GB/T 15174-2017可靠性增長大綱

ICS03120100312030

;

L05....

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T15174—2017/IEC610142003

代替:

GB/T15174—1994

可靠性增長大綱

Programmesforreliabilitygrowth

(IEC61014:2003,IDT)

2017-11-01發(fā)布2018-05-01實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T15174—2017/IEC610142003

:

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

基本概念

4…………………7

概述

4.1…………………7

薄弱環(huán)節(jié)和失效的根源

4.2……………7

產(chǎn)品研制過程的可靠性增長基本概念綜合可靠性工程概念

4.3;……8

試驗階段產(chǎn)品可靠性增長基本概念

4.4………………8

設(shè)計階段可靠性增長計劃和達(dá)到的可靠性的估計

4.5………………9

管理

5………………………12

概述

5.1…………………12

設(shè)計階段的程序和過程

5.2……………13

溝通協(xié)調(diào)機(jī)制

5.3………………………13

設(shè)計階段的人力及費用

5.4……………14

費用效益

5.5……………15

可靠性增長大綱的計劃和執(zhí)行

6…………15

綜合可靠性增長概念和綜述

6.1………………………15

設(shè)計階段的可靠性增長活動

6.2………………………16

確認(rèn)試驗階段的可靠性增長活動

6.3…………………18

可靠性增長試驗的考慮

6.4……………18

現(xiàn)場可靠性增長

7…………………………28

參考文獻(xiàn)

……………………29

Ⅰ

GB/T15174—2017/IEC610142003

:

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)代替可靠性增長大綱與相比主要技術(shù)變化如下

GB/T15174—1994《》。GB/T15174—1994,:

增加了部分術(shù)語和定義見第章

———(3);

增加了產(chǎn)品研制階段試驗階段設(shè)計階段可靠性增長基本概念部分的內(nèi)容見第章

———、、(4);

增加了設(shè)計階段的程序和過程人力及費用部分的內(nèi)容見第章

———、(5);

增加了綜合可靠性增長概念和綜述設(shè)計階段的可靠性增長活動確認(rèn)試驗階段的可靠性增長

———、、

活動章的內(nèi)容并將年版的第章的內(nèi)容放到第章作了更加詳細(xì)的說明見

,19947、8、9、106,(

第章

6);

將年版第章部分內(nèi)容放到第章增加了現(xiàn)場可靠性增長部分的內(nèi)容見第章

———199476,(6);

刪除了附錄見年版的附錄

———A(1994A)。

本標(biāo)準(zhǔn)使用翻譯法等同采用可靠性增長大綱

IEC61014:2003《》。

與本標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)范性引用的國際文件有一致性對應(yīng)關(guān)系的我國文件如下

:

可靠性試驗第部分試驗周期設(shè)計

———GB/T5080.2—20122:(IEC60605-2:1994,IDT);

可信性管理第部分可信性大綱管理

———GB/T6992.1—19951:(IEC60300-1:1993,IDT);

所有部分設(shè)備可靠性試驗推薦的試驗條件所有部分

———GB/T7288()[IEC60605-3()];

系統(tǒng)可靠性分析技術(shù)失效模式和效應(yīng)分析程序

———GB/T7826—2012(FMEA)(IEC60812:

2006,IDT);

設(shè)計評審

———GB/T7828—1987(IEC61160:2005,NEQ);

故障樹分析程序

———GB/T7829—1987(IEC61025:2006,NEQ)。

本標(biāo)準(zhǔn)與相比做了下列編輯性修改

IEC61014:2003,:

最后一段引用的威布爾分析標(biāo)準(zhǔn)存在引用錯誤在本標(biāo)準(zhǔn)中修改為威布爾

———6.4.3IEC60605-4,,

分析標(biāo)準(zhǔn)同時在本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范性引用文件中增加威布爾分析標(biāo)準(zhǔn)

IEC61649,,IEC61649;

在圖中在所有條件判斷框后面增加了是與否的判斷回答

———8,“”“”;

在圖中參照在圖標(biāo)題前增加了圖注

———10,GB/T15174—1994,。

本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國電工電子產(chǎn)品可靠性與維修性標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC24)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位工業(yè)和信息化部電子第五研究所北京航空工程技術(shù)研究中心蕪湖賽寶信息產(chǎn)

:、、

業(yè)技術(shù)研究院有限公司北京大學(xué)

、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人高軍梅文華侯衛(wèi)國黃永華李東風(fēng)程德斌時鐘

:、、、、、、。

本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB/T15174—1994。

Ⅲ

GB/T15174—2017/IEC610142003

:

可靠性增長大綱

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了暴露和排除硬件和軟件產(chǎn)品中的薄弱環(huán)節(jié)的要求和導(dǎo)則以達(dá)到可靠性增長的目的

,。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于當(dāng)產(chǎn)品規(guī)范要求設(shè)備電子機(jī)電機(jī)械硬件及軟件有可靠性增長大綱或已知設(shè)計若

(、、)

不改進(jìn)則不可能滿足要求時

。

本標(biāo)準(zhǔn)主要內(nèi)容包括基本概念管理計劃試驗實驗室和現(xiàn)場試驗失效分析和改進(jìn)技術(shù)為了

,、、()、。

估計增長后達(dá)到的可靠性水平還簡略概述了數(shù)學(xué)模型

,。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

可靠性試驗第部分試驗條件和統(tǒng)計檢驗原理

GB/T5080.1—20121:(IEC60300-3-5:2001,

IDT)

可信性管理第部分可信性大綱管理

IEC60300-11:(Dependabilitymanagement—Part1:

Dependabilitymanagementsystems)

可信性管理第部分可信性大綱管理導(dǎo)則

IEC60300-22:(Dependabilitymanagement—Part2:

Guidancefordependabilityprogrammemanagement)

可信性管理第部分應(yīng)用指南可信性分析技術(shù)方法學(xué)指導(dǎo)

IEC60300-3-13-1:(Dependability

management—Part3-1:Applicationguide—Analysistechniquesfordependability—Guideonmethodology)

設(shè)備可靠性試驗試驗周期設(shè)計

IEC60605-2(Equipmentreliabilitytesting—Part2:Designof

testcycles)

所有部分設(shè)備可靠性試驗推薦的試驗條件

IEC60605-3()(Equipmentreliabilitytesting—Part

3:Preferredtestconditions)

系統(tǒng)可靠性分析技術(shù)失效模式和效應(yīng)分析程序

IEC60812(FMEA)(Analysistechniquesfor

systemreliab