GB/T 22889-2008皮革物理和機械試驗表面涂層厚度的測定

犐犆犛５９．１４０．３０

犢４６

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜２２８８９—２００８

皮革物理和機械試驗

表面涂層厚度的測定

犔犲犪狋犺犲狉—犘犺狔狊犻犮犪犾犪狀犱犿犲犮犺犪狀犻犮犪犾狋犲狊狋狊—

犇犲狋犲狉犿犻狀犪狋犻狅狀狅犳狊狌狉犳犪犮犲犮狅犪狋犻狀犵狋犺犻犮犽狀犲狊狊

（ＩＳＯ１７１８６：２００２，ＭＯＤ）

２００８１２３０發(fā)布２００９０９０１實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

書

犌犅／犜２２８８９—２００８

前言

本標(biāo)準(zhǔn)修改采用ＩＳＯ１７１８６：２００２《皮革物理和機械試驗表面涂層厚度的測定》（英文版）。

ＩＳＯ１７１８６：２００２所使用的方法基于國際皮革工藝師和化學(xué)師聯(lián)合會（ＩＵＬＴＣＳ）的方法標(biāo)準(zhǔn)

ＩＵＰ４１。

為了方便比較，在附錄Ａ中列出了本標(biāo)準(zhǔn)條款和國際標(biāo)準(zhǔn)條款的對照一覽表。

在附錄Ｂ中給出了技術(shù)性差異及其原因的一覽表以供參考。

根據(jù)我國的實際情況，本標(biāo)準(zhǔn)在采用ＩＳＯ１７１８６：２００２時進行了修改。這些技術(shù)性差異用垂直單線

標(biāo)識在它們所涉及的條款的頁邊空白處。

為便于使用，本標(biāo)準(zhǔn)還做了下列編輯性修改：

ａ）刪除國際標(biāo)準(zhǔn)的前言；

ｂ）將“本國際標(biāo)準(zhǔn)”一詞改為“本標(biāo)準(zhǔn)”；

ｃ）用小數(shù)點“．”代替作為小數(shù)點的逗號“，”。

本標(biāo)準(zhǔn)的附錄Ａ、附錄Ｂ為資料性附錄。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國輕工業(yè)聯(lián)合會提出。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國皮革工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會（ＳＡＣ／ＴＣ２５２）歸口。

本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位：國家皮革質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心（浙江）、海寧蒙努集團有限公司、浙江通天星集

團股份有限公司。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：黃新霞、宋汝強、徐壽春、朱廣忠。

Ⅰ

書

犌犅／犜２２８８９—２００８

皮革物理和機械試驗

表面涂層厚度的測定

１范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了皮革表面涂層厚度的測定方法。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于各種具有涂層的皮革。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有

的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達成協(xié)議的各方研究

是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

ＱＢ／Ｔ２７０６皮革化學(xué)、物理、機械和色牢度試驗取樣部位（ＱＢ／Ｔ２７０６—２００５，ＩＳＯ２４１８：

２００２，ＭＯＤ）

ＱＢ／Ｔ２７０７皮革物理和機械試驗試樣的準(zhǔn)備和調(diào)節(jié)（ＱＢ／Ｔ２７０７—２００５，ＩＳＯ２４１９：２００２，

ＭＯＤ）

３原理

垂直于皮革涂層表面切割皮革，用顯微鏡觀察并測量切口處皮革表面涂層的厚度。結(jié)果可以表示

為涂層厚度，也可以表示為涂層厚度占總厚度的百分比。

４儀器設(shè)備

４．１光學(xué)顯微鏡或電子掃描顯微鏡，至少２０倍的放大倍率。

４．２手術(shù)刀，顯微鏡采用上光源或使用電子掃描顯微鏡時適用。

４．３組織切片機，顯微鏡采用下光源時適用。

４．４顯微測微尺，精確到０．００１ｍｍ。

５取樣和試樣準(zhǔn)備

５．１按ＱＢ／Ｔ２７０６取樣，按ＱＢ／Ｔ２７０７進行預(yù)處理。

５．２切取３片約１０ｍｍ×１０ｍｍ的試樣，每片試樣按５．３或５．４制作縱切面切片。

注：如果被測試的一批樣品超過２張，則只要每張皮取１片試樣，保證試樣總數(shù)不少于３片。

５．３用手術(shù)刀（４．２）切穿皮革，確保在切割過程中手術(shù)刀的切邊垂直于涂層表面。

注：按５．３制作的縱切面切片適用于使用上光源的光學(xué)顯微鏡或電子掃描顯微鏡測試。

５．４用組織切片機切取適用于下光源光學(xué)顯微器測試的試樣縱切面切片。

６操作步驟

６．１使用帶有顯微測微尺的光學(xué)顯微鏡測試

６．１．１把按５．３或５．４制作的剖面切片放在顯微鏡下。調(diào)整切片