標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 5225-1985 金屬材料定量相分析 X射線衍射K值法》是一項國家標(biāo)準(zhǔn)，該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用X射線衍射技術(shù)對金屬材料中不同相進行定量分析的方法。它基于X射線衍射強度與樣品中特定相的含量之間的關(guān)系來確定材料內(nèi)各組成相的比例。

根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn)，首先需要制備適合X射線衍射測試的樣品，并確保其表面平整、無污染。然后，在選定合適的實驗條件下（如輻射源、掃描速度等），利用X射線衍射儀獲取樣品的衍射圖譜。通過對所得圖譜中各個峰的位置和強度進行分析，可以識別出存在于樣品中的各種相及其相對含量。

標(biāo)準(zhǔn)中提到的“K值”是指一種用于校正因吸收效應(yīng)而導(dǎo)致的強度差異的因素，通過引入K值修正，能夠更準(zhǔn)確地反映實際存在的相比例。具體而言，對于每種被測相來說，都需要計算相應(yīng)的K值，這通常涉及到選擇一個或多個參考物質(zhì)來進行對比實驗以獲得必要的參數(shù)。


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  • 本標(biāo)準(zhǔn)已被廢除、停止使用，轉(zhuǎn)為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
  • 1985-07-18 頒布
  • 1986-07-01 實施
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UDC669:620.186中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB5225-85金屬材料定量相分析——X射線衍射K值法Metalmaterials-Qwantitativephaseanalysis-aValueK"methodofX-rayditsracsion1985-07-18發(fā)布1986-07-01施家標(biāo)準(zhǔn)局國批準(zhǔn)

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)金屬材料定量相分析-X射線衍射K值法GB5225-85中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復(fù)興門外三里河北街16號郵政編碼：100045電話：63787337、637874471986年2月第一版20%5年1月電子版制作書號：15169·1-3518版權(quán)專有侵權(quán)必究舉報電話：（010）68533533

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)UDCC669:620.186金屬材料定量相分析GB5225-85-X射線衍射K值法Metalmaterials-Quantitativephaseanalysis-ValueK'methodofX-raydiffraction本標(biāo)準(zhǔn)適用于測量金屬材料多晶粉末中的物相含量。也可供其他材料的多晶粉末試樣定量相分析參照使用。1原理一種物相的X射線行射花樣是該物相的晶體結(jié)構(gòu)特性表征。用K值法對多相試樣進行X射線行射定量分析時，某相的行射線累積強度與該相在試樣中的含城有公式（1)、（2）的關(guān)系（推導(dǎo)見附錄A)：1aChikili）X-（1）1Chikil）K-·2)TAiY）式中：-4相在待測粉末中的重量含量：-比例常數(shù)。對同-輻射，該常數(shù)與待測相及參考物質(zhì)有關(guān)：1aChiii-待測粉末加入?yún)⒖嘉镔|(zhì)后，a相（h.k.li）晶面的衍射線累積強度;IhikilD-待測粉末加人參考物質(zhì)后，參考物質(zhì)（hki）晶面的衍射線累積強度lChilkili)-參考試樣中a相(hikil:）晶面的衍射線累積強度；IChkilD-參考試樣中參考物質(zhì)（hibil）晶面的衍射線累積強度；待測粉末加人參考物質(zhì)后，參場物質(zhì)的重量：待待測粉末加人參務(wù)物質(zhì)時，所取待測粉未的重量；參考試樣中參考物質(zhì)的重量；一參考試樣中待測相粉末的重量。本方法特點是通過先求K，值最后測定X。。注：參考試樣指求人，值時所配制的試樣。2試樣的要求和制備2.1配樣2.1.1稱重配樣稱重時，重量的相對偏離最不得大}0.1%。2.1.2參考物質(zhì)與參考試樣參考物質(zhì)的選拌選擇參考物質(zhì)的原則是

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