標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 4937-1995 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法》相對(duì)于《GB 4937-1985》,主要在標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)、部分條款內(nèi)容以及技術(shù)要求方面進(jìn)行了調(diào)整與更新。首先,從標(biāo)準(zhǔn)的編號(hào)上看,《GB 4937-1985》升級(jí)為《GB/T 4937-1995》,其中“T”表示推薦性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),這表明了標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)由強(qiáng)制性轉(zhuǎn)為了推薦性。
在內(nèi)容上,《GB/T 4937-1995》對(duì)原版中的某些試驗(yàn)條件、參數(shù)設(shè)定等細(xì)節(jié)進(jìn)行了修訂或補(bǔ)充,旨在更好地適應(yīng)當(dāng)時(shí)的技術(shù)發(fā)展水平及市場(chǎng)需求。例如,在機(jī)械振動(dòng)測(cè)試中可能增加了更多關(guān)于頻率范圍、加速度值的具體規(guī)定;對(duì)于溫度循環(huán)試驗(yàn),則可能細(xì)化了高低溫之間的轉(zhuǎn)換速率要求,以更準(zhǔn)確地模擬實(shí)際使用環(huán)境下的應(yīng)力情況。此外,還可能引入了一些新的測(cè)試項(xiàng)目或者改進(jìn)了原有的測(cè)試流程,以確保半導(dǎo)體器件能夠滿足日益嚴(yán)格的可靠性標(biāo)準(zhǔn)。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替
- 1995-12-22 頒布
- 1996-08-01 實(shí)施
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GB/T 4937-1995半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法-免費(fèi)下載試讀頁(yè)文檔簡(jiǎn)介
ICS31.080L40中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4937-1995idtIEc749:1995半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法Mechanicalandclimatictestmethodsforsemiconductordevices1995-12-22發(fā)布1996-08-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
GB/T4937-1995前言IEC前言第I篇總則……·范圍和用途1目的oooooooo3術(shù)語、定義和文字符號(hào)4標(biāo)準(zhǔn)大氣條件……外觀檢查和尺寸檢驗(yàn)6電測(cè)量···················第I篇機(jī)械試驗(yàn)方法·1引出端強(qiáng)度2錫焊3正弦振動(dòng)………4恒定加速度…鍵合強(qiáng)度試驗(yàn)…7芯片剪切強(qiáng)度試驗(yàn)……第亞篇?dú)夂蛟囼?yàn)方法溫度變化····.·····.·.·….··財(cái)存(在高溫下)34循環(huán)濕熱………5穩(wěn)態(tài)濕熱…………6溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)789熱間斷試驗(yàn)·10質(zhì)譜法測(cè)量?jī)?nèi)部水汽含量第W篇其他試驗(yàn)方法1塑料封裝器件的易燃性試驗(yàn)29標(biāo)志的耐久性………
CB/T4937-1995本標(biāo)準(zhǔn)是根據(jù)電工委員會(huì)IC749:1984《半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法》IEC749:1991-11和IEC749:1993-09修改單對(duì)GB4937一85進(jìn)行修訂。修訂的標(biāo)準(zhǔn)與IC749標(biāo)準(zhǔn)等同。該標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容較多,因此在標(biāo)準(zhǔn)文本前面增加了目次,便于查閱。本標(biāo)準(zhǔn)中章、條、圖號(hào)和表格與IC標(biāo)準(zhǔn)等同,便于和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)接軌。本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)電子工業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:上海市電子儀表標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量測(cè)試所、中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所.本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:倪月琴、王長(zhǎng)福。
CB/T4937-1995IC前IEC749:1991修改單由IECTC47半導(dǎo)體器件技術(shù)委員會(huì)和TC47A集成電路分會(huì)制定本修改單的文本以下列文件為依據(jù):二月法表決報(bào)告六月法表決報(bào)省47(C0)105447(C0)118247(C0113547(C0)121847/47A(CO)47/47A(CO)1169/2241289/20147(C0)117047(C0)128347(C0)118647(C0)1272本修改單認(rèn)可的所有表決資料可在上裘所列的表決報(bào)告中找到。IEC749:1993修改單由IEC中TC47:半導(dǎo)體器件技術(shù)委員會(huì)制定刪除表決報(bào)告47(C0)125247(C0)133347(C0)131447(C0)134347(C0)131647(C01348本修改單認(rèn)可的所有表決資料可在上表所列的表決報(bào)告中找到
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4937-1995半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法idtIEC749:1984代替GB4937-86Mechanicalandclimatictestmethodsforsemiconductordevices第1篇總范圍和用途本標(biāo)準(zhǔn)列出了適用于半導(dǎo)體器件(分立器件和集成電路)的試驗(yàn)方法。使用時(shí)可從中進(jìn)行選擇。對(duì)于非空腔器件,可以要求補(bǔ)充的試驗(yàn)方法。?。悍强涨黄骷侵钙骷Y(jié)構(gòu)中封裝材料與管芯的所有暴露表面緊密接觸且沒有任何空間的器件。本標(biāo)準(zhǔn)已盡可能考慮了IEC68《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》。2日的確定統(tǒng)一的優(yōu)選試驗(yàn)方法及應(yīng)力等級(jí)的優(yōu)選值,以便評(píng)價(jià)半導(dǎo)體器件的環(huán)境性能。如本標(biāo)準(zhǔn)與有關(guān)規(guī)范相抵觸時(shí),應(yīng)以有關(guān)規(guī)范為準(zhǔn)。3術(shù)語、定義和文字符號(hào)引用下列標(biāo)準(zhǔn)GB2421一89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程美總則GB2423電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程!試驗(yàn)方法GB2424電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程導(dǎo)則GB5169.5—82電工電子產(chǎn)品著火危險(xiǎn)試驗(yàn)針焰試驗(yàn)方法IEC747半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路IEC748半導(dǎo)體器件:集成電路標(biāo)準(zhǔn)大氣條件引用:GB2421電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程總則:除非另有規(guī)定,所有試驗(yàn)和恢復(fù)應(yīng)在GB2421一89中5.3和5.4規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下進(jìn)行。其條件是:溫度:15℃~35℃相對(duì)濕度:45%~75%(適用時(shí));氣壓:86kPa~106kP
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