GB/T 41204-2021納米技術(shù)納米物體表征用測量技術(shù)矩陣

ICS0104007

CCSA.020.

中華人民共和國國家標準

GB/T41204—2021

納米技術(shù)納米物體表征用測量技術(shù)矩陣

Nanotechnologies—Measurementtechniquematrixforthecharacterizationof

nano-objects

ISO/TR181962016MOD

(:,)

2021-12-31發(fā)布2022-07-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標準化管理委員會

GB/T41204—2021

目次

前言

…………………………Ⅸ

引言

…………………………Ⅹ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

通用術(shù)語

3.1……………1

納米物體參數(shù)

3.2………………………2

矩陣中包含的參數(shù)

4………………………3

矩陣中包含的測量技術(shù)

5…………………4

概述

5.1…………………4

聲譜

5.2…………………4

描述

5.2.1……………4

納米物體參數(shù)

5.2.2…………………5

優(yōu)點

5.2.3……………5

局限性

5.2.4…………………………5

被測量

5.2.5…………………………5

相關(guān)標準

5.2.6………………………5

離心分析

5.3(AC)………………………5

描述

5.3.1……………5

納米物體參數(shù)

5.3.2…………………5

優(yōu)點

5.3.3……………5

局限性

5.3.4…………………………6

被測量

5.3.5…………………………6

相關(guān)標準

5.3.6………………………6

電聲譜

5.4………………6

描述

5.4.1……………6

納米物體參數(shù)

5.4.2…………………6

優(yōu)點

5.4.3……………6

局限性

5.4.4…………………………6

被測量

5.4.5…………………………7

相關(guān)標準

5.4.6………………………7

氣溶膠顆粒質(zhì)量分析儀

5.5(AMS)……………………7

描述

5.5.1……………7

納米物體參數(shù)

5.5.2…………………7

優(yōu)點

5.5.3……………7

局限性

5.5.4…………………………7

被測量

5.5.5…………………………7

Ⅰ

GB/T41204—2021

相關(guān)標準

5.5.6………………………7

俄歇電子能譜

5.6(AES)………………8

描述

5.6.1……………8

納米物體參數(shù)

5.6.2…………………8

優(yōu)點

5.6.3……………8

局限性

5.6.4…………………………8

被測量

5.6.5…………………………8

相關(guān)標準

5.6.6………………………8

物理吸附法測定比表面積

5.7(BET)…………………9

描述

5.7.1……………9

納米物體參數(shù)

5.7.2…………………9

優(yōu)點

5.7.3……………9

局限性

5.7.4…………………………9

被測量

5.7.5…………………………9

相關(guān)標準

5.7.6………………………9

凝結(jié)式顆粒計數(shù)法

5.8(CPC)…………10

描述

5.8.1……………10

納米物體參數(shù)

5.8.2…………………10

優(yōu)點

5.8.3……………10

局限性

5.8.4…………………………10

被測量

5.8.5…………………………10

相關(guān)標準

5.8.6………………………10

差分電遷移分析系統(tǒng)

5.9(DMAS)……………………10

描述

5.9.1……………10

納米物體參數(shù)

5.9.2…………………10

優(yōu)點

5.9.3……………11

局限性

5.9.4…………………………11

被測量

5.9.5…………………………11

相關(guān)標準

5.9.6………………………11

差示掃描量熱法

5.10(DSC)…………11

描述

5.10.1…………………………11

納米物體參數(shù)

5.10.2………………11

優(yōu)點

5.10.3…………………………11

局限性

5.10.4………………………11

被測量

5.10.5………………………11

相關(guān)標準

5.10.6……………………12

動態(tài)光散射技術(shù)

5.11(DLS)…………12

描述

5.11.1…………………………12

納米物體參數(shù)

5.11.2………………12

優(yōu)點

5.11.3…………………………12

局限性

5.11.4………………………12

被測量

5.11.5………………………13

相關(guān)標準

5.11.6……………………13

Ⅱ

GB/T41204—2021

電子能量損失譜透射

5.12(EELS)…………………13

描述

5.12.1…………………………13

納米物體參數(shù)

5.12.2………………13

優(yōu)點

5.12.3…………………………13

局限性

5.12.4………………………13

被測量

5.12.5………………………13

相關(guān)標準

5.12.6……………………13

電泳毛細管電泳

5.13/…………………13

描述

5.13.1…………………………13

納米物體參數(shù)

5.13.2………………14

優(yōu)點

5.13.3…………………………14

局限性

5.13.4………………………14

被測量

5.13.5………………………14

相關(guān)標準

5.13.6……………………14

能量色散射線譜和波長色散射線譜

5.14X(EDS/EDX)X(WDS)………………14

描述

5.14.1…………………………14

納米物體參數(shù)

5.14.2………………14

優(yōu)點

5.14.3…………………………14

局限性

5.14.4………………………15

被測量

5.14.5………………………15

相關(guān)標準

5.14.6……………………15

場流分級法

5.15………………………15

描述

5.15.1…………………………15

納米物體參數(shù)

5.15.2………………15

優(yōu)點

5.15.3…………………………15

局限性

5.15.4………………………15

被測量

5.15.5………………………15

相關(guān)標準

5.15.6……………………16

熒光光譜法

5.16………………………16

描述

5.16.1…………………………16

納米物體參數(shù)

5.16.2………………16

優(yōu)點

5.16.3…………………………16

局限性

5.16.4………………………16

被測量

5.16.5………………………16

相關(guān)標準

5.16.6……………………16

傅里葉變換紅外光譜法和成像法

5.17(FT-IR)FT-IR……………16

描述

5.17.1…………………………16

納米物體參數(shù)

5.17.2………………17

優(yōu)點

5.17.3…………………………17

局限性

5.17.4………………………17

被測量

5.17.5………………………17

相關(guān)標準

5.17.6……………………17

感生光柵法

5.18(IG)…………………17

Ⅲ

GB/T41204—2021

描述

5.18.1…………………………17

納米物體參數(shù)

5.18.2………………17

優(yōu)點

5.18.3…………………………17

局限性

5.18.4………………………17

被測量

5.18.5………………………18

相關(guān)標準

5.18.6……………………18

電感耦合等離子體質(zhì)譜和單顆粒電感耦合等離子體質(zhì)譜

5.19(ICP-MS)(SP-ICP-MS)…………18

描述

5.19.1…………………………18

納米物體參數(shù)

5.19.2………………18

優(yōu)點

5.19.3…………………………18

局限性

5.19.4………………………18

被測量

5.19.5………………………18

相關(guān)標準

5.19.6……………………19

納米聯(lián)用技術(shù)

5.19.7ICP-MS……………………19

激光衍射技術(shù)

5.20……………………19

描述

5.20.1…………………………19

納米物體參數(shù)

5.20.2………………19

優(yōu)點

5.20.3…………………………19

局限性

5.20.4………………………19

被測量

5.20.5………………………20

相關(guān)標準

5.20.6……………………20

液相色譜質(zhì)譜聯(lián)用法

5.21-(LC-MS)…………………20

描述

5.21.1…………………………20

納米物體參數(shù)

5.21.2………………20

優(yōu)點

5.21.3…………………………20

局限性

5.21.4………………………20

被測量

5.21.5………………………20

相關(guān)標準

5.21.6……………………20

顆粒跟蹤分析

5.22……………………20

描述

5.22.1…………………………20

納米物體參數(shù)

5.22.2………………21

優(yōu)點

5.22.3…………………………21

局限性

5.22.4………………………21

被測量

5.22.5………………………21

相關(guān)標準

5.22.6……………………21

光學吸收光譜

5.23(UV/Vis/NIR)…………………21

描述

5.23.1…………………………21

納米物體參數(shù)

5.23.2………………22

優(yōu)點

5.23.3…………………………22

局限性

5.23.4………………………22

被測量

5.23.5………………………22

相關(guān)標準

5.23.6……………………22

石英晶體微天平

5.24(QCM)…………22

Ⅳ

GB/T41204—2021

描述

5.24.1…………………………22

納米物體參數(shù)

5.24.2………………22

優(yōu)點

5.24.3…………………………22

局限性

5.24.4………………………23

被測量

5.24.5………………………23

相關(guān)標準

5.24.6……………………23

拉曼光譜拉曼成像

5.25/………………23

描述

5.25.1…………………………23

納米物體參數(shù)

5.25.2………………23

優(yōu)點

5.25.3…………………………23

局限性

5.25.4………………………23

被測量

5.25.5………………………23

相關(guān)標準

5.25.6……………………23

共振質(zhì)量測量

5.26(RMM)……………24

描述

5.26.1…………………………24

納米物體參數(shù)

5.26.2………………24

優(yōu)點

5.26.3…………………………24

局限性

5.26.4………………………24

被測量

5.26.5………………………24

相關(guān)標準

5.26.6……………………24

掃描電子顯微術(shù)

5.27(SEM)…………24

描述

5.27.1…………………………24

納米物體參數(shù)

5.27.2………………24

優(yōu)點

5.27.3…………………………25

局限性

5.27.4………………………25

被測量

5.27.5………………………25

相關(guān)標準

5.27.6……………………25

掃描探針顯微術(shù)

5.28(SPM)…………26

描述

5.28.1…………………………26

納米物體參數(shù)

5.28.2………………26

優(yōu)點

5.28.3…………………………26

局限性

5.28.4………………………26

被測量

5.28.5………………………26

相關(guān)標準

5.28.6……………………27

二次離子質(zhì)譜和飛行時間二次離子質(zhì)譜

5.29(SIMS)(TOF-SIMS)………………27

描述

5.29.1…………………………27

納米物體參數(shù)

5.29.2………………27

優(yōu)點

5.29.3…………………………27

局限性

5.29.4………………………27

被測量

5.29.5………………………28

相關(guān)標準

5.29.6……………………28

射線小角散射法

5.30X(SAXS)………………………28

描述

5.30.1…………………………28

Ⅴ

GB/T41204—2021

納米物體參數(shù)

5.30.2………………28

優(yōu)點

5.30.3…………………………28

局限性

5.30.4………………………28

被測量

5.30.5………………………28

相關(guān)標準

5.30.6……………………29

靜態(tài)光散射和靜態(tài)多重光散射

5.31(SLS)(SMLS)…………………29

描述

5.31.1…………………………29

納米物體參數(shù)

5.31.2………………29

優(yōu)點

5.31.3…………………………29

局限性

5.31.4………………………29

被測量

5.31.5(SLS)…………………30

被測量

5.31.6(SMLS)………………30

相關(guān)標準

5.31.7……………………30

單粒子光干涉法

5.32…………………30

描述

5.32.1…………………………30

納米物體參數(shù)

5.32.2………………30

優(yōu)點

5.32.3…………………………30

局限性

5.32.4………………………30

被測量

5.32.5……………