化學(xué)氣相沉積技術(shù)課件_第1頁
化學(xué)氣相沉積技術(shù)課件_第2頁
化學(xué)氣相沉積技術(shù)課件_第3頁
化學(xué)氣相沉積技術(shù)課件_第4頁
化學(xué)氣相沉積技術(shù)課件_第5頁
已閱讀5頁,還剩56頁未讀, 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡(jiǎn)介

化學(xué)氣相沉積技術(shù)化學(xué)氣相沉積技術(shù)2第四章化學(xué)氣相沉積技術(shù)熱氧化生長(zhǎng)化學(xué)氣相沉積2第四章化學(xué)氣相沉積技術(shù)熱氧化生長(zhǎng)3薄膜制備方法:物理氣相沉積法沉積過程無化學(xué)反應(yīng)發(fā)生?;瘜W(xué)氣相沉積法沉積過程中發(fā)生一定的化學(xué)反應(yīng);化學(xué)反應(yīng)可以由熱效應(yīng)或離子的電致分離引起。

特點(diǎn):沉積過程控制復(fù)雜,但設(shè)備較為簡(jiǎn)單。前言3前言4第一節(jié)熱氧化生長(zhǎng)(ThermalOxidation)在氣氛條件下,通過加熱基片的方式制備氧化物、氮化物和碳化物薄膜。加熱設(shè)備基片在氧氣或者其它氣氛中加熱Examples:4Al+3O22Al2O3Fe+N2FeNx4第一節(jié)熱氧化生長(zhǎng)(ThermalOxidation)5第一節(jié)熱氧化生長(zhǎng)實(shí)際中,主要用于制備氧化物薄膜,較少用于制備其它化合物。氧化物可以鈍化表面。鈍化:使金屬表面轉(zhuǎn)化為不易被氧化的狀態(tài),而延緩金屬的腐蝕速度的方法,如Al2O3。氧化物可以起到絕緣作用。主要用于金屬和半導(dǎo)體氧化物的制備、電子器件制備。5第一節(jié)熱氧化生長(zhǎng)實(shí)際中,主要用于制備氧化物薄膜,較少用于6第一節(jié)熱氧化生長(zhǎng)適用性廣,所有金屬(除Au)都與氧反應(yīng)形成氧化物。控制工藝條件來控制薄膜生長(zhǎng)形貌、缺陷、界面特征,因而控制半導(dǎo)體和電性能。例:快速熱氧化法制備SiO2薄膜

1000~1200oC,

~30nm/min,精確控制膜厚6第一節(jié)熱氧化生長(zhǎng)適用性廣,所有金屬(除Au)都與氧反應(yīng)形溫度:800~1200oC,形成所謂高溫氧化層(HighTemperatureOxidelayer,HTO)??捎盟魵饣蜓鯕庾鳛檠趸瘎?,稱為濕氧化或干氧化(wetordryoxidation)。氧化環(huán)境中通常含有百分之幾的鹽酸(HCl),用于去除氧化物中的金屬離子。7SiO2薄膜的熱氧化法制備溫度:800~1200oC,形成所謂高溫氧化層(High8SiO2薄膜的熱氧化法制備熱氧化消耗基片中的Si和環(huán)境中的氧。因此,生長(zhǎng)時(shí)同時(shí)向基片內(nèi)生長(zhǎng)和在基片表面上生長(zhǎng)。對(duì)于每消耗單位厚度的Si,將產(chǎn)生2.27單位厚度的氧化物。同樣,如果純Si表面氧化,46%的氧化層厚度位于最初基片表面以下,54%的氧化層位于最初表面以上。8SiO2薄膜的熱氧化法制備熱氧化消耗基片中的Si和環(huán)境中的9SiO2薄膜的熱氧化法制備Oxidationtechnology大多數(shù)熱氧化在加熱爐中進(jìn)行,溫度800到1200℃。將基片放在石英支架(石英舟)里,一個(gè)加熱爐同時(shí)可以處理一批基片。水平爐和垂直爐FurnacesusedfordiffusionandthermaloxidationatLAAStechnologicalfacilityinToulouse,France9SiO2薄膜的熱氧化法制備Oxidationtechno10第一節(jié)熱氧化生長(zhǎng)Bi2O3薄膜的制備4Bi+3O2=2Bi2O3空氣+水蒸氣環(huán)境

T=367C獲得單相-Bi2O3;-Bi2O3和-Bi2O310第一節(jié)熱氧化生長(zhǎng)Bi2O3薄膜的制備11熱氧化Zn3N2films制備N和(Al,N)摻雜的p型ZnO薄膜Z.W.Liu,C.K.Ong,etal.J.Mater.Sci.2007ZincnitridefilmwithorwithoutAldopingN-or(Al,N)-dopedZnOfilmsSputteredwithN2-ArOxidizingsubstrateSampleResistivitycmMobilitycm2/vsCarrierConcentrationZnO:N5-6000.8-20001015-1016

/cm3ZnO:AlN1-300000.1-101017-1018

/cm311熱氧化Zn3N2films制備N和(Al,N)摻雜的12SubstrateWithZngranularfilmWithZnOnanowiresSputteringOxidizing400-600C熱氧化法制備ZnO單晶納米線薄膜12SubstrateWithZngranularfi13熱氧化法制備氧化鐵納米線13熱氧化法制備氧化鐵納米線14熱氧化法制備單晶CuO納米線SchematicdiagramofasensorfabricatedfromCuOnanowiresandalayerofCuOCuwirenanowiresAgelectrode14熱氧化法制備單晶CuO納米線Schematicdiag15熱氧化法特點(diǎn)設(shè)備簡(jiǎn)單;成本較低;結(jié)晶性好;但薄膜厚度受到限制15熱氧化法特點(diǎn)設(shè)備簡(jiǎn)單;16第二節(jié)化學(xué)氣相沉積

(Chemicalvapordeposition,CVD)

Chemicalvapordeposition(CVD)isachemicalprocessusedtoproducehigh-purity,high-performancesolidmaterials.Theprocessisoftenusedinthesemiconductorindustrytoproducethinfilms.InatypicalCVDprocess,thewafer(substrate)isexposedtooneormorevolatileprecursors,whichreactand/ordecomposeonthesubstratesurfacetoproducethedesireddeposit.Frequently,volatileby-productsarealsoproduced,whichareremovedbygasflowthroughthereactionchamber.化學(xué)氣相沉積典型的制備過程是將晶圓(襯底)暴露在一種或多種易揮發(fā)的前驅(qū)體中,在襯底表面發(fā)生化學(xué)反應(yīng)或/及化學(xué)分解來產(chǎn)生欲沉積的薄膜。隨后,也將產(chǎn)生一些氣態(tài)的副產(chǎn)物,這些副產(chǎn)物可以被反應(yīng)腔室的氣流帶走。16第二節(jié)化學(xué)氣相沉積

(Chemicalvapor17第二節(jié)化學(xué)氣相沉積

(Chemicalvapordeposition,CVD)17第二節(jié)化學(xué)氣相沉積

(Chemicalvapor18化學(xué)氣相沉積的種類以反應(yīng)時(shí)的壓力分類:常壓CVD(AtmosphericPressureCVD,APCVD):在常壓環(huán)境下的CVD。低壓CVD(Low-pressureCVD,LPCVD):在低壓環(huán)境下的CVD。降低壓力可以減少不必要的氣相反應(yīng),以增加晶圓上薄膜的一致性。大部分現(xiàn)今的CVD制程都是使用LPCVD或UHVCVD。超高真空CVD(UltrahighvacuumCVD,UHVCVD):在非常低壓環(huán)境下的CVD。大多低于10-6Pa(約為10-8torr)。18化學(xué)氣相沉積的種類以反應(yīng)時(shí)的壓力分類:19化學(xué)氣相沉積的種類以氣相的特性分類:氣溶膠輔助CVD(AerosolassistedCVD,AACVD):使用液體/氣體的氣溶膠的前驅(qū)物成長(zhǎng)在基底上,成長(zhǎng)速非???。此種技術(shù)適合使用非揮發(fā)的前驅(qū)物。直接液體注入CVD(DirectliquidinjectionCVD,DLICVD):使用液體(液體或固體溶解在合適的溶液中)形式的前驅(qū)物。液相溶液被注入到蒸發(fā)腔里變成注入物。接著前驅(qū)物經(jīng)由傳統(tǒng)的CVD技術(shù)沉積在基底上。此技術(shù)適合使用液體或固體的前驅(qū)物。此技術(shù)可達(dá)到很多的成長(zhǎng)速率。

19化學(xué)氣相沉積的種類以氣相的特性分類:20化學(xué)氣相沉積的種類等離子技術(shù)微波等離子輔助CVD(Microwaveplasma-assistedCVD,MPCVD)等離子輔助CVD(Plasma-EnhancedCVD,PECVD):利用等離子增加前驅(qū)物的反應(yīng)速率。PECVD技術(shù)允許在低溫的環(huán)境下成長(zhǎng),這是半導(dǎo)體制造中廣泛使用PECVD的最重要原因。遠(yuǎn)距等離子輔助CVD(Remoteplasma-enhancedCVD,RPECVD):和PECVD技術(shù)很相近的技術(shù)。但晶圓不直接放在等離子放電的區(qū)域,反而放在距離等離子遠(yuǎn)一點(diǎn)的地方。晶圓遠(yuǎn)離等離子區(qū)域可以讓制程溫度降到室溫。原子層化學(xué)氣相沉積(AtomiclayerCVD,ALCVD):連續(xù)沉積不同材料的晶體薄膜層。20化學(xué)氣相沉積的種類等離子技術(shù)21化學(xué)氣相沉積的種類熱線CVD(HotwireCVD,HWCVD):也稱做觸媒化學(xué)氣相沉積(CatalyticCVD,Cat-CVD)或熱燈絲化學(xué)氣相沉積(HotfilamentCVD,HFCVD)。使用熱絲化學(xué)分解來源氣體。有機(jī)金屬CVD(Metalorganicchemicalvapordeposition,MOCVD):前驅(qū)物使用有機(jī)金屬的CVD技術(shù)?;旌衔锢砘瘜W(xué)氣相沉積

(HybridPhysical-ChemicalVaporDeposition,HPCVD):一種氣相沉積技術(shù),包含化學(xué)分解前驅(qū)氣體及蒸發(fā)固體源兩種技術(shù)??焖贌酑VD(RapidthermalCVD,RTCVD):使用加熱燈或其他方法快速加熱晶圓。只對(duì)基底加熱,而不是氣體或腔壁。可以減少不必要的氣相反應(yīng),以免產(chǎn)生不必要的粒子。氣相外延

(Vaporphaseepitaxy,VPE)21化學(xué)氣相沉積的種類熱線CVD(HotwireCVD22化學(xué)氣相沉積特點(diǎn)和應(yīng)用優(yōu)點(diǎn):

1)準(zhǔn)確控制成分;

2)可在復(fù)雜形狀基片上沉積薄膜;

3)一些反應(yīng)可在大氣壓下進(jìn)行,不需要昂貴的真空設(shè)備;

4)薄膜結(jié)晶完整;

5)大尺寸或多基片缺點(diǎn):

1)高溫;

2)反應(yīng)氣體活性;

3)設(shè)備復(fù)雜,工藝參數(shù)多常見應(yīng)用

1)切削工具涂層;2)非晶硅太陽能電池;3)裝飾;4)半導(dǎo)體集成技術(shù)22化學(xué)氣相沉積特點(diǎn)和應(yīng)用優(yōu)點(diǎn):23化學(xué)氣相沉積基本過程化學(xué)氣相沉積基本過程:在真空室內(nèi),氣體發(fā)生化學(xué)反應(yīng),將反應(yīng)物沉積在基片表面,形成固態(tài)膜。可控變量:氣體流量、氣體組分、沉積溫度、氣壓、真空室形狀、沉積時(shí)間、基片材料和位置三個(gè)基本過程:反應(yīng)物的輸運(yùn)過程;化學(xué)反應(yīng)過程;去除反應(yīng)副產(chǎn)品過程23化學(xué)氣相沉積基本過程化學(xué)氣相沉積基本過程:24化學(xué)氣相沉積基本過程24化學(xué)氣相沉積基本過程25化學(xué)氣相沉積過程中典型的化學(xué)反應(yīng)1.分解反應(yīng)利用硅烷制備Si薄膜或利用其它化合物氣體制備金屬薄膜25化學(xué)氣相沉積過程中典型的化學(xué)反應(yīng)1.分解反應(yīng)26CVD的化學(xué)反應(yīng)-熱解反應(yīng)金屬氫化物

氫化物M-H鍵的離解能、鍵能都比較小,熱解溫度低,唯一副產(chǎn)物是沒有腐蝕性的氫氣。例如:金屬有機(jī)化合物

金屬的烷基化合物,其M—C鍵能一般小于C-C鍵能[E(M—C)<E(C-C)],可用于淀積金屬膜。元素的氧烷,由于E(M-O)>E(O-C),所以可用來淀積氧化物。例如:26CVD的化學(xué)反應(yīng)-熱解反應(yīng)金屬氫化物氫化物M-H27CVD的化學(xué)反應(yīng)體系-熱解反應(yīng)氫化物和金屬有機(jī)化合物體系

熱解金屬有機(jī)化合物和氫化物已成功地制備出許多種III-V族和II-IV族化合物。27CVD的化學(xué)反應(yīng)體系-熱解反應(yīng)氫化物和金屬有機(jī)化合物體系28CVD的化學(xué)反應(yīng)體系-熱解反應(yīng)其它氣態(tài)絡(luò)合物、復(fù)合物這一類化合物中的碳基化物和碳基氯化物多用于貴金后(鉑族)和其它過渡金屬的淀積。如:?jiǎn)伟苯j(luò)合物已用于熱解制備氮化物。如:28CVD的化學(xué)反應(yīng)體系-熱解反應(yīng)其它氣態(tài)絡(luò)合物、復(fù)合物29化學(xué)氣相沉積過程中典型的化學(xué)反應(yīng)2.還原反應(yīng)例:氫還原鹵化物制備Si或其它單質(zhì)、金屬膜29化學(xué)氣相沉積過程中典型的化學(xué)反應(yīng)2.還原反應(yīng)30化學(xué)氣相沉積過程中典型的化學(xué)反應(yīng)3.氧化反應(yīng)

制備氧化物薄膜30化學(xué)氣相沉積過程中典型的化學(xué)反應(yīng)3.氧化反應(yīng)31化學(xué)氣相沉積過程中典型的化學(xué)反應(yīng)4.氮化和碳化反應(yīng)

制備氮化物和碳化物薄膜31化學(xué)氣相沉積過程中典型的化學(xué)反應(yīng)4.氮化和碳化反應(yīng)32化學(xué)氣相沉積過程中典型的化學(xué)反應(yīng)5.化合反應(yīng)

由有機(jī)金屬化合物沉積III~V族化合物材料純化32化學(xué)氣相沉積過程中典型的化學(xué)反應(yīng)5.化合反應(yīng)33CVD反應(yīng)體系-化學(xué)輸運(yùn)反應(yīng)化學(xué)輸運(yùn)反應(yīng):把所需要的物質(zhì)當(dāng)做源物質(zhì),借助于適當(dāng)氣體介質(zhì)與之反應(yīng)而形成一種氣態(tài)化合物,這種氣態(tài)化合物經(jīng)化學(xué)遷移或物理載帶(用載氣)輸運(yùn)到與源區(qū)溫度不同的淀積區(qū),再發(fā)生逆向反應(yīng),使得源物質(zhì)重新淀積出來。例:在源區(qū)(溫度為T2)發(fā)生輸運(yùn)反應(yīng)(向右進(jìn)行),源物質(zhì)ZnS與I2作用生成氣態(tài)的ZnI2;在淀積區(qū)(溫度為T1)則發(fā)生淀積反應(yīng)(向左進(jìn)行),ZnS或ZnSe重新淀積出來。33CVD反應(yīng)體系-化學(xué)輸運(yùn)反應(yīng)化學(xué)輸運(yùn)反應(yīng):把所需要的物質(zhì)34化學(xué)合成反應(yīng):同一材料有多種合成路線Ga2O(Ga+Ga2O3)Ga(CH3)3Ga(C2H5)3Ga2H6Ga

GaCl(Ga+HCl)GaCl3GaBr3NH3N2H434化學(xué)合成反應(yīng):同一材料有多種合成路線Ga2O(Ga+Ga35CVD先驅(qū)物(源物質(zhì))和反應(yīng)器技術(shù)

源物質(zhì)或先驅(qū)物是CVD工藝的前提和基礎(chǔ),根本上決定了CVD技術(shù)的成功與否和前途!1)氣態(tài)源2)液態(tài)源3)固態(tài)源CVD裝置設(shè)計(jì)包括:1)源物質(zhì)(先軀物)的供應(yīng)、調(diào)節(jié)系統(tǒng)(載氣、閥門、氣路、源區(qū)、流量調(diào)節(jié)等)2)反應(yīng)器(構(gòu)型、尺寸、襯底支撐體、加熱和附加能量方式等)設(shè)計(jì)3)尾氣排除或真空產(chǎn)生系統(tǒng)4)自動(dòng)控制系統(tǒng)35CVD先驅(qū)物(源物質(zhì))和反應(yīng)器技術(shù)源物質(zhì)或先驅(qū)物是CV36薄膜生長(zhǎng)前驅(qū)物氣體襯底托架臥式反應(yīng)器襯底立式反應(yīng)器氣相輸運(yùn)載氣載氣氣態(tài)源液態(tài)源固態(tài)源前驅(qū)物氣體前驅(qū)物/源揮發(fā)36薄膜生長(zhǎng)前驅(qū)物氣體襯底托架臥式反應(yīng)器襯底立式反應(yīng)器氣相輸37傳統(tǒng)的化學(xué)氣相沉積方法例:非晶BN薄膜的制備-雙氣體反應(yīng)法

NH3+B10H14BN+H2控制NH3和B10H14比率、基片溫度37傳統(tǒng)的化學(xué)氣相沉積方法例:非晶BN薄膜的制備-雙氣體反應(yīng)38傳統(tǒng)的化學(xué)氣相沉積方法例:金屬鹽熱分解法制備金屬氧化物C10H14CuO4CuO+CO+H2O

38傳統(tǒng)的化學(xué)氣相沉積方法例:金屬鹽熱分解法制備金屬氧化物C39傳統(tǒng)的化學(xué)氣相沉積方法例:金屬氯化和氫還原法制備金屬薄膜39傳統(tǒng)的化學(xué)氣相沉積方法例:金屬氯化和氫還原法制備金屬薄膜40傳統(tǒng)的化學(xué)氣相沉積方法例:催化化學(xué)氣相沉積法制備半導(dǎo)體和氮化硅薄膜40傳統(tǒng)的化學(xué)氣相沉積方法例:催化化學(xué)氣相沉積法制備半導(dǎo)體和41傳統(tǒng)的化學(xué)氣相沉積方法

常壓化學(xué)氣相沉積(AtmosphericpressureCVD,APCVD)41傳統(tǒng)的化學(xué)氣相沉積方法

常壓化學(xué)氣相沉積(Atmos42傳統(tǒng)的化學(xué)氣相沉積方法

常壓化學(xué)氣相沉積(AtmosphericpressureCVD,APCVD)42傳統(tǒng)的化學(xué)氣相沉積方法常壓化學(xué)氣相沉積(Atmosp43激光化學(xué)氣相沉積方法(Laserinducedchemicalvapordeposition)

激光觸發(fā)化學(xué)反應(yīng):光致化學(xué)反應(yīng):利用光子使分子分解熱致化學(xué)反應(yīng):激光用作加熱源特點(diǎn):激光的方向性:局域沉積激光的單色性:可選擇激光波長(zhǎng)反應(yīng)溫度高沉積速率快主要參數(shù):反應(yīng)物起始濃度、惰性氣體濃度、表面溫度、氣體溫度、反應(yīng)區(qū)尺寸主要應(yīng)用:Al、Ni、Au、Si、SiC、Al/Au薄膜43激光化學(xué)氣相沉積方法(Laserinducedche44激光化學(xué)氣相沉積方法(Laserinducedchemicalvapordeposition)

熱解激光化學(xué)氣相沉積在聚焦的激光束照射下,基體局部表面溫度升高,而反應(yīng)氣體對(duì)所用激光是透明的。處在基體加熱區(qū)的反應(yīng)氣體分子受熱發(fā)生分解,形成自由原子,聚集在基體表面成為薄膜。44激光化學(xué)氣相沉積方法(Laserinducedche45激光化學(xué)氣相沉積方法(Laserinducedchemicalvapordeposition)

光解激光化學(xué)氣相沉積

LCVD所選激光波長(zhǎng)應(yīng)能被反應(yīng)氣體分子高效吸收其能量,從而使反應(yīng)氣在激光輻照下發(fā)生高效率分解,實(shí)現(xiàn)高速率沉積。一般選用近紫外(UV)激光器作為L(zhǎng)CVD的光源,同樣反應(yīng)氣體原料的選擇必須與所用激光束波長(zhǎng)相匹配。45激光化學(xué)氣相沉積方法(Laserinducedche46光化學(xué)氣相沉積(photochemicalvapourdeposition,photo-CVD)高能光子有選擇性地激發(fā)表面吸附分子或氣體分子而導(dǎo)致鍵斷裂,產(chǎn)生自由化學(xué)粒子形成膜或在相鄰的基片上形成化合物。光化學(xué)氣相沉積過程強(qiáng)烈依賴于入射波波長(zhǎng)??捎眉す饣蜃贤夤鈱?shí)現(xiàn)。特點(diǎn):沉積溫度低;沉積速率快;偏離平衡條件,可生成亞穩(wěn)相;制備的薄膜質(zhì)量好,薄膜與基片的結(jié)合力高可制備各種金屬、介電和絕緣體、半導(dǎo)體化合物、非晶和其他合金薄膜46光化學(xué)氣相沉積(photochemicalvapour47光化學(xué)氣相沉積汞敏化光化學(xué)CVD

通過紫外照射使Hg處于激發(fā)態(tài)Hg*主要步驟:也可制備a-Si:H膜47光化學(xué)氣相沉積汞敏化光化學(xué)CVD48光化學(xué)氣相沉積由Si2H6直接光致分解(紫外)制備a-Si:H膜激光分解Si2H6和N2O制備a-SiO2膜48光化學(xué)氣相沉積由Si2H6直接光致分解(紫外)制備a-S49光化學(xué)氣相沉積非晶Si-N薄膜制備

調(diào)整NH3/SiH4比,可調(diào)整Si-N成分。49光化學(xué)氣相沉積非晶Si-N薄膜制備50等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積(plasma-enhancedchemicaldeposition,PECVD)原理:等離子體中電子的能量可以使大多數(shù)氣體電離或分解,用電子動(dòng)能代替熱能促進(jìn)化學(xué)反應(yīng)。特點(diǎn):沉積溫度低可沉積在溫度敏感的基片上是一種通用薄膜沉積CVD技術(shù)50等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積(plasma-enhanced51等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積(plasma-enhancedchemicaldeposition,PECVD)例:a-Si:H薄膜四個(gè)等離子區(qū);四個(gè)基片位條件:氣體混合比SiH4/(SiH4+H2):

10%~100%

射頻功率密度:

10~20mW/cm2

總氣壓:0.1~2.0TorrSiH4流量:60ml/min

基片溫度:200~300C51等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積(plasma-enhanced52等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積(plasma-enhancedchemicaldeposition,PECVD)過程:1)氣體或混合氣體的射頻受激;2)受激氣體傳輸離開等離子區(qū);3)受激氣體在等離子區(qū)外與反應(yīng)氣體反應(yīng);4)在加熱基片處,實(shí)現(xiàn)化學(xué)氣相沉積。SiO2、Si3N4膜52等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積(plasma-enhanced53等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積(plasma-enhancedchemicaldeposition,PECVD)53等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積(plasma-enhanced54等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積(plasma-enhancedchemicaldeposition,PECVD)電子回旋共振化學(xué)氣相沉積

(ElectroncyclotronresonanceCVD,ECR-CVD)

利用微波與電子回旋

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網(wǎng)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論