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文檔簡介
1、 系會(huì)產(chǎn)生鈉離子空位,反應(yīng)式為:(1-3)NaCl(s)+3/2C12QNaCl-)5(S)(畑NaCl在高溫下發(fā)生離解反應(yīng):TOC o 1-5 h zNaCl(s)Na(g)+1/2Cl2(g)3-39這3個(gè)反應(yīng)的平衡常數(shù)分別為:K1=Vci吹nK2=VNa/PCl21/2=P。/2在一定條件下,K、K2、K3的乘積為一常數(shù)KS,即:K=K1K2K3=VC1吹NaVNa/PCl21/2_PNaP。/2=VqVNaHO這說明,在氯化鈉晶體中,正離子和負(fù)離子兩種空位缺陷的濃度乘積是一個(gè)常數(shù)。增加鈉蒸氣的壓力會(huì)減少正離子鈉的空位,但同時(shí)又增加了負(fù)離子氯的空位;反之,增加氯的壓力,增加了鈉離子的空位
2、,但同時(shí)減少了氯離子的空位。因此,我們可以通過改變實(shí)驗(yàn)條件來控制其中某一缺陷的濃度。2低濃度雜質(zhì)缺陷的擬化學(xué)平衡控制我們以摻雜的CdF2為例,來討論擬化學(xué)平衡對(duì)雜質(zhì)缺陷濃度的控制。CdF2在500C時(shí)于Cd蒸氣加熱摻入稀土離子Sm3+,先形成雜質(zhì)缺陷Sm*d和陰TOC o 1-5 h z2cd離子填隙缺陷可,然后F與Cd蒸氣反應(yīng):2F+Cd(蒸氣)一CdF2(晶體)+2e,3-41這2個(gè)電子與2個(gè)Smd形成施主缺陷Smxd(或Sm,+e,),故為n型半導(dǎo)體。cdcdcd可以建立如下缺陷化學(xué)平衡:Frenkel缺陷0-耳,+VF*Kf=Fi,Vf3.42電子缺陷0e,+h*K=np3.43i耳,
3、與Cd蒸氣反應(yīng)FI,+1/2Cd(g)-1/2Cdxd+FxF+e,IIcdFKg=n/P1/2CdFI,3-44gCdI當(dāng)摻雜缺陷Sm3+濃度很小時(shí),Cdxcd和&幾乎與原晶格點(diǎn)數(shù)無區(qū)別,所以電中性條件為:Smcd+VF+p=FI,+n3-45當(dāng)V很小時(shí),p也很小,(3-45)式簡化為:Sm:=FI,+n或FI,=Smn代入(3-44)式有:n/Sm:-n=令R=n/Sm*并代入(3-47)式,cd有:R/1-R=KP1/23-48gCd兩邊取對(duì)數(shù),有:logR/1-R=logKg+1/2logPCd3-49gCdlogR/1-RvslogPCd作圖為一直線,斜率為1/2。因此,我們控制鎘蒸
4、氣的3.4.3晶體中本征點(diǎn)缺陷濃度與化學(xué)整比性3-46圖3.13CdF23.4.3晶體中本征點(diǎn)缺陷濃度與化學(xué)整比性3-46圖3.13CdF2缺陷濃度與鎘蒸氣壓力的關(guān)1二元化合物的化學(xué)整比性基本概念我們先討論一個(gè)純化合物,其化學(xué)成分為A和B原子,按B:A=b:a比例組成,可用化學(xué)式ABb來表示。該化合物是沒有缺陷的具有完美點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)的理想晶體。若以La、Lb分別表示離鄉(xiāng)晶體單位體積(cm3)中A原子和B原子的格點(diǎn)數(shù),則B和A原子的B格點(diǎn)數(shù)之比為:YL=Lb/La=b/a3-50就是說,該晶體具有嚴(yán)格的化學(xué)計(jì)量比組成。對(duì)實(shí)際晶體,B和A原子的格點(diǎn)數(shù)比值或多或少偏離化學(xué)計(jì)量筆,即:B:AMb/a如此的
5、化合物就是非整比化合物(nonstoichimetriccompounds)或偏離整比化合物(compoundsdeviateddtoichimetry)。其組成可用化學(xué)式:ABb(1來表示,3是一個(gè)很小的正數(shù)或負(fù)數(shù)。這時(shí),化合物中B和A原子的實(shí)ab(1+5)際濃度之比為:Yc=B/A=b(1+5)/a3-51那幺,該化合物偏離整比的值A(chǔ)就是式(3-51)與(3-50)的差:A=yc-Yt=b(1+5)/a-b/a=5b/a3-52CL顯然,雜物雜質(zhì)的情況下,化合物偏離整比的值A(chǔ)是由于其本征缺陷造成的。2本征缺陷濃度與A的關(guān)系(l)Schottky缺陷晶體中存在VB和VA,其濃度為VB、VJ,
6、那么,B=LB-VB,A=LA-VA,A=YC-YL=LB-VB/LA-VA-b/a當(dāng)組成符合整比時(shí),A=0,整理上式可得:VA/VB=a/b3-53就是說,對(duì)符合化學(xué)計(jì)量比的化合物,其兩種元素的空位濃度以化學(xué)計(jì)量比出現(xiàn),反之,就成為非化學(xué)計(jì)量化合物。Frenkel缺陷晶體中存在VA,舛及VB,B【。我們分別討論這2種情況:VA,AI存在B=Lb,A=,A=YC-YL=LB/LA-VA+AI-b/a當(dāng)A=0,整理上式可得:VA=AI3-54AIVB,BI存在同上可以推得VB=BI3-55顯然,符合化學(xué)計(jì)量組成時(shí),同種原子的空位和間隙缺陷成對(duì)出現(xiàn);反之,就成為非化學(xué)計(jì)量化合物。錯(cuò)位原子存在晶體中
7、A原子占據(jù)B原子位置,記作AB,B原子占據(jù)A原子位置,記作B.,稱作錯(cuò)位(missplacedatoms)或稱反結(jié)構(gòu)缺陷(antistructuredisorder)。A同上面我們進(jìn)行的推導(dǎo)那樣,對(duì)于錯(cuò)位原子,我們有:A=YC-YL=LB-AB+BA/LA-BA+AB-b/a當(dāng)A=0時(shí),得到:Ab=BA3-56就是說,兩種錯(cuò)位原子的數(shù)目相等??瘴缓吞娲哟嬖诩俣ňw中存在空位VAh和替代原子AB時(shí),同理有:AAB=YC-YL=LB-AB/LA-VA+AB-b/a當(dāng)A=0時(shí),利用aLB=bLA得到:VA=AB+a/bAB=(1+a/b)AB3-57就是說,空位缺陷和晶體點(diǎn)缺陷有一定依賴關(guān)系。綜
8、上所述,可以得出如下的結(jié)論:在化合物中只存在一種缺陷時(shí),必然導(dǎo)致另一種組分過量或短缺,從而破壞化學(xué)整比性;只有當(dāng)兩種或兩種以上缺陷同時(shí)存在,并且它們的濃度滿足一定關(guān)系時(shí),才有可能得到符合化學(xué)計(jì)量整比的缺陷化合物。這種成對(duì)出現(xiàn)的缺陷稱作缺陷對(duì)或共軛缺陷。習(xí)題1寫出下列體系的可能的化學(xué)式(2)Y2O3在ZrO2(2)Y2O3在ZrO2中的固溶體;(4)Al2O3在MgAl2O4中的固溶體。(3)Li2S在TiS2中的固溶體;請(qǐng)預(yù)料少量下列雜質(zhì)對(duì)AgCl晶體的電導(dǎo)率將會(huì)有什么影響(如果有的話):(1)AgBr;(2)ZnCl2;(3)Ag2O;(4)KC1;(5)NaBr;(6)CaCl2;(7)AgCl;Na2O簡述下列概念:
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