標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 13298-1991 是一項(xiàng)中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，全稱(chēng)為《金屬顯微組織檢驗(yàn)方法》。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了對(duì)金屬材料內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行觀察和分析的規(guī)范程序與要求，以確保檢驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可比性。其主要內(nèi)容包括以下幾個(gè)方面：

  1. 適用范圍：標(biāo)準(zhǔn)適用于鋼鐵及其它金屬材料顯微組織的檢驗(yàn)，包括但不限于通過(guò)光學(xué)顯微鏡、電子顯微鏡等手段觀察到的晶粒度、相結(jié)構(gòu)、夾雜物、缺陷等特征。

  2. 試樣制備：詳細(xì)說(shuō)明了試樣的截取、鑲嵌、磨光、拋光以及必要的腐蝕處理步驟，以揭示清晰的顯微組織結(jié)構(gòu)。強(qiáng)調(diào)了不同材料可能需要采用不同的腐蝕劑和腐蝕時(shí)間，以獲得最佳的組織顯示效果。

  3. 檢驗(yàn)儀器與設(shè)備：介紹了用于金屬顯微組織檢驗(yàn)所需的各種儀器設(shè)備，如光學(xué)顯微鏡、掃描電子顯微鏡（SEM）、透射電子顯微鏡（TEM）及其附件，如攝影裝置和圖像分析系統(tǒng)，并對(duì)這些設(shè)備的基本要求和使用方法進(jìn)行了簡(jiǎn)述。

  4. 檢驗(yàn)方法：詳細(xì)闡述了如何通過(guò)明場(chǎng)、暗場(chǎng)、偏光、干涉色等不同觀察方式來(lái)識(shí)別和分析金屬材料中的各種組織結(jié)構(gòu)，如晶粒、相界、第二相、夾雜物等。同時(shí)，也涉及到了電子背散射衍射（EBSD）等高級(jí)技術(shù)在相鑒定和晶體取向分析中的應(yīng)用。

  5. 組織評(píng)定：提供了評(píng)定金屬顯微組織的準(zhǔn)則，包括晶粒度的測(cè)量方法、非金屬夾雜物的分類(lèi)與評(píng)級(jí)、微觀缺陷的識(shí)別與評(píng)估等，確保評(píng)價(jià)結(jié)果的一致性和重復(fù)性。

  6. 記錄與報(bào)告：規(guī)定了檢驗(yàn)過(guò)程中應(yīng)記錄的信息內(nèi)容和格式，以及最終檢驗(yàn)報(bào)告應(yīng)包含的要素，如試樣信息、檢驗(yàn)條件、觀察結(jié)果、分析結(jié)論等，以保證檢驗(yàn)過(guò)程的可追溯性和報(bào)告的規(guī)范性。

  7. 質(zhì)量控制：強(qiáng)調(diào)了實(shí)施金屬顯微組織檢驗(yàn)時(shí)的質(zhì)量控制措施，包括檢驗(yàn)人員的資格要求、實(shí)驗(yàn)室環(huán)境條件、儀器校準(zhǔn)與維護(hù)等方面，以確保檢驗(yàn)結(jié)果的可靠性和準(zhǔn)確性。


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  • 1991-12-13 頒布
  • 1992-10-01 實(shí)施
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UDC.669·620.186百24中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T13298—91金屬顯微組織檢驗(yàn)方法Metal-inspectionmethodofmicrostructure1991-12-13發(fā)布1992-10-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

(京)新登字023號(hào)中華人民共和國(guó)國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)金屬顯微組織檢驗(yàn)方法B/T13298-91中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復(fù)興門(mén)外三里河北街16號(hào)郵政編碼：100045電話：63787337、637874471992年6月第一版20N4年12月電子版制作書(shū)號(hào)：155066·1-8773版權(quán)專(zhuān)有侵權(quán)必究舉報(bào)電話：（010）68533533

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T13298-91金屬顯微放組織檢驗(yàn)方法Metal-Inspectionmethodofmicrostructure主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了金屬顯微組織檢驗(yàn)的試樣制備、試樣研磨、試樣的浸蝕、顯微組織檢驗(yàn)、顯微照相及試驗(yàn)記錄。本標(biāo)準(zhǔn)適用于用金相顯微鏡檢查金屬組織的操作方法2試樣制備2.1試樣選擇試樣截取的方向、部位、數(shù)量應(yīng)根據(jù)金屬制造的方法，檢驗(yàn)的目的，技術(shù)條件或雙方協(xié)議的規(guī)定進(jìn)行垂直于鍛軋方向的橫截面可以研究金屬材料從表層到中心的組織、顯微組織狀態(tài)、晶粒度級(jí)別、碳化物網(wǎng)、表層缺陷深度、氧化層深度、脫碳層深度、腐蝕層深度、表面化學(xué)熱處理及鍍層厚度等。平行于鍛軋方向的縱截面可以研究非金屬夾雜物的變形程度、晶?；兂潭?、塑性變形程度、變形后的各種組織形貌、熱處理的全面情況等。當(dāng)檢查金屬的破損原因時(shí)，可在破損處取樣或在其附近的正常部位取樣進(jìn)行比較。2.2試樣尺寸試樣尺寸以磨面面積小于400mm2，高度15～20mm為宜。2.3武樣截取試樣可用手鋸、砂輪切割機(jī)、顯微切片機(jī)、化學(xué)切割裝置、電火花切割機(jī)、剪切、鋸、鮑、車(chē)、銑等截取：必要時(shí)也可用氣割法截取。硬而脆的金屬可以用錘擊法取樣。不論用哪種方法取樣,均應(yīng)注意避免截取方法對(duì)組織的影響，如變形、過(guò)熱等。根據(jù)不同方法應(yīng)在切割邊去除這些影響，也可在切割時(shí)采取預(yù)防措施，如水冷等。2.4試樣清洗試樣可用超聲波清洗。試樣表面若治有油漬、污物或銹斑，可用合適溶劑清除。任何妨礙以后基體金屬腐蝕的鑲膜金屬應(yīng)在拋光之前除去。2.5試樣鑲嵌若試樣過(guò)于細(xì)薄(如薄板、細(xì)線材、細(xì)管材等)或試樣過(guò)軟、易碎、或需檢驗(yàn)邊緣組織、或者為便于在自動(dòng)磨光和拋光機(jī)上研磨的試樣。可采用下列方法之一鑲嵌試樣。所選用的鑲嵌方法均不得改變?cè)冀M織。2.5.1機(jī)械鑲嵌

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