標(biāo)準(zhǔn)對(duì)比課件

1、射線檢測(cè) JB/T4730-2005與JB4730-1994標(biāo)準(zhǔn)對(duì)比一、范圍比較（1）與JB/4730-1994相比， JB/T4730-2005適用范圍大大擴(kuò)展：覆蓋鍋爐、壓力容器、壓力管道，以及有關(guān)支承件和結(jié)構(gòu)件各個(gè)品種（94標(biāo)準(zhǔn)僅適用于壓力容器）；覆蓋制造，安裝，在用檢驗(yàn)各個(gè)領(lǐng)域；覆蓋原材料、零部件、到整臺(tái)設(shè)備驗(yàn)收各個(gè)環(huán)節(jié)（94標(biāo)準(zhǔn)僅適用于制造）；覆蓋碳鋼、不銹鋼、鈦、鋁、銅、鎳及其合金各種材料（94標(biāo)準(zhǔn)僅適用于碳素鋼、不銹鋼、鋁鈦及其合金）。（2）JB/T4730-2005將JB/4730-1994中的“”射線透照質(zhì)量分級(jí)”改為“射線照相技術(shù)”分級(jí)。二、規(guī)范引用文件JB/4730-19

2、94標(biāo)準(zhǔn)的引用文件不完整。 JB/T4730-2005中引用了必要的最新版本標(biāo)準(zhǔn)。四、射線膠片（1） JB/T4730-2005按照GB/T19384-1：2003，采用了“膠片系統(tǒng)”概念，并將膠片系統(tǒng)分為四類，即T1、T2、T3、T4類，代替了JB/4730-1994“號(hào)數(shù)分類”。（2） JB/T4730-2005規(guī)定：按照射線照相技術(shù)級(jí)別選用膠片，糾正了JB4730-1994錯(cuò)誤的（如縮短曝光時(shí)間）和不清晰的（如需提高射線透照的底片質(zhì)量）規(guī)定。（3）新增加了“采用r射線對(duì)裂紋敏感性大的材料進(jìn)行射線檢測(cè)，應(yīng)采用T2類或更高類別的膠片?！蔽濉⒂^片燈（1）JB/T4730-2005通過引用JB/

3、T7903標(biāo)準(zhǔn)，對(duì)觀片燈提出了全面的性能要求，不再是僅限于最大亮度。（2）修改了JB/4730-1994中觀片燈最大亮度（不小于100000cd/m2）和底片透過亮度（不小于30cd/m2）的指標(biāo)。六、黑度計(jì)JB/4730-1994對(duì)黑度計(jì)無(wú)對(duì)應(yīng)條款。七、增感屏（1）應(yīng)用增感屏的內(nèi)容， JB/T4730-2005比 JB/4730-1994規(guī)定更全面和具體。（2） JB/T4730-2005刪除了JB/4730-1994允許使用熒光增感屏和金屬熒光增感屏的內(nèi)容，因?yàn)榇祟惼翆⒃斐缮渚€照相質(zhì)量嚴(yán)重降低。（3）對(duì)r射線和高能X射線照相，JB/T4730-2005根據(jù)照相技術(shù)等級(jí)規(guī)定所使用的增感屏的材

4、質(zhì)和厚度， JB/4730-1994無(wú)類似規(guī)定。（4） JB/T4730-2005提出：使用前屏0.03mm的真空包裝膠片，可在工件和膠片之間加0.07mm0.15mm附加鉛屏，以提高照相質(zhì)量， JB/4730-1994無(wú)類似規(guī)定。九、表面要求和射線檢測(cè)時(shí)機(jī)（1）關(guān)于表面要求， JB/T4730-2005與JB/4730-1994相同。（2） JB/T4730-2005對(duì)檢測(cè)時(shí)機(jī)作出明確規(guī)定，并特別強(qiáng)調(diào)了具有延遲裂紋傾向材料的檢測(cè)問題。十一、輻射防護(hù)JB/4730-1994在5.2.1條中，給出的是關(guān)于輻射危害的常識(shí)性的簡(jiǎn)單要求，在5.2.4條中，將輻射防護(hù)劑量限值中，對(duì)隨機(jī)性效應(yīng)的劑量限值作

5、為一般劑量限值要求在標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定下來(lái)，這不符合輻射防護(hù)的基本原則，也不符合我國(guó)有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。JB/T4730-2005刪除了JB/4730-1994的錯(cuò)誤條款和非標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容，引用了我國(guó)新的輻射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)：GB18871-2002、GB16357-1996、GB18465-2001，更新了規(guī)定內(nèi)容。十三、透照方向JB/T4730-2005與JB/4730-1994在透照方向上內(nèi)容基本相同。十四、一次透照長(zhǎng)度（1）JB/T4730-2005對(duì)100mmD0400mm的環(huán)向焊接接頭（包括曲率相同的曲面焊接接頭）的A級(jí)、AB級(jí)照相的K值控制放寬，從K1.1放寬至K 1.2。（2）環(huán)向?qū)咏宇^所需的透照次

6、數(shù)無(wú)需計(jì)算，可參照J(rèn)B/T4730-2005附錄D的曲線圖確定。十五、小徑管環(huán)向?qū)雍附咏宇^的透照布置JB4730-1994對(duì)小徑管對(duì)接接頭的透照方式、透照次數(shù)等方面規(guī)定得均不夠明確，在JB/T4730-2005中，明確了小徑管的概念、傾斜透照方式橢圓成像和垂直透照方式重疊成像的選擇實(shí)施條件、100%檢測(cè)小徑管對(duì)接接頭的透照次數(shù)、以及允許透照一次的前提。十六、第4章之4.2.1，4.2.2（1）JB/T4730-2005修改了JB/4730-1994標(biāo)準(zhǔn)關(guān)于允許的最高透照電壓的規(guī)定，用EN1435-1997的圖代替了JB/4730-1994標(biāo)準(zhǔn)圖5-6，改變了對(duì)小厚度范圍不適當(dāng)?shù)?、過嚴(yán)的限定。

7、（2）刪除了JB/4730-1994標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)曝光時(shí)間選用透照電壓的錯(cuò)誤表達(dá)。（3）增加了Se-75源的適用透照厚度范圍。（4）進(jìn)一步降低了Ir-192源和Se-75源的最小透照厚度。十七、射線源至工件表面的最小距離（1）一次透照長(zhǎng)度不屬于幾何條件， JB/T4730-2005將一次透照長(zhǎng)度內(nèi)容移至第4.1.3條。（2） JB/4730-1994標(biāo)準(zhǔn)的原圖5-2內(nèi)容在JB/T4730-2005中以計(jì)算式的方式給出。（3）修正了JB/4730-1994圖5-4的錯(cuò)誤。十九、曝光曲線JB/T4730-2005將曝光曲線單獨(dú)作為一條，并增加了校驗(yàn)內(nèi)容要求。二十、無(wú)用射線和散射線屏蔽JB/T4730-2

8、005明確了何種情況下應(yīng)進(jìn)行背散射防護(hù)檢查，增加了背散射檢查的方法和防護(hù)措施，完善了JB/4730-1994標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。 規(guī)定每隔900放置一個(gè)，需放四個(gè)。 （4）JB/T4730-2005規(guī)定了采用源置于球心的球罐對(duì)接焊接接頭全景曝光的像質(zhì)計(jì)數(shù)量及放置位置。而JB4730-1994中未作規(guī)定。 （5） JB/T4730-2005規(guī)定了一次曝光連續(xù)排列的多張膠片的像質(zhì)計(jì)數(shù)量及放置位置。而JB/4730-1994中未作規(guī)定。 （6） JB/T4730-2005規(guī)定在鄰近焊縫的母材金屬區(qū)觀測(cè)金屬絲影像，而JB/4730-1994標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定是在焊縫區(qū)觀測(cè)金屬絲影像。 二十二、標(biāo)記JB/T4730-20

9、05按照標(biāo)記的組成、構(gòu)成、使用、要求重新組織了規(guī)定內(nèi)容，并補(bǔ)充了標(biāo)記符號(hào)本身的制作要求內(nèi)容，消除了JB4730-1994標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定不完整的不足。二十四、評(píng)片要求（1）JB/T4730-2005增加了評(píng)片人員對(duì)評(píng)片前暗適應(yīng)的規(guī)定。（2） JB/T4730-2005規(guī)定底片黑度D2.5時(shí)，透過底片評(píng)定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)不低于10cd/m2，而不是JB4730-1994規(guī)定的30cd/m2。這一規(guī)定符合實(shí)際，與國(guó)外規(guī)定一致。（3） JB/T4730-2005簡(jiǎn)化了JB/4730-1994對(duì)底片評(píng)定范圍規(guī)定的敘述，便于標(biāo)準(zhǔn)的工程應(yīng)用。二十五、底片質(zhì)量（1）對(duì)像質(zhì)計(jì)影像位置和標(biāo)記的要求， JB/T4730-2

10、005與JB/4730-1994基本相同。（2） JB/T4730-2005規(guī)定的底片黑度范圍比JB/4730-1994有較大提高。且對(duì)X射線和r射線底片采用統(tǒng)一黑度下限值，改變了JB4730-1994分別對(duì)X和r射線規(guī)定不同下限值的做法。（3）用X射線透照小徑管或其他截面厚度變化大的工作，其最低黑度允許降低的規(guī)定、多膠片方法的底片黑度的規(guī)定、燈亮度能夠滿足要求黑度D4.0的底片允許進(jìn)行評(píng)定的規(guī)定，均為新規(guī)定， JB/4730-1994無(wú)類似規(guī)定。二十六、底片的像質(zhì)計(jì)靈敏度（1）要求達(dá)到的射線照相靈敏度依據(jù)公稱厚度T或透照厚度W給出，不計(jì)焊縫余高，對(duì)帶墊板焊縫不計(jì)墊板厚度。（2） JB/T47

11、30-2005要求在鄰近焊縫的母材區(qū)域觀測(cè)金屬絲，這與原JB4730強(qiáng)調(diào)從焊縫區(qū)域觀測(cè)金屬絲明顯不同。（3）按透照方式和像質(zhì)計(jì)擺放位置，用3張表給出要求達(dá)到的像質(zhì)指數(shù)。即：?jiǎn)伪谕刚?、像質(zhì)計(jì)置于源側(cè)時(shí)應(yīng)符合表5的規(guī)定；雙壁雙影透照、像質(zhì)計(jì)置于源側(cè)時(shí)應(yīng)符合表6的規(guī)定；雙壁單影或雙壁雙影透照、像質(zhì)計(jì)置于膠片側(cè)時(shí)應(yīng)符合表7的規(guī)定。二十八、承壓設(shè)備熔化焊對(duì)接接頭射線檢測(cè)質(zhì)量分級(jí)（1）將原質(zhì)量分級(jí)規(guī)定擴(kuò)展到鍋爐產(chǎn)品。（2）理順標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu)，將JB4730-1994標(biāo)準(zhǔn)中涉及射線照相檢驗(yàn)技術(shù)的內(nèi)容全部移出。（3）以缺陷類型、質(zhì)量分級(jí)依據(jù)、質(zhì)量分級(jí)的一般規(guī)定等層次，重新編寫了有關(guān)條文。加強(qiáng)了缺陷評(píng)定區(qū)的概念。（4）按照缺陷對(duì)性能影響與工藝過程對(duì)性能影響的考慮，增加了對(duì)圓形缺陷放松的規(guī)定條文。（5）考慮到JB4730-1994標(biāo)準(zhǔn)多年應(yīng)用的實(shí)際情況，刪