GB/T 14056.1-2008表面污染測定第1部分：β發(fā)射體(Eβmax＞0.15 MeV)和α發(fā)射體

犐犆犛１７．２４０

犉７４

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜１４０５６．１—２００８

代替ＧＢ／Ｔ１４０５６—１９９３

表面污染測定

第１部分：β發(fā)射體（犈β犿犪狓＞０．１５犕犲犞）

和α發(fā)射體

犈狏犪犾狌犪狋犻狅狀狅犳狊狌狉犳犪犮犲犮狅狀狋犪犿犻狀犪狋犻狅狀—

犘犪狉狋１：犅犲狋犪犲犿犻狋狋犲狉狊（犿犪狓犻犿狌犿犫犲狋犪犲狀犲狉犵狔犵狉犲犪狋犲狉狋犺犪狀０．１５犕犲犞）

犪狀犱犪犾狆犺犪犲犿犻狋狋犲狉狊

（ＩＳＯ７５０３．１：１９８８，ＭＯＤ）

２００８０７０２發(fā)布２００９０４０１實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

書

犌犅／犜１４０５６．１—２００８

前言

ＧＢ／Ｔ１４０５６《表面污染測定》包括下列３個(gè)部分：

———第部分：發(fā)射體（）和發(fā)射體；

１β犈βｍａｘ＞０．１５ＭｅＶα

———第２部分：氚表面污染；

———第部分：同質(zhì)異能躍遷和電子俘獲發(fā)射體、低能發(fā)射體（）。

３β犈βｍａｘ＜０．１５ＭｅＶ

本部分是ＧＢ／Ｔ１４０５６的第１部分，本部分修改采用國際標(biāo)準(zhǔn)ＩＳＯ７５０３．１：１９８８《表面污染測

定———第１部分：β發(fā)射體（最大β能量大于０．１５ＭｅＶ）和α發(fā)射體》。

本部分與ＩＳＯ７５０３．１：１９８８主要技術(shù)性差異如下：

———ＩＳＯ７５０３．１：１９８８引用的其他國際標(biāo)準(zhǔn)中由相應(yīng)的我國標(biāo)準(zhǔn)代替（見第２章）；

———增加了我國標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)于表面污染控制水平的規(guī)定（４．２．１）。

為便于使用，本部分做了下列修改：

———“ＩＳＯ７５０３的本部分”改為“ＧＢ／Ｔ１４０５６的本部分”；

———用小數(shù)點(diǎn)“．”代替作為小數(shù)點(diǎn)的逗號“，”；

———有的條款的段落增加了條的編號。

本部分代替ＧＢ／Ｔ１４０５６—１９９３《表面污染測定第１部分：β發(fā)射體（最大β能量大于０．１５ＭｅＶ）

和α發(fā)射體》，本部分與ＧＢ／Ｔ１４０５６—１９９３相比主要變化如下：

———對原文中少數(shù)條款的表述進(jìn)行了修改；

———恢復(fù)了ＧＢ／Ｔ１４０５６—１９９３相對于ＩＳＯ７５０３．１：１９８８刪去的部分，包括４．２．３．６的注，５．６的

注３、注４、注５，Ａ．２的最后一款。

本部分的附錄Ａ為規(guī)范性附錄。

本部分由中國核工業(yè)集團(tuán)公司提出。

本部分由全國核能標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會（ＳＡＣ／ＴＣ５８）歸口。

本部分起草單位：核工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所。

本部分主要起草人：高米力，張立波。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：

———ＧＢ／Ｔ１４０５６—１９９３。

Ⅰ

書

犌犅／犜１４０５６．１—２００８

表面污染測定

第１部分：β發(fā)射體（犈β犿犪狓＞０．１５犕犲犞）

和α發(fā)射體

１范圍

ＧＢ／Ｔ１４０５６的本部分規(guī)定了測定β發(fā)射體（最大β能量大于０．１５ＭｅＶ）和α發(fā)射體表面污染

的方法。

本部分適用于以單位面積放射性活度表示的設(shè)備、設(shè)施、放射性物質(zhì)的容器以及密封源的表面污染

測定。

本部分僅限于符合下述條件的β發(fā)射體和α發(fā)射體：

ａ）β粒子加單能電子的粒子產(chǎn)生率為每１００次衰變發(fā)射出接近１００個(gè)粒子；

ｂ）α粒子的粒子產(chǎn)生率為每１００次衰變發(fā)射出接近１００個(gè)粒子。

β發(fā)射體詳見附錄Ａ中表Ａ．３。

本部分不適用于皮膚和工作服的污染測定。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過ＧＢ／Ｔ１４０５６的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成

協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本

部分。

ＧＢ／Ｔ５２０２輻射防護(hù)儀器α、β和α／β（β能量大于６０ｋｅＶ）污染測量儀與監(jiān)測儀（ＧＢ／Ｔ５２０２—

２００８，ＩＥＣ６０３２５：２００２，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ１２１２８用于校準(zhǔn)表面污染監(jiān)測儀的參考源β發(fā)射體和α發(fā)射體（ＧＢ／Ｔ１２１２８—１９８９，

ｎｅｑＩＳＯ８７６９：１９８６）

ＧＢ１８８７１電離輻射防護(hù)與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)

３術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于ＧＢ／Ｔ１４０５６的本部分。

３．１

表面污染狊狌狉犳犪犮犲犮狅狀狋犪犿犻狀犪狋犻狅狀

表面具有放射性物質(zhì)的污染。

３．２

固定的表面污染犳犻狓犲犱狊狌狉犳犪犮犲犮狅狀狋犪犿犻狀犪狋犻狅狀

在正常工作條件下以不可轉(zhuǎn)移的方式附著在表面的污染。

注：“