標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 18680-2002 液晶顯示器用氧化銦錫透明導(dǎo)電玻璃》這一標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了液晶顯示器(LCD)中所使用的氧化銦錫(ITO)透明導(dǎo)電玻璃的技術(shù)要求、試驗方法、檢驗規(guī)則以及標(biāo)志、包裝、運輸和儲存要求。然而,您提供的對比項似乎不完整,沒有明確指出要與哪個具體的標(biāo)準(zhǔn)或版本進行比較。不過,基于該標(biāo)準(zhǔn)本身的內(nèi)容,我們可以概述其關(guān)鍵要點及其可能相對于早期或后續(xù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的潛在變化方向。

  1. 技術(shù)要求細(xì)化:相比于可能存在的前期標(biāo)準(zhǔn)或通用要求,GB/T 18680-2002可能更具體地規(guī)定了ITO導(dǎo)電玻璃的電阻率、透光率、表面粗糙度、耐蝕性等關(guān)鍵性能指標(biāo),確保了產(chǎn)品在LCD應(yīng)用中的性能一致性與可靠性。

  2. 試驗方法標(biāo)準(zhǔn)化:本標(biāo)準(zhǔn)可能引入或更新了更為精確和統(tǒng)一的測試方法來評估ITO玻璃的各項性能,比如采用特定的儀器和程序來測量透光率和電阻值,這有助于不同廠家之間的測試結(jié)果可比性增強。

  3. 檢驗規(guī)則明確化:明確了產(chǎn)品出廠前需要通過的檢驗流程和合格判定標(biāo)準(zhǔn),可能相比之前更加嚴(yán)格或系統(tǒng)化,確保產(chǎn)品質(zhì)量控制的一致性和高效性。

  4. 包裝、運輸和儲存規(guī)范:針對ITO導(dǎo)電玻璃易損特性,標(biāo)準(zhǔn)可能詳細(xì)規(guī)定了包裝材料、方式以及在運輸和儲存過程中的環(huán)境條件要求,以減少損壞風(fēng)險,這些規(guī)定可能是對以往標(biāo)準(zhǔn)的補充或優(yōu)化。

由于未提供具體的對比標(biāo)準(zhǔn),以上分析基于該標(biāo)準(zhǔn)自身可能帶來的改進和變化方向。如果需要對比特定的其他標(biāo)準(zhǔn)或版本,請?zhí)峁┩暾畔⒁员氵M行詳細(xì)的比較分析。


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  • 2002-03-10 頒布
  • 2002-08-01 實施
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文檔簡介

ICS31.120L47中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T18680—2002液晶顯示器用氧化銦錫透明導(dǎo)電玻璃Thetransparentconductiveglasswithindium-tinoxidefiimsusedinliquidcrystaldisplay2002-03-10發(fā)布2002-08-01實施中華人民共和愛布國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

GB/T18680-2002目次前言范圍2規(guī)范性引用文件3術(shù)語和定義波璃基片規(guī)格5SiO,阻擋層規(guī)格6「TO導(dǎo)電膜層規(guī)格膜層缺陷73抽樣…9檢驗和試驗方法1011包裝、運輸、財存………

GB/T18680-2002前本標(biāo)準(zhǔn)由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國金屬與非金屬覆蓋層標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口。本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位:廣州有色金屬研究院本標(biāo)準(zhǔn)參加起草單位:深圳萊寶真空技術(shù)有限公司、深圳南玻集團股份有限公司。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:袁鎮(zhèn)海、戴達煌、趙小偉、王志潔、付志強、黃紹江、侯惠君、林松盛。

GB/T18680—2002液晶顯示器用氧化銦錫透明導(dǎo)電玻璃1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了液品顯示器(LCD)用氧化銦錫(Indium-TinOxide.ITO)透明導(dǎo)電玻璃的技術(shù)要求、標(biāo)志、包裝、運輸及存。本標(biāo)準(zhǔn)適用于液品顯示器用氧化鋼錫透明導(dǎo)電玻璃規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)·然而,鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T2828逐批檢查計數(shù)抽樣程序及抽樣表(適用于連續(xù)批的檢查)GB/T5270金屬基體上的金屬覆蓋層(電沉積層和化學(xué)沉積層)附著強度試驗方法(cqvISO2819)GB/T14264半導(dǎo)體材料術(shù)語術(shù)語和定義GB/T14264確立的以及下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)微觀波紋度Microcorrugation在玻璃基片的浮法錫面(或拋光面)上.沿垂直于浮法拉伸方向掃描表面輪廊線·并設(shè)定截止波長為0.8mm~8.0mm·選取任意20mm取樣長度,按圖1所示的方法,得PV的間距K,即為微觀波紋度值。LILL水中線LL520mi圖1玻璃基片的微觀波紋度破璃基片規(guī)格4.1長度及寬度的允許偏差對于長度及寬度的公稱尺寸在4

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