標準解讀
《GB/T 13166-2018 電子測量儀器設計余量與模擬誤用試驗》相比《GB/T 13166-1991 電子測量儀器設計余量與模擬誤用試驗》,主要在以下幾個方面進行了更新和調整:
-
技術內容的更新:新版標準依據(jù)當前電子測量技術的發(fā)展,對設計余量的要求和模擬誤用試驗方法進行了修訂,以適應現(xiàn)代電子測量儀器更高的性能需求和使用環(huán)境的變化。
-
標準化語言的規(guī)范:按照最新的國家標準編寫規(guī)則,對標準文本的表述進行了優(yōu)化,提高了標準的可讀性和規(guī)范性,確保了各項要求和測試方法的明確無誤。
-
安全與電磁兼容性要求:增加了關于電子測量儀器安全性能及電磁兼容性的測試內容,反映了國際上對電子產品安全與電磁兼容日益增長的關注,旨在保障用戶安全及設備間的相互兼容性。
-
環(huán)境適應性考量:擴展了環(huán)境試驗條件的范圍,包括溫度、濕度、振動等,以驗證電子測量儀器在更廣泛環(huán)境條件下的穩(wěn)定性和可靠性。
-
數(shù)字技術與軟件相關要求:鑒于數(shù)字化測量技術和軟件應用的普及,新標準中加入了針對電子測量儀器中軟件部分的評估和測試要求,確保軟件功能的準確性和穩(wěn)定性。
-
用戶誤操作防護:加強了對用戶可能的誤操作情形的考慮,規(guī)定了相應的模擬誤用試驗方法,以評估和提升儀器在非預期使用情況下的魯棒性。
-
國際標準接軌:新版標準在制定過程中參考了更多的國際標準和先進國家的標準實踐,增強了中國電子測量儀器標準與國際標準的一致性,便于國際貿易和技術交流。
這些變化旨在提高電子測量儀器的設計質量、增強其在復雜條件下的工作能力和用戶友好性,同時促進國內電子測量行業(yè)與國際水平的接軌。
如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經官方授權發(fā)布的權威標準文檔。
....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2018-06-07 頒布
- 2019-01-01 實施
文檔簡介
ICS17220
L85.
中華人民共和國國家標準
GB/T13166—2018
代替
GB/T13166—1991
電子測量儀器設計余量與模擬誤用試驗
Designmarginandabusetestsforelectronicmeasuringinstrument
2018-06-07發(fā)布2019-01-01實施
國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布
中國國家標準化管理委員會
GB/T13166—2018
前言
本標準按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本標準代替電子測量儀器設計余量與模擬誤用試驗
GB/T13166—1991《》。
本標準與相比除編輯性修改外主要技術變化如下
GB/T13166—1991,:
刪除了試驗目的見年版的第章
———(19912);
增加了規(guī)范性引用文件見第章
———(2);
刪除了試驗要求見年版的第章
———(19913);
增加了術語和定義見第章
———(3);
刪除了程序見年版的第章
———(19914);
增加了儀器的三級指標見
———(4.1.1);
增加了儀器設計余量內容見
———(4.1.2);
增加了儀器參數(shù)和指標確定見
———(4.1.3);
增加了儀器余量設計方案見
———(4.2);
增加了軟件工程化設計見
———(4.2.4);
增加了設計驗證見
———(4.3);
增加了模擬誤用見第章
———(5);
增加了資料性附錄設計余量試驗示例和模擬誤用及預防措施示例見附錄和附錄
———“”“”(AB)。
請注意本文件的某些內容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構不承擔識別這些專利的責任
。。
本標準由全國電子測量儀器標準化技術委員會歸口
(SAC/TC153)。
本標準起草單位工業(yè)和信息化部電子工業(yè)標準化研究院蘇州市質量技術監(jiān)督綜合檢驗檢測中
:、
心中國電子科技集團公司第研究所
、41。
本標準主要起草人黃英華宋敏曹玲江巖
:、、、。
本標準所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為
:
———GB/T13166—1991。
Ⅰ
GB/T13166—2018
電子測量儀器設計余量與模擬誤用試驗
1范圍
本標準規(guī)定了電子測量儀器以下簡稱儀器新產品在設計時應進行的設計余量與模擬誤用試驗
()。
本標準適用于所有環(huán)境組別的電子測量儀器
。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
工業(yè)科學和醫(yī)療射頻設備騷擾特性限值和測量方法
GB4824、(ISM)
電子測量儀器通用規(guī)范
GB/T6587
電磁兼容試驗和測量技術靜電放電抗擾度試驗
GB/T17626.2
電磁兼容試驗和測量技術射頻電磁場輻射抗擾度試驗
GB/T17626.3
電磁兼容試驗和測量技術電快速瞬變脈沖群騷擾抗擾度試驗
GB/T17626.4
電磁兼容試驗和測量技術射頻場感應的傳導騷擾抗擾度試驗
GB/T17626.6
3術語和定義
下列術語和定義適用于本文件
。
31
.
設計余量designmargin
在設計時對產品的關鍵參數(shù)保留的裕度其中包括安全因素和性能因素
,。
32
.
模擬誤用abuse
使用者不按照操作規(guī)程進行的可能會對儀器性能和指標造成影響嚴重時甚至會損壞儀器和被測
,,
件甚至對人身造成傷害的操作
。
4設計余量
41通則
.
411儀器的三級指標
..
儀器設計階段的指標分為合同指標內控指標和調試指標三個等級
、。
412儀器設計余量內容
..
儀器正式設計之前應對目標儀器的全壽命周期中規(guī)定的環(huán)境條件與應力變量做全面分析并科學
,
地制定足夠的設計余量將設計余量與最優(yōu)系統(tǒng)效能電磁兼容性
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