標準解讀

《GB/T 11297.1-2002 激光棒波前畸變的測量方法》相比于其前身《GB 11297.1-1989》,主要在以下幾個方面進行了調整和更新:

  1. 標準性質的變化:從標準編號的更改可以看出,《GB 11297.1-1989》到《GB/T 11297.1-2002》,“GB”變?yōu)椤癎B/T”,表明該標準從強制性國家標準轉變?yōu)橥扑]性國家標準,為使用提供了更多靈活性。

  2. 技術內容的更新:新版標準融入了近年來激光技術和測量技術的最新發(fā)展成果,對激光棒波前畸變的測量原理、方法和設備要求等方面進行了修訂和完善,提高了測量的準確性和實用性。

  3. 測量精度提升:隨著技術進步,2002版標準可能引入了更精密的測量技術和算法,以提高對激光棒波前畸變的定量分析能力,確保測量結果更加精確可靠。

  4. 適用范圍擴展:新標準可能根據激光技術的應用拓展,調整或擴大了適用的激光棒類型和應用領域,使得標準能夠更好地服務于多樣化的激光產品開發(fā)與質量控制需求。

  5. 術語和定義的規(guī)范:為了適應技術發(fā)展和國際接軌的需求,2002版標準對相關專業(yè)術語和定義進行了修訂和標準化,增強了標準的清晰度和國際兼容性。

  6. 試驗方法和步驟的優(yōu)化:詳細規(guī)定了更為科學、系統(tǒng)的試驗方法和操作步驟,旨在減少測量過程中的不確定性和人為誤差,提高測試效率。

  7. 質量控制與校準要求:加強了對測量設備的校準和維護要求,確保測量結果的可追溯性和重復性,提升整體測試水平。


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  • 被代替
  • 已被新標準代替,建議下載現(xiàn)行標準GB/T 11297.1-2017
  • 2002-12-04 頒布
  • 2003-05-01 實施
?正版授權
GB/T 11297.1-2002激光棒波前畸變的測量方法_第1頁
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ICS31.260L51中華人民共和國國家標準GB/T11297.1—2002代替GB/T11297.1-1989激光棒波前畸變的測量方法Testmethodforwavefrontdistortionoflaserrods2002-12-04發(fā)布2003-05-01實施華中和八發(fā)布國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局

GB/T11297.1-2002GB/T11297標準分為以下幾部分:-GB/T11297.1激光棒波前畸變的測量方法;GB/T11297.2激光棒側向散射系數的測量方法;-GB/T11297.3摻欽鋁石榴石激光棒消光比的測量方法;-GB/T11297.4摻欽鋁石榴石激光棒長脈沖激光閥值及斜率效率的測量方法:B/T11297.5摻欽鋁石榴石激光棒連續(xù)激光國值、斜率效率和輸出功率的測量方法;GB/T11297.6第化鋼單品位錯蝕坑的腐蝕顯示及測量方法;GB/T11297.7第化鋼單品電阻率及霍耳系數的測試方法;GB/T11297.8熱釋電材料熱釋電系數的測試方法;B/T11297.9熱釋電材料介質損耗角正切值tan8的測試方法;GB/T11297.10熱釋電材料居里溫度T的測試方法:GB/T11297.11熱釋電材料介電常數的測試方法;GB/T11297.12電光品體酸鋰、磷酸二氫鉀和磷酸二爾鉀消光比的測量方法。本部分代替GB/T11297.1—1989《激光棒波前畸變的測量方法》。本部分與GB/T11297.1—1989相比主要變化是:采用CCD(電荷幫合器件)攝像頭對干涉圖進行拍攝.測試軟件對干涉圖進行分析計算的測試方法代替以往的人工計算干涉條紋,實踐證明,這種方法有效、可行。本部分的附錄A為規(guī)范性附錄,本部分由中華人民共和國信息產業(yè)部提出。本部分由中國電子技術標準化研究所(CESI)歸口。本部分起草單位:華北光電技術研究所。本部分主要起草人:王志學、姚廣濤、仇瑛

GB/T11297.1-2002激光棒波前畸變的測量方法1范圍GB/T11297的本部分規(guī)定了激光棒波前畸變的測試方法本部分適用于波長為632.8nm的光波能透過的激光棒品體2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T11297的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本部分。GB/T11293—1989固體激光材料名詞術語術語和定義GB/T11293確立的以及下列術語和定義適用于GB/T11297的本部分3波前wavefront波陣面Waveironl光波振動相位相同的點所構成的面3.2干涉儀interferometer利用光的干涉原理測定光程差或其他光參量的儀器33雙程型干涉儀interferometerofdouble-passtype測試光束兩次通過被測樣品的干涉儀。干涉條紋interferencefringe干涉條紋圖interferencefringedrawing光波干涉所產生的亮暗相間的條紋或圖樣3.5條紋間距fringespacing干涉圖上兩個相鄰亮條紋或兩個相鄰暗條紋之間的間距3.6參考面referencesurface為確定波

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