元件，顯微鏡的分辨能力及成像質(zhì)量主要取決于其性能。

A:對

B:錯

答案:B可見光的波長在390-760nm之間，最佳情況下，光學玻璃透鏡分辨本領(lǐng)的理論極限可達200nm。

A:錯

B:對

答案:B第四章測試二次電子數(shù)量和原子序數(shù)有明顯的關(guān)系，但對微區(qū)表面的幾何形狀十分敏感。

A:錯

B:對

答案:A影響掃描電鏡分辨率的因素是（）。

A:檢測部位的原子序數(shù)

B:其它選項都正確

C:檢測信號類型

D:電子束的束斑大小

答案:B掃描電鏡的分辨率：是通過測定圖像中兩個顆粒(或區(qū)域)間的最小距離來確定的。

A:對

B:錯

答案:A當入射電子束作光柵掃描時，若電子束在樣品表面掃描的幅度為As，相應地在熒光屏上陰極射線同步掃描的幅度為Ac，掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)為Ac和As的比值

A:對

B:錯

答案:A透射電鏡的主要性能指標有分辨本領(lǐng)、放大倍數(shù)和加速電壓。

A:對

B:錯

答案:A透射電鏡的分辨率既受衍射效應影響，也受透鏡的像差影響。

A:對

B:錯

答案:A明場像是質(zhì)厚襯度，暗場像是衍襯襯度。

A:對

B:錯

答案:B透射電子顯微鏡配置選區(qū)電子衍射裝置，使得薄膜樣品的結(jié)構(gòu)分析與形貌觀察有機結(jié)合，是X射線衍射無法比擬的優(yōu)點。

A:對

B:錯

答案:A電子探針顯微分析對樣品的損傷程度為()

A:損傷適中。

B:損傷嚴重

C:無損傷

D:損傷輕

答案:C掃描隧道顯微鏡的橫向分辨率可達

A:0.3~0.5nm

B:0.1nm

C:1~3nm

D:6-10nm

答案:B第五章測試熱分析的幾大支柱（）。

A:差熱分析（DTA）

B:熱機械分析（TMA與DMA）

C:示差掃描量熱分析（DSC）

D:熱重分析（TG）

答案:ABCD熱電效應：兩種不同材料的金屬絲組成回路，結(jié)點處溫度T和T0不相同時，可把熱能轉(zhuǎn)換成電能。

A:錯

B:對

答案:B差熱分析原理：將溫差熱電偶的一個熱端插在被測試樣中，另一個熱端插在參比物中，試樣和參比物同時升溫，測定升溫過程中兩者溫度差，得到溫度差隨溫度變化關(guān)系曲線。

A:錯

B:對

答案:B根據(jù)測量方法不同，DTA分為：功率補償型差示掃描量熱法和熱流型差示掃描量熱法。

A:錯

B:對

答案:A是在程序溫度(升／降／恒溫及其組合)過程中，由熱天平連續(xù)測量樣品重量的變化并將數(shù)據(jù)傳遞到計算機中對時間／溫度進行作圖，即得到熱重曲線。

A:錯

B:對

答案:B微商熱重分析又稱導數(shù)熱重分析(Derivativethermogravimetry，簡稱DTG)，它是記錄熱重曲線對溫度或時間的一階導數(shù)的一種技術(shù)。

A:錯

B:對

答案:B熱重曲線的基線漂移是指試樣沒有變化而記錄曲線卻指示出有質(zhì)量變化的現(xiàn)象，它造成試樣失重或增重的假象。

A:對

B:錯

答案:A熱重分析時氣相產(chǎn)物的逸出必然要通過試樣與外界空間的交界面，深而大的坩堝或者試樣充填過于緊密都會妨礙氣相產(chǎn)物的外逸，因此反應受氣體擴散速度的制約，結(jié)果使熱重曲線向低溫側(cè)偏移。

A:對

B:錯

答案:B熱機械分析法：在程序控制溫度下測量物質(zhì)的力學性質(zhì)隨溫度(或時間)變化的關(guān)系。

A:對

B:錯

答案:A線膨脹系數(shù)α為溫度升高1℃時，沿試樣某一方向上的相對伸長(或收縮)量為△t。

A:對

B:錯

答案:B第六章測試紅外光譜目前多數(shù)用在鑒別樣品作定性分析，定量分析不僅需要標樣，同時也難精確，更主要的是，由于大多數(shù)帶的位置集中于指紋區(qū)使得譜帶重疊現(xiàn)象頻繁，解疊困難。

A:對

B:錯

答案:A遠紅外區(qū)：用來研究O-H、N-H及C-H鍵的倍頻吸收。

A:錯

B:對

答案:A物質(zhì)吸收電磁輻射產(chǎn)生紅外光譜應滿足兩個條件：一是輻射光子的能量與振動躍遷所需能量相等；二是輻射與物質(zhì)之間有偶合作用。

A:對

B:錯

答案:A紅外光譜與物質(zhì)結(jié)構(gòu)有關(guān)，不同分子吸收紅外線選擇性不同，故可用紅外光譜法檢驗基團，鑒定化合物及定量測定。

A:對

B:錯

答案:AO2能產(chǎn)生紅外吸收。

A:錯

B:對

答案:A紅外光譜的強度與分子振動時偶極矩變化的平方成正比。

A:對

B:錯

答案:A當弱的倍頻峰位于某強的基頻峰附近時，它們的吸收峰強度常常隨之增加，或發(fā)生譜峰分裂。這種振動耦合稱為費米共振。

A:錯

B:對

答案:B斯托克斯線或反斯托克斯線與入射光頻率之差為化學位移。

A:對

B:錯

答案:B拉曼位移的大小與入射光的頻率無關(guān)，只與分子的能級結(jié)構(gòu)有關(guān)。

A:對

B:錯

答案:A拉曼活性取決于振動中極化度是否變化，只有極化度有變化的振動才是拉曼活性的。

A:錯

B:對

答案:B核磁共振波譜是物質(zhì)與電磁波相互作用而產(chǎn)生的，屬于吸收光譜（波譜）范疇。

A:對

B:錯

答案:A所有的原子核均能產(chǎn)生核磁共振

A:對

B:錯

答案:B核自旋磁場與外磁場相互作用產(chǎn)生進動稱為簡諧振動。

A:對

B:錯

答案:B自旋偶合不影響化學位移，但會使吸收峰發(fā)生裂分，使譜線增多。

A:對

B:錯

答案:A第七章測試壓汞和氣體吸附法所測定的孔是開口孔，閉口孔因流體不能滲入，不在測試范圍內(nèi)。

A:錯

B:對

答案:B總孔隙率高的混凝土，滲透性一定高。

A:錯

B:對

答案:A使用壓汞儀測定水泥基材料的孔隙結(jié)構(gòu)，需要建立試驗數(shù)據(jù)與孔結(jié)構(gòu)之間的相關(guān)關(guān)系，因而首先要對水泥基材料的孔隙系統(tǒng)進行必要的假設(shè)——孔結(jié)構(gòu)柱狀毛細管系統(tǒng)假定，即認為材料中的孔隙是相互連通的具有一定半徑的圓柱狀孔隙。

A:對

B:錯

答案:A中值孔徑指的是在孔隙網(wǎng)絡(luò)中數(shù)量最多的孔的孔徑，也就是在水泥石或固體材料中出現(xiàn)幾率最大的孔隙。

A:錯

B:對

答案:A壓力通過液壓油傳遞給汞，升壓方式有連續(xù)掃描加壓和步進掃描加壓兩種方式

A:對

B:錯

答案:A低壓系統(tǒng)主要用來注汞和測量（）的結(jié)構(gòu)。

A:大孔

B:微孔

C:中孔

D:小孔

答案:A綜合考慮實驗結(jié)果可靠性和成本，壓汞試驗建議樣品數(shù)量取為（）個

A:2

B:3

C:1