標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 7220-2004 產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS) 表面結(jié)構(gòu) 輪廓法 表面粗糙度 術(shù)語(yǔ) 參數(shù)測(cè)量》相較于《GB/T 7220-1987》,在內(nèi)容上進(jìn)行了多方面的更新與調(diào)整。新標(biāo)準(zhǔn)更加注重與國(guó)際接軌,采用了ISO相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的最新成果,以確保其適用性和先進(jìn)性。具體變化包括但不限于以下幾個(gè)方面:
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術(shù)語(yǔ)定義更為精確:新版標(biāo)準(zhǔn)對(duì)表面粗糙度相關(guān)的術(shù)語(yǔ)和定義進(jìn)行了重新審視與修訂,使之更加準(zhǔn)確地反映了當(dāng)前的技術(shù)水平和發(fā)展趨勢(shì)。
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參數(shù)種類增加:根據(jù)實(shí)際應(yīng)用需求及國(guó)際發(fā)展趨勢(shì),《GB/T 7220-2004》增加了新的表面粗糙度參數(shù),這些新增加的參數(shù)能夠更好地描述不同類型的表面特性,從而滿足更廣泛的應(yīng)用場(chǎng)景。
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測(cè)量方法改進(jìn):針對(duì)表面粗糙度的測(cè)量方法,《GB/T 7220-2004》引入了更多現(xiàn)代化技術(shù)和手段,提高了測(cè)量精度與效率。同時(shí),對(duì)于某些特定條件下的特殊要求也給出了具體的指導(dǎo)原則。
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數(shù)據(jù)處理方式更新:隨著信息技術(shù)的發(fā)展,《GB/T 7220-2004》還特別強(qiáng)調(diào)了數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)在表面粗糙度數(shù)據(jù)分析中的應(yīng)用,為用戶提供了一套完整的從數(shù)據(jù)采集到結(jié)果輸出的操作流程。
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附錄資料豐富化:為了幫助讀者更好地理解和使用本標(biāo)準(zhǔn),《GB/T 7220-2004》提供了更為詳盡的背景信息、案例分析以及與其他相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)之間的聯(lián)系說明等內(nèi)容,增強(qiáng)了其實(shí)用價(jià)值。
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2004-11-11 頒布
- 2005-07-01 實(shí)施
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GB/T 7220-2004產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)輪廓法表面粗糙度術(shù)語(yǔ)參數(shù)測(cè)量-免費(fèi)下載試讀頁(yè)文檔簡(jiǎn)介
ICS17.040.20J04中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T7220—2004代替GB/T7220—1987產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)輪廊法表面粗糙度術(shù)語(yǔ)參數(shù)測(cè)量GeometricalProductSpecifications(GPS)—Surfacetexture-Profilemethod-Surfaceroughness-Terminology一Measurementofsurfaceroughnessparameters2004-11-11發(fā)布2005-07-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T7220—2004前本標(biāo)準(zhǔn)是對(duì)(B/T7220—1987《表面粗糙度術(shù)語(yǔ)參數(shù)測(cè)量》的修訂。修訂后的標(biāo)準(zhǔn)在技術(shù)內(nèi)容上與1987年標(biāo)準(zhǔn)和現(xiàn)行的產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)新標(biāo)準(zhǔn)體系基本一致·滿足了國(guó)內(nèi)各有關(guān)行業(yè)的需求。本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T7220—1987相比主要變化如下:根據(jù)GB/T3505-2000.對(duì)GB/T7220—1987標(biāo)準(zhǔn)的術(shù)語(yǔ)定義進(jìn)行了協(xié)調(diào)在標(biāo)準(zhǔn)編寫格式上按新的GB/T1.1的規(guī)定作了相應(yīng)的修改。修改后的版本·作為GB/T6062—2002的補(bǔ)充。所涉及到的相同定義·均應(yīng)以GB/T6062為準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)產(chǎn)品尺寸和幾何技術(shù)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:機(jī)械科學(xué)研究院、時(shí)代集團(tuán)公司、中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院、北京市計(jì)量科學(xué)研究所哈爾濱量具刃具廠本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:王欣玲、王忠濱、高思田、吳迅、郎巖梅本標(biāo)準(zhǔn)于1987年1月首次發(fā)布。
GB/T7220—2004產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)輪廊法表面粗糙度:術(shù)語(yǔ)參數(shù)測(cè)量范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了有關(guān)表面結(jié)構(gòu)(粗糙度、表面波紋度和原始輪廊)參數(shù)測(cè)量的術(shù)語(yǔ)及定義本標(biāo)準(zhǔn)適用于輪席法評(píng)定表面結(jié)構(gòu)參數(shù)測(cè)量的術(shù)語(yǔ)定義。范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勤誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn).然而·鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。表面結(jié)構(gòu)GB/T3505-2000產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范輪廊法表面結(jié)構(gòu)的術(shù)語(yǔ)、定義及參數(shù)(eqvISO4287:1997)2產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)輪廊法GB/T6062-2002接觸(觸針)式儀器的標(biāo)稱特性(eqvISO3274:1996)3術(shù)語(yǔ)和定義由GB/T3505和GB/T6062確立的以及下列的術(shù)語(yǔ)和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。輪廊轉(zhuǎn)換profiletransformatior在測(cè)量過程的任一階段(如:觸針滑移、濾波、記錄等)預(yù)期地或非預(yù)期地導(dǎo)致輪席表現(xiàn)形式產(chǎn)生變換的過程。3.2轉(zhuǎn)換輪廊transrormedprorile由轉(zhuǎn)換結(jié)果所產(chǎn)生的輪廊。3.3預(yù)期輪魔轉(zhuǎn)換intentionalDrofiletransformation按規(guī)定的要求(對(duì)給定某一測(cè)量的具體要求)測(cè)量時(shí),應(yīng)進(jìn)行的輪廊轉(zhuǎn)換,例如:將表面輪廊轉(zhuǎn)換成電信號(hào),以便能使用電測(cè)儀器;測(cè)量時(shí)用濾波器按波長(zhǎng)分離出與粗糙度、波紋度和原始輪廊對(duì)應(yīng)的輪廊成分。3.4非預(yù)期輪廊轉(zhuǎn)換由于測(cè)量?jī)x器或其個(gè)別部分不完善,所產(chǎn)生的輪廊轉(zhuǎn)換(通常視為輪廊信息失真)例如:當(dāng)具有一定針尖半徑的觸針滑過輪廊進(jìn)行測(cè)量時(shí).所產(chǎn)生的輪廊信息失真。3.5軌跡輪摩tr
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