SPC統計實用培訓教材課件

SPC培訓教程一、持續(xù)改進及統計過程控制概述二、SPC基礎三、計數型數據控制圖?JohnZ.Rao20011raozhong@163.netSPC培訓教程一、持續(xù)改進及統計過程控制概述?JohnZ.產品質量波動及其統計描述產品質量特性定性定量連續(xù)離散計量值計數值計件值計數值?JohnZ.Rao20012raozhong@163.net產品質量波動及其統計描述產品質量特性定性定量連續(xù)離散計量值計變異誤差=X-X0偶然性誤差：誤差大小和方向的變化是隨機的。系統性誤差：誤差大小和方向的變化保持不變或按一定規(guī)律變化。過程控制中常用精度這個概念來反映質量的波動（變異）程度。?JohnZ.Rao20013raozhong@163.net變異誤差=X-X0?JohnZ.Rao20精度精度又可分為：準確度(Accuracy)：反映系統誤差的影響程度；精密度(Precision)：反映偶然誤差的影響程度；精確度(Uncertainty)：反映系統誤差和偶然誤差綜合的影響程度?JohnZ.Rao20014raozhong@163.net精度精度又可分為：?JohnZ.Rao20014ra精度的概念準確度好精密度好系統誤差小偶然誤差小準確度差精密度高系統誤差大偶然誤差小準確度高精密度差系統誤差小偶然誤差大準確度差精密度差系統誤差大偶然誤差大?JohnZ.Rao20015raozhong@163.net精度的概念準確度好準確度差準確度高準確度差?JohnZ.持續(xù)改進及統計過程控制概述預防與檢測過程控制系統變差：普通原因及特殊原因局部措施和對系統采取措施過程控制和過程能力過程改進循環(huán)及過程控制控制圖：過程控制工具控制圖的益處?JohnZ.Rao20016raozhong@163.net持續(xù)改進及統計過程控制概述預防與檢測?JohnZ.Rao持續(xù)改進及統計過程控制概述之一

檢測與預防過程控制的需要檢測—容忍浪費預防—避免浪費?JohnZ.Rao20017raozhong@163.net持續(xù)改進及統計過程控制概述之一

檢測與預防過程控制的需要?J持續(xù)改進及統計過程控制概述之二

過程控制系統我們工作的方式資源的融合產品或服務顧客識別不斷變化的需求和期望顧客的聲音人

設備

材料

方法

環(huán)境

輸入過程/系統輸出過程的聲音統計方法有反饋的過程控制系統模型?JohnZ.Rao20018raozhong@163.net持續(xù)改進及統計過程控制概述之二

過程控制系統我們工作產品顧客持續(xù)改進及統計過程控制概述之三

變差的普通原因及特殊原因?JohnZ.Rao20019raozhong@163.net持續(xù)改進及統計過程控制概述之三

變差的普通原因及特殊原因?JSPC基礎SPC(StatisticalProcessControl)統計過程控制：利用統計技術對過程中的各個階段進行監(jiān)控，從而得到保證產品質量的目的。二十世紀二十年代美國休哈特(W.A.Shewhart)首創(chuàng)過程控制(ProcessControl)理論極其監(jiān)控過程的工具—控制圖(ControlChart)形成SPC的基礎，后擴展到任何可以應用的數理統計方法。控制圖(ControlChart)：對過程質量特性記錄評估，以監(jiān)察過程是否處于受控狀態(tài)的一種統計方法圖。1924年5月6日休哈特提出的不合格樣品率P控制圖為世界第一張控制圖。?JohnZ.Rao200110raozhong@163.netSPC基礎SPC(StatisticalProcess產品質量的統計觀點一產品質量具有變異性影響產品質量的因素有6MMan:人Machine:機Material:料Method:法Mother-nature:環(huán)Measurement:測無論人類社會如何進步發(fā)展，產品質量不可能保持絕對恒定，一定具有變異性。?JohnZ.Rao200111raozhong@163.net產品質量的統計觀點一產品質量具有變異性?JohnZ.Ra產品質量的統計觀點二產品質量的變異具有統計規(guī)律性確定性現象，確定性規(guī)律：在一定條件下，必然發(fā)生或不可能發(fā)生的事情。如一個大氣壓（760mm汞柱）下，H2O的變化規(guī)律。溫度0℃ 固體狀態(tài)溫度0℃<t<100℃ 液體狀態(tài)溫度100℃ 氣體狀態(tài)隨機現象，統計規(guī)律：在一定條件下事件可能發(fā)生也可能不發(fā)生的現象。如我們無法預知內存電性能測試合格率大于99%，但大量統計數據證明有99%的可能性大于99%。?JohnZ.Rao200112raozhong@163.net產品質量的統計觀點二產品質量的變異具有統計規(guī)律性?John正態(tài)分布分布(distribution)：用來描述隨機現象的統計規(guī)律，說明兩個問題：變異的幅度有多大；出現這么大幅度的概率。計量特性值：如PCB金手指厚度、重量或時間等連續(xù)性數據，最常見的是正態(tài)分布(normaldistribution)。計件特性值：如內存合格/不合格兩種離散性數據，最常見的是二項分布

(binomialdistribution)。計點特性值：如每條內存上少錫點數等離散性數據，最常見的是泊松分布(Poissondistribution)。由于二項分布和泊松分布數據數理統計理論較復雜，以下討論以正態(tài)分布為例。?JohnZ.Rao200113raozhong@163.net正態(tài)分布分布(distribution)：用來描述隨機現象的正態(tài)分布直方圖(histogram)：在橫軸上以樣本數據每組對應的組距等距離線段為底，縱軸表示樣本數據落入相應直方組的頻數的n個矩形所組成的圖形。如100條PCB金手指厚度，標準503.94。用面積表示頻率或頻數統計學顯示計量特性值分布特點是：中間高，兩頭低，左右對稱?JohnZ.Rao200114raozhong@163.net正態(tài)分布直方圖(histogram)：在橫軸上以樣本數據每組正態(tài)分布正態(tài)分布：直方圖所取得數據越多，分組越密，則直方圖就越趨近一條光滑的曲線。這條光滑的曲線就形成正態(tài)分布曲線，其特點是中間高，兩頭底，左右對稱并延伸至無窮。?JohnZ.Rao200115raozhong@163.net正態(tài)分布正態(tài)分布：直方圖所取得數據越多，分組越密，則直方圖就正態(tài)分布特征正態(tài)分布是一條曲線，討論起來不方便，故用其兩個參數描述其特征：平均值（average)標準差（standarddeviation)說明：（1）平方是為了避免正負抵消（2）是求平均值（3）是為了避免單位變化或無故放大?JohnZ.Rao200116raozhong@163.net正態(tài)分布特征正態(tài)分布是一條曲線，討論起來不方便，故用其兩個參平均值對正態(tài)的曲線的影響若平均值增大，則正態(tài)曲線往右移動，見‘若平均值減小，則正態(tài)曲線往左移動，見““’?JohnZ.Rao200117raozhong@163.net平均值對正態(tài)的曲線的影響若平均值增大，則正態(tài)曲線往右移動，見正態(tài)分布平均值與標準差的關系平均值與標準差是相互獨立的。無論平均值如何變化都不會改變正態(tài)分布的形狀，即標準差；無論標準差如何變化，也不會影響數據的對稱中心，即平均值。?JohnZ.Rao200118raozhong@163.net正態(tài)分布平均值與標準差的關系平均值與標準差是相互獨立的。無論標準差對正態(tài)曲線的影響若標準差越大，則數據分布越分散，波動范圍大；若標準差越小，則數據分布越集中，波動范圍小。?JohnZ.Rao200119raozhong@163.net標準差對正態(tài)曲線的影響若標準差越大，則數據分布越分散，波動范控制圖原理3原則不論與取值為何，只要上下限距中心值（平均值）的距離各為3，則產品質量特征值落在范圍內的為99.73%，這是數學計算的精確值，應該牢牢記住。產品質量特征值落在[-3，+3]之外的概率為0.27%，其中單側的概率分別為0.135%。休哈特正是據此發(fā)明了控制圖。?JohnZ.Rao200120raozhong@163.net控制圖原理3原則?JohnZ.Rao200120ra控制圖原理控制圖的形成：將正態(tài)分布圖按順時針方向旋轉90°，得到圖B；但圖B中上端數值大，不符合視角常規(guī)，故再將圖前后旋轉180°，得到圖C。圖C就是一張典型的控制圖——單值控制圖。圖中UCL=+3為上控制限，CL=為中心線，LCL=-3為下控制限。?JohnZ.Rao200121raozhong@163.net控制圖原理控制圖的形成：?JohnZ.Rao20012判異規(guī)則（一）點出界就判異如上圖第四點已超出UCL，故判斷過程異常。為什么？若過程正常，則點子超出UCL的概率為0.135%。若過程異常，值增大，分布曲線整體上移，則點子超出UCL的概率大大增加，可能是的幾十倍、幾百倍。在這兩種可能性中選擇一種，當然選擇過程異常。?JohnZ.Rao200122raozhong@163.net判異規(guī)則（一）點出界就判異?JohnZ.Rao2001判異規(guī)則（二）兩種錯誤虛發(fā)警報(falsealarm)：過程正常，但樣本正好抽到0.135%處，根據判異規(guī)則判定過程異常。通常這種錯誤的概率記為。漏發(fā)警報(alarmmissing):過程異常，但樣本正好抽到仍位于控制界限以內，根據判異規(guī)則判定過程正常。通常這種錯誤的概率為。?JohnZ.Rao200123raozhong@163.net判異規(guī)則（二）兩種錯誤?JohnZ.Rao200123判異準則Criteriaforabnormality點出界就判異；雖然點均未出界，但界內點排列不隨機就判異；第二條準則的具體模式理論上有無窮多種，但具有實際物理意義并被廣泛使用的有少數幾種。?JohnZ.Rao200124raozhong@163.net判異準則Criteriaforabnormality點常規(guī)休哈特控制圖數據特征分布控制圖簡記備注計量值正態(tài)分布均值—極差控制圖X-R可取消均值—標準差控制圖X-S中位值—極差控制圖X-R可取消單值—移動極差控制圖X-Rs計件值二項分布不合格品率控制圖p不合格品數控制圖np計點值泊松分布單位不合格數控制圖u不合格數控制圖c?JohnZ.Rao200125raozhong@163.net常規(guī)休哈特控制圖數據特征分布控制圖簡記備注計量值正態(tài)分布均值控制圖選用程序?JohnZ.Rao200126raozhong@163.net控制圖選用程序?JohnZ.Rao200126raoz計數型數據的控制圖準備工作建立一個好的行動環(huán)境定義過程確定要管理的特性應考慮顧客的需求當前及潛在的問題領域特性之間的關系定義測量系統，使之具有可操作性使不必要的變差最小?JohnZ.Rao200127raozhong@163.net計數型數據的控制圖準備工作?JohnZ.Rao2001計數型數據控制圖的種類不合格品率p控制圖不合格品數np控制圖不合格數c控制圖單位不合格數u控制圖?JohnZ.Rao200128raozhong@163.net計數型數據控制圖的種類不合格品率p控制圖?JohnZ.R不合格率的p圖數據收集選擇子組的容量、頻率和數量子組容量(n=50~200)分組頻率子組的數量(>25)計算每個子組的不合格率（p）記錄每個子組的下列值被檢項目的數量——n發(fā)現的不合格項目——np計算不合格率p=np/p選擇控制圖的坐標刻度（1.5~2倍）將不合格品率描繪在控制圖上?JohnZ.Rao200129raozhong@163.net不合格率的p圖數據收集?JohnZ.Rao200129不合格率的p圖計算控制界限計算過程平均不合格品率P=計算上、下控制界限（UCL、LCL）UCL=p+3LCL=p-畫線并標注過程平均——水平實線控制線路（UCL、LCL）——水平虛線?JohnZ.Rao200130raozhong@163.net不合格率的p圖計算控制界限?JohnZ.Rao2001、變化示意圖時間特性值不變傾向性變化?JohnZ.Rao200131raozhong@163.net、變化示意圖時間特性值不變?JohnZ.Rao2、變化示意圖時間特性值不變無規(guī)律變化?JohnZ.Rao200132raozhong@163.net、變化示意圖時間特性值不變?JohnZ.Rao2、變化示意圖時間特性值規(guī)律性變化不變?JohnZ.Rao200133raozhong@163.net、變化示意圖時間特性值規(guī)律性變化?JohnZ.Ra、變化示意圖時間特性值無規(guī)律變化不變?JohnZ.Rao200134raozhong@163.net、變化示意圖時間特性值無規(guī)律變化?JohnZ.Ra、變化示意圖時間特性值無規(guī)律變化無規(guī)律變化?JohnZ.Rao200135raozhong@163.net、變化示意圖時間特性值無規(guī)律變化?JohnZ.RaX-R控制圖計量值最常用、重要的控制圖適用范圍廣：X圖：X正態(tài)X正態(tài)X非正態(tài)近似正態(tài)（中心極限定理）中心極限定理使得X圖廣為應用。R圖通過計算機上的模擬試驗證實：只要X不是非常不對稱，則R的分布無大的變化。?JohnZ.Rao200136raozhong@163.netX-R控制圖計量值最常用、重要的控制圖?JohnZ.RaX-R控制圖靈敏度高X圖：X通過平均R圖：無此優(yōu)點偶因至少可以部分抵消（偶因反映在上）異因不變靈敏度高異因突出?JohnZ.Rao200137raozhong@163.netX-R控制圖靈敏度高偶因至少可以部分抵消靈敏度高異因突出?JX圖的控制線設過程正常，x~N(，2)則可證明X~N((，2/n)，n為樣本大小若、已知，則X圖的控制線為UCL=CLLCL?JohnZ.Rao200138raozhong@163.netX圖的控制線設過程正常，x~N(，2)?JohnZ.若、未知，則需對其進行估計，即?JohnZ.Rao200139raozhong@163.net若、未知，則需對其進行估計，即?JohnZ.RaoA.收集數據A1選擇子組大小、頻率和數據A2建立控制圖及記錄原始數據A3計算每個子組的均值（X）和極差（R）A4選擇控制圖的刻度A5將均值和極差畫到控制圖上?JohnZ.Rao200140raozhong@163.netA.收集數據A1選擇子組大小、頻率和數據?JohnZ.A1選擇子組大小、頻率和數據子組大小

使各樣本之間出現變差的機會小 在過程的初期研究中，子組一般由4~5件連續(xù)生產的產品的組合，僅代表一個單一的過程流。子組頻率 在過程的初期研究中，通常是連續(xù)進行分組或很短的時間間隔進行分組 過程穩(wěn)定后，子組間的時間間隔可以增加。子組數的大小

一般>100個單值讀數，>25個子組?JohnZ.Rao200141raozhong@163.netA1選擇子組大小、頻率和數據子組大小?JohnZ.Rao?JohnZ.Rao200142raozhong@163.net?JohnZ.Rao200142raozhong@16A2建立控制圖及記錄原始數據X-R圖通常是將X圖畫在R圖之上方，下面再接一個數據欄。X和R的值為縱坐標，按時間先后的子組為橫坐標。數據值以及極差和均值點應縱向對齊。數據欄應包括每個讀數的空間。同時還應包括記錄讀數的和、均值（X）、極差（R）以及日期/時間或其他識別子組的代碼的空間。?JohnZ.Rao200143raozhong@163.netA2建立控制圖及記錄原始數據X-R圖通常是將X圖畫在R圖之A3計算每個子組的極差和均值畫在控制圖上的特性量是每個子組的樣本均值（X）和樣本極差（R），合在一起后它們分別反映整個過程的均值及其變差。對每個子組，計算：式中：X1，X2為子組內的每個測量值。N為子組的樣本容量。?JohnZ.Rao200144raozhong@163.netA3計算每個子組的極差和均值畫在控制圖上的特性量是每個子組的?JohnZ.Rao200145raozhong@163.net?JohnZ.Rao200145raozhong@16A4選擇控制圖的刻度兩個控制圖的縱坐標分別用于X和R的測量值。X圖：坐標上的刻度值的最大值與最小值之差應至少為子組均值勤（X）的最大值與最小值差的2倍。R圖：刻度值應從最低值為0開始到最大值之間的差值為初始階段所遇到的最大極差（R）的2倍。?JohnZ.Rao200146raozhong@163.netA4選擇控制圖的刻度兩個控制圖的縱坐標分別用于X和R的測量值A5將均值和極差畫到控制圖上將均值和極差分別畫在其各自的圖上。該工作在確定了刻度以后應盡快完成。將各點用直線聯接起來從而得到可見的圖形和趨勢。簡要地瀏覽一下所有畫上去的點，看它們是否合理，如果有的點比別的點高得很多或低得很多，需確認計算及畫圖是否正確，應確保所畫的X和R點在縱向是對應的。?JohnZ.Rao200147raozhong@163.netA5將均值和極差畫到控制圖上將均值和極差分別畫在其各自的圖上?JohnZ.Rao200148raozhong@163.net?JohnZ.Rao200148raozhong@16?JohnZ.Rao200149raozhong@163.net?JohnZ.Rao200149raozhong@16SPC培訓教程一、持續(xù)改進及統計過程控制概述二、SPC基礎三、計數型數據控制圖?JohnZ.Rao200150raozhong@163.netSPC培訓教程一、持續(xù)改進及統計過程控制概述?JohnZ.產品質量波動及其統計描述產品質量特性定性定量連續(xù)離散計量值計數值計件值計數值?JohnZ.Rao200151raozhong@163.net產品質量波動及其統計描述產品質量特性定性定量連續(xù)離散計量值計變異誤差=X-X0偶然性誤差：誤差大小和方向的變化是隨機的。系統性誤差：誤差大小和方向的變化保持不變或按一定規(guī)律變化。過程控制中常用精度這個概念來反映質量的波動（變異）程度。?JohnZ.Rao200152raozhong@163.net變異誤差=X-X0?JohnZ.Rao20精度精度又可分為：準確度(Accuracy)：反映系統誤差的影響程度；精密度(Precision)：反映偶然誤差的影響程度；精確度(Uncertainty)：反映系統誤差和偶然誤差綜合的影響程度?JohnZ.Rao200153raozhong@163.net精度精度又可分為：?JohnZ.Rao20014ra精度的概念準確度好精密度好系統誤差小偶然誤差小準確度差精密度高系統誤差大偶然誤差小準確度高精密度差系統誤差小偶然誤差大準確度差精密度差系統誤差大偶然誤差大?JohnZ.Rao200154raozhong@163.net精度的概念準確度好準確度差準確度高準確度差?JohnZ.持續(xù)改進及統計過程控制概述預防與檢測過程控制系統變差：普通原因及特殊原因局部措施和對系統采取措施過程控制和過程能力過程改進循環(huán)及過程控制控制圖：過程控制工具控制圖的益處?JohnZ.Rao200155raozhong@163.net持續(xù)改進及統計過程控制概述預防與檢測?JohnZ.Rao持續(xù)改進及統計過程控制概述之一

檢測與預防過程控制的需要檢測—容忍浪費預防—避免浪費?JohnZ.Rao200156raozhong@163.net持續(xù)改進及統計過程控制概述之一

檢測與預防過程控制的需要?J持續(xù)改進及統計過程控制概述之二

過程控制系統我們工作的方式資源的融合產品或服務顧客識別不斷變化的需求和期望顧客的聲音人

設備

材料

方法

環(huán)境

輸入過程/系統輸出過程的聲音統計方法有反饋的過程控制系統模型?JohnZ.Rao200157raozhong@163.net持續(xù)改進及統計過程控制概述之二

過程控制系統我們工作產品顧客持續(xù)改進及統計過程控制概述之三

變差的普通原因及特殊原因?JohnZ.Rao200158raozhong@163.net持續(xù)改進及統計過程控制概述之三

變差的普通原因及特殊原因?JSPC基礎SPC(StatisticalProcessControl)統計過程控制：利用統計技術對過程中的各個階段進行監(jiān)控，從而得到保證產品質量的目的。二十世紀二十年代美國休哈特(W.A.Shewhart)首創(chuàng)過程控制(ProcessControl)理論極其監(jiān)控過程的工具—控制圖(ControlChart)形成SPC的基礎，后擴展到任何可以應用的數理統計方法。控制圖(ControlChart)：對過程質量特性記錄評估，以監(jiān)察過程是否處于受控狀態(tài)的一種統計方法圖。1924年5月6日休哈特提出的不合格樣品率P控制圖為世界第一張控制圖。?JohnZ.Rao200159raozhong@163.netSPC基礎SPC(StatisticalProcess產品質量的統計觀點一產品質量具有變異性影響產品質量的因素有6MMan:人Machine:機Material:料Method:法Mother-nature:環(huán)Measurement:測無論人類社會如何進步發(fā)展，產品質量不可能保持絕對恒定，一定具有變異性。?JohnZ.Rao200160raozhong@163.net產品質量的統計觀點一產品質量具有變異性?JohnZ.Ra產品質量的統計觀點二產品質量的變異具有統計規(guī)律性確定性現象，確定性規(guī)律：在一定條件下，必然發(fā)生或不可能發(fā)生的事情。如一個大氣壓（760mm汞柱）下，H2O的變化規(guī)律。溫度0℃ 固體狀態(tài)溫度0℃<t<100℃ 液體狀態(tài)溫度100℃ 氣體狀態(tài)隨機現象，統計規(guī)律：在一定條件下事件可能發(fā)生也可能不發(fā)生的現象。如我們無法預知內存電性能測試合格率大于99%，但大量統計數據證明有99%的可能性大于99%。?JohnZ.Rao200161raozhong@163.net產品質量的統計觀點二產品質量的變異具有統計規(guī)律性?John正態(tài)分布分布(distribution)：用來描述隨機現象的統計規(guī)律，說明兩個問題：變異的幅度有多大；出現這么大幅度的概率。計量特性值：如PCB金手指厚度、重量或時間等連續(xù)性數據，最常見的是正態(tài)分布(normaldistribution)。計件特性值：如內存合格/不合格兩種離散性數據，最常見的是二項分布

(binomialdistribution)。計點特性值：如每條內存上少錫點數等離散性數據，最常見的是泊松分布(Poissondistribution)。由于二項分布和泊松分布數據數理統計理論較復雜，以下討論以正態(tài)分布為例。?JohnZ.Rao200162raozhong@163.net正態(tài)分布分布(distribution)：用來描述隨機現象的正態(tài)分布直方圖(histogram)：在橫軸上以樣本數據每組對應的組距等距離線段為底，縱軸表示樣本數據落入相應直方組的頻數的n個矩形所組成的圖形。如100條PCB金手指厚度，標準503.94。用面積表示頻率或頻數統計學顯示計量特性值分布特點是：中間高，兩頭低，左右對稱?JohnZ.Rao200163raozhong@163.net正態(tài)分布直方圖(histogram)：在橫軸上以樣本數據每組正態(tài)分布正態(tài)分布：直方圖所取得數據越多，分組越密，則直方圖就越趨近一條光滑的曲線。這條光滑的曲線就形成正態(tài)分布曲線，其特點是中間高，兩頭底，左右對稱并延伸至無窮。?JohnZ.Rao200164raozhong@163.net正態(tài)分布正態(tài)分布：直方圖所取得數據越多，分組越密，則直方圖就正態(tài)分布特征正態(tài)分布是一條曲線，討論起來不方便，故用其兩個參數描述其特征：平均值（average)標準差（standarddeviation)說明：（1）平方是為了避免正負抵消（2）是求平均值（3）是為了避免單位變化或無故放大?JohnZ.Rao200165raozhong@163.net正態(tài)分布特征正態(tài)分布是一條曲線，討論起來不方便，故用其兩個參平均值對正態(tài)的曲線的影響若平均值增大，則正態(tài)曲線往右移動，見‘若平均值減小，則正態(tài)曲線往左移動，見““’?JohnZ.Rao200166raozhong@163.net平均值對正態(tài)的曲線的影響若平均值增大，則正態(tài)曲線往右移動，見正態(tài)分布平均值與標準差的關系平均值與標準差是相互獨立的。無論平均值如何變化都不會改變正態(tài)分布的形狀，即標準差；無論標準差如何變化，也不會影響數據的對稱中心，即平均值。?JohnZ.Rao200167raozhong@163.net正態(tài)分布平均值與標準差的關系平均值與標準差是相互獨立的。無論標準差對正態(tài)曲線的影響若標準差越大，則數據分布越分散，波動范圍大；若標準差越小，則數據分布越集中，波動范圍小。?JohnZ.Rao200168raozhong@163.net標準差對正態(tài)曲線的影響若標準差越大，則數據分布越分散，波動范控制圖原理3原則不論與取值為何，只要上下限距中心值（平均值）的距離各為3，則產品質量特征值落在范圍內的為99.73%，這是數學計算的精確值，應該牢牢記住。產品質量特征值落在[-3，+3]之外的概率為0.27%，其中單側的概率分別為0.135%。休哈特正是據此發(fā)明了控制圖。?JohnZ.Rao200169raozhong@163.net控制圖原理3原則?JohnZ.Rao200120ra控制圖原理控制圖的形成：將正態(tài)分布圖按順時針方向旋轉90°，得到圖B；但圖B中上端數值大，不符合視角常規(guī)，故再將圖前后旋轉180°，得到圖C。圖C就是一張典型的控制圖——單值控制圖。圖中UCL=+3為上控制限，CL=為中心線，LCL=-3為下控制限。?JohnZ.Rao200170raozhong@163.net控制圖原理控制圖的形成：?JohnZ.Rao20012判異規(guī)則（一）點出界就判異如上圖第四點已超出UCL，故判斷過程異常。為什么？若過程正常，則點子超出UCL的概率為0.135%。若過程異常，值增大，分布曲線整體上移，則點子超出UCL的概率大大增加，可能是的幾十倍、幾百倍。在這兩種可能性中選擇一種，當然選擇過程異常。?JohnZ.Rao200171raozhong@163.net判異規(guī)則（一）點出界就判異?JohnZ.Rao2001判異規(guī)則（二）兩種錯誤虛發(fā)警報(falsealarm)：過程正常，但樣本正好抽到0.135%處，根據判異規(guī)則判定過程異常。通常這種錯誤的概率記為。漏發(fā)警報(alarmmissing):過程異常，但樣本正好抽到仍位于控制界限以內，根據判異規(guī)則判定過程正常。通常這種錯誤的概率為。?JohnZ.Rao200172raozhong@163.net判異規(guī)則（二）兩種錯誤?JohnZ.Rao200123判異準則Criteriaforabnormality點出界就判異；雖然點均未出界，但界內點排列不隨機就判異；第二條準則的具體模式理論上有無窮多種，但具有實際物理意義并被廣泛使用的有少數幾種。?JohnZ.Rao200173raozhong@163.net判異準則Criteriaforabnormality點常規(guī)休哈特控制圖數據特征分布控制圖簡記備注計量值正態(tài)分布均值—極差控制圖X-R可取消均值—標準差控制圖X-S中位值—極差控制圖X-R可取消單值—移動極差控制圖X-Rs計件值二項分布不合格品率控制圖p不合格品數控制圖np計點值泊松分布單位不合格數控制圖u不合格數控制圖c?JohnZ.Rao200174raozhong@163.net常規(guī)休哈特控制圖數據特征分布控制圖簡記備注計量值正態(tài)分布均值控制圖選用程序?JohnZ.Rao200175raozhong@163.net控制圖選用程序?JohnZ.Rao200126raoz計數型數據的控制圖準備工作建立一個好的行動環(huán)境定義過程確定要管理的特性應考慮顧客的需求當前及潛在的問題領域特性之間的關系定義測量系統，使之具有可操作性使不必要的變差最小?JohnZ.Rao200176raozhong@163.net計數型數據的控制圖準備工作?JohnZ.Rao2001計數型數據控制圖的種類不合格品率p控制圖不合格品數np控制圖不合格數c控制圖單位不合格數u控制圖?JohnZ.Rao200177raozhong@163.net計數型數據控制圖的種類不合格品率p控制圖?JohnZ.R不合格率的p圖數據收集選擇子組的容量、頻率和數量子組容量(n=50~200)分組頻率子組的數量(>25)計算每個子組的不合格率（p）記錄每個子組的下列值被檢項目的數量——n發(fā)現的不合格項目——np計算不合格率p=np/p選擇控制圖的坐標刻度（1.5~2倍）將不合格品率描繪在控制圖上?JohnZ.Rao200178raozhong@163.net不合格率的p圖數據收集?JohnZ.Rao200129不合格率的p圖計算控制界限計算過程平均不合格品率P=計算上、下控制界限（UCL、LCL）UCL=p+3LCL=p-畫線并標注過程平均——水平實線控制線路（UCL、LCL）——水平虛線?JohnZ.Rao200179raozhong@163.net不合格率的p圖計算控制界限?JohnZ.Rao2001、變化示意圖時間特性值不變傾向性變化?JohnZ.Rao200180raozhong@163.net、變化示意圖時間特性值不變?JohnZ.Rao2、變化示意圖時間特性值不變無規(guī)律變化?JohnZ.Rao200181raozhong@163.net、變化示意圖時間特性值不變?JohnZ.Rao2、變化示意圖時間特性值規(guī)律性變化不變?JohnZ.Rao200182raozhong@163.net、變化示意圖時間特性值規(guī)律性變化?JohnZ.Ra、變化示意圖時間特性值無規(guī)律變化不變?JohnZ.Rao200183raozhong@163.net、變化示意圖時間特性值無規(guī)律變化?JohnZ.Ra、變化示意圖時間特性值無規(guī)律變化無規(guī)律變化?JohnZ.Rao200184raozhong@163.net、變化示意圖時間特性值無規(guī)律變化?JohnZ.RaX-R控制圖計量值最常用、重要的控制圖適用范圍廣：X圖：X正態(tài)X正態(tài)X非正態(tài)近似正態(tài)（中心極限定理）中心極限定理使得X圖廣為應用。R圖通過計算機上的模擬試驗證實：只要X不是非常不對稱，則R的分布無大的變化。?JohnZ.Rao200185raozhong@163.netX-R控制圖計量值最常用、重要的控制圖?JohnZ.RaX-R控制圖靈敏度高X圖：X通過平均R圖：無此優(yōu)點偶因至少可以部分抵消（偶因反映在上）異因不變靈敏度高異因突出?JohnZ.Rao200186raozhong@163.netX-R控制圖靈敏度高偶因至少可以部分抵消靈敏度高異因突出?JX圖的控制線設過程正常，x~N(，2)則可證明X~N((，2/n)，n為樣本大小若、已知，則X圖的控制線為UCL=CL