標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 11446.6-2013 電子級水中二氧化硅的分光光度測試方法》與前版《GB/T 11446.6-1997》相比,主要在以下幾個方面進(jìn)行了更新和調(diào)整:

  1. 技術(shù)內(nèi)容的修訂:新版標(biāo)準(zhǔn)對測試原理、試劑配制、樣品處理步驟以及測量條件等方面進(jìn)行了細(xì)化和優(yōu)化,以提高測試的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。例如,可能對顯色反應(yīng)條件、波長選擇、空白校正等具體操作給出了更明確的指導(dǎo)。

  2. 儀器要求的提升:鑒于科技進(jìn)步,2013版標(biāo)準(zhǔn)可能對使用的分光光度計(jì)等檢測儀器的性能指標(biāo)提出了更高要求,包括但不限于精度、穩(wěn)定性、檢測限等方面,以適應(yīng)現(xiàn)代實(shí)驗(yàn)室分析的需要。

  3. 適用范圍的明確:新標(biāo)準(zhǔn)可能對適用的電子級水類型(如超純水、高純水等)及其二氧化硅含量范圍做了更清晰的界定,確保測試方法的針對性和實(shí)用性。

  4. 精密度和準(zhǔn)確度的要求:為了保證測試結(jié)果的可靠性,2013版標(biāo)準(zhǔn)可能新增或修訂了關(guān)于測定結(jié)果精密度和準(zhǔn)確度的具體要求,包括重復(fù)性限、再現(xiàn)性限及與參考方法的比較驗(yàn)證等內(nèi)容。

  5. 環(huán)保與安全考慮:隨著對實(shí)驗(yàn)室安全與環(huán)境保護(hù)意識的增強(qiáng),新標(biāo)準(zhǔn)可能加入了關(guān)于試劑使用、廢棄物處理的安全指導(dǎo)和環(huán)保要求,旨在減少實(shí)驗(yàn)操作對環(huán)境的影響和保障操作人員安全。

  6. 術(shù)語與定義的更新:為與國際標(biāo)準(zhǔn)接軌,2013版可能對相關(guān)專業(yè)術(shù)語進(jìn)行了修訂或增補(bǔ),使其更加準(zhǔn)確、統(tǒng)一,便于國內(nèi)外交流。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2013-12-31 頒布
  • 2014-08-15 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 11446.6-2013電子級水中二氧化硅的分光光度測試方法_第1頁
GB/T 11446.6-2013電子級水中二氧化硅的分光光度測試方法_第2頁
GB/T 11446.6-2013電子級水中二氧化硅的分光光度測試方法_第3頁
GB/T 11446.6-2013電子級水中二氧化硅的分光光度測試方法_第4頁
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文檔簡介

ICS31-030

L90

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T114466—2013

代替.

GB/T11446.6—1997

電子級水中二氧化硅的

分光光度測試方法

TestmethodforSiO2inelectronic

gradewaterbyspectrophotometer

2013-12-31發(fā)布2014-08-15實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

中華人民共和國

國家標(biāo)準(zhǔn)

電子級水中二氧化硅的

分光光度測試方法

GB/T11446.6—2013

*

中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行

北京市朝陽區(qū)和平里西街甲號

2(100013)

北京市西城區(qū)三里河北街號

16(100045)

網(wǎng)址

:

服務(wù)熱線

:400-168-0010

年月第一版

20144

*

書號

:155066·1-48678

版權(quán)專有侵權(quán)必究

GB/T114466—2013

.

前言

預(yù)計(jì)結(jié)構(gòu)如下

GB/T11446:

電子級水

———GB/T11446.1;

待定

———GB/T11446.2();

電子級水測試方法通則

———GB/T11446.3;

電子級水電阻率的測試方法

———GB/T11446.4;

電子級水中痕量金屬的原子吸收分光光度測試方法

———GB/T11446.5;

電子級水中二氧化硅的分光光度測試方法

———GB/T11446.6;

電子級水中痕量陰離子的離子色譜測試方法

———GB/T11446.7;

電子級水中總有機(jī)碳的測試方法

———GB/T11446.8;

電子級水中微粒的儀器測試方法

———GB/T11446.9;

電子級水中細(xì)菌總數(shù)的濾膜培養(yǎng)測試方法

———GB/T11446.10。

本部分為的第部分

GB/T114466。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替電子級水中二氧化硅的分光光度測試方法

GB/T11446.6—1997《》。

本部分與相比主要有下列變化

GB/T11446.6—1997,:

將干擾因素修改為干擾因素見第章

———“9”“5”(5);

工作曲線的繪制中根據(jù)待測水樣中二氧化硅含量明確將工作曲線分為兩組見和

———“”,,(9.1.1

9.1.2);

增加了對水樣獨(dú)立進(jìn)行兩次測定取其平均值見

———“,”(9.3.3)。

本部分由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出

。

本部分由中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所歸口

。

本部分起草單位信息產(chǎn)業(yè)部專用材料質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所中國電子技

:、、

術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院中國電子科技集團(tuán)公司第四十六研究所

、。

本部分主要起草人王奕褚連青何秀坤段曙光提劉旺劉筠

:、、、、、。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB/T11446.6—1989、GB/T11446.6—1997。

GB/T114466—2013

.

電子級水中二氧化硅的

分光光度測試方法

1范圍

的本部分規(guī)定了電子級水中二氧化硅的分光光度測試方法

GB/T11446。

本部分適用于電子級水中二氧化硅的測定其中檢出限為

,1μg/L。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

電子級水

GB/T11446.1—2013

電子級水測試方法通則

GB/T11446.3—2013

3術(shù)語和定義

界定的術(shù)語和定義適用于本文件

GB/T11446.3—2013。

4方法原理

水中可溶性硅在酸性介質(zhì)中與鉬酸銨反應(yīng)生成黃色硅銅雜多酸

(pH=1~2)(NH4)2H6

用還原劑氨基萘酚磺酸還原黃色的硅鉬雜多酸為硅鉬藍(lán)然后用分光光

[Si(MO2O7)6]·H2O,1--2--4-,

度計(jì)測定硅鉬藍(lán)的吸光度計(jì)算出水中可溶性硅量水中非溶性硅可用氫氟酸溶解進(jìn)行全硅的測定

,。,。

5干擾因素

51磷酸鹽與砷酸鹽等在測定條件下生成相應(yīng)的藍(lán)色雜多酸可用草酸酒石酸等羥基酸消除砷磷的

.,、、

干擾

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