抽樣檢驗(yàn)概論課件

1、抽樣檢驗(yàn)概論講師：曾敬一Eric Tseng時(shí)數(shù)：三小時(shí)前瞻企業(yè)經(jīng)營(yíng)管理顧問有限公司Vanguard Management Consultant Co.Eric Tseng課程重點(diǎn)說明檢驗(yàn)的意義與種類抽樣檢驗(yàn)方法作業(yè)特性曲線 (O.C.Curve)說明抽樣檢驗(yàn)之類型抽樣檢驗(yàn)計(jì)劃實(shí)務(wù)抽樣檢檢之比較與彙整Eric Tseng檢驗(yàn)的意義與種類意義：依規(guī)定之檢查方法採(cǎi)取全數(shù)或抽取一部份樣本進(jìn)行試驗(yàn)、分析或測(cè)定其品質(zhì)特性將結(jié)果與原制訂之品質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)比較種類：全數(shù)檢驗(yàn)抽樣檢驗(yàn)無檢驗(yàn)通過（免驗(yàn)）Eric Tseng取決於損益平衡點(diǎn) (BEP)與不良率(P)之比值檢驗(yàn)種類之選擇：P BEP：採(cǎi)用全數(shù)檢驗(yàn)P = B

2、EP：採(cǎi)用抽樣檢驗(yàn)P BEP (不穩(wěn)定)：採(cǎi)用抽樣檢驗(yàn)P = 16N = 10 * n (即無限群體)p (不合格率) 0.1卜瓦松分配Eric Tseng原則：任何抽樣檢驗(yàn)，產(chǎn)品在某一不合格率下，具有可能被判斷為合格或允收之機(jī)率例：按前例，請(qǐng)製作O.C.曲線計(jì)算表作業(yè)特性曲線 (O.C. Curve)Eric TsengO.C.曲線之繪製p (不合格率)Pa (允收機(jī)率)Eric TsengO.C.曲線之判斷能力O.C.曲線愈陡，判斷能力愈高O.C.曲線愈平，判斷能力愈低ABabcdP1P2不良率由P1升至P2：A曲線：由 c 降至 dB曲線：由 a 降至 bp (不合格率)Pa (允收機(jī)率

3、)Eric TsengO.C.曲線之參數(shù) (二)生產(chǎn)者冒險(xiǎn)率採(cǎi)用抽樣檢驗(yàn)時(shí)，良品群體被誤判為不合格消費(fèi)者拒收好批，其機(jī)率即為生產(chǎn)者冒險(xiǎn)率一般以 表示計(jì)算：=絕對(duì)允收機(jī)率 (100%) - AQL之允收機(jī)率Eric TsengO.C.曲線之參數(shù) (三)拒收品質(zhì)水準(zhǔn) (LTPD，Lot Tolerance Percent Defective)消費(fèi)者認(rèn)為此程度之不良群體，無論如何無法接受者即生產(chǎn)者所提供之不良品群，其最低不合格率一般以P1 、LTPD表示O.C.曲線之尾(底)部Eric Tseng允收機(jī)率約50%引一橫軸之平行線，交會(huì)於O.C.曲線自該點(diǎn)垂直於不合率之一半，為該AOQL之值O.C.曲

4、線之中間部份O.C.曲線之參數(shù) (五)平均出廠品質(zhì)界限 (AOQL，Average Outgoing Quality Limit)Eric TsengO.C.曲線資料彙整生產(chǎn)者冒險(xiǎn)率 ()消費(fèi)者冒險(xiǎn)率 ()合格區(qū)不合格區(qū)未定區(qū)P0 (AQL)P1 (LTPD)p (不合格率)Pa (允收機(jī)率)Eric Tseng抽樣檢驗(yàn)之種類 (一)依抽樣方式區(qū)分單次抽樣檢驗(yàn)平均檢驗(yàn)數(shù)目較大，執(zhí)行較簡(jiǎn)單單位檢驗(yàn)費(fèi)用較低時(shí)適用雙次抽樣檢驗(yàn)單位檢驗(yàn)費(fèi)用稍高，希望減低檢驗(yàn)數(shù)目時(shí)適用多次抽樣檢驗(yàn)單位檢驗(yàn)費(fèi)用很高逐次抽樣檢驗(yàn)單位檢驗(yàn)費(fèi)用最高，必須減低檢驗(yàn)數(shù)目時(shí)適用Eric Tseng抽樣檢驗(yàn)之種類 (二)依抽樣型式區(qū)分

5、規(guī)準(zhǔn)型抽樣檢驗(yàn)須同時(shí)考慮交貨者、驗(yàn)收者之利益與損失選別型抽樣檢驗(yàn)判別不合格批，須採(cǎi)全批檢驗(yàn)，並更換良品時(shí)適用調(diào)整型抽樣檢驗(yàn)長(zhǎng)期檢驗(yàn)中，可調(diào)整檢驗(yàn)程度，以確保品質(zhì)連續(xù)生產(chǎn)型抽樣檢驗(yàn)適用於連續(xù)生產(chǎn)、產(chǎn)品不斷流動(dòng)更替時(shí)Eric Tseng單次抽樣檢驗(yàn)流程含N個(gè)之群體含n個(gè)之樣本不合格品數(shù)目dd=Ac ?YesNo合格不合格Eric Tseng雙次抽樣檢驗(yàn)流程含N個(gè)之群體含n1個(gè)之樣本不合格品數(shù)目d1d1 Re1?YesNod1+d2=Ac2?YesNoEric Tseng調(diào)整型抽樣檢驗(yàn) (一)檢驗(yàn)嚴(yán)格程度之制訂正常檢驗(yàn)嚴(yán)格檢驗(yàn)中止檢驗(yàn)減量檢驗(yàn)開始檢驗(yàn)(5,0)(10,0)(5,2)(10,10)(1

6、,1)說明：(檢驗(yàn)批數(shù)，拒收批數(shù))要求改善Eric Tseng調(diào)整型抽樣檢驗(yàn) (二)單次抽樣檢驗(yàn)之基本步驟N檢驗(yàn)水準(zhǔn)表樣本代字AQL表：正常檢驗(yàn)：嚴(yán)格檢驗(yàn)：減量檢驗(yàn)(n, Ac, Re)n：樣本大小Ac：允收個(gè)數(shù)Re：拒收個(gè)數(shù)Eric Tseng調(diào)整型抽樣檢驗(yàn) (四)多次抽樣檢驗(yàn)之基本步驟N檢驗(yàn)水準(zhǔn)表樣本代字AQL表：正常檢驗(yàn)：嚴(yán)格檢驗(yàn)：減量檢驗(yàn)(n1, Ac1, Re1)(n2, Ac2, Re2)(n3, Ac3, Re3)(n4, Ac4, Re4).Eric Tseng調(diào)整型抽樣檢驗(yàn)表格樣本代字：表Eric Tseng範(fàn)例：調(diào)整型抽樣檢驗(yàn) (單次)某廠商採(cǎi)用 MIL-STD-105E

7、調(diào)整型抽樣檢驗(yàn)，驗(yàn)收供應(yīng)廠商所供應(yīng)之零件，雙方約定AQL=1%，每次交貨數(shù)量N=2,000，使用單次抽樣檢驗(yàn)，請(qǐng)查表並決定所需之抽樣計(jì)劃N=水準(zhǔn)=代字表AQL=(n, Ac, Re)正常：（，）嚴(yán)格：（，）減量：（，）Eric Tseng範(fàn)例：調(diào)整型抽樣檢驗(yàn) (雙次)同上例，如欲減少檢驗(yàn)成本，而改採(cǎi)雙次抽樣檢驗(yàn)，請(qǐng)重新查表，並決定所需之抽樣計(jì)劃N=水準(zhǔn)=代字表AQL=(n1, Ac1, Re1)(n2, Ac2, Re2)正常：（，）（，）嚴(yán)格：（，）（，）減量：（，）（，）Eric Tseng範(fàn)例：調(diào)整型抽樣檢驗(yàn) (多次)同上例，如欲再減少檢驗(yàn)成本，而改採(cǎi)多次之正常抽樣檢驗(yàn)，請(qǐng)重新查表，並決定所需之抽樣計(jì)劃N=水準(zhǔn)=代字表AQL=(n1, Ac1, Re1)(n2, Ac2, Re2)(n3, Ac3, Re3)(n4, Ac4, Re4)(n5, Ac5, Re5)(n6, Ac6, Re6)(n7,