標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 33523.6-2017《產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS) 表面結(jié)構(gòu) 區(qū)域法 第6部分:表面結(jié)構(gòu)測(cè)量方法的分類》是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)之一,該標(biāo)準(zhǔn)旨在為工業(yè)生產(chǎn)和科學(xué)研究提供統(tǒng)一的表面結(jié)構(gòu)測(cè)量方法分類體系。它屬于GPS(Geometrical Product Specifications)系列標(biāo)準(zhǔn)的一部分,專注于定義和控制工件的幾何特性,特別是其表面屬性。

根據(jù)GB/T 33523.6-2017的規(guī)定,表面結(jié)構(gòu)測(cè)量被分為幾個(gè)主要類別,包括但不限于接觸式測(cè)量、非接觸式測(cè)量等。這些分類基于不同的物理原理和技術(shù)手段來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)材料或部件表面特征的量化分析。例如,接觸式測(cè)量通常涉及使用探針直接與待測(cè)表面接觸以獲取數(shù)據(jù);而非接觸式方法則可能利用光學(xué)、激光或者其他形式的能量來(lái)進(jìn)行間接測(cè)量,從而避免了因物理接觸而可能造成的損壞或影響測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確性的問(wèn)題。

此外,該標(biāo)準(zhǔn)還進(jìn)一步細(xì)分了每種類型下的具體測(cè)量技術(shù)及其適用范圍,比如在非接觸式測(cè)量中區(qū)分出基于光干涉原理的方法與其他類型的光學(xué)掃描技術(shù)等。通過(guò)這樣詳細(xì)的分類,不僅有助于用戶根據(jù)實(shí)際需求選擇最合適的測(cè)量方案,也促進(jìn)了不同領(lǐng)域間對(duì)于表面質(zhì)量評(píng)價(jià)的一致性和可比性。

標(biāo)準(zhǔn)中還包括了對(duì)各種測(cè)量方法性能指標(biāo)的要求說(shuō)明,如分辨率、重復(fù)性誤差等方面的規(guī)定,這些都是確保測(cè)量結(jié)果可靠性的關(guān)鍵因素。同時(shí),針對(duì)特定應(yīng)用場(chǎng)景,標(biāo)準(zhǔn)也可能提出額外的技術(shù)要求或者推薦實(shí)踐指南,幫助提高整體測(cè)試流程的有效性和效率。


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....

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  • 2017-02-28 頒布
  • 2017-09-01 實(shí)施
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GB/T 33523.6-2017產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)區(qū)域法第6部分:表面結(jié)構(gòu)測(cè)量方法的分類_第1頁(yè)
GB/T 33523.6-2017產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)區(qū)域法第6部分:表面結(jié)構(gòu)測(cè)量方法的分類_第2頁(yè)
GB/T 33523.6-2017產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)區(qū)域法第6部分:表面結(jié)構(gòu)測(cè)量方法的分類_第3頁(yè)

文檔簡(jiǎn)介

ICS1704020

J04..

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T335236—2017/ISO25178-62010

.:

產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范GPS

()

表面結(jié)構(gòu)區(qū)域法

第6部分表面結(jié)構(gòu)測(cè)量方法的分類

:

GeometricalroductsecificationsGPS—SurfacetextureAreal—

pp():

Part6Classificationofmethodsformeasurinsurfacetexture

:g

(ISO25178-6:2010,IDT)

2017-02-28發(fā)布2017-09-01實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T335236—2017/ISO25178-62010

.:

前言

產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范表面結(jié)構(gòu)區(qū)域法分為如下部分

GB/T33523《(GPS)》:

第部分術(shù)語(yǔ)定義及表面結(jié)構(gòu)參數(shù)

———2:、;

第部分規(guī)范操作集

———3:;

第部分表面結(jié)構(gòu)測(cè)量方法的分類

———6:;

第部分軟件測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

———7:;

第部分接觸觸針式儀器的標(biāo)稱特性

———601:();

第部分非接觸共聚焦色差探針式儀器的標(biāo)稱特性

———602:();

第部分非接觸相移干涉顯微鏡式儀器的標(biāo)稱特性

———603:();

第部分非接觸相干掃描干涉式儀器的標(biāo)稱特性

———604:();

第部分非接觸點(diǎn)自動(dòng)對(duì)焦式儀器的標(biāo)稱特性

———605:();

第部分接觸觸針式儀器的校準(zhǔn)及測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

———701:()。

本部分為的第部分

GB/T335236。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分等同采用產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范表面結(jié)構(gòu)區(qū)域法第部分表

ISO25178-6:2010《(GPS)6:

面結(jié)構(gòu)測(cè)量方法的分類

》。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專利的責(zé)任

。。

本部分由全國(guó)產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

(SAC/TC240)。

本部分起草單位哈爾濱量具刃具集團(tuán)有限責(zé)任公司杭州長(zhǎng)庚測(cè)量技術(shù)有限公司中機(jī)生產(chǎn)力促

:、、

進(jìn)中心中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院深圳市計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院

、、。

本部分主要起草人郎巖梅趙軍明翠新高思田于冀平陳景玉李海斌

:、、、、、、。

GB/T335236—2017/ISO25178-62010

.:

產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范GPS

()

表面結(jié)構(gòu)區(qū)域法

第6部分表面結(jié)構(gòu)測(cè)量方法的分類

:

1范圍

的本部分規(guī)定了主要用于表面結(jié)構(gòu)測(cè)量方法的分類體系定義了三類方法描述了三

GB/T33523,,

類方法之間的關(guān)系并對(duì)具體方法做了簡(jiǎn)要說(shuō)明

,。

本部分適用于對(duì)表面結(jié)構(gòu)測(cè)量方法進(jìn)行分類

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范表面結(jié)構(gòu)輪廓法術(shù)語(yǔ)定義及表面結(jié)構(gòu)參數(shù)

GB/T3505—2009(GPS)、

(ISO4287:1997,IDT)

產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范表面結(jié)構(gòu)區(qū)域法第部分術(shù)語(yǔ)定義及表面結(jié)構(gòu)

ISO25178-2(GPS)2:、

參數(shù)

[Geometricalproductspecifications(GPS)—Surfacetexture:Areal—Part2:Terms,definitions

andsurfacetextureparameters]

指南國(guó)際計(jì)量學(xué)詞匯基本和通用概念和術(shù)語(yǔ)

ISO/IEC99:2007[Internationalvocabularyof

metrology—Basicandgeneralconceptsandassociatedterms(VIM)]

3術(shù)語(yǔ)和定義

31一般術(shù)語(yǔ)

.

指南和界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件

GB/T3505、ISO/IEC99ISO25178-2。

311

..

測(cè)量坐標(biāo)系measurementcoordinatesystem

用于表面結(jié)構(gòu)參數(shù)測(cè)量的坐標(biāo)系

。

注1若標(biāo)稱表面是一個(gè)平面或平面的一部分通常使用右手定則的笛卡爾直角坐標(biāo)系X坐標(biāo)軸Y坐標(biāo)軸均位

:(),,、

于標(biāo)稱表面所在的平面內(nèi)且X坐標(biāo)軸指向掃描線方向Z坐標(biāo)軸指向向外的方向從材料部分指向周圍介

,

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