第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)課件

第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)2022/11/5第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)2022/11/2第六章SP1SPC的目的:是要控制過程達(dá)到“受控制的狀態(tài)”,其主要是用于對(duì)過程的控制,因?yàn)檫^程是問題的根源,需要對(duì)過程進(jìn)行定時(shí)檢查,以達(dá)到盡早找出問題,減少浪費(fèi)之目的.SPC的最終目標(biāo)在“預(yù)防題問的發(fā)生”及減少浪費(fèi)”。

SPC的典型工具是品質(zhì)控制圖,利用簡(jiǎn)單的圖表提供以下資料:

①質(zhì)量改進(jìn);

②確定工序能力;

③決定產(chǎn)品規(guī)格;

④決定生產(chǎn)過程。2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)SPC的目的:是要控制過程達(dá)到“受控制的2一、SPC的起源與發(fā)展1.1924年修華特博士在貝爾實(shí)驗(yàn)室發(fā)明了品質(zhì)控制圖2.1939年修華特與戴明博士合寫了《品質(zhì)觀點(diǎn)的統(tǒng)計(jì)方法》3.戰(zhàn)后英美兩國將品質(zhì)控制圖方法引進(jìn)制造業(yè),并應(yīng)用于生產(chǎn)過程4.1950年,戴明到日本演講,介紹了SQC的技術(shù)與觀念5.SQC是在發(fā)生問題后才去解決問題,是一種浪費(fèi),所以發(fā)展出SPC6.美國汽車制造商福特、通過公司等亦SPC很重視,所以SPC得以廣泛應(yīng)用7.ISO9000體系亦注重過程控制和統(tǒng)計(jì)技術(shù)的應(yīng)用,有專門的要素要求2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)一、SPC的起源與發(fā)展1.1924年修華特博士在貝爾實(shí)驗(yàn)3二.SPC控制圖的基本原理1.SPC控制圖按照3Sigma原理來設(shè)制控制界限它將控制界限設(shè)在X±3Sigma的位置上。在過程正常的情況在，在約有99.73%的數(shù)據(jù)在上下限之內(nèi)。所以觀察控制圖的數(shù)據(jù)位置，就能了解過程情況有沒有改變。2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)二.SPC控制圖的基本原理1.SPC控制圖按照3Sigma42.變異：任何系統(tǒng)中均存在變異,因此沒有任何兩件成品是完全相同的。變異的類別：根據(jù)變異的原因，可分為隨機(jī)性變異和特殊性變異兩種。A.特殊性變異：過程中變異因素是不在統(tǒng)計(jì)管制狀態(tài)下的非隨機(jī)性原因，其產(chǎn)品分配亦無固定分配。

時(shí)間系統(tǒng)特殊性變異范圍

特殊性變異可由簡(jiǎn)單的統(tǒng)計(jì)技術(shù)分析而得。一般稱為局部問題結(jié)策，這類原因約占過程問題的15%。2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)2.變異：任何系統(tǒng)中均存在變異,因此沒有任何兩件成品是完5B.隨機(jī)性變異:過程中的變異因素是在統(tǒng)計(jì)管制狀態(tài)下,其產(chǎn)品的特性有固定的分配,即分配位置、分配散布及分配形狀三種。位置散布寬度形狀系統(tǒng)缺失需要由過程能力去發(fā)現(xiàn)，且應(yīng)由管理層努力去清除的共同原因，這類原因約占過程問題的85%。2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)B.隨機(jī)性變異:過程中的變異因素是在統(tǒng)計(jì)管制狀態(tài)下,其產(chǎn)品的6Variability

變化惡魔是在偏差中.正如在自然界中沒有兩個(gè)事物是完全一樣的,我們不能夠制造兩個(gè)相同在生活上我們不能避免變化!每個(gè)工序有變化、每次測(cè)量有變化、每個(gè)樣品有變化！2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)Variability變化2005.07.15第六章S7SourcesofVariation

變化的來源Variabilitycancomeaboutduetochangesin:變化可以來自下列的改變:Materialquality材料品質(zhì)Machinesettingsorconditions機(jī)器設(shè)定或狀態(tài)Manpowerstandards工藝標(biāo)準(zhǔn)Methodsofprocessing加工方法Measurement測(cè)量Environment環(huán)境2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)SourcesofVariation

變化的來源Vari8TypesofVariation

變化的種類Onewayofclassifyingvariationis:變化可分類成:withinunit工件內(nèi) (positionalvariation)(位置變化)betweenunits工件與工件 (unit-unitvariation)(工件變化)betweenlots批與批(lot-lotvariation)(批變化)betweenlines(line-linevariation)生產(chǎn)線與生產(chǎn)線(生產(chǎn)線變化)acrosstime不同時(shí)間之間 (time-timevariation)(時(shí)間變化)Measurement測(cè)量(gagerepeatability&reproducibility)(重復(fù)性及再現(xiàn)性)2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)TypesofVariation

變化的種類Onewa9三.SPC的分類1.計(jì)量值管制圖(ControlChartsForVariables):a.平均值與極差管制圖(X-RChart)b.中位值與極差管制圖(X-RChart)(Me-R)c.個(gè)別值與移動(dòng)極差管制圖(X-MRChart)d.平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖(X-SChart)~2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)三.SPC的分類1.計(jì)量值管制圖(ControlChart102.計(jì)數(shù)值管制圖(ControlChartsForAttributes)a.不良率管制圖(pChart)b.不良數(shù)管制圖(npChart)

c.缺點(diǎn)數(shù)管制圖(cChart)

d.單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖(uChart)2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)2.計(jì)數(shù)值管制圖(ControlChartsForAt11四、控制圖選用決策圖

確定控制項(xiàng)目是計(jì)量型數(shù)據(jù)嗎？特性相同嗎？或不能按抽組取樣嗎？使用單值圖X-MR關(guān)心的是不合格品率-即“壞”零件的百分比嗎？抽樣數(shù)是否固定？使用p或np圖關(guān)心的是不合格數(shù)即單位零件不合格數(shù)嗎？抽樣數(shù)是否固定？使用P圖使用U圖使用C或U圖子組均值是否能很方便的計(jì)算？使用中位數(shù)圖子組容量是否大于或等于9？是否能方便地計(jì)算每個(gè)子組的S值？使用X-S圖使用X-R圖使用X-R圖yseＮＯＮＯyseyseＮＯyseＮＯＮＯＮＯyseyseyseＮＯＮＯyse2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)四、控制圖選用決策圖確定控制項(xiàng)目是計(jì)量型數(shù)據(jù)嗎？特性相同嗎12五、計(jì)量型數(shù)據(jù)控制圖的應(yīng)用抽樣數(shù)目控制圖種類2~6Xbar-RChart\X–RChart

均值和極差圖\中位數(shù)圖>6Xbar-RChart

均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖1Xbar-RmChart

單值和移動(dòng)極差圖１.抽樣數(shù)目與選擇計(jì)量值控制的關(guān)系表

2.抽樣次數(shù)的確定:通常慣例是每班20-25次,最少20組,一般25組較合適。子組的樣本容量（抽樣數(shù)目）為4-5組。2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)五、計(jì)量型數(shù)據(jù)控制圖的應(yīng)用抽樣數(shù)目控制圖種類2~6Xbar-133.測(cè)試并修正極差R是否在統(tǒng)計(jì)控制之內(nèi)的決策圖是否所有極差數(shù)據(jù)都包括在控制界限內(nèi)是否是否只有一至兩個(gè)極差數(shù)據(jù)超出是否把這一至兩個(gè)平均值和極差數(shù)據(jù)棄置三個(gè)或以上的極差數(shù)據(jù)超出界限再計(jì)算X,R和極控制界限否是極差受控制計(jì)算平均值的界限控制不要計(jì)算平均值界限解決變異原因收集數(shù)據(jù)計(jì)算新極差界限(平均值亦可參考)2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)3.測(cè)試并修正極差R是否在統(tǒng)計(jì)控制之內(nèi)的決策圖是否所有極差數(shù)14平均值與極差管制圖

(X-RChart)

X-R圖是最常用的管制圖,大多數(shù)的情況下都可用.．將平均數(shù)與極差圖相化來檢測(cè)系統(tǒng)是否恒常．工序的控制線是設(shè)定于+/-3標(biāo)準(zhǔn)差.．標(biāo)準(zhǔn)差可從常數(shù)表中對(duì)照得來.X-bar-chartmeasuresvariabilitybetweensamples平均X圖測(cè)量樣本之間的變異。R-chartmeasuresvariabilitywithinsamplesR圖測(cè)量樣本中的變異。2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)平均值與極差管制圖

(X-RChart)X-R圖是最15X-R圖的組成A.收集數(shù)據(jù)1.選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)a.子組大小:一般為4~5件連續(xù)生產(chǎn)的產(chǎn)品的組合b.子組的頻率:其目的是檢查經(jīng)過一段時(shí)間后過程的變化。子組頻率可以是每班兩次或每小時(shí)一次或其他可行的頻率。c.子組數(shù)的大小:通用守則是最少20個(gè)點(diǎn),代表100個(gè)讀數(shù)。我們收集25個(gè)點(diǎn),代表125個(gè)讀數(shù)。這試行控制線可以幫助我們推算出工序在過去是否受控,并可適合現(xiàn)在或?qū)硎褂?2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)X-R圖的組成A.收集數(shù)據(jù)2005.07.15第六章SPC162.記錄原始數(shù)據(jù)3.計(jì)算各組平均值(X)X=

4.計(jì)算各組全距(R)

R=Xmax-Xmin(各組最大值-最小值)X1+X2+X3+……+Xnn2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)2.記錄原始數(shù)據(jù)3.計(jì)算各組平均值(X)X1+X17B.計(jì)算控制線1.計(jì)算總平均值(X)X=

2.計(jì)算極差之平均值(R)Xmax-Xmin(各組最大值-最小值)R=3.計(jì)算管制界限及繪出X管制圖中心線CLx=X上限UCLx=X+A2R下限LCLx=X-A2Rx1+x2+x3+……+xkkR1+R2+R3+……+RKk2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)B.計(jì)算控制線1.計(jì)算總平均值(X)x1+x2+x318R管制圖

中心線CLR=R上線UCLR=D4R下線LCLR=D3R※A2,D4,D3由系數(shù)表查得n2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D3*****0.080.140.180.22A21.881.020.730.580.480.420.370.340.312005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)R管制圖n2345678910D43.272.572.282192005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)20Ｃ．過程控制解釋如有一點(diǎn)或多點(diǎn)在控制限外怎辦?調(diào)查每點(diǎn)的指定性原因.如找出并糾正這指定性原因,排除這點(diǎn)并用其余各點(diǎn)計(jì)算新的試行控制限.重新審核各點(diǎn),可能現(xiàn)在有些點(diǎn)在新的試行控制限外.如果我們不能找出那指定性原因怎辦?兩種選擇:排除或保留那點(diǎn).如果在沒有分析判斷下,只是假設(shè)工序在過去是不受控而現(xiàn)在將不會(huì)發(fā)生而排除這點(diǎn),新的試行控制線將會(huì)產(chǎn)生更多的假警報(bào).我們可以保留這點(diǎn)及考慮這試行控制線為適合的,如這點(diǎn)真是顯示出工序是不受控的,控制線會(huì)將會(huì)太寬。但一或兩點(diǎn)不會(huì)將圖明顯地?cái)_亂.2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)Ｃ．過程控制解釋2005.07.15第六章SPC教材及CPK21過程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn)1.任一點(diǎn)超出控制界線（1點(diǎn)超±3界線）普遍原因新的工人,方法,原料或機(jī)器檢驗(yàn)方法和標(biāo)準(zhǔn)變化操作員的技能和/或主動(dòng)性變化LowerControlLimitUpperControlLimitCenterLineSampleNumberorTimeSampleQualityCharacteristic2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)過程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn)1.任一點(diǎn)超出控制界線（122過程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn)2.漂移或走動(dòng)k個(gè)連續(xù)點(diǎn)(通常7,8或9)在中心線一側(cè)5個(gè)連續(xù)點(diǎn)中有4點(diǎn)超出1(同側(cè))3個(gè)連續(xù)點(diǎn)中有2個(gè)超出2(同側(cè))漂移或走動(dòng)的普遍原因新的工人,方法,原料或機(jī)器檢查方法或標(biāo)準(zhǔn)變化操作技能和/或主動(dòng)性變化UpperControlLimitCenterLineSampleNumberorTimeSampleQualityCharacteristicLowerControlLimit+2+1-2-12005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)過程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn)2.漂移或走動(dòng)Upper23過程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn)3.趨勢(shì)－k個(gè)連續(xù)點(diǎn)(通常5,6或7)向同一方向移動(dòng)趨勢(shì)的普遍原因－新的工人,方法,原料或機(jī)器－檢查方法或標(biāo)準(zhǔn)變化－操作技能和/或主動(dòng)性變化UpperControlLimitCenterLineSampleNumberorTimeSampleQualityCharacteristicLowerControlLimit+2+1-2-12005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)過程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn)3.趨勢(shì)UpperContr24過程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn)4.分層多個(gè)點(diǎn)集中于中心線,通常在±1界線內(nèi)分層的普遍原因-控制界線的不正確計(jì)算-量?jī)x對(duì)分辨工件失效-檢查員捏造數(shù)據(jù).-抽樣時(shí)從每一不同組內(nèi)收集收一個(gè)或更多的單位產(chǎn)品UpperControlLimitCenterLineSampleNumberorTimeSampleQualityCharacteristicLowerControlLimit+2+1-2-12005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)過程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn)4.分層UpperContro25過程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn)5.混合控制點(diǎn)多集中于控制界線混合的普遍的原因兩個(gè)(或更多)交疊分布操作員過度控制UpperControlLimitCenterLineSampleNumberorTimeSampleQualityCharacteristicLowerControlLimit+2+1-2-12005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)過程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn)5.混合Upper26過程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn)6.循環(huán)或固期性:任何前移的,重復(fù)的圖形循環(huán)或周期性的普遍原因系統(tǒng)的環(huán)境變化溫度操作者疲勞操作員轉(zhuǎn)班機(jī)器設(shè)定造成的波動(dòng)維護(hù)安排-刀具磨損UpperControlLimitCenterLineSampleNumberorTimeSampleQualityCharacteristicLowerControlLimit+2+1-2-12005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)過程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn)6.循環(huán)27如客戶沒有特別要求,本公司目前只使用以下三種判斷準(zhǔn)則:1.超差:一點(diǎn)或多點(diǎn)超出控制上、下控制限。2.趨勢(shì)：６個(gè)點(diǎn)連續(xù)上升或下降。3.漂移：９個(gè)點(diǎn)連續(xù)在控制圖中心線的上方或下方。過程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn)2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)如客戶沒有特別要求,本公司目前只使用以下三種判斷準(zhǔn)則:28

Ｄ．X-R圖制程能力解釋１．計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差R是子組極差的平均值，ｄ2是隨樣本容量變化的常數(shù)ｄ2常數(shù)表

σ=R/d2Rn2345678910d21.131.692.062.332.532.702.852.973.082005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)

Ｄ．X-R圖制程能力解釋１．計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差σ=R/d2292.計(jì)算過程能力過程能力是指按標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來描述的過程均值與規(guī)范界限的距離.用Z表示,用z值和標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布表來估計(jì)多少比例的超出規(guī)范值.(是一個(gè)近似值)對(duì)于單邊容差:

式中:USL、LSL等于公差規(guī)格上限、下限,X等于測(cè)量的過程均值。對(duì)于雙向容差：

ZUSL=

Z=X-LSLσZ=σUSL-X或X-LSLUSL-XσZLSL=

σZmin=Zusl或ZLSL的最小值式中：USL、LSL等于公差規(guī)格上限、下限，Z值為負(fù)值時(shí)說明過程均值超過規(guī)范2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)2.計(jì)算過程能力過程能力是指按標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來描述的過程均值30

Z值標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布常數(shù)表2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)Z值標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布常數(shù)表2005.07.131Zmin也可轉(zhuǎn)化為能力指數(shù)CPK，定義如下：

CPK=

Zmin3=CPU（即USL-X3σCPL即（X-LSL3σ）或）的最小值式中：USL和LSL為工程規(guī)范上、下限，X為過程均值，

σ為過程標(biāo)準(zhǔn)偏差。Zmin=3的過程，其能力指數(shù)CPK=1.00;如果Zmin=4,則過程能指數(shù)為CPK=1.33(SPC軟件中所有的Z-SCORE)2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)Zmin也可轉(zhuǎn)化為能力指數(shù)CPK，定義如下：CPK=Z32均值與標(biāo)準(zhǔn)差圖

Ｘ－ＳＡ．收集數(shù)據(jù)計(jì)算子組的Ｓ標(biāo)準(zhǔn)差

式中：Ｘ、X和n分別代表子組的單值、均值和樣本容量。

(Xi-X)S=Σ―――n-122005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)均值與標(biāo)準(zhǔn)差圖

Ｘ－ＳＡ．收集數(shù)據(jù)(Xi-X)S=Σ――33B.過程控制限計(jì)算均值和標(biāo)準(zhǔn)差的上、下控制限UCLX=X+A3SUCLs=B4SCLx=XCLs=SLCLx=X-A3SLCLs=B3S式中：S為各子組樣本標(biāo)準(zhǔn)差的均值，B4、B3和A3隨樣本容量變化的常數(shù)。注：在樣本容量低于６時(shí)，沒有標(biāo)準(zhǔn)差的下控制限．

n2345678910B43.272.572.272.091.971.881.821.761.72B3****0.030.120.190.240.28A32.661.951.631.431.291.181.101.030.982005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)B.過程控制限計(jì)算均值和標(biāo)準(zhǔn)差的上、下控制限n234567834Ｃ．過程控制解釋

同X-R過程控制．Ｄ．過程能力解釋：估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)差σ=S/C4

=σS/C4式中:S是樣本標(biāo)準(zhǔn)差的均值、C4為隨樣本容量變化的常數(shù)

n2345678910C40.7980.8860.9210.9400.9520.9590.9650.9690.973C4常數(shù)表2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)Ｃ．過程控制解釋

同X-R過程控制．n2352005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)36A.收集數(shù)據(jù)B.計(jì)算控制限UCLX=X+A2RUCLR=D4RCLX=XCLR=RLCLX=X–A2RLCLR=D3R式中D4、D3和A2是隨樣本容量變化的常數(shù)

中位數(shù)圖

X－R~~~n2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D3*****0.080.140.180.22A21.881.190.800.690.550.510.430.410.36~~~~~2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)A.收集數(shù)據(jù)中位數(shù)圖

X－R~~~n2345678910D437C.過程控制解釋:大至同X-R過程控制.D.過程能力解釋:１．計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差

R是子組極差的平均值，ｄ2是隨樣本容量變化的常數(shù)ｄ2常數(shù)表

n2345678910d21.131.692.062.332.532.702.852.973.08σ=R/d2R2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)C.過程控制解釋:n2345678910d21.131.69381.收集數(shù)據(jù):.在數(shù)據(jù)圖上從左至右記錄單值讀數(shù)(X);.計(jì)算單值間的移動(dòng)極差(MR).2.計(jì)算控制限:UCLX=X+E2RUCLMR=D4RCLX=XCLMR=MRLCLX=X-E2RCLCMR=D3R式中:R為移動(dòng)平均極差，X是過程均值，D4、D3和E2是用來對(duì)計(jì)算移動(dòng)極差進(jìn)行分組，并隨樣本容量變化的常數(shù)。單值和移動(dòng)極差圖

X－MR2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)1.收集數(shù)據(jù):單值和移動(dòng)極差圖

X－MR2005.07.1539D4、D3、E2常數(shù)表C.過程控制解釋:大至同X-R過程控制.D.過程能力解釋:計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)差

n2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D3*****0.080.140.180.22E22.661.771.461.291.181.111.051.010.98σ=R/d2R2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)D4、D3、E2402005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)41六、計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖的應(yīng)用1.選擇決策圖

2.決定樣本A.樣本數(shù)量最少50個(gè)單位。B.最少收聚20組樣本。決定樣本數(shù)n樣本數(shù)(n)是否一個(gè)常數(shù)?是不良品而不是缺點(diǎn)是不良品而不是缺點(diǎn)使用單位缺點(diǎn)數(shù)控制圖U-Chart使用不良率控制圖P-Chart使用缺點(diǎn)數(shù)控制圖C-Chart使用不良數(shù)控制圖np-Chart否是否是是否2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)六、計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖的應(yīng)用423.測(cè)試并修正不良率是否處在統(tǒng)計(jì)控制之內(nèi)的決策圖是否所有不良率都在控制界限中是否是否少于兩個(gè)不良率超過界限是否從樣本組中棄置此兩個(gè)不良率重新制訂不良率的平均數(shù)及控制界限是否所有的不良率都包括在界限中是否三個(gè)或以上不良率超出界限不良率不在控制范圍找出及解決非隨機(jī)性原因收集新數(shù)據(jù)計(jì)算新不良率的控制界限不良率在控制范圍2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)3.測(cè)試并修正不良率是否處在統(tǒng)計(jì)控制之內(nèi)的決策圖是否所有不良43不合格品率

P圖A.收集數(shù)據(jù)1.選擇子組的容量,頻率及數(shù)量a.子組容量:用于計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖一般要求較大的子組容量(例如50到200或更多)以便檢驗(yàn)出性能的一般變化.b.分組瀕率:應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的周期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題.時(shí)間間隔短則反饋快,但也許與大的子組容量的要求矛盾.c.子組的數(shù)量:收集數(shù)據(jù)的時(shí)間應(yīng)足夠長(zhǎng),使得能找到所有可能的影響過程的變差源.一般情況,也應(yīng)包括弧25或更多的子組,以便更好的檢驗(yàn)過程的穩(wěn)定性,并且如果過程穩(wěn)定,對(duì)過程性能也可產(chǎn)生可靠的估計(jì).2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)不合格品率

P圖A.收集數(shù)據(jù)2005.07.15第六章SPC442.計(jì)算每個(gè)子組的不合格品率(P)被檢項(xiàng)目的數(shù)量-----n發(fā)現(xiàn)的不合格項(xiàng)目的數(shù)量-----np不合格品率-----P=Ｂ.計(jì)算控制限:1.計(jì)算過程平均不合格率(P)

式中:n1p1,n2p2….及n1,n2…..為每個(gè)子組的不合格項(xiàng)目數(shù)及檢查的項(xiàng)目數(shù)。

npnPn1p1+n2p2+…..+nkpkn1+n2+……+nk=2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)2.計(jì)算每個(gè)子組的不合格品率(P)npnPn1452.計(jì)算控制限:式中:n為恒定的樣本容量。

2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)2.計(jì)算控制限:2005.07.15第六章SPC教材及CPK462005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)47A.收集數(shù)據(jù)1.受檢驗(yàn)樣本的容量必須相等.分組的周期應(yīng)按照間隔和反饋系統(tǒng)而定.樣本容量足夠大使每個(gè)子組內(nèi)都出現(xiàn)幾個(gè)不合格品,在數(shù)據(jù)表上記錄樣本的容量;2.記錄并描繪每個(gè)子組內(nèi)的不合格品數(shù)(np)B.計(jì)算控制限:計(jì)算過程不合格數(shù)的均值(np)np=

式中:np1、np2……為K個(gè)子組的不合格數(shù).

不合格品數(shù)

np圖np1+np2+……npkk2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)A.收集數(shù)據(jù)不合格品數(shù)

np圖np1+np2+……npkk248計(jì)算上、下控制限LCLnp=np-3np(1-)LCLnp=np+3np(1-)CLnp=npnpnnpn式中：ｎ＝子組的樣本容量2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)計(jì)算上、下控制限LCLnp=np-3np(1-492005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)50A.收集數(shù)據(jù)1.檢驗(yàn)樣本的容量(零件的數(shù)量,織物的面積,電線的長(zhǎng)度等)要求相等,這樣描繪的C值將反映質(zhì)量性能(不合格率的發(fā)生率)而不是外觀的變化(樣本容量n),在數(shù)據(jù)表中記錄樣本容量;2.記錄并描繪每個(gè)子組內(nèi)的不合格數(shù)(C).不合格數(shù)

C圖2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)A.收集數(shù)據(jù)不合格數(shù)

C圖2005.07.15第六章SPC教51B.計(jì)算控制限

計(jì)算過程不合格數(shù)均值C:C=

式中:C1,C2…為K個(gè)子組內(nèi)每個(gè)子組的不合格數(shù)計(jì)算控制限:UCLC=C+3CCLC=CLCLC=C–3CC1+C2…...CKK2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)B.計(jì)算控制限計(jì)算過程不合格數(shù)均值C:C1+C2…...C522005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)53A.收集數(shù)據(jù)1.各子組樣本的容量彼此不必相同,盡管使它的容量保持在其平均值的正負(fù)25%以內(nèi)可以簡(jiǎn)化控制限的計(jì)算;2.計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的單位產(chǎn)品不合格數(shù)U:U=

式中:c為發(fā)現(xiàn)的不合格數(shù)量,n為子組中樣本的容量(檢驗(yàn)報(bào)告單位的數(shù)量)單位產(chǎn)品不合格率

U圖Cn2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)A.收集數(shù)據(jù)單位產(chǎn)品不合格率

U圖Cn2005.07.15第54B.計(jì)算控制限:計(jì)算每單位產(chǎn)品過程不合格數(shù)的平均值:

式中:C1,C2….及n1,n2…為K個(gè)子組內(nèi)每個(gè)子組的不合格數(shù)及樣本容量.UCLu=u+3u/nCLu=uLCLu=u-3u/n

C1+C2+…..CKn1+n2+….nkU=式中:n為平均樣本容量2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)B.計(jì)算控制限:C1+C2+…..CKn1+n2+….nk552005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)56過程能力分析過程固有波動(dòng),是由普通因素影響而產(chǎn)生的過程波動(dòng).這部份波動(dòng)可以通過控制圖的σ=R/d2(d2是常數(shù))過程總波動(dòng),是由普通因素和特殊因素影響而產(chǎn)生的波動(dòng).它可以由樣本標(biāo)準(zhǔn)差S估計(jì).

nS=∑(xi–x)2/(n–1)

i=1n2345678910d21.131.692.062.332.532.702.852.973.082005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)過程能力分析過程固有波動(dòng),是由普通因素影響而產(chǎn)生的過程波動(dòng).57過程能力分析過程能力指數(shù)Cp與Cpk定義﹕工程能力指數(shù)就是產(chǎn)品公差范圍與工程能力之比。當(dāng)給定雙向公差﹐過程輸出均值（u）與規(guī)范中心（M）相一致時(shí)﹐用符號(hào)Cp表示。

TUSL-LSLCp== 6σ6σ式中USL------規(guī)格上限LSL------規(guī)格下限2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)過程能力分析過程能力指數(shù)Cp與Cpk定義﹕工程能力指數(shù)就是產(chǎn)58過程能力分析（2）當(dāng)給定雙向公差﹐過程輸出均值（u）與公差中心（M）不一致﹐即存在中心偏移量（k）時(shí)﹐用符號(hào)Cpk表示。M–uk= Cpk=(1-k)Cp

T/2（3）當(dāng)給定單向公差的上限公差(例形位公差)時(shí)﹐常采用的公式為﹕規(guī)格–uCp=3σ2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)過程能力分析（2）當(dāng)給定雙向公差﹐過程輸出均值（u）與公差59過程能力分析（4）Cpk的另一種計(jì)算方法

Cpk=Min(CPU,CPL)USL–uu-LSLCpu=,Cpl=3σ3σ

2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)過程能力分析（4）Cpk的另一種計(jì)算方法2005.07.60過程能力分析（5）工程能力判斷由Cpk上述公式可看出,當(dāng)u=M時(shí),CP=CPK,當(dāng)u≠M(fèi)時(shí),Cpk<CP.a.Cpk>1.67工程能力過于充足:可簡(jiǎn)化測(cè)量.b.1.33<Cpk<1.67工序能力充足.b﹑1.0≦Cpk<1.33工程能力尚可﹐但有發(fā)生不良品之危險(xiǎn)﹐必須加以注意﹐并設(shè)法維持不要其變壞及迅速追查。c﹑0.67≦Cpk<1.0工程能力不足﹐檢討規(guī)格及作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)﹐可能本工程不能勝任這么精密的工作。d﹑Cpk<0.67工程能力極不足﹐應(yīng)采取緊急措施﹐全面檢討所有可能影響的因素﹐必要時(shí)應(yīng)停止生產(chǎn)。2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)過程能力分析（5）工程能力判斷2005.07.15第六章S61演講完畢，謝謝聽講!再見，seeyouagain3rew2022/11/5第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)演講完畢，謝謝聽講!再見，seeyouagain3rew62第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)2022/11/5第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)2022/11/2第六章SP63SPC的目的:是要控制過程達(dá)到“受控制的狀態(tài)”,其主要是用于對(duì)過程的控制,因?yàn)檫^程是問題的根源,需要對(duì)過程進(jìn)行定時(shí)檢查,以達(dá)到盡早找出問題,減少浪費(fèi)之目的.SPC的最終目標(biāo)在“預(yù)防題問的發(fā)生”及減少浪費(fèi)”。

SPC的典型工具是品質(zhì)控制圖,利用簡(jiǎn)單的圖表提供以下資料:

①質(zhì)量改進(jìn);

②確定工序能力;

③決定產(chǎn)品規(guī)格;

④決定生產(chǎn)過程。2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)SPC的目的:是要控制過程達(dá)到“受控制的64一、SPC的起源與發(fā)展1.1924年修華特博士在貝爾實(shí)驗(yàn)室發(fā)明了品質(zhì)控制圖2.1939年修華特與戴明博士合寫了《品質(zhì)觀點(diǎn)的統(tǒng)計(jì)方法》3.戰(zhàn)后英美兩國將品質(zhì)控制圖方法引進(jìn)制造業(yè),并應(yīng)用于生產(chǎn)過程4.1950年,戴明到日本演講,介紹了SQC的技術(shù)與觀念5.SQC是在發(fā)生問題后才去解決問題,是一種浪費(fèi),所以發(fā)展出SPC6.美國汽車制造商福特、通過公司等亦SPC很重視,所以SPC得以廣泛應(yīng)用7.ISO9000體系亦注重過程控制和統(tǒng)計(jì)技術(shù)的應(yīng)用,有專門的要素要求2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)一、SPC的起源與發(fā)展1.1924年修華特博士在貝爾實(shí)驗(yàn)65二.SPC控制圖的基本原理1.SPC控制圖按照3Sigma原理來設(shè)制控制界限它將控制界限設(shè)在X±3Sigma的位置上。在過程正常的情況在，在約有99.73%的數(shù)據(jù)在上下限之內(nèi)。所以觀察控制圖的數(shù)據(jù)位置，就能了解過程情況有沒有改變。2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)二.SPC控制圖的基本原理1.SPC控制圖按照3Sigma662.變異：任何系統(tǒng)中均存在變異,因此沒有任何兩件成品是完全相同的。變異的類別：根據(jù)變異的原因，可分為隨機(jī)性變異和特殊性變異兩種。A.特殊性變異：過程中變異因素是不在統(tǒng)計(jì)管制狀態(tài)下的非隨機(jī)性原因，其產(chǎn)品分配亦無固定分配。

時(shí)間系統(tǒng)特殊性變異范圍

特殊性變異可由簡(jiǎn)單的統(tǒng)計(jì)技術(shù)分析而得。一般稱為局部問題結(jié)策，這類原因約占過程問題的15%。2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)2.變異：任何系統(tǒng)中均存在變異,因此沒有任何兩件成品是完67B.隨機(jī)性變異:過程中的變異因素是在統(tǒng)計(jì)管制狀態(tài)下,其產(chǎn)品的特性有固定的分配,即分配位置、分配散布及分配形狀三種。位置散布寬度形狀系統(tǒng)缺失需要由過程能力去發(fā)現(xiàn)，且應(yīng)由管理層努力去清除的共同原因，這類原因約占過程問題的85%。2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)B.隨機(jī)性變異:過程中的變異因素是在統(tǒng)計(jì)管制狀態(tài)下,其產(chǎn)品的68Variability

變化惡魔是在偏差中.正如在自然界中沒有兩個(gè)事物是完全一樣的,我們不能夠制造兩個(gè)相同在生活上我們不能避免變化!每個(gè)工序有變化、每次測(cè)量有變化、每個(gè)樣品有變化！2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)Variability變化2005.07.15第六章S69SourcesofVariation

變化的來源Variabilitycancomeaboutduetochangesin:變化可以來自下列的改變:Materialquality材料品質(zhì)Machinesettingsorconditions機(jī)器設(shè)定或狀態(tài)Manpowerstandards工藝標(biāo)準(zhǔn)Methodsofprocessing加工方法Measurement測(cè)量Environment環(huán)境2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)SourcesofVariation

變化的來源Vari70TypesofVariation

變化的種類Onewayofclassifyingvariationis:變化可分類成:withinunit工件內(nèi) (positionalvariation)(位置變化)betweenunits工件與工件 (unit-unitvariation)(工件變化)betweenlots批與批(lot-lotvariation)(批變化)betweenlines(line-linevariation)生產(chǎn)線與生產(chǎn)線(生產(chǎn)線變化)acrosstime不同時(shí)間之間 (time-timevariation)(時(shí)間變化)Measurement測(cè)量(gagerepeatability&reproducibility)(重復(fù)性及再現(xiàn)性)2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)TypesofVariation

變化的種類Onewa71三.SPC的分類1.計(jì)量值管制圖(ControlChartsForVariables):a.平均值與極差管制圖(X-RChart)b.中位值與極差管制圖(X-RChart)(Me-R)c.個(gè)別值與移動(dòng)極差管制圖(X-MRChart)d.平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖(X-SChart)~2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)三.SPC的分類1.計(jì)量值管制圖(ControlChart722.計(jì)數(shù)值管制圖(ControlChartsForAttributes)a.不良率管制圖(pChart)b.不良數(shù)管制圖(npChart)

c.缺點(diǎn)數(shù)管制圖(cChart)

d.單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖(uChart)2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)2.計(jì)數(shù)值管制圖(ControlChartsForAt73四、控制圖選用決策圖

確定控制項(xiàng)目是計(jì)量型數(shù)據(jù)嗎？特性相同嗎？或不能按抽組取樣嗎？使用單值圖X-MR關(guān)心的是不合格品率-即“壞”零件的百分比嗎？抽樣數(shù)是否固定？使用p或np圖關(guān)心的是不合格數(shù)即單位零件不合格數(shù)嗎？抽樣數(shù)是否固定？使用P圖使用U圖使用C或U圖子組均值是否能很方便的計(jì)算？使用中位數(shù)圖子組容量是否大于或等于9？是否能方便地計(jì)算每個(gè)子組的S值？使用X-S圖使用X-R圖使用X-R圖yseＮＯＮＯyseyseＮＯyseＮＯＮＯＮＯyseyseyseＮＯＮＯyse2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)四、控制圖選用決策圖確定控制項(xiàng)目是計(jì)量型數(shù)據(jù)嗎？特性相同嗎74五、計(jì)量型數(shù)據(jù)控制圖的應(yīng)用抽樣數(shù)目控制圖種類2~6Xbar-RChart\X–RChart

均值和極差圖\中位數(shù)圖>6Xbar-RChart

均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖1Xbar-RmChart

單值和移動(dòng)極差圖１.抽樣數(shù)目與選擇計(jì)量值控制的關(guān)系表

2.抽樣次數(shù)的確定:通常慣例是每班20-25次,最少20組,一般25組較合適。子組的樣本容量（抽樣數(shù)目）為4-5組。2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)五、計(jì)量型數(shù)據(jù)控制圖的應(yīng)用抽樣數(shù)目控制圖種類2~6Xbar-753.測(cè)試并修正極差R是否在統(tǒng)計(jì)控制之內(nèi)的決策圖是否所有極差數(shù)據(jù)都包括在控制界限內(nèi)是否是否只有一至兩個(gè)極差數(shù)據(jù)超出是否把這一至兩個(gè)平均值和極差數(shù)據(jù)棄置三個(gè)或以上的極差數(shù)據(jù)超出界限再計(jì)算X,R和極控制界限否是極差受控制計(jì)算平均值的界限控制不要計(jì)算平均值界限解決變異原因收集數(shù)據(jù)計(jì)算新極差界限(平均值亦可參考)2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)3.測(cè)試并修正極差R是否在統(tǒng)計(jì)控制之內(nèi)的決策圖是否所有極差數(shù)76平均值與極差管制圖

(X-RChart)

X-R圖是最常用的管制圖,大多數(shù)的情況下都可用.．將平均數(shù)與極差圖相化來檢測(cè)系統(tǒng)是否恒常．工序的控制線是設(shè)定于+/-3標(biāo)準(zhǔn)差.．標(biāo)準(zhǔn)差可從常數(shù)表中對(duì)照得來.X-bar-chartmeasuresvariabilitybetweensamples平均X圖測(cè)量樣本之間的變異。R-chartmeasuresvariabilitywithinsamplesR圖測(cè)量樣本中的變異。2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)平均值與極差管制圖

(X-RChart)X-R圖是最77X-R圖的組成A.收集數(shù)據(jù)1.選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)a.子組大小:一般為4~5件連續(xù)生產(chǎn)的產(chǎn)品的組合b.子組的頻率:其目的是檢查經(jīng)過一段時(shí)間后過程的變化。子組頻率可以是每班兩次或每小時(shí)一次或其他可行的頻率。c.子組數(shù)的大小:通用守則是最少20個(gè)點(diǎn),代表100個(gè)讀數(shù)。我們收集25個(gè)點(diǎn),代表125個(gè)讀數(shù)。這試行控制線可以幫助我們推算出工序在過去是否受控,并可適合現(xiàn)在或?qū)硎褂?2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)X-R圖的組成A.收集數(shù)據(jù)2005.07.15第六章SPC782.記錄原始數(shù)據(jù)3.計(jì)算各組平均值(X)X=

4.計(jì)算各組全距(R)

R=Xmax-Xmin(各組最大值-最小值)X1+X2+X3+……+Xnn2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)2.記錄原始數(shù)據(jù)3.計(jì)算各組平均值(X)X1+X79B.計(jì)算控制線1.計(jì)算總平均值(X)X=

2.計(jì)算極差之平均值(R)Xmax-Xmin(各組最大值-最小值)R=3.計(jì)算管制界限及繪出X管制圖中心線CLx=X上限UCLx=X+A2R下限LCLx=X-A2Rx1+x2+x3+……+xkkR1+R2+R3+……+RKk2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)B.計(jì)算控制線1.計(jì)算總平均值(X)x1+x2+x380R管制圖

中心線CLR=R上線UCLR=D4R下線LCLR=D3R※A2,D4,D3由系數(shù)表查得n2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D3*****0.080.140.180.22A21.881.020.730.580.480.420.370.340.312005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)R管制圖n2345678910D43.272.572.282812005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)82Ｃ．過程控制解釋如有一點(diǎn)或多點(diǎn)在控制限外怎辦?調(diào)查每點(diǎn)的指定性原因.如找出并糾正這指定性原因,排除這點(diǎn)并用其余各點(diǎn)計(jì)算新的試行控制限.重新審核各點(diǎn),可能現(xiàn)在有些點(diǎn)在新的試行控制限外.如果我們不能找出那指定性原因怎辦?兩種選擇:排除或保留那點(diǎn).如果在沒有分析判斷下,只是假設(shè)工序在過去是不受控而現(xiàn)在將不會(huì)發(fā)生而排除這點(diǎn),新的試行控制線將會(huì)產(chǎn)生更多的假警報(bào).我們可以保留這點(diǎn)及考慮這試行控制線為適合的,如這點(diǎn)真是顯示出工序是不受控的,控制線會(huì)將會(huì)太寬。但一或兩點(diǎn)不會(huì)將圖明顯地?cái)_亂.2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)Ｃ．過程控制解釋2005.07.15第六章SPC教材及CPK83過程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn)1.任一點(diǎn)超出控制界線（1點(diǎn)超±3界線）普遍原因新的工人,方法,原料或機(jī)器檢驗(yàn)方法和標(biāo)準(zhǔn)變化操作員的技能和/或主動(dòng)性變化LowerControlLimitUpperControlLimitCenterLineSampleNumberorTimeSampleQualityCharacteristic2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)過程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn)1.任一點(diǎn)超出控制界線（184過程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn)2.漂移或走動(dòng)k個(gè)連續(xù)點(diǎn)(通常7,8或9)在中心線一側(cè)5個(gè)連續(xù)點(diǎn)中有4點(diǎn)超出1(同側(cè))3個(gè)連續(xù)點(diǎn)中有2個(gè)超出2(同側(cè))漂移或走動(dòng)的普遍原因新的工人,方法,原料或機(jī)器檢查方法或標(biāo)準(zhǔn)變化操作技能和/或主動(dòng)性變化UpperControlLimitCenterLineSampleNumberorTimeSampleQualityCharacteristicLowerControlLimit+2+1-2-12005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)過程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn)2.漂移或走動(dòng)Upper85過程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn)3.趨勢(shì)－k個(gè)連續(xù)點(diǎn)(通常5,6或7)向同一方向移動(dòng)趨勢(shì)的普遍原因－新的工人,方法,原料或機(jī)器－檢查方法或標(biāo)準(zhǔn)變化－操作技能和/或主動(dòng)性變化UpperControlLimitCenterLineSampleNumberorTimeSampleQualityCharacteristicLowerControlLimit+2+1-2-12005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)過程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn)3.趨勢(shì)UpperContr86過程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn)4.分層多個(gè)點(diǎn)集中于中心線,通常在±1界線內(nèi)分層的普遍原因-控制界線的不正確計(jì)算-量?jī)x對(duì)分辨工件失效-檢查員捏造數(shù)據(jù).-抽樣時(shí)從每一不同組內(nèi)收集收一個(gè)或更多的單位產(chǎn)品UpperControlLimitCenterLineSampleNumberorTimeSampleQualityCharacteristicLowerControlLimit+2+1-2-12005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)過程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn)4.分層UpperContro87過程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn)5.混合控制點(diǎn)多集中于控制界線混合的普遍的原因兩個(gè)(或更多)交疊分布操作員過度控制UpperControlLimitCenterLineSampleNumberorTimeSampleQualityCharacteristicLowerControlLimit+2+1-2-12005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)過程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn)5.混合Upper88過程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn)6.循環(huán)或固期性:任何前移的,重復(fù)的圖形循環(huán)或周期性的普遍原因系統(tǒng)的環(huán)境變化溫度操作者疲勞操作員轉(zhuǎn)班機(jī)器設(shè)定造成的波動(dòng)維護(hù)安排-刀具磨損UpperControlLimitCenterLineSampleNumberorTimeSampleQualityCharacteristicLowerControlLimit+2+1-2-12005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)過程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn)6.循環(huán)89如客戶沒有特別要求,本公司目前只使用以下三種判斷準(zhǔn)則:1.超差:一點(diǎn)或多點(diǎn)超出控制上、下控制限。2.趨勢(shì)：６個(gè)點(diǎn)連續(xù)上升或下降。3.漂移：９個(gè)點(diǎn)連續(xù)在控制圖中心線的上方或下方。過程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn)2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)如客戶沒有特別要求,本公司目前只使用以下三種判斷準(zhǔn)則:90

Ｄ．X-R圖制程能力解釋１．計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差R是子組極差的平均值，ｄ2是隨樣本容量變化的常數(shù)ｄ2常數(shù)表

σ=R/d2Rn2345678910d21.131.692.062.332.532.702.852.973.082005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)

Ｄ．X-R圖制程能力解釋１．計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差σ=R/d2912.計(jì)算過程能力過程能力是指按標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來描述的過程均值與規(guī)范界限的距離.用Z表示,用z值和標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布表來估計(jì)多少比例的超出規(guī)范值.(是一個(gè)近似值)對(duì)于單邊容差:

式中:USL、LSL等于公差規(guī)格上限、下限,X等于測(cè)量的過程均值。對(duì)于雙向容差：

ZUSL=

Z=X-LSLσZ=σUSL-X或X-LSLUSL-XσZLSL=

σZmin=Zusl或ZLSL的最小值式中：USL、LSL等于公差規(guī)格上限、下限，Z值為負(fù)值時(shí)說明過程均值超過規(guī)范2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)2.計(jì)算過程能力過程能力是指按標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來描述的過程均值92

Z值標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布常數(shù)表2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)Z值標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布常數(shù)表2005.07.193Zmin也可轉(zhuǎn)化為能力指數(shù)CPK，定義如下：

CPK=

Zmin3=CPU（即USL-X3σCPL即（X-LSL3σ）或）的最小值式中：USL和LSL為工程規(guī)范上、下限，X為過程均值，

σ為過程標(biāo)準(zhǔn)偏差。Zmin=3的過程，其能力指數(shù)CPK=1.00;如果Zmin=4,則過程能指數(shù)為CPK=1.33(SPC軟件中所有的Z-SCORE)2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)Zmin也可轉(zhuǎn)化為能力指數(shù)CPK，定義如下：CPK=Z94均值與標(biāo)準(zhǔn)差圖

Ｘ－ＳＡ．收集數(shù)據(jù)計(jì)算子組的Ｓ標(biāo)準(zhǔn)差

式中：Ｘ、X和n分別代表子組的單值、均值和樣本容量。

(Xi-X)S=Σ―――n-122005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)均值與標(biāo)準(zhǔn)差圖

Ｘ－ＳＡ．收集數(shù)據(jù)(Xi-X)S=Σ――95B.過程控制限計(jì)算均值和標(biāo)準(zhǔn)差的上、下控制限UCLX=X+A3SUCLs=B4SCLx=XCLs=SLCLx=X-A3SLCLs=B3S式中：S為各子組樣本標(biāo)準(zhǔn)差的均值，B4、B3和A3隨樣本容量變化的常數(shù)。注：在樣本容量低于６時(shí)，沒有標(biāo)準(zhǔn)差的下控制限．

n2345678910B43.272.572.272.091.971.881.821.761.72B3****0.030.120.190.240.28A32.661.951.631.431.291.181.101.030.982005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)B.過程控制限計(jì)算均值和標(biāo)準(zhǔn)差的上、下控制限n234567896Ｃ．過程控制解釋

同X-R過程控制．Ｄ．過程能力解釋：估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)差σ=S/C4

=σS/C4式中:S是樣本標(biāo)準(zhǔn)差的均值、C4為隨樣本容量變化的常數(shù)

n2345678910C40.7980.8860.9210.9400.9520.9590.9650.9690.973C4常數(shù)表2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)Ｃ．過程控制解釋

同X-R過程控制．n2972005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)98A.收集數(shù)據(jù)B.計(jì)算控制限UCLX=X+A2RUCLR=D4RCLX=XCLR=RLCLX=X–A2RLCLR=D3R式中D4、D3和A2是隨樣本容量變化的常數(shù)

中位數(shù)圖

X－R~~~n2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D3*****0.080.140.180.22A21.881.190.800.690.550.510.430.410.36~~~~~2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)A.收集數(shù)據(jù)中位數(shù)圖

X－R~~~n2345678910D499C.過程控制解釋:大至同X-R過程控制.D.過程能力解釋:１．計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差

R是子組極差的平均值，ｄ2是隨樣本容量變化的常數(shù)ｄ2常數(shù)表

n2345678910d21.131.692.062.332.532.702.852.973.08σ=R/d2R2005.07.15第六章SPC教材及CPK基礎(chǔ)知識(shí)C.過程控制解釋:n2345678910d21.131.691001.收集數(shù)據(jù):.在數(shù)據(jù)圖上從左至右記錄單值讀數(shù)(X);.計(jì)算單值間的移動(dòng)極差(MR).2.計(jì)算控制限:UCLX=X+E2RUCLMR=D4RCLX=XCLMR=MRLCLX=X-E2RCLCMR=D3R式中:R為移動(dòng)平均極差，X是過程均值，D4、D3和E2是