GB/T 7235-2004產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)評(píng)定圓度誤差的方法半徑變化量測(cè)量

ICS17.040.20J04中華人民共和國(guó)國(guó)1家標(biāo)準(zhǔn)GB/T7235—2004代格GB/T7235-1987產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范（GPS)評(píng)定圓度誤差的方法半徑變化量測(cè)量GeometricalProductSpecifications(GPS)—Methodsfortheassessmentofdeparturefromroundness-Measurementofvariationsinradius2004-11-11發(fā)布2005-07-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局愛(ài)布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T7235—2004前本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T7235—1987(評(píng)定圓度誤差的方法半徑變化量測(cè)量》本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T7235—1987相比主要變化如下：-增加了標(biāo)準(zhǔn)的前言，使標(biāo)準(zhǔn)更完善。標(biāo)準(zhǔn)的技術(shù)內(nèi)容與產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)標(biāo)準(zhǔn)體系協(xié)調(diào)一致。在標(biāo)準(zhǔn)編寫格式上按新的GB/T1.1的規(guī)定作了相應(yīng)的修改。本標(biāo)準(zhǔn)附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E為資料性附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)產(chǎn)品尺寸和幾何技術(shù)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：機(jī)械科學(xué)研究院、北京計(jì)量科學(xué)研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：王欣玲、陳月祥、吳迅。本標(biāo)淮所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：-GB/T7235-1987。

GB/T7235—2004產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)評(píng)定圓度誤差的方法半徑變化量測(cè)量1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用接觸式(觸針式)儀器測(cè)量半徑變化量評(píng)定圓度誤差的方法和儀器的一般特性本標(biāo)準(zhǔn)適用于在給定條件下，經(jīng)輪廊轉(zhuǎn)換，以下列任一圓心來(lái)評(píng)定零件輪廊的圓度誤差。-最小區(qū)域圓圓心：最最小二乘圓圓心；最小外接圓圓心；最大內(nèi)接圓圓心注：給定條件包括觸頭、電子濾波器的頻率特性(如使用的話).圖形或數(shù)字描述輪席的許可偏心(通常為圖形平均半·的7%～15%,見附錄E),測(cè)量截面的位置或與零件某些特征有關(guān)的截面位置。范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn).然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T1182—1996形狀和位置公差通則、定義、符號(hào)和圖樣表示法（eqvISO1101:1996)GB/T7234—2004產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)圓度測(cè)量術(shù)語(yǔ)、定義及參數(shù)術(shù)語(yǔ)定義GB/T1182—1996和GB/T7234—2004確立的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)儀器4.1儀器分類和一般要求接觸式圓度測(cè)量?jī)x分二種：傳感器旋轉(zhuǎn)式：帶有觸頭的傳感器隨主軸旋轉(zhuǎn)，放置在工作臺(tái)上的被測(cè)零件固定不動(dòng)。工作臺(tái)旋轉(zhuǎn)式：帶有觸頭的傳感器固定，放置在工作臺(tái)上的被測(cè)零件隨工作臺(tái)一起旋轉(zhuǎn)儀器測(cè)量結(jié)果有兩種輸出方式圖形記錄式：b）參數(shù)直接顯示式。同一儀器可具有上述一種或兩種輸出方式儀器觸頭應(yīng)符合4.1.1～4.1.3的要求。4.1.1觸頭型式及其尺寸被測(cè)零件的表面特征是選擇觸頭型式的首要條件.為滿足測(cè)量被測(cè)表面不規(guī)則的特征和大小的不同要求，觸頭有不同型式，如圖1～圖4所示