材料研究方法點陣常數(shù)的精確測定課件_第1頁
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文檔簡介

1、點陣常數(shù)的精確測定 材料研究方法 課程內(nèi)容一測量原理誤差源分析測量方法二三一、測量原理sin成了精確測量點陣常數(shù)的關(guān)鍵因素 偶然誤差沒有規(guī)律可循，也無法消除，可通過增 加測量次 數(shù)，統(tǒng)計平均可將其降到最低程度。誤差系統(tǒng)誤差由實驗條件決定，具有一定規(guī)律，可通過適當?shù)姆?法使其減小甚至消除。二 、誤差源分析1）902）同一角時，愈小，誤差愈小 y1y2三 、測量方法 1峰位確定法1）峰頂法 當衍射峰非常尖銳時，直接以峰頂定為峰位。2）切線法 當衍射峰兩側(cè)的直線部分較長時，以兩側(cè)直線部分的延長線的 交點定為峰位。3）半高寬法 峰相對較寬時峰發(fā)生分裂時三 、測量方法 （1）三點法 （2）多點法4）拋物

2、線擬合法峰相對漫散時三 、測量方法 2點陣參數(shù)的精確測量法 1）外延法(a)發(fā)現(xiàn)60時符合較好，低角偏離較遠，要求各衍射線的均大于60，至少有一個大于80，然而較難; (b)尼爾遜（Nelson I B）采用新外延函數(shù)f(), 線性較好，且30即可。三 、測量方法 2）線性回歸法設(shè)回歸直線方程為：Y=kX+b 其中Y為點陣常數(shù)值；X為外延函數(shù)值，一般取 k為斜率；b為直線的截距，就是為90時的點陣常數(shù). 設(shè)有n個測點（Xi Yi），i=1，2，3 n，測點誤差ei，即ei=Yi-(kXi+b)，所有測點的誤差平方和為 最小二乘：解放程組：得點陣常數(shù)三 、測量方法 3）標準樣校正法 外延函數(shù)的制定主觀最小二乘法的計算繁瑣因此，需要更簡捷的方法標準試樣法采用比較穩(wěn)定物質(zhì)如Si、Ag、SiO2等作標樣，其點陣常數(shù)已精確測定。如純度為99.999的Ag粉，aAg=0.408613nm，純度為99.9的Si粉，aSi=0.54375nm，將標準物質(zhì)的粉末摻入待測試樣的粉末中混合均勻，或在待測塊狀試樣的表層均勻鋪上一層標準試樣的粉末，于是在衍射圖中就會出現(xiàn)兩種物質(zhì)的衍射花樣。由標準物的點陣常數(shù)和已知的波長計算出相應(yīng)角的理論值，再與衍射花樣中相應(yīng)的角相比較，其差值即為測試過程中的所有因素綜合造成的，并以這一差值對所測

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