標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 12085.16-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第16部分:彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)》相比于《GB/T 12085.16-1995 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)》,主要在以下幾個(gè)方面進(jìn)行了更新和調(diào)整:

  1. 標(biāo)準(zhǔn)名稱結(jié)構(gòu)調(diào)整:2010版標(biāo)準(zhǔn)在名稱中加入了“第16部分”,這表明該標(biāo)準(zhǔn)被納入了一個(gè)更廣泛的標(biāo)準(zhǔn)體系中,與其他部分共同構(gòu)成了完整的光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法系列,提高了標(biāo)準(zhǔn)的系統(tǒng)性和易識(shí)別性。

  2. 技術(shù)內(nèi)容更新:雖然具體的技術(shù)細(xì)節(jié)變更未直接列出,但作為一項(xiàng)修訂標(biāo)準(zhǔn),通常會(huì)對(duì)原有的試驗(yàn)條件、測(cè)試程序、評(píng)估指標(biāo)等進(jìn)行修訂或增補(bǔ),以反映最新的科研成果和行業(yè)實(shí)踐,確保測(cè)試方法的準(zhǔn)確性和適用性。例如,可能對(duì)彈跳或恒加速度的強(qiáng)度、持續(xù)時(shí)間,以及高溫、低溫的具體范圍和變換速率等參數(shù)進(jìn)行了優(yōu)化或細(xì)化。

  3. 規(guī)范性引用文件:新版標(biāo)準(zhǔn)很可能會(huì)更新規(guī)范性引用文件列表,引用了最新的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)、國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)或其他技術(shù)規(guī)范,以保證標(biāo)準(zhǔn)的先進(jìn)性和與其他標(biāo)準(zhǔn)的一致性。

  4. 試驗(yàn)設(shè)備與方法的改進(jìn):隨著技術(shù)進(jìn)步,2010版標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)試驗(yàn)所用的設(shè)備規(guī)格、操作步驟或數(shù)據(jù)處理方法提出了新的要求,旨在提高試驗(yàn)的可重復(fù)性和準(zhǔn)確性。

  5. 術(shù)語(yǔ)和定義的明確:為適應(yīng)行業(yè)發(fā)展和技術(shù)進(jìn)步,新標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)一些關(guān)鍵術(shù)語(yǔ)給出了更精確或更新的定義,幫助使用者更好地理解和執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)。

  6. 增加或調(diào)整了試驗(yàn)報(bào)告的要求:為了確保試驗(yàn)結(jié)果的完整性和可追溯性,新版標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)對(duì)試驗(yàn)報(bào)告的內(nèi)容、格式提出新的要求,包括需要記錄的數(shù)據(jù)項(xiàng)、分析方法及結(jié)論表述等。

  7. 編輯性修改:除了實(shí)質(zhì)性內(nèi)容的更改外,還可能包括文字表述的優(yōu)化、圖表更新、章節(jié)結(jié)構(gòu)的調(diào)整等編輯性改動(dòng),以提升標(biāo)準(zhǔn)的可讀性和實(shí)用性。

這些變更旨在提高標(biāo)準(zhǔn)的科學(xué)性、實(shí)用性和國(guó)際兼容性,更好地服務(wù)于光學(xué)和光學(xué)儀器的環(huán)境適應(yīng)性評(píng)價(jià)。


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  • 2011-01-14 頒布
  • 2011-05-01 實(shí)施
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GB/T 12085.16-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第16部分:彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)_第1頁(yè)
GB/T 12085.16-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第16部分:彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)_第2頁(yè)
GB/T 12085.16-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第16部分:彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)_第3頁(yè)
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ICS37.020N30中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T12085.16—2010代替GB/T12085.16-1995光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第16部分:彈跳或恒加速度與高溫低溫綜合試驗(yàn)Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Part16:Combinedbounceorsteady-stateaccelerationanddryheatorcold(ISO9022-16:1998,MOD)2011-01-14發(fā)布2011-05-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T12085.16-2010前GB/T12085《光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法》分為以下16個(gè)部分:第第1部分:術(shù)語(yǔ)、試驗(yàn)范圍:-第2部分:低溫、高溫、濕熱;-第3部分:機(jī)械作用力;第4部分:鹽霧;第5部分:低溫、低氣壓綜合試驗(yàn);第6部分:砂塵:-第7部分:滴水、淋雨;第8部分:高壓、低壓、浸沒(méi);-第9部分:太陽(yáng)輻射;第10部分:振動(dòng)(正弦)與高溫、低溫綜合試驗(yàn);第11部分:長(zhǎng)霉;第第12部分:污染:-第13部分:沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗(yàn):第14部分:露、霜、冰;第15部分:寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)與高溫、低溫綜合試驗(yàn);-第16部分:彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)本部分為GB/T12085的第16部分。本部分修改采用ISO9022-16:1998《光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第16部分:彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)》。本部分與ISO9022-16:1998的主要差異如下:-刪除國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的序言和前言;根據(jù)ISO9022-16第1章及我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)用語(yǔ)習(xí)慣作了重新編寫:“國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)本部分"一詞改為"本部分”。本部分代替GB/T12085.16—1995《光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)》,與GB/T12085.16—1995的主要差異為:合并了范圍與試驗(yàn)?zāi)康模盒薷牧俗兞繙夭畹挠?jì)量單位:-增加了試驗(yàn)條件的總則及相關(guān)要求;增加了條件試驗(yàn)的懸字段編號(hào):增加了試驗(yàn)程序的總則:增加了環(huán)境試驗(yàn)的標(biāo)記名稱,修改了相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)號(hào)的編寫本部分由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。本部分由全國(guó)光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC103)歸口.本部分起草單位:上海理工大學(xué)、寧波永新光學(xué)股份有限公司。本部分主要起草人:章慧賢、馮瓊輝、曾麗珠、張燕珂.本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:-B/T12085.16-1995。

GB/T12085.16—2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第16部分:彈跳或恒加速度與高溫低溫綜合試驗(yàn)范圍本部分規(guī)定了彈跳或恒加速度與高溫或低溫綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件本試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、化學(xué)和電氣等性能受到彈跳或恒加速度與高溫、低溫影響時(shí)的變化程度2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)(B/T12085的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分.然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。(B/T2423.43—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法振動(dòng)、沖擊和類似動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)樣品的安裝(GB/T2423.43-2008.IEC60068-2-47:2005.IDT)GB/T12085.1光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第1部分:術(shù)語(yǔ)、試驗(yàn)范圍(GB/T12085.1-2010.1S09022-1:1994.MOD)GB/T12085.2光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第2部分:低溫、高溫、濕熱(GB/T12085.2-2010.1SO9022-2:2002,MOD)GB/T12085.3光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:機(jī)械作用力(GB/T12085.3—2010,ISO9022-3:1998.MOD)試驗(yàn)條件在綜合作用力條件下對(duì)暴露的試樣進(jìn)行的測(cè)試,要比任一種單一環(huán)境條件試驗(yàn)更為嚴(yán)酷表中規(guī)定的溫度值選自GB/T12085.2,條件試驗(yàn)方法10和11.試驗(yàn)應(yīng)符合GB/T12085.3的要求固定試樣的裝置應(yīng)符合GB/T2423.43的要求,試樣夾具應(yīng)隔熱若試樣裝在減震器上,則應(yīng)考慮減震器元件恒溫的時(shí)間。儀器用于抗彈跳(條件試驗(yàn)方法57和58)的試驗(yàn)是在帶運(yùn)輸包裝或貼存或運(yùn)輸情況下進(jìn)行。條件試驗(yàn)41總則試樣各部分都應(yīng)達(dá)到試驗(yàn)箱(室)溫度3K以內(nèi)才開(kāi)始試驗(yàn)。對(duì)于散熱型試樣,在溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)箱(室)內(nèi)試樣的溫

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