統(tǒng)計制程管制的基礎(chǔ)理論(與“品質(zhì)”有關(guān)的文檔共24張)

統(tǒng)計制程管制的基礎(chǔ)理論1第一頁，共24頁。SPC簡介2.製程能力分析3.品管方法課程內(nèi)容ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司4.SPC軟件介紹2第二頁，共24頁。第一章SPC簡介重點:1.SPC的概念2.SPC的功能與目的3.計數(shù)值與計量值4.管制圖的LINE5.管制圖的種類ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司3第三頁，共24頁。英文全稱:StatisticalProcessControl1924年由美國品管大師W.A.Shewhart博士在貝爾實驗室研究產(chǎn)品品質(zhì)特性之次數(shù)分配時所發(fā)明。ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司一.SPC統(tǒng)計製程管制4第四頁，共24頁。英國在1932年，邀請W.A.Shewhart博士到倫敦，主講統(tǒng)計品質(zhì)管制，而提高了英國人將統(tǒng)計方法應(yīng)用到工業(yè)方面之氣氛。就控制圖在工廠中實施來說，英國比美國為早。日本在1950年由W.E.Deming博士引到日本。同年日本規(guī)格協(xié)會成立了品質(zhì)管制委員會，制定了相關(guān)的JIS標(biāo)準(zhǔn)。ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司5第五頁，共24頁。二.SPC的功能與目的統(tǒng)計品質(zhì)管理認(rèn)為，變差（波動）是始終存在的.影響製程（或產(chǎn)品）特性波動的因素有普通原因和特殊原因統(tǒng)計製程管制:運用統(tǒng)計的方法鑑別製程中由於機(jī)遇原因或非機(jī)遇原因造成的變異.ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司6第六頁，共24頁。ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司三.計數(shù)值與計量值進(jìn)行SPC管制的數(shù)據(jù)有很多種，總體上可以分為兩大類:1.計量值數(shù)據(jù)，通常需要進(jìn)行量測才能得到如感值，長度，重量等2.計數(shù)值數(shù)據(jù)，通過數(shù)數(shù)得到的數(shù)據(jù)如不良品數(shù)，不良品率，每一產(chǎn)品上的缺點數(shù)等。

7第七頁，共24頁。四.管制圖的基本原理ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司統(tǒng)計理論認(rèn)為母體參數(shù)可由隨機(jī)抽取的樣本來估計，SPC圖的統(tǒng)計基礎(chǔ)即在於此。一般SPC圖有六條LINE6σX平均管制下限(LCL)規(guī)格上限(USL)規(guī)格中心(SL)規(guī)格下限(LSL)管制上限(UCL)USL-LSL8第八頁，共24頁。五.管制圖的種類計量值控制圖平均值與全距控制圖平均值與標(biāo)準(zhǔn)差控制圖中位值與全距控制圖個別值與移動全距控制圖計數(shù)值控制圖不良率控制圖不良數(shù)控制圖缺點數(shù)控制圖單位缺點控制圖依種類分類ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司9第九頁，共24頁。第二章製程能力分析重點1.Cpk,Ca,Cp的名稱2.Cpk,Ca,Cp的概念3.製程能力的等級ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司10第十頁，共24頁。ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司一.Cpk

Cpk=（1-|Ca|）CPCpk：制程能力指數(shù)，爲(wèi)綜合Ca與Cp兩者之指數(shù)，作爲(wèi)制程能力的指標(biāo)。

11第十一頁，共24頁。ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司Ca：制程準(zhǔn)確度，是用以衡量産品平均值與規(guī)格中心值之一致性Ca=

X平均-SLMin(USL-SL,SL-LSL)對一個製程來說,|Ca|越大實際中心偏離規(guī)格中心的距離就越大;|Ca|越小實際中心偏離規(guī)格中心的距離就越小

二.Ca12第十二頁，共24頁。ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司三.CpCp：制程精密度，是用以衡量産品變異寬度與規(guī)格公差符合之程度Cp=

USL-LSL6σ對一個製程來說,Cp越大製程變異就越小;

Cp越小,製程變異就越大.

13第十三頁，共24頁。ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司四.如何判定制程能力？Cpk值可分爲(wèi)A、B、C、D、E五個等級Cpk值的等級判定：

對Cpk進(jìn)行等級判定後,應(yīng)根據(jù)Cpk值不同的等級分別採取不同的處理原則或改進(jìn)措施.現(xiàn)分別說明如下:等

級Cpk值A(chǔ)1.67≤CpkB1.33≤Cpk≤1.67C1≤Cpk≤1.33D0.67≤Cpk≤1E0≤Cpk≤0.6714第十四頁，共24頁。ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司第三章品管方法重點1.品質(zhì)觀念2.QC七大手法15第十五頁，共24頁。一.品質(zhì)觀念品質(zhì)是檢查出來的 QI 品檢品質(zhì)是製造出來的 QC 品管品質(zhì)是設(shè)計出來的 QA 品保品質(zhì)是管理出來的 TQC 全面品管品質(zhì)是習(xí)慣出來的 TQA全面品保ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司16第十六頁，共24頁。二.QC七大手法特性要因圖 (Cause&EffectsChart)柏拉圖 (ParetoDiagram)直方圖 (Histogram)散佈圖(ScatteDiagram)查檢表 (CheckList)管制圖 (ControlChart)層別法 (Stratification)ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司17第十七頁，共24頁。ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司又稱因果圖，石川圖或魚刺圖用圖解法對影響過程或產(chǎn)品質(zhì)量問題的各種因素進(jìn)行全面系統(tǒng)的觀察和分析，找出其因果關(guān)系使小組能集中于問題的實質(zhì)，圍繞問題產(chǎn)生集體智慧和意見集體智慧的火花集中于問題的原因而不是問題的現(xiàn)狀特性要因圖(Cause&EffectsChart)18第十八頁，共24頁。特性要因圖的基本結(jié)構(gòu)ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司特性大原因(大骨)中骨小骨主骨因素(原因)特性(結(jié)果)19第十九頁，共24頁。柏拉圖(ParetoDiagram)ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司又稱排列圖,是將各種不良現(xiàn)象從大到小進(jìn)行排列並作圖,

把握問題的實質(zhì)，以確定“關(guān)鍵的少數(shù)”.例：某廠隨機(jī)調(diào)查4月1日至7月1日的產(chǎn)品共5000件，對其逐一檢查，進(jìn)行缺陷分析，得到缺陷種類及數(shù)據(jù)如下：缺陷類型斷裂擦傷污染彎曲裂紋砂眼其它合計缺陷數(shù)104422010641420020第二十頁，共24頁。日期：4月1日至7月31日調(diào)查鑄件總數(shù)：5000件ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司柏拉圖的基本圖形21第二十一頁，共24頁。直方圖(Histogram)直方圖是從工序中隨機(jī)抽取樣本，將從數(shù)據(jù)中獲取的數(shù)據(jù)進(jìn)行整理，繪成圖，從中找到質(zhì)量波動規(guī)律，預(yù)測工序質(zhì)量的一種工具。展示用表格難以說明的大量數(shù)據(jù)顯示各種數(shù)值出現(xiàn)的相對頻率揭示數(shù)據(jù)的中心、波動及形狀快速闡明數(shù)據(jù)的潛在分布為預(yù)測過程提供有利信息可以發(fā)現(xiàn)“過程是否能滿足顧客要求”ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司22第二十二頁，共24頁。直方圖的基本圖形2.50152.51152.52152.53152.54152.50652.51652.52652.53652.5465302520151050257172417945樣本數(shù)k=90均值=2.5247標(biāo)準(zhǔn)差s=0.00894數(shù)據(jù)頻數(shù)ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司23第二十三頁，共24