GB/T 17444-1998紅外焦平面陣列特性參數(shù)測試技術(shù)規(guī)范

ICS31.260L52中華人民共和國國家標準GB/T17444-一-1998紅外焦平面陣列特性參數(shù)測試技術(shù)規(guī)范Thetechnicalnormsformeasurementandtestofcharacteristicparametersofinfraredfocalplanearrays1998-07-18發(fā)布1999-05-01實施國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T17444-1998日次前言·······特性參數(shù)及相關(guān)量的定義3測試方法及測試條件附錄A(標準的附錄），響應(yīng)率的其他表示附錄B(標準的附錄）空間噪聲12附錄C(標準的附錄）備用特性參數(shù)及相關(guān)量13附錄D(提示的附錄)死像元、過熱像元及平均響應(yīng)率下、平均噪聲電壓可、的計算方法

GB/T17444-1998紅外焦平面陣列(以下簡稱焦平面)是紅外凝視成像和成像光譜儀等新一代紅外系統(tǒng)的核心器件國外焦平面已經(jīng)處于實用階段。國內(nèi)在國家高技術(shù)計劃安排下已進行了十年的研究。在硅化鉑、梯化和硫鍋汞等三類焦平面研究方面，分別取得了良好進展。在應(yīng)用方面開展了雙波段紅外凝視成像輻射計和紅外成像制導等研究，受到用戶的重視。焦平面擁有成千上萬個像元，并帶有讀出電路，具有信號獲取與信號讀出雙重功能，比之紅外單元探測器，完全是一種新穎器件，因此，對焦平面特性的描述帶來許多新的內(nèi)容。至今尚未見到國外發(fā)表的焦平面特性參數(shù)測試技術(shù)規(guī)范。國內(nèi)技術(shù)人員都從各自的需要和理解定義了一些參數(shù)，互不統(tǒng)一。隨著焦平面研究和應(yīng)用工作的發(fā)展，追切需要統(tǒng)一的特性參數(shù)名稱和測試方法來評價器件。本規(guī)范是為滿足這種需要而制定的。本標準的附錄A、附錄B和附錄C是標準的附錄。本標準的附錄D是提示的附錄。本標準由中國科學院提出并歸口。本標準起草單位：中國科學院上海技術(shù)物理研究所本標準主要起草人：董亮初、丁瑞軍、梁平治、唐紅蘭、陳世軍。

中華人民共和國國家標準紅外焦平面陣列特性參數(shù)測試技術(shù)規(guī)范GB/T17444-1998Thetechnicalnormsformeasurementandtestofcharacteristicparametersofinfraredfocalplanearrays1范圍本標準所指的焦平面,是敏感紅外輻照(以下簡稱輻照)的光敏元陣列并帶有讀出電路的器件。本標準對焦平面特性參數(shù)及相關(guān)址進行了定義。本標準給出了焦平面主要特性參數(shù)的測試方法及測試條件。本標準適用于線列和面陣焦平面。特性參數(shù)及相關(guān)量的定義本標準采用下列定義2.11積分時間(integrationtime)像元累積輻照產(chǎn)生電荷的時間，符號為m,單位為秒(s)。2.2順周期(frameperiod）面陣焦平面一賴信號讀出所需要的時間，符號為mom，單位為秒(s)。2.3行周期（lineperiod)線列焦平面一行信號讀出所需要的時間，符號為em,單位為秒(s)。2.4最高像元速率（maximumpixelrate）焦平面像元信號讀出的最高速率，符號為/o.單位為赫茲（Hz)2.5電街容量（chargecapacity）焦平面像元能容納的最大信號電荷數(shù)，符號為N、.單位為電子電荷(e)。2.66輻照功率(irradiationpower）入射到一個像元上的恒定輻照功率，符號為,單位為瓦(W）2.7輻照能量(irradiationenergy）輻照功率P與積分時間m之積，符號為E,單位為焦耳(J)。由式(1)表示：=PX熱·（1）2.8飽和輻照功率（saturationirradiationpower)焦平面在一定周期或行周期條件下，輸出信號達到飽和時的最小輻照功率，符號為P單位為瓦（W）。2.9