標(biāo)準(zhǔn)解讀
GB/T 30815-2014《表面化學(xué)分析 分析樣品的制備和安裝方法指南》是一項國家標(biāo)準(zhǔn),旨在為從事表面化學(xué)分析的專業(yè)人員提供一套系統(tǒng)化的指導(dǎo)原則。該標(biāo)準(zhǔn)涵蓋了從樣品的選擇到最終分析前準(zhǔn)備的全過程,確保了不同實驗室間結(jié)果的一致性和可比性。
首先,標(biāo)準(zhǔn)詳細描述了樣品選擇的重要性及其對后續(xù)分析過程的影響。它強調(diào)了根據(jù)研究目的來挑選合適材料或產(chǎn)品作為分析對象,并指出樣品應(yīng)具有代表性,以便能夠準(zhǔn)確反映所要研究的整體特性。此外,還討論了如何避免污染以及處理過程中可能引入的人為因素干擾等問題。
接著,文件深入探討了各種不同類型樣品(如固體、粉末、薄膜等)在進行表面化學(xué)分析之前所需采取的具體制備步驟。這些步驟包括但不限于清洗、切割、拋光、鍍膜等操作。每一步驟都配有具體的操作方法說明和技術(shù)參數(shù)要求,以保證樣品表面狀態(tài)符合特定分析技術(shù)的要求。
關(guān)于樣品安裝方面,GB/T 30815-2014給出了詳細的建議,包括使用何種類型的支架固定樣品、如何調(diào)整樣品位置以獲得最佳測試效果等。這部分內(nèi)容特別關(guān)注于保持樣品穩(wěn)定性的同時,還要便于儀器對其進行掃描或探測。
最后,本標(biāo)準(zhǔn)還涉及到了安全注意事項,提醒實驗人員在處理某些特殊材料時需遵守相關(guān)法律法規(guī),并采取適當(dāng)防護措施以免造成傷害。同時,也提到了環(huán)境保護方面的考慮,在整個樣品制備及分析過程中盡量減少廢棄物產(chǎn)生并妥善處置。
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....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2014-06-24 頒布
- 2015-02-01 實施
文檔簡介
ICS7104040
G04..
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T30815—2014/ISO181162005
:
表面化學(xué)分析分析樣品的制備
和安裝方法指南
Surfacechemicalanalysis—Guidelinesforpreparationandmounting
ofspecimensforanalysis
(ISO18116:2005,IDT)
2014-06-24發(fā)布2015-02-01實施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布
中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
GB/T30815—2014/ISO181162005
:
目次
前言
…………………………Ⅲ
引言
…………………………Ⅳ
范圍
1………………………1
規(guī)范性引用文件
2…………………………1
術(shù)語和定義
3………………1
符號和縮略語
4……………1
一般要求
5…………………1
樣品的視檢
6………………1
樣品注意事項
7……………2
樣品的來歷
7.1…………………………2
探測的信息
7.2…………………………2
已使用其他分析技術(shù)分析過的樣品
7.3………………2
樣品污染的來源
8…………………………2
工具手套固定物和類似的材料
8.1、、…………………2
暴露于氣體
8.2…………………………3
暴露于儀器真空
8.3……………………3
暴露于電子離子或射線
8.4、X………………………3
分析室的污染
8.5………………………3
樣品的保存和傳遞
9………………………3
保存時間
9.1……………3
保存容器
9.2……………4
溫度和濕度
9.3…………………………4
樣品傳遞
9.4……………4
樣品安裝步驟
10……………4
常規(guī)步驟
10.1……………4
粉末和微粒
10.2…………………………4
線纖維和細絲
10.3、……………………5
支架固定
10.4……………5
減小分析過程的熱損傷
10.5……………5
減小樣品荷電的方法
11……………………5
概述
11.1…………………5
導(dǎo)電掩膜柵網(wǎng)包裹或鍍膜
11.2、、………………………5
中和槍
11.3………………6
電子束和離子束
11.4……………………6
樣品制備技術(shù)
12……………6
Ⅰ
GB/T30815—2014/ISO181162005
:
概述
12.1…………………6
機械分離
12.2……………6
減薄與去除
12.3…………………………6
基材的去除
12.4…………………………7
切片技術(shù)
12.5……………7
覆蓋層的生長
12.6………………………8
溶劑
12.7…………………8
化學(xué)刻蝕
12.8……………8
離子濺射
12.9……………8
等離子刻蝕
12.10………………………9
加熱
12.11………………9
紫外線照射
12.12………………………10
斷裂解理和劃刻
13、………………………10
斷裂
13.1………………10
解理
13.2………………10
劃刻
13.3………………10
特殊的樣品處理技術(shù)
14…………………11
放氣樣品的預(yù)抽真空
14.1……………11
粘性液體
14.2…………………………11
溶質(zhì)余渣
14.3…………………………11
參考文獻
……………………12
Ⅱ
GB/T30815—2014/ISO181162005
:
前言
本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本標(biāo)準(zhǔn)使用翻譯法等同采用表面化學(xué)分析分析樣品的制備和安裝方法指南
ISO18116:2005《》。
與本標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)范性引用的國際文件有一致性對應(yīng)關(guān)系的我國文件如下
:
表面化學(xué)分析詞匯
———GB/T22461—2008(ISO18115:2001,IDT)
本標(biāo)準(zhǔn)由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出并歸口
(SAC/TC38)。
本標(biāo)準(zhǔn)負責(zé)起草單位廈門愛勞德光電有限公司清華大學(xué)
:、。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人王水菊時海燕李展平姚文清岑丹霞劉芬
:、、、、、。
Ⅲ
GB/T30815—2014/ISO181162005
:
引言
本標(biāo)準(zhǔn)旨在協(xié)助分析者對表面化學(xué)分析的樣品進行操作安裝和處理盡管本標(biāo)準(zhǔn)表述的方法主
、。
要是為俄歇電子能譜射線光電子能譜和二次離子質(zhì)譜等表面分析技術(shù)準(zhǔn)備
(AES)、X(XPS)(SIMS)
的但也可用于許多其他表面敏感的分析技術(shù)例如離子散射譜低能電子衍射和電子能量損失譜樣
,,,、,
品處理會影響這些表面敏感的分析技術(shù)的測試結(jié)果和對幾個納米厚度的表面層敏
。AES、XPSSIMS
感這樣的薄層會因?qū)敕治鍪仪暗臉悠钒惭b或表面處理而受到嚴(yán)重干擾
,。
正確的樣品制備和安裝對于表面化學(xué)分析是特別關(guān)鍵的不恰當(dāng)?shù)闹苽淇赡軐?dǎo)致表面組成改變和
。
分析結(jié)果不可靠樣品要小心安裝以便盡可能減小或避免因安裝操作而引入的污染物為了使分析
。,。
結(jié)果能代表原始樣品在制備和安裝樣品時應(yīng)保持樣品的表面狀態(tài)本標(biāo)準(zhǔn)表述了表面分析者在使用
,。
任何表面敏感的分析技術(shù)時為了把樣品制備的影響減到最小可能需要使用的方法本標(biāo)準(zhǔn)還表述了
,。
不影響所需分析信息的樣品安裝方法
。
Ⅳ
GB/T30815—2014/ISO181162005
:
表面化學(xué)分析表面分析樣品的制備
和安裝方法指南
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)提供了表面化學(xué)分析樣品安裝和表面處理方法的指導(dǎo)目的是幫助分析人員理解在使用俄
。
歇電子能譜二次離子質(zhì)譜和射線光電子能譜等表面分析技術(shù)進行分析時所必需的專門樣品處理
、X,
條件
。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
表面化學(xué)分析詞匯
ISO18115(Surfacechemicalanalysis—Vocabulary)
3術(shù)語和定義
界定的術(shù)語和定義適用于本文件
ISO18115。
4符號和縮略語
俄歇電子能譜
AES:Augerelectronspectroscopy,;
二次離子質(zhì)譜
SIMS:secondary-ionmassspectrometry,;
射線光電子能譜
XPS:X-rayphotoelectronspectroscopy,X。
5一般要求
關(guān)于樣品操作的一般信息有兩本書[1,2]是適用的表面敏感的分析技術(shù)所要求的潔凈度遠高于許
。
多其他分析形式不應(yīng)裸手接觸樣品和樣品架盡可能減少或省去對擬分析表面的操作指紋攜有可
溫馨提示
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