GB/T 18311.6-2001纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3-6部分：檢查和測(cè)量回波損耗

ICS33.180.20L50中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T18311.6—200idtIEC61300-3-6：1997纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3-6部分:檢查和測(cè)量回波損耗Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents-BasictestandmeasurementtproceduresPart3-6：ExaminationsandlmeasurementsRReturnloss2001-03-13發(fā)布2001-08-01實(shí)施國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T18311.6-200°本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC61300-3-6:1997《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3-6部分：檢查和測(cè)量——回波損耗》制定。纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件在光纖通信和非通信應(yīng)用中占有重要地位,已在國(guó)際和國(guó)內(nèi)市場(chǎng)上形成規(guī)模生產(chǎn)和商品化產(chǎn)品.并成為新幅起的高技術(shù)產(chǎn)業(yè)。隨著光纖通信技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)新技術(shù)、新材料、新產(chǎn)品的不斷涌現(xiàn)和發(fā)展，相應(yīng)產(chǎn)品試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)也有較快的進(jìn)展。為使產(chǎn)品試驗(yàn)和測(cè)量程序在國(guó)際上進(jìn)一步協(xié)調(diào)一致，使產(chǎn)品試驗(yàn)和測(cè)量結(jié)果得到統(tǒng)一公認(rèn).IEC這今為止已制定并頒布IEC61300系列試驗(yàn)和測(cè)量程序標(biāo)準(zhǔn)達(dá)80余項(xiàng)·從而將極大促進(jìn)產(chǎn)品貿(mào)易往來(lái)。我國(guó)該類(lèi)產(chǎn)品試驗(yàn)和測(cè)量程序基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)等同.能方便簡(jiǎn)化產(chǎn)品的檢驗(yàn)和驗(yàn)收·適應(yīng)產(chǎn)品國(guó)際貿(mào)易·技術(shù)和經(jīng)濟(jì)交流日益增長(zhǎng)的需要本標(biāo)準(zhǔn)是隸屬于GB/T18309.1—2001《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件--基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第1部分：總則和導(dǎo)則》的系列方法之一。本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部提出本標(biāo)準(zhǔn)由信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所歸口本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：上海傳輸線研究所本標(biāo)準(zhǔn)起草人：陳國(guó)慶、王銳臻、王毅

GB/T18311.6-2001IEC前言1）IEC(國(guó)際電工委員會(huì))是由各國(guó)家電工委員會(huì)(IEC國(guó)家委員會(huì))組成的世界性標(biāo)準(zhǔn)化組織。IC的目的是促進(jìn)電工電子領(lǐng)域標(biāo)準(zhǔn)化問(wèn)題的國(guó)際合作。為此目的.除其他活動(dòng)外.IEC發(fā)布國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的制定由技術(shù)委員會(huì)承擔(dān)。對(duì)所涉及內(nèi)容關(guān)切的任何IC國(guó)家委員會(huì)均可參加國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的制定工作。與IC有聯(lián)系的任何國(guó)際、政府和非官方組織也可以參加國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的制定。IEC與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織(ISO)根據(jù)兩組織間協(xié)商的條件保持密切的合作關(guān)系。2）IEC在技術(shù)問(wèn)題上的正式?jīng)Q議和協(xié)議，是由對(duì)這些問(wèn)題特別關(guān)切的國(guó)家委員會(huì)參加的技術(shù)委員會(huì)制定的,對(duì)所涉及的問(wèn)題盡可能地代表了國(guó)際上的一致意見(jiàn)。3）這些決議或協(xié)議以標(biāo)準(zhǔn)、技術(shù)報(bào)告或?qū)t的形式發(fā)布,以推薦的形式供國(guó)際上使用,并在此意義上，對(duì)各國(guó)家委員會(huì)認(rèn)可。4）為促進(jìn)國(guó)際上的統(tǒng)一,各IEC國(guó)家委員會(huì)有責(zé)任使其國(guó)家和地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)盡可能采用IEC標(biāo)準(zhǔn)IEC標(biāo)準(zhǔn)與相應(yīng)國(guó)家或地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)之間的任何差異應(yīng)在國(guó)家或地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)中指明。5）國(guó)際電工委員會(huì)沒(méi)有規(guī)定表示認(rèn)可標(biāo)志的任何程序。如果聲稱(chēng)某設(shè)備符合IEC某一標(biāo)準(zhǔn).IEC對(duì)此概不負(fù)責(zé)。6）應(yīng)注意這種可能性，即本國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的某些組成部分可能涉及專(zhuān)利權(quán)內(nèi)容。IEC不負(fù)有對(duì)任何或所有這樣的專(zhuān)利權(quán)作出認(rèn)同的責(zé)任。國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC61300-3-6由IECTC86(纖維光學(xué))SC86B(纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件)制定。本標(biāo)準(zhǔn)文本依據(jù)下列文件：FDIS表決報(bào)告86B/844/FDIS86B/945/RVD對(duì)于批準(zhǔn)本標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行表決的全部資料可在上述表格給出的表決報(bào)告中查閱。IEC61300在總標(biāo)題“纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序”下由下列部分組第1部分：總則和導(dǎo)則第2部分：試驗(yàn)-第3部分：檢查和測(cè)量

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序GB/T118311.6-2001第3-6部分:檢查和測(cè)量回波損耗idtiec61300-3-6:1997FibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponentsBasictestandmeasurementproceduresPart3-6：Examinationsandmeasurements--Returnloss總則1范圍和目的本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了被試?yán)w維光學(xué)器件回波損耗測(cè)量程序通過(guò)采用低光學(xué)相干干涉方法以微米級(jí)的空間分辨率和高動(dòng)態(tài)范圍測(cè)量單模光器件的反射分布通過(guò)采用光頻域反射方法,以厘米級(jí)的空間分辨率和高動(dòng)態(tài)范圍測(cè)量單模光器件的回波損耗1.22引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文·通過(guò)在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí)·所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。GB/T18309.1—2001纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第1部分：總則和導(dǎo)則（idtIEC61300-1:1995）2概述測(cè)量回波損耗·規(guī)定四種方法：a）采用分路器(BD)的測(cè)量采用BD的測(cè)量是基準(zhǔn)方法b）采用光時(shí)域反射儀(OTDR)的測(cè)量。c）采用低光學(xué)相干反射儀(OLCR)的測(cè)量本附加的程序規(guī)定以小于1mm的空間分辨率和大于90dB的動(dòng)態(tài)范圍測(cè)量單模光器件的反射分布。反射分布定義為在單模光器件各個(gè)端面和(或)連接點(diǎn)上反射點(diǎn)分布。當(dāng)一個(gè)特定點(diǎn)上反射為－R（dB)時(shí).在該點(diǎn)上的回波損耗由R(dB)給定。本程序通過(guò)檢測(cè)由反射光和基準(zhǔn)光之間光干涉產(chǎn)生的差拍信號(hào)功率來(lái)測(cè)量一個(gè)點(diǎn)上的反射。當(dāng)對(duì)具有分散反射點(diǎn)的器件進(jìn)行分析時(shí).如果它們之間的間隔大于測(cè)量系統(tǒng)的空間分辨率.則可識(shí)別和定位每一個(gè)反射點(diǎn)。本方法被稱(chēng)為低光學(xué)相干反射技術(shù)（OLCR)d）采用光頻域反射儀（OFDR）的測(cè)量。本附加的程序規(guī)定了采用光頻域反射儀OFDR測(cè)量單模光器件的回波損耗本技術(shù)主要優(yōu)點(diǎn)之一就是具有在空間上從不需要的反射中.例如被試器件上所有連接器或未端接端口·分辨出要求的反射，而無(wú)任何有區(qū)。