地質(zhì)雷達(dá)探測研究報(bào)告

11/9個(gè)人收集整理僅供參考學(xué)習(xí)目 錄11.311.422現(xiàn)場探測45577個(gè)人收集整理僅供參考學(xué)習(xí)概述工程概況〔松山～道義工程土建施工第四合同段工程學(xué)院站～遼寧大學(xué)站區(qū)間〔以下簡稱工～遼區(qū)間〕.區(qū)K5+283.200～K6+584.100，區(qū)間全長1300.9米.本次探測區(qū)域位于工程學(xué)院站至遼寧大學(xué)站區(qū)20230506日，探測階段為完工探測.工作內(nèi)容2023年05月06日14點(diǎn)對工～.80Mhz天線進(jìn)展探測.探測工作量京沈街〕實(shí)際布置測線9條，探測累計(jì)長1677m21條剖面，詳見雷達(dá)測線圖及雷達(dá)數(shù)據(jù)圖.本次探測測線地實(shí)際長度如表1所示：測線編號工～遼區(qū)間完工探測測線位置測線長度一覽表區(qū)間里程1測線總長〔m〕①②左線左測線〔m〕左線中心測線〔m〕K5+283～K5+843、K6+120～K6+260、682672③左線右測線〔m〕K6+323～K6+373260個(gè)人收集整理僅供參考學(xué)習(xí)④～⑨ 聯(lián)絡(luò)通道加密測線 K6+195合計(jì)

631677檢測結(jié)果分類標(biāo)準(zhǔn)檢測結(jié)果分類如表2所示.檢測結(jié)果分類表 表2類別 特征Ⅰ 地層密實(shí)、無高含水Ⅱ 小范圍高含水、土質(zhì)疏松脫空、大范圍高含水、大范圍Ⅲ土質(zhì)疏松Ⅳ 較大脫空、水囊注：地層地具體描述見檢測結(jié)果.現(xiàn)場探測儀器設(shè)備

建議無需處理加強(qiáng)檢測鉆孔驗(yàn)證、視驗(yàn)證結(jié)果進(jìn)一步處理應(yīng)馬上驗(yàn)證，準(zhǔn)時(shí)處理〔必要時(shí)實(shí)行搶險(xiǎn)措施〕RIS-K280MHz屏蔽天線.2/9個(gè)人收集整理僅供參考學(xué)習(xí)圖1 RIS-K2型探地雷達(dá)主機(jī)RIS-K2型探地雷達(dá)主要用于工程地質(zhì)勘測，如地下管線、建筑、路基、地基、節(jié)理帶斷裂帶分布、地下溶洞及地下水分布、河床形態(tài)爭論，滑坡分析、淺.因此選定地該型雷達(dá)系統(tǒng).為各種病害地防治供給詳實(shí)地?cái)?shù)據(jù)及技術(shù)支持.主要采集參數(shù)掃描速率：850掃/秒脈沖重復(fù)頻率：400KHz(高速地脈沖重復(fù)頻率使數(shù)據(jù)收集更快)時(shí) 窗：256nsec采樣點(diǎn)數(shù)：5121~32768分辨率：5psec工作溫度：－10～50℃3/9個(gè)人收集整理僅供參考學(xué)習(xí)A/D轉(zhuǎn)換：16bit探測方法原理等優(yōu)點(diǎn).探地雷達(dá)由一體化主機(jī)、天線及配套軟件等局部組成，依據(jù)電磁波在有(MHz-GHz)，當(dāng)其遇到不均勻體(界面)時(shí)會反射局部電磁波，其反射系數(shù)解譯，到達(dá)識別隱蔽目標(biāo)物地目地.上地地面反射波與反射波地時(shí)間差ΔT，即可據(jù)下式算出特別地埋藏深度H：HVT 2 (1)式中，H即為目標(biāo)層厚度；V是電磁波在地下介質(zhì)中地傳播速度，其大小由下式表示：VC (2)3×108m/s；ε為相對介電常數(shù)，取決于地下各層構(gòu)成物質(zhì)地介電常數(shù).雷達(dá)可測量信號到達(dá)目標(biāo)地傳輸時(shí)間，利用傳播速率計(jì)算出目標(biāo)地距離.

當(dāng)滿足下面條件時(shí)，隱蔽物可由雷達(dá)探出：4/91、在天線信號范圍之內(nèi)5/9個(gè)人收集整理僅供參考學(xué)習(xí)圖2 探地雷達(dá)工作原理示意圖r可表示為：rr 112(3)2式中，ε1、ε2為界面上、下介質(zhì)地相對介電常數(shù).信號越強(qiáng).雷達(dá)波地穿透深度主要取決于地下介質(zhì)地電性和中心頻率.導(dǎo)電率越高，穿透深度越小；中心頻率越高，穿透深度越小，反之亦然.探測結(jié)果與分析資料分析與解釋探地雷達(dá)數(shù)據(jù)處理包括預(yù)處理〔標(biāo)記和樁號校正，添加標(biāo)題、標(biāo)識等〕和3〔包括電磁波速度，振幅和波形等〕來幫助解釋.個(gè)人收集整理僅供參考學(xué)習(xí).下面為數(shù)據(jù)處理流程圖數(shù)據(jù)采集數(shù)據(jù)采集數(shù)據(jù)傳輸文件編輯文件預(yù)處理數(shù)據(jù)處理零線設(shè)定各種濾波偏移各種變換分層處理計(jì)算介電常數(shù)速度計(jì)算處理效果參數(shù)計(jì)算圖形分析編輯圖形修飾注釋輸出結(jié)果圖3 探地雷達(dá)數(shù)據(jù)處理流程圖檢測結(jié)果

個(gè)人收集整理僅供參考學(xué)習(xí).數(shù)據(jù)進(jìn)展文件預(yù)處理，數(shù)據(jù)處理和分析比對.在此只對有效數(shù)據(jù)反映地信息進(jìn)展解譯.I類地層，密實(shí)程度高，未覺察空洞、水囊等地質(zhì)病害.附圖版權(quán)申明版權(quán)為個(gè)人全部Thisarticleincludessomeparts,版權(quán)為個(gè)人全部Thisarticleincludessomeparts,includingtext,pictures,anddesign.Copyrightispersonalownership.地規(guī)定，不得侵害本網(wǎng)站及相關(guān)權(quán)利人地合法權(quán)利.除此以外，將本許可，并支付酬勞.Usersmayusethecontentsorservicesofthisarticleforpersonalstudy,researchorappreciation,andothernon-commercialornon-profitpurposes,butatthesametime,個(gè)人收集整理僅供參考學(xué)習(xí)theyshallabidebytheyshallabidebytheprovisionsofcopyrightlawandotherrelevantlaws,andshallnotinfringeuponthelegitimaterightsofthiswebsiteanditsrelevantobligees.Inaddition,whenanycontentorserviceofthisarticleisusedforotherpurposes,writtenpermissionandremunerationshallbeobtainedfromthepersonconcernedandtherelevantobligee.轉(zhuǎn)載或引用本文內(nèi)容必需是以聞性或資料性公共免費(fèi)信息為使用目地地合理、善意引用，不得對本文內(nèi)容原意進(jìn)展曲解、修改，并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任.Reproductionorquotation轉(zhuǎn)載或引用本文內(nèi)容必需是以聞性或資料性公共免費(fèi)信息為使用目地地合理、善意引用，不得對本文內(nèi)容原意進(jìn)展曲解、修改，并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任.Reproductionorquotationofthecontentofthisarticlemustbereasonableandgood-faithcitationfortheuseofnewsorinformativepublicfreeinformation