標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 18858.3-2012 低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備 控制器-設(shè)備接口(CDI) 第3部分:DeviceNet》相比于《GB/T 18858.3-2002 低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備 控制器—設(shè)備接口(CDI) 第3部分:DeviceNet》主要在以下幾個方面進(jìn)行了更新和修訂:
-
技術(shù)內(nèi)容的更新:2012版標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)技術(shù)發(fā)展和應(yīng)用實踐,對DeviceNet通信協(xié)議的具體要求和技術(shù)細(xì)節(jié)進(jìn)行了修訂,以適應(yīng)不斷變化的自動化控制領(lǐng)域需求。這可能包括對通信速率、數(shù)據(jù)傳輸?shù)目煽啃院托?、以及設(shè)備識別和配置等方面的新規(guī)定。
-
兼容性與互操作性增強(qiáng):新版標(biāo)準(zhǔn)提高了對于設(shè)備間互操作性的要求,確保不同制造商的設(shè)備能夠在DeviceNet網(wǎng)絡(luò)中更加順暢地協(xié)同工作。這可能涉及對設(shè)備描述文件、通信對象字典等的標(biāo)準(zhǔn)化要求進(jìn)行細(xì)化或擴(kuò)展。
-
安全規(guī)范的加強(qiáng):隨著工業(yè)控制系統(tǒng)安全重視程度的提升,2012版標(biāo)準(zhǔn)可能加入了更多關(guān)于網(wǎng)絡(luò)安全和數(shù)據(jù)保護(hù)的規(guī)定,旨在提高DeviceNet網(wǎng)絡(luò)及連接設(shè)備的安全防護(hù)能力。
-
測試與認(rèn)證方法的改進(jìn):為了確保設(shè)備符合新標(biāo)準(zhǔn)要求,2012版可能提供了更詳細(xì)或更新的測試方法和認(rèn)證流程,幫助制造商和用戶驗證其產(chǎn)品的一致性和性能。
-
術(shù)語與定義的調(diào)整:隨著技術(shù)進(jìn)步,一些專業(yè)術(shù)語的含義或使用范圍可能發(fā)生了變化,新版標(biāo)準(zhǔn)對此進(jìn)行了相應(yīng)的更新,以保持術(shù)語的準(zhǔn)確性和時代性。
-
參考標(biāo)準(zhǔn)的同步:2012版標(biāo)準(zhǔn)還可能更新了引用的其他國家標(biāo)準(zhǔn)或國際標(biāo)準(zhǔn)版本,確保所有引用內(nèi)容均為最新有效,便于標(biāo)準(zhǔn)使用者查閱和執(zhí)行。
如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2012-11-05 頒布
- 2013-02-01 實施
文檔簡介
ICS2913001
K30..
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T188583—2012/IEC62026-32008
.代替:
GB/T18858.3—2002
低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備控制器-
設(shè)備接口CDI第3部分DeviceNet
():
Low-voltaeswitchearandcontrolear—Controller-deviceinterfaceCDI—
ggg()
Part3DeviceNet
:
(IEC62026-3:2008,IDT)
2012-11-05發(fā)布2013-02-01實施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布
中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
GB/T188583—2012/IEC62026-32008
.:
目次
前言…………………………
Ⅰ
引言…………………………
Ⅱ
范圍………………………
11
規(guī)范性引用文件…………………………
21
術(shù)語和定義符號和縮略語………………
3、2
分類………………………
47
特性………………………
59
產(chǎn)品信息…………………
666
常規(guī)服務(wù)安裝和運輸條件……………
7,66
結(jié)構(gòu)和性能要求…………………………
868
測試………………………
991
參考文獻(xiàn)……………………
103
GB/T188583—2012/IEC62026-32008
.:
前言
低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備控制器設(shè)備接口分為個部分
GB/T18858《-(CDI)》3:
第部分總則
———1:;
第部分執(zhí)行器傳感器接口
———2:(AS-i);
第部分
———3:DeviceNet。
本部分為的第部分
GB/T188583。
本部分按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本部分代替低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備控制器設(shè)備接口第部
GB/T18858.3—2002《-(CDI)3
分
:DeviceNet》。
本部分與相比主要存在以下技術(shù)性差異
GB/T18858.3—2002,:
基礎(chǔ)報文協(xié)議中增加了新的服務(wù)
———5.2;
通過在中引用最新版的相關(guān)規(guī)定替代前一版本附錄中給出的詳細(xì)的應(yīng)
———5.3IEC61158(2007)
用層要求
;
新增了相應(yīng)的安全協(xié)議的要求通過引用
———5.6(IEC61784-3);
及中對電纜和連接器的連接規(guī)范的表現(xiàn)形式進(jìn)行了更改并增加了一個新的類型
———8.28.4,;
及中新增加了對電磁兼容試驗及邏輯試驗的安全試驗的引用
———8.109.3。
本部分等同采用低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備控制器設(shè)備接口第部分
IEC62026-3:2008《-3:
DeviceNet》。
本部分由中國電器工業(yè)協(xié)會提出
。
本部分由全國低壓電器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口
(SAC/TC189)。
本部分負(fù)責(zé)起草單位上海電器科學(xué)研究院上海電科電器科技有限公司
:、。
本部分參加起草單位常熟開關(guān)制造有限公司浙江天正電氣股份有限公司杭州科豐電子有限公
:、、
司上海電器股份有限公司人民電器廠法泰電器江蘇股份有限公司上海電器設(shè)備檢測所中國質(zhì)量
、、()、、
認(rèn)證中心上海人民企業(yè)集團(tuán)溫州電器有限公司
、。
本部分主要起草人阮于東季慧玉章建兵
:、、。
本部分參加起草人邵建國李芃周志科李海兵丁高峰鄭靜張穎賈穎巍金靈滿
:、、、、、、、、。
本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為
:
———GB/T18858.3—2002。
Ⅰ
GB/T188583—2012/IEC62026-32008
.:
引言
用于但不限于工業(yè)自動化領(lǐng)域這些應(yīng)用可包括限位開關(guān)接近傳感器電力氣動閥繼
DeviceNet,、、-、
電器電動機(jī)起動器操作面板模擬輸入模擬輸出和控制器
、、、、。
Ⅱ
GB/T188583—2012/IEC62026-32008
.:
低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備控制器-
設(shè)備接口CDI第3部分DeviceNet
():
1范圍
的本部分規(guī)定了單個或多個控制器與控制回路設(shè)備或開關(guān)元件間的一種接口系統(tǒng)的
GB/T18858
技術(shù)要求
。
本部分適用于接口系統(tǒng)使用在同一根電纜內(nèi)的二對雙絞屏蔽線一對導(dǎo)線提供差動通信介質(zhì)
———,
另一對導(dǎo)線提供設(shè)備電源這部分的目的在于制定一個使具有該接口的器件能夠互操作的技術(shù)要求
。。
本部分規(guī)定了的下列特定要求
DeviceNet:
控制器和開關(guān)元件間的接口要求
———;
設(shè)備的正常工作條件
———;
結(jié)構(gòu)和性能要求
———。
驗證一致性要求的試驗
———。
這些特定要求是附加在之上的
GB/T18858.1。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
外殼防護(hù)等級代碼
GB4208—2008(IP)(IEC60529:2001,IDT)
工業(yè)科學(xué)和醫(yī)療射頻設(shè)備電磁騷擾特性限值和測量方法
GB4824—2004、(ISM)(CISPR11:
2003,IDT)
低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備第部分控制電路電器和開關(guān)元件接
GB/T14048.10—20085-2:
近開關(guān)
(IEC60947-5-2:2004,IDT)
電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗
GB/T17626.2—2006(IEC61000-4-2:2001,
IDT)
電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻電磁場輻射抗擾度試驗
GB/T17626.3—2006(IEC61000-4-
3:2002,IDT)
電磁兼容試驗和測量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗
GB/T17626.4—2008(IEC61000-
4-4:2004,IDT)
電磁兼容
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