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1、國標試劑(該類試劑為我國國家標準所規(guī)定,適用于檢驗、鑒定、檢測)的分級為(要求從高到低排列) :1、工作基準試劑(國標無簡寫標記,用漢語注明,綠色標簽):作為基準物質,標 定標準溶液;2、優(yōu)級純( GR,綠色標簽):主成分含量很高、純度很高,適用于精確分析和討論 工作,有的可作為基準物質;3、分析純( AR,紅色標簽):主成分含量很高、純度較高,干擾雜質很低,適用于 工業(yè)分析及化學試驗;這個是一般試驗室用的最多的等級;4、化學純( CP,藍色標簽):主成分含量高、純度較高,存在干擾雜質,適用于化 學試驗和合成制備;5、試驗試劑( LR,黃色標簽):主成分含量高,純度較差,雜質含量不做挑選,只

2、適用于一般化學試驗和合成制備;其他依據不同用途的要求,又可分為許多特定的等級;此類試劑質量注意的是:在 特定方法分析過程中可能引起分析結果偏差,對成分分析或含量分析干擾的雜質含 量,但對主含量不做很高要求;部分如下:1、色譜純( GC、LC):氣相色譜、液相色譜分析專用;質量指標注意干擾色譜峰的 雜質;主成分含量高;2、指示劑( ID):配制指示溶液用;質量指標為變色范疇和變色敏銳程度;可替代 CP,也適用于有機合成用;3、生化試劑( BR):配制生物化學檢驗試液 雜質;可替代指示劑,可用于有機合成;和生化合成;質量指標注意生物活性4、生物染色劑( BS):配制微生物標本染色液;質量指標注意生

3、物活性雜質;可替代指示劑,可用于有機合成;5、光譜純( SP):用于光譜分析;分別適用于分光光度計標準品、原子吸取光譜標準品、原子發(fā)射光譜標準品;6、電子純( MOS):適用于電子產品生產中,電性雜質含量極低;7、當量試劑( 3N、4N、5N):主成分含量分別為 %、%、%以上;8、電泳試劑:質量指標注意電性雜質含量掌握;1.一級品即優(yōu)級純,又稱保證試劑(符號.),我國產品用綠色標簽作為標志,這種試劑純度很高,適用于精密分析,亦可作基準物質用;%2.二級品 即分析純,又稱分析試劑(符號 .),我國產品用紅色標簽作為標志,純度較一級品略差,適用于多數分析,如配制滴定液,用于鑒別及雜質檢查等; %

4、3.三級品 即化學純,(符號 .),我國產品用藍色標簽作為標志,純度較二級品相差較多,適用于工礦日常生產分析;%4.四級品 即試驗試劑(符號 .),雜質含量較高,純度較低,在分析工作常用幫助試劑(如發(fā)生或吸取氣體,配制洗液等);5.基準試劑 它的純度相當于或高于保證試劑, 通常專用作容量分析的基準物質; 稱取肯定量基準試劑稀釋至肯定體積,一般可直接得到滴定液, 不需標定,基準品如標有實際含量,運算時應加以校正;6.光譜純試劑(符號 .)雜質用光譜分析法測不出或雜質含量低于某一限度,這種試劑主要用于光譜分析中;試劑等級7.色譜純試劑用于色譜分析;用途8.生物試劑用于某些生物試驗中;9.超純試劑又

5、稱高純試劑; %等級名稱等級 縮寫標簽顏色一級保證試劑GR綠色純度最高 ,適用于最精密的分析討論 .二級分析純AR紅色純度較高 ,適用于精確的微量分析 ,為分析試驗室廣泛應用 .純度略低 ,適用于一般的微量三級化學 純CP藍色分析 ,要求不高 工業(yè) 分析和快速分析 .四級試驗試劑LR棕黃色純度較低 ,但高于工業(yè)用試劑.適用于一般的定性檢驗.生物試劑.或.依據試劑說明使用電子化學試劑依據純度分為UPS級、 UP級、 EL級三個等級;UP-S級:適用微米集成電路加工工藝 ,金屬雜質含量小于 1ppb,經過微米孔徑過濾器過濾,掌握微米粒子 ,在 100 級凈化環(huán)境中灌裝達到 SEMI C8標準 .

6、UP 級:適用 1 微米集成電路及 孔徑過濾器過濾,掌握微米粒子TFT-LCD制造工藝 ,金屬雜質含量小于 10ppb,經過微米,在 100 級凈化環(huán)境中灌裝 ,達到 SEMI C7標準EL級:金屬雜質含量小于 100ppb,掌握 1 微米粒徑粒子 ,達到 SEMI C1 C2標準 ,適合中 小規(guī)模集成電路及電子元件加工工藝超凈高純化學試劑在電子工業(yè)中的應用主要在芯片集成電路制造方面,半導體集成電路、TFT-LCD及相關電子器件制造工藝;一是用于芯片基片在涂膠前的濕法清洗;二是用于芯片在光刻過程中的蝕刻及最終去膠;目前最為常用的有 10 多種,主要分為四大類:一為酸類,包括硫酸、氫氟酸、硝酸、

7、鹽酸、磷酸、醋酸等;二是堿類,主要為氫氧化銨;三為溶劑類,它又分醇類、酮類、酯類、烷類等;四是其他品種,如過氧化氫、氟化銨水溶液等;UP-S 級適用微米集成電路加工工藝金屬雜質含量小于1ppb經過微米孔徑過濾器過濾,掌握微米粒子在 100 級凈化環(huán)境中灌裝達到 SEMI C8標準UP 級適用 1 微米集成電路及 TFT-LCD制造工藝金屬雜質含量小于10ppb經過微米孔徑過濾器過濾,掌握微米粒子在 100 級凈化環(huán)境中灌裝達到 SEMI C7標準EL金屬雜質含量小于100ppb級掌握 1 微米粒徑粒子達到 SEMI C1 C2標準 適合中小規(guī)模集成電路及電子元件加工工藝分析純 (AR,紅色標簽):主成分含量很高、

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