GB/T 7991-2003搪玻璃層厚度測(cè)量電磁法

ICS71.120.99:25.220.50G94中華人民共和國國」家標(biāo)準(zhǔn)GB/T7991-2003代替GB/T7991—1987塘玻璃層厚度測(cè)量電磁法Measurementofvitreousandporcelainenamelcoatingthickness-Magneticmethod(ISO2178:1982.No-magneticecoatingsonmagneticsubstrates-Measurementofcoatingthickness--Magneticmethod,MOD)2003-06-16發(fā)布2004-01-01實(shí)施中華人民共和國發(fā)布國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

中華人民共和國國國家標(biāo)準(zhǔn)塘玻璃層厚度測(cè)量電磁法GB/T7991-2003中中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復(fù)興門外三里河北街16號(hào)郵政編碼：100045電話：63787337、637874472003年9月第一版2004年11月電子版制作書號(hào)：155066·1-19849版權(quán)專有侵權(quán)必究舉報(bào)電話：010)68533533

GB/T7991-2003前本標(biāo)準(zhǔn)修改采用ISO2178：1982《磁性金屬基體上的非磁性涂層厚度的測(cè)定磁性測(cè)量法》英文版）本標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)ISO2178：1982重新起草本標(biāo)準(zhǔn)在采用ISO2178:1982時(shí)，依據(jù)塘玻璃設(shè)備的特點(diǎn)和磁性測(cè)厚儀目前的技術(shù)水平進(jìn)行了修改。有關(guān)技術(shù)性差異已編入正文中并在它們所涉及的條款的頁邊空白處用垂直單線標(biāo)識(shí)。在附錄A中給出了技術(shù)性差異及其原因一覽表.以供參考。為便于使用·對(duì)于ISO2178:1982本標(biāo)準(zhǔn)還做了下列編輯性修改：，“本國際標(biāo)準(zhǔn)”一詞改為"本標(biāo)準(zhǔn)”；刪除ISO2178：1982的前言；將一些適用于國際標(biāo)準(zhǔn)的表述改為適用于我國標(biāo)準(zhǔn)的表述本標(biāo)準(zhǔn)代替（B/T7991—1987《塘玻璃層的厚度測(cè)量電磁法》本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T7991—1987相比主要有以下不同：刪刪除了GB/T7991—1987的第1章“定義”；依據(jù)ISO2178:1982,增加了本標(biāo)準(zhǔn)第3章中的3.6、3.7、3.8、3.10、3.12,第4章中的4.2、4.3.1、4.3.4.第5章中的5.3、5.5、5.6、5.7、5.8、5.9、5.10。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A為資料性附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由中國石油和化學(xué)工業(yè)協(xié)會(huì)提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國塘玻璃設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：天華化工機(jī)械及自動(dòng)化研究設(shè)計(jì)院、溜博工業(yè)塘瓷廠、山東濟(jì)寧超聲電子儀器廠沈陽市東華檢測(cè)儀器廠。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：桑臨春、沙慶謙、張品、楊長明、梁彩霞。本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：GB/T7991-1987.

GB/T7991-2003塘玻璃層厚度測(cè)量電磁法范圍本標(biāo)準(zhǔn)適用于用電磁法測(cè)量磁性基體上的塘玻璃層厚度的方法原理用電磁法測(cè)量通過覆蓋層與基體金屬磁路磁阻的變化而得到覆蓋層的厚度影響測(cè)量精度的因素31塘玻璃層厚度塘玻璃層厚度的變化會(huì)影響測(cè)量精度，與所選用的儀器有關(guān)。對(duì)薄的塘玻璃層這個(gè)精度是一個(gè)常數(shù)值,與厚度無關(guān)；對(duì)于厚的塘玻璃層.其精度隨塘玻璃層厚度的增加有所降低。3.2基體金屬的磁性磁性測(cè)厚儀受基體金屬磁性變化的影響(低碳鋼的磁性變化可以認(rèn)為是輕微的）為了避免熱處理和冷加工因素的影響·應(yīng)用與被測(cè)件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)樣來校準(zhǔn)儀器。最好用未塘玻璃前的試件來校準(zhǔn)。3.3基體金屬厚度每種儀器都對(duì)被測(cè)件的基體金屬有一個(gè)臨界厚度的要求，超過這個(gè)厚度，測(cè)定值不會(huì)受到基體金屬厚度增加的影響。如果儀器制造廠未提供本臺(tái)儀器的臨界厚度值，應(yīng)通過試驗(yàn)確定。3.4邊緣效應(yīng)被測(cè)件表面形狀的突變會(huì)影響磁性測(cè)厚儀的準(zhǔn)確性。因此·太靠近被測(cè)件邊緣或拐角處的測(cè)試數(shù)據(jù)是不可靠的.除非該儀器針對(duì)上述條件做了校準(zhǔn)。這種影響可能延伸到距邊角15mm處。3.5曲率被測(cè)件的曲率半徑越小.影響越顯著。這與儀器的類型有相當(dāng)大的關(guān)系。用雙極測(cè)頭測(cè)厚儀測(cè)量時(shí).測(cè)頭與圓柱體的軸向平行或垂直放置，讀數(shù)會(huì)不同。。單極測(cè)頭如果測(cè)頭發(fā)生了不規(guī)則磨損，也會(huì)產(chǎn)生類似的現(xiàn)象。因此·在彎曲試樣上測(cè)量前儀器要針對(duì)這種情況進(jìn)行專門校準(zhǔn)，否則.測(cè)量數(shù)據(jù)不可靠。3.6表面粗糙度如果在被測(cè)件粗糙表面上同一參考面積內(nèi)所測(cè)得的一系列數(shù)值明顯地超過儀器固有的重現(xiàn)性，則在某一點(diǎn)測(cè)量的次數(shù)至少應(yīng)增加到5次3.7基體金屬機(jī)加工方向用雙極測(cè)頭或被磨損不平整的單極測(cè)頭的儀器測(cè)量時(shí),儀器讀數(shù)會(huì)受到磁性基體金屬機(jī)械加工（如軋制)方向的影響,測(cè)量值會(huì)隨測(cè)頭在被測(cè)件表面上放置的方向而變化3.8剩磁基體金屬中的剩磁對(duì)恒定磁場(chǎng)測(cè)厚儀測(cè)量的準(zhǔn)確性有影響。如果使用交變磁場(chǎng)磁阻型測(cè)厚儀