標準解讀
GB/T 16921-1997 是一項中國國家標準,全稱為《金屬覆蓋層 厚度測量 X射線光譜方法》。該標準規(guī)定了利用X射線光譜技術(shù)來測定金屬材料表面覆蓋層厚度的方法,適用于測量鍍層、涂層等金屬覆蓋層在基體材料上的厚度。以下是該標準的主要內(nèi)容概覽:
適用范圍
- 本標準適用于測定金屬及合金表面的單層或多層金屬覆蓋層的厚度,覆蓋層包括電鍍層、化學鍍層、熱浸鍍層等。
- 覆蓋層材料需為X射線可激發(fā)產(chǎn)生特征輻射的元素,且其原子序數(shù)應(yīng)與基體材料有明顯差異。
測量原理
- 利用X射線熒光光譜分析技術(shù),當樣品受到X射線照射時,覆蓋層和基體材料會發(fā)射出各自特有的特征X射線熒光。通過檢測這些熒光的強度,結(jié)合已知的物理模型和校準曲線,可以計算出覆蓋層的厚度。
測量設(shè)備與條件
- 規(guī)定了X射線光譜儀的技術(shù)要求,包括能量分辨率、檢測極限等性能指標。
- 測量前需對儀器進行校準,使用已知厚度的標準樣品建立校準曲線。
- 對測試環(huán)境如溫度、濕度等也有所要求,以減少外界因素對測量結(jié)果的影響。
樣品制備與處理
- 樣品表面應(yīng)平整、清潔,無油污、氧化皮等影響測量的雜質(zhì)。
- 對于多層覆蓋層,需明確各層材料及可能的相互干擾,采用適當?shù)哪P瓦M行分析。
測量步驟與數(shù)據(jù)處理
- 包括測量點的選擇、數(shù)據(jù)采集、背景扣除、校正因子應(yīng)用等詳細操作流程。
- 介紹了如何根據(jù)測量數(shù)據(jù),利用軟件或計算方法得到覆蓋層的準確厚度。
精密度與準確度
- 提供了重復性和再現(xiàn)性試驗方法,以評估測量結(jié)果的精密度。
- 規(guī)定了與其它認可方法比較的準確性驗證要求。
報告
- 要求測量報告中應(yīng)包含測試條件、所用標準、測量結(jié)果及其不確定度等信息。
安全與防護
- 強調(diào)了在進行X射線測量時的安全措施,包括輻射防護、操作人員培訓等,確保符合國家關(guān)于輻射安全的相關(guān)法規(guī)。
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文檔簡介
TCS.25.220.40429中華人民共和國國家標準GB/T16921-1997一eqvISO3497:1990金屬覆蓋層厚度測量X射線光譜方法MeasurementofmetaliiccoatingthicknessX-rayspectrometricmethods1997-07-25發(fā)布1998-02-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
GB/T16921-1997前本標準是根據(jù)ISO3497:1990《金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量X射線光譜法》制定的,在技術(shù)內(nèi)溶上與該國際標準等效,編寫規(guī)則上與之基本等同。本標準與ISO3497:1990相比,在第6、7兩章的目次和章節(jié)的安排上有所不同,但其內(nèi)容和順序不變本標準的附錄A是標準的附錄本標準自發(fā)布實施日起,代替JB/T5068—91《金屬覆蓋層厚度測址X射線光譜方法》。本標準由中華人民共和國機械工業(yè)部提出。本標準由全國金屬與非金屬覆蓋層標準化技術(shù)委員會歸口本標準起草單位:機械工業(yè)部武漢材料保護研究所本標準主要起草人:朱鯊生。
GB/T16921-1997ISO前言ISO(國際標準化組織)是各國家標準團體(ISO成員團體)的全世界聯(lián)合,制定國際標準的工作-般通過ISO技術(shù)委員會進行。各成員團體如對某一技術(shù)委員會確定的主題感興趣,有權(quán)向該委員會陳述。與ISO有聯(lián)系的政府、非政府的國際組織也可參加工作。在電工標準化的各方面,ISO與國際電工委員會(IEC)密切合作。技術(shù)委員會通過的國際標準草案,在ISO理業(yè)會采納為國際標準之前,先送各成員團體認可,按照ISO)程序,參與投票的成員團體至少要有75%認可才出版為國際標準。國際標準ISO3497由ISO/TC107金屬和其他無機覆蓋層技術(shù)委員會制定。此第二版取代同時注銷第一版(ISO3497:1976),屬于其技術(shù)修訂。附錄A屬于本國際標準的組成部分
中華人民共和國國家標準金屬覆蓋層厚度測量X射線光譜方法GB/T16921-1997eqvISO3497:1990MeasurementofmetalliccoatingthicknessX-rayspectrometricmethods本標準規(guī)定了測量金屬覆蓋層厚度的X射線光譜方法。本標準規(guī)定的方法是一種非接觸式無損測厚方法,可同時測量一些三層體系。本標準所用的測量方法基本屬于測定單位面積質(zhì)量的一種方法。如果已知覆蓋層材料的密度,則測量結(jié)果也可用覆蓋層的線性厚度表示。授蓋層材料的實際測厚范圍主要取決于容許的測量不確定度。而且因所用儀器設(shè)備及操作條件而不同。常用金屬覆蓋層材料的典型測量范圍見附錄A(標準的附錄)。2定義本標準采用下列定義、2.1X射線熒光(XRF)高能入射X射線照射到材料上產(chǎn)生的二次輻射。此二次輻射具有該材料的波長和能量特征,2.2光輻射強度由儀器測量的用每秒計數(shù)(輻射脈沖)表示的輻射強度。2.3歸一化強度(Z。)經(jīng)過歸一化處理的熒光輻射強度歸一化強度與測量儀器、測量時間、激發(fā)輻射強度無關(guān)。但測量系統(tǒng)的幾何結(jié)構(gòu)和激發(fā)輻射能量影響歸一化計數(shù)率。歸一化強度/。由式(1)給出:·········(1)式中:1.-覆蓋層試樣測得的熒光輻射強度;1一一未涂覆基體材料測得的熒光輻射強度;一厚度大于或等于飽和厚度的涂覆材料測得的熒光輻射強度;1.、1。、7.是在同一條件下測定的。2.4飽和厚度在一定條件下,材料的熒光輻射強度不再隨材料的厚度的增加而產(chǎn)生可檢測變化的最小厚度。注1飽和厚度取決于熒光輻射的能量或波長,材料的密度和原子序數(shù),以及人射角、熒光輻射與材料表面的關(guān)系2.5中間授蓋層位于表面覆蓋層和基體材料之間,厚度應(yīng)小
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