DB37-T 4361-2021 螺栓相控陣超聲檢測技術(shù)規(guī)程

ICS77.040.01CCSN77ICS77.040.01CCSN77山 東 省 地 方 標 準DB37/T4361—2021螺栓相控陣超聲檢測技術(shù)規(guī)程ThetechnicalcodeofPhased-arrayUltrasonicTestingforinspectingbolts20212021031120210411山東省市場監(jiān)督管理局發(fā)布目 次前言 II112范引文件 13語定義 14般求 15測法 56據(jù)析評定 87989附錄A（范）試塊 10附錄B（范）相陣探晶靈度異有效測試 12附錄C（范）相陣檢系定精測試 13附錄E（料）螺相控超檢典缺圖譜 16附錄E（料）螺相控超檢典缺圖譜 16參考獻 20前 言本文件按照GB/T1.1—2020《標準化工作導則第1部分：標準化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。本文件主要起草人：孫望軍、丁成海、王敬昌、齊高君、岳大慶、徐學堃、蘇敏。螺栓相控陣超聲檢測技術(shù)規(guī)程范圍本文件規(guī)定了緊固件螺栓相控陣超聲檢測工藝方法和質(zhì)量評定要求。本文件適用于直徑大于等于32mm的緊固件螺栓相控陣超聲檢測。其他規(guī)格及粗晶材質(zhì)的螺栓，經(jīng)過工藝驗證試驗能夠滿足檢測靈敏度要求，參照本文件內(nèi)容執(zhí)行。（GB/T11259無損檢測超聲檢測用鋼參考試塊的制作和控制方法GB/T12604.1無損檢測術(shù)語超聲檢測GB/T29302無損檢測儀器相控陣超聲檢測系統(tǒng)的性能與檢驗GB/T23905無損檢測超聲檢測用試塊JB/T11731無損檢測超聲相控陣探頭通用技術(shù)條件3術(shù)語和定義GB/T12604.1界定的術(shù)語和定義適用于本文件。JB/T11731無損檢測超聲相控陣探頭通用技術(shù)條件3術(shù)語和定義GB/T12604.1界定的術(shù)語和定義適用于本文件。4一般要求中級ldB；-3dB1MHz，15MHz；681355nsJB/T1173110-6dB554dB試塊AB（）ABLS-1AGB/T23905。耦合劑AB1338B110mm2dB2dB1mm，CSBCD3D6.3μm聚焦法則參數(shù)應考慮以下因素：16檢測前，應對扇形掃描角度范圍內(nèi)的各角度聲束進行校準修正，縱波法、橫波法調(diào)試均可通過B型試塊B1區(qū)系列Φ1橫通孔或同類型的其他試塊進行調(diào)試，探頭放置位置見圖1。圖1角度增益補償探頭位置）；（）查方法的選擇、掃查面的準備、掃查面及探頭位置的確定等，以及檢測系統(tǒng)的設(shè)置（）150～50性，同時驗證檢測的可操作性和可靠性。螺栓相控陣超聲檢測主要采用縱波法，縱波無法滿足時可用采用橫波法。超聲柱面導波相控陣技術(shù)（見附錄D）、相控陣全聚焦技術(shù)可作為輔助檢測。檢測方法選擇應符合下列要求：10mm相控陣縱波法主要適用于：超過表1中規(guī)定；b)有中心孔螺栓的本側(cè)及內(nèi)壁缺陷檢測。表1螺栓單側(cè)有效檢測長度參考表超過表1中規(guī)定；b)有中心孔螺栓的本側(cè)及內(nèi)壁缺陷檢測。表1螺栓單側(cè)有效檢測長度參考表5.2.2探頭選擇相控陣探頭頻率一般為2MHz～5MHz，探頭有效面積不小于80mm2，主動激發(fā)孔徑不小于8mm，晶片16～64規(guī)格（無中心孔）mm可探裂紋深度mm有效檢測長度mmM32≥1180M38≥1225M42≥1260M48≥1310M52≥1340M56≥1370M64≥1440M72≥1500M76≥1535相控陣縱波法檢測靈敏度可根據(jù)LS-Ⅰ對比試塊、槽型對比試塊、模擬試塊進行靈敏度調(diào)整，具體見表2。表2縱波檢測靈敏度調(diào)整方法試塊檢測靈敏度調(diào)整裂紋檢測能力LS-Ⅰ試塊將試塊上與被檢螺栓最遠端螺紋距離相近的Φ1mmA802dB～6dB1mm槽型對比試塊A示的80%屏高作為基準靈敏度，再增益2dB～6dB作為檢測靈敏度1mm模擬試塊1mmA60屏高作為基準靈敏度，在增益2dB～4dB作為檢測靈敏度1mm注1：檢測時，螺栓的螺紋和光桿區(qū)域應分開設(shè)置基準靈敏度；注2：當檢測軸向范圍超過200mm時，每增加10mm，應在原有的檢測靈敏度基礎(chǔ)上再增加1dB；注3：直切槽尺寸長10mm，寬0.3mm，深1mm。檢測時，根據(jù)螺栓的結(jié)構(gòu)形式選擇探頭位置及掃查方式，應符合下列規(guī)定：33圖2縱波法無中心孔掃查圖3縱波法有中心孔掃查5.2.5缺陷指示長度測定指示長度的測定應按下述方法進行：（-6dBI（1） I=L×(1)式中：Lmm；Rmm；r——中心孔半徑，mm。螺栓光桿表面、螺紋根部處以及中心孔內(nèi)壁的缺陷檢測。35°～702MHz～7.5MHz，16～320.50.5mm，如圖4圖4探頭楔塊邊緣與螺栓光桿表面間隙的示意圖5.3.4檢測靈敏度相控陣橫波法檢測靈敏度可根據(jù)模擬試塊、待檢螺栓本體進行靈敏度調(diào)整，具體見表3。表3橫波檢測靈敏度調(diào)整方法試塊檢測靈敏度調(diào)整裂紋檢測能力模擬試塊1mmA602dB～4dB深1mm模擬裂紋螺栓本體10～145～7A602dB2dB～4dB深1mm模擬裂紋注：直切槽尺寸長10mm，寬0.3mm，深1mm。檢測時，根據(jù)螺栓的結(jié)構(gòu)形式選擇探頭位置及掃查方式，應符合下列規(guī)定：5623；10圖5橫波法無中心孔掃查圖6橫波法有中心孔掃查指示長度的測定應按下述方法進行：（-6螺紋處缺陷指示長度的測定：測定缺陷螺紋其后第一個螺紋反射波幅降幅超過504.2.5b）。6數(shù)據(jù)分析及評定10紋。10mm5010mmE7記錄每次檢測應做好原始記錄，逐個記錄檢測結(jié)果。記錄內(nèi)容至少應包括如下信息：8報告8報告附錄A（規(guī)范性）試塊用于螺栓相控陣超聲檢測的校準試塊，簡稱A型和B型試塊，其制造要求應符合GB/T11259和JB/T8428的規(guī)定，形狀和尺寸如圖A.1、A.2所示。圖A.1相控陣A型試塊圖A.2相控陣B型試塊（聲束控制評定試塊）用于螺栓相控陣超聲檢測的對比試塊有LS-1試塊、槽型對比試塊，其制造要求應符合GB/T和JB/T8428A.3、圖A.4圖A.3LS-1試塊圖A.4槽型對比試塊附錄B（規(guī)范性）相控陣探頭晶片靈敏度差異與有效性測試該項測試要求儀器軟件能夠?qū)ο嗫仃囂筋^的每個晶片進行逐一激發(fā)。80（判斷如出現(xiàn)以下情況，認定為晶片為壞晶片：12dB9dBB.4對測試結(jié)果進行復核B.4對測試結(jié)果進行復核B.2附錄C（規(guī)范性）相控陣檢測系統(tǒng)定位精度測試C.150mm80°～80C.2.2.3將相控陣探頭置于C.1的試塊表面，以所選取的聲束找到與該聲束相同角度位置孔的最高回波，記錄儀器中測得的孔的位置信息，并與實際值相比較。C.2.2.3將相控陣探頭置于C.1的試塊表面，以所選取的聲束找到與該聲束相同角度位置孔的最高回波，記錄儀器中測得的孔的位置信息，并與實際值相比較。圖C.1相控陣試塊附錄D（資料性）螺栓超聲柱面導波相控陣檢測GB/T29302探頭探頭應滿足如下技術(shù)要求：2.0MHz～10.0MHz2mm～5注：周向線陣指同一平面上多個晶片眼周向排列形成一個單層圓環(huán)形（控制方向）的平面陣列探頭。試塊D.3.1標準試塊儀器系統(tǒng)性能測試和系統(tǒng)校準應采用對比試塊。D.3.2對比試塊D.3.2對比試塊Φ1mmD.110mm、深1mm、寬0.3mm圖D.1導波模擬試塊D.3.3其他等效試塊靈敏度的設(shè)定應符合下列規(guī)定1233A2012220檢測D.5a）D.1D.5b）D.11