數(shù)字電路實驗一基本門電路邏輯功能測試課件

數(shù)字電子技術(shù)實驗實驗一

基本門電路邏輯功能測試

實驗二中規(guī)模組合邏輯電路應(yīng)用（一）實驗三中規(guī)模組合邏輯電路應(yīng)用（二）實驗四利用EDA軟件進(jìn)行組合邏輯電路的設(shè)計實驗五

觸發(fā)器設(shè)計及應(yīng)用

實驗六計數(shù)器的設(shè)計及應(yīng)用

實驗七555定時器的應(yīng)用

實驗八實驗考試實驗內(nèi)容數(shù)字電子技術(shù)實驗實驗一

基本門電路邏輯功能測試一、實驗?zāi)康?、熟悉基本門電路的邏輯功能及測試方法2、掌握用SSI設(shè)計組合邏輯電路的方法3、用實驗驗證所涉及電路的邏輯功能二、實驗儀器及器材1、數(shù)字邏輯實驗臺2、集成塊74LS00、74LS32、74LS86各一片3、導(dǎo)線若干按集成度分：小規(guī)模（SSI）：每片1—10個器件，中規(guī)模（MSI）：每片10—100個器件大規(guī)模（LSI）：每片數(shù)千個器件超大規(guī)模（VLSI）：每片>>10000器件按電路結(jié)構(gòu)和工作原理分：組合邏輯電路：無記憶，輸出與以前狀態(tài)無關(guān)時序邏輯電路：有記憶，輸出與以前狀態(tài)有關(guān)實驗原理2.邏輯電路的分類：3.組合邏輯電路的設(shè)計實驗原理組合電路：輸出僅由輸入決定，與電路當(dāng)前狀態(tài)無關(guān)；電路結(jié)構(gòu)中無反饋環(huán)路（無記憶）組合電路的描述方法主要有邏輯表達(dá)式、真值表、卡諾圖和邏輯圖等。

輸入到輸出之間沒有反饋回路。電路不含記憶單元。組合電路特點:實驗原理

邏輯變量：取值僅有邏輯“0”和邏輯“1”

邏輯代數(shù)：按一定邏輯關(guān)系進(jìn)行代數(shù)運算（與、或、非、與非、異或……)實驗原理4.邏輯變量和邏輯代數(shù)的含義74LS00實驗原理四、實驗內(nèi)容及步驟1.二輸入與非門74LS00的邏輯功能測試(結(jié)果填入表1.1)實驗一

基本門電路邏輯功能測試實驗內(nèi)容及步驟3.二輸入異或門74LS86的邏輯功能測試(結(jié)果填入表1.1)表1.1門電路邏輯功能表

實驗內(nèi)容及步驟異或解：①邏輯抽象輸入變量：主裁判為A，副裁判為B、C。判明成功為1，失敗為0；輸出變量：舉重成功與否用變量Y表示，成功為1，失敗為0；邏輯真值表4.用與非門設(shè)計一個舉重裁判表決電路。設(shè)舉重比賽有3個裁判，一個主裁判和兩個副裁判。只有當(dāng)兩個或兩個以上裁判判明成功，并且其中有一個為主裁判時，表明舉重成功。實驗內(nèi)容及步驟

用74LS00與非門電路組成的半加器電路如圖3-1所示。5.測試由門電路組成的半加器的邏輯功能實驗內(nèi)容及步驟

能實現(xiàn)兩個一位二進(jìn)制數(shù)的算術(shù)加法及向高位進(jìn)位，而不考慮低位進(jìn)位的邏輯電路

1.由邏輯圖寫出邏輯表達(dá)式。2.列出真值表，并化簡。3.按圖3-1連接電路，驗證邏輯關(guān)系。將實驗結(jié)果填如表3-1中。其中:A---加數(shù)；B---被加數(shù)；

S---本位和；C---進(jìn)位。實驗內(nèi)容及步驟