實驗1 集成門電路功能測試

實驗1集成門電路功能測試一、實驗目的1．掌握邏輯值與電壓值的關(guān)系。2．掌握常用邏輯門電路的邏輯功能及測試方法。3．熟悉數(shù)字電路實驗箱的結(jié)構(gòu)、基本功能及使用方法。二、實驗內(nèi)容基本門電路的邏輯功能測試;觀測輸入輸出端的邏輯值，測量出輸出端對應的電壓值。邏輯門的轉(zhuǎn)換:利用74S00與非門組成非門，2輸入與門,2輸入或門電路。門電路的基本應用:測試用“異或”門和“與非”門組成的半加器的邏輯功能。三、實驗原理1.門電路的基本概念門電路：實現(xiàn)各種邏輯關(guān)系的電路

正邏輯系統(tǒng)：高電位用1表示，低電位用0表示負邏輯系統(tǒng)：高電位用0表示，低電位用1表示。TTL集成門:輸出高電平約3.6V，低電平約0.3VCMOS集成門:閾值電壓為電源電壓的一半，即VCC/2。2.邏輯門電路模塊輸入全為

1設(shè)

VA=VB=3.6VVB1升高，足以使T2、T5導通，Vo=0.3V,Y=0。VC2=VCE2+VBE5=0.3+0.7=1V，使T3導通，T4截止。與非門的邏輯功能：全1出0，有0出1。輸入不全為

1VY=5–Vbe3–Vbe4–VR2T2、T5截止，T3、

T4導通，=5–0.7–0.7=3.6V

設(shè):

VA=0.3VVB=3.6V，則

VB1=0.3+0.7=1VT4

與T3并聯(lián)，T1

與T2串聯(lián)；

當AB都是高電平時,T1

與T2同時導通，T4與T3同時截止；輸出Y為低電平。

當AB中有一個是低電平時，T1

與

T2中有一個截止，T4

與T3中有一個導通，輸出Y為高電平。3.集成邏輯電路封裝

4.邏輯值的測試：5.數(shù)字電路實驗箱圖解：116位0-1電平輸出顯示;②40腳帶自緊活動芯片座;③雙列直插式芯片插座;④16位0-1信號開關(guān);⑤電阻、電容、整流二極管;⑥脈沖信號源;⑦直流信號源;⑧與計算機通信的串口（9針）⑨PLCC芯片座（44腳;⑩3個不同阻值的電位器;?蜂鳴器74LS00與非門組成非門，

2輸入與門,

2輸入或門電路測試用“異或”門和“與非”門組成的半加器5.門電路的轉(zhuǎn)換及應用6.實驗線路圖四、實驗內(nèi)容1、驗證74LS08(與門)、74LS32(或門)、74LS04(非門)、74LS00(與非門)、74LS86(異或門)的功能將被測芯片插入實驗區(qū)的空插座,連接好測試線路,撥動開關(guān),改變輸入信號,觀測輸入輸出端的邏輯值時，并用萬用表測量出輸出端對應的電壓值，驗正TTL電路的邏輯功能,記錄實驗數(shù)據(jù)。2、利用74S00與非門組成非門，2輸入與門,2輸入或門電路，畫出實驗電路圖，并測試其邏輯功能，驗證結(jié)果。

3、測試用“異或”門和“與非”門組成的半加器的邏輯功能根據(jù)半加器的邏輯表達式可知，半加器的輸出的和數(shù)S是輸入A、B（二進制數(shù)）的“異或”，而進位數(shù)C是A、B的相“與”，故半加器可用一個集成“異或”門和二個“與非”門組成，如圖1.9a.3所示。⑴在實驗箱上用“異或”門(74LS86)和“與非”門連接圖1.9a.3所示邏輯電路