電子元器件可靠性老化篩選規(guī)定

1、電子產(chǎn)品及元器件可靠性老化篩選規(guī)定1范圍為了規(guī)范電子產(chǎn)品及元器件可靠性老化篩選符合產(chǎn)品設計要求特制訂本企業(yè)標準。本標準規(guī)定了電子產(chǎn)品高溫老化試驗及外購電子元器件進廠后，進行可靠性老化篩選的項目、條 件及篩選后的檢查、處理。剔除早期失效的器件，提高產(chǎn)品的可靠性。本標準適用于所有裝有電子元器件的產(chǎn)品，除非產(chǎn)品另有規(guī)定。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本規(guī)范的引用而成為本規(guī)范的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有 的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本規(guī)范。然而鼓勵根據(jù)本規(guī)范達成協(xié)議的各方研 究是否使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本規(guī)范。GB/T 28

2、28-87抽樣檢驗標準老化篩選項目及條件3.1半導體器件、集成電路低溫貯存：非工作狀態(tài)下，將器件貯存在溫度一253C的低溫箱中，保持4h,常溫下測試電參 數(shù)。高溫貯存：非工作狀態(tài)下，將器件貯存在溫度+1253C的高溫箱中，保持4h，常溫下測試電參 數(shù)。3.2繼電器低溫運行：將繼電器置于溫度一253C的低溫箱中，保持1h,通電工作后測量低溫下的釋放電 壓，然后在此低溫下，觸點回路中加阻性負載，以(25)次庇的速率動作200次后，檢測每對觸點的 接觸電壓或接觸電阻。高溫運行。將繼電器置于溫度+703C的高溫箱中，保持1h,通電工作后測量高溫下的釋放電 壓，然后在此溫度下觸點回路中加阻性負載，以(2

3、-5)次/s的速率動作200次后，檢測每對觸點的接 觸電壓或接觸電阻。注：以上篩選設備條件如暫時不具備時，可由工藝人員根據(jù)現(xiàn)有設備條件實施。篩選檢查4.1文件編制元器件老化篩選由工藝人員編制篩選工藝，規(guī)定老化篩選程序、使用設備、測量儀器、工藝裝置 及操作、檢測方法和要求。4.2檢驗種類對進行老化的元器件實行全檢。4.3檢驗電性能的項目4.3.1 電阻器4.3.1.1電阻器的額定功率2006-07-28 實施2006-07-08 發(fā)布電阻器的額定功率系指電阻器在直流或交流電路中，當大氣壓力為75030mmHg,在產(chǎn)品標準中規(guī) 定的溫度下，長期連續(xù)負荷所允許消耗的最大功率。所選用電阻的額定功率應是

4、該電阻實際承受功率的1.52倍。4.3.1.2電阻器所用材料及代表符號電阻器所用材料及代表符號見表1。表1電阻器所用材料及代表符號材料碳膜金屬膜金屬氧化膜氧化膜合成膜線繞有機實芯無機實芯沉積膜符號TJYGYHXSNC4.3.1.3電阻器色圈標志代表的意義電阻器色圈標志代表的意義見表2。表2電阻器色圈標志代表的意義顏色標志及代表意義第一色圈代表有效數(shù)字第二色圈代表有效數(shù)字第三色圈代表乘數(shù)第四色圈代表允許偏差第五色圈代表需要時作第三位有效數(shù)字示圖黑八、00100/0棕111011%1紅221022%21-橙33103/3黃44104/4綠55105/5藍66106/6紫77107/7數(shù)數(shù)數(shù)倍允 字

5、字字率差一 二三灰88108/8白99109/9金色/10-15%/銀色/10-210%/無色/20%/4.3.1.4電阻器允許偏差的標志符號電阻器允許偏差的標志符號見表3。表3電阻器允許偏差的標志符號允許偏差(%)0.050.10.250.5125102030標志符號WBCDFGJKMN4.3.2電位器電位器在旋轉時，其相應的阻值依旋轉角度而變化，變化規(guī)律有三種形式見圖1。X為直線式D為對數(shù)式Z為指數(shù)式圖1阻值與旋轉角度的變化規(guī)律4.3.3壓敏電阻抑制浪涌電流和雷電引起電源電壓變化時，對電路起到保護作用，正常情況下電阻阻值呈開路，當 電源電壓瞬間超過其壓敏電阻電壓時，阻值發(fā)生變化，瞬時電壓越

6、高，阻值越小，通過的電流也越大。對于過壓保護方面的應用，實際數(shù)量是直流工作電壓的1.5倍，在交流狀態(tài)下要考慮電壓峰值，因此還要擴大呀倍。4.3.4電容器電容器就是由中間夾有電介質(zhì)的兩塊金屬板（或金屬厚膜電板）所構成的元件。它具有貯能、隔直 流和分離多種頻率的能力，廣泛應用于隔直流、耦合、旁路、濾波、調(diào)諧、能量轉換等電路中。4.3.4.1電容溫度系數(shù)溫度變化一度時所引起的電容量的變化率稱為電容溫度系數(shù)。4.3.4.2電容器絕緣電阻電容器所加直流電壓V與其新產(chǎn)生的漏導電流。之比為該電容器的絕緣電阻。電解電容器的絕緣電阻常以其漏導電流IR表示。漏導電流Ir與電容器容量C及所施加的電壓V有 關。4.3

7、.4.3電容器的無功功率電容器所能貯存的功率俗稱無功功率。4.3.4.4電容器的有功功率電容器中的能量損耗即為有功功率。漏導電流1尺是使電容器消耗能量而發(fā)熱的電流。4.3.4.5電容器損耗角（損耗角8）正切（tg6）電容器有功功率與無功功率之比即為它的損耗角正切tg8。4.3.4.6電容器的工作電壓（額定電壓V）電容器在一定環(huán)境條件下，一定期間內(nèi)能可靠地工作的電壓稱為它的工作電壓或額定電壓。4.3.4.7電容器型號中字母代表的意義電容器型號中字母代表的意義見表4。表4電容器型號中字母代表的意義字母CTYZJBDAL介質(zhì)高頻瓷低頻瓷云母紙介金屬化紙聚苯乙烯鋁電 解鉭電 解滌綸字母SQFOIHNB

8、BSJ介質(zhì)聚碳酸脂漆膜聚四氟 乙烯玻璃（膜）玻璃釉混合介質(zhì)鈮聚丙 烯金屬化聚 碳酸脂4.3.4.8電容器型號中數(shù)字代表的意義電容器型號中數(shù)字代表的意義見表5。表5 電容器型號中數(shù)字代表的意義數(shù)字123456789含義圓片管形疊片獨石穿心支柱無極性高壓特殊4.3.5電感器我們常用的軟磁鐵氧體材料主要有兩大類：錳一鋅（Mn-Zn）鐵氧體材料和鎳一鋅（Ni-Zn）鐵氧 體材料。工作頻率在1MHZ以下大量使用錳一鋅（Mn-Zn）鐵氧體，頻率在1200MHZ時，大量使用鎳 鋅（NiZn）鐵氧體。4.3.6互感器互感器根據(jù)用途不同，可分為電流互感器和電壓互感器兩種。4.3.6.1電流互感器電流互感器的一次

9、繞組匝數(shù)很少，使用時一次繞組串聯(lián)在被測線路里，二次繞組匝數(shù)較多，與測量 儀表和繼電器等電流線圈串聯(lián)使用，工作原理如圖2：圖2電流互感器工作原理圖4.3.6.2 電壓互感器電壓互感器一次繞組匝數(shù)較多，使用時并聯(lián)接于被測電路的兩端，二次繞組匝數(shù)較少，工作原理 如圖3：圖3電壓互感器工作原理圖NL4.3.7變壓器變壓器根據(jù)用途不同可分為電源變壓器、采樣變壓器、線間變壓器等。4.3.8二極管二極管符號見圖4。圖4二極管符號正向直流電流沿半導體二極管較低電阻方向流動的方向。反向直流電流沿半導體二極管較高電阻方向流動的方向。4.3.8.3陽極端子正向電流從外電路流入的端子。4.3.8.4陰極端子正向電流流

10、向外電路的端子。4.3.8.5正向電壓電流正向流動時在器件兩端產(chǎn)生的電壓。4.3.8.6正向電流沿二極管低阻方向流過的電流。4.3.8.7擊穿電壓在發(fā)生擊穿的區(qū)域內(nèi)的電壓。5工具、設備、儀器儀表工具、設備、儀器儀表見表6。表6工具、設備、儀器儀表序號名稱規(guī)格型號用途數(shù)量1游標卡尺0155mm測量長度12漏電測試儀TH2686A 型測試漏電電流13晶體管特性圖示儀QT2晶體管特性14LCR電橋TC2810C 型測量標稱值15數(shù)字三用表GDM8055測量電壓用16音頻毫伏表測紋波電壓17交流穩(wěn)壓電源穩(wěn)壓18耐壓試驗臺DF2670A 型測量耐壓19交流恒流源GLX3 型恒流110兆歐表500V測量絕

11、緣電阻16老化篩選的抽樣對于同一批采購來的元器件應同時進行老化篩選。數(shù)量大于1000只時老化應同時進行，但老化后的測試可以抽樣進行。抽樣的比例：總數(shù)為1000-5000時抽取20%；總數(shù)為5000-10000時抽取10%；總數(shù)為10000時抽取5%，最多不超過1000只。7老化時的包裝老化時元器件應將原包裝拆去，放在鋁盒中，每盒中放置量約1/3空間。8 老化篩選參數(shù)設定8.1高溫老化老化溫度：150C；老化時間：4h。8.2低溫老化老化溫度：-18C；老化時間：4h。9儀器儀表功能檢查及操作步驟所用的計量器具、儀器儀表必須在專業(yè)的計量單位鑒定合格的有效期內(nèi)。認真閱讀所用儀器的使用 說明書。遵循

12、：參數(shù)設置一開機預熱一功能檢查一元器件的性能測試一記錄一關機。參數(shù)測試項目應根據(jù)元器件使用的情況來選擇。一般情況下應檢查、測試以下參數(shù)：10.1電阻器目測，對照產(chǎn)品合格證、包裝盒、實物，三位一體查看規(guī)格型號、功率、色圈(標稱阻值和精度) 是否一致，是否符合設計資料規(guī)定的技術要求，必要時可以通過LCR電橋核實。10.2電位器首先確定該電位器的阻值變化屬于哪一種特性：直線式、對數(shù)式還是指數(shù)式。另外在旋轉過程中阻 值變化是否均勻，接觸是否可靠。10.3壓敏電阻該器件檢測的主要項目是借助DF2670A型耐壓試驗臺測試，其擊穿電壓是否符合要求。10.4電容器10.4.1電容器額定電壓U的檢測10.4.2

13、電解電容器漏電電流Ir的檢測一般電解電容器漏電電流計算公式：IuA = 0.02 x U V )x C (pF )+ 20 pA式中：U V):額定電壓；C (p F)：標稱電容值；希望漏電流(IR)愈小愈好。10.5電感器一般檢測電感器的直流電阻、電感量和允許通過的電流是否在規(guī)定的范圍之內(nèi)。一般檢測電感器的直流電阻、電感量和允許通過的電流是否在規(guī)定的范圍之內(nèi)。10.6互感器空心參數(shù)，借助大電流發(fā)生器通過相應的In電流，分別測量20KQ采樣電阻兩端的電壓和通過 150Q采樣電阻的電流值。注：1. 20KQ采樣電阻連接空心線圈兩端。2. 150Q采樣電阻連接速飽和線圈兩端。10.7變壓器根據(jù)不同

14、性能用途的變壓器及其指標要求測量工頻耐壓。10.7.1變壓器的輸入端與外殼之間。10.7.2變壓器的輸入端與輸出端(初次級)之間。10.8二極管反向擊穿電壓、正向電壓降。10.9穩(wěn)壓管穩(wěn)壓值。10.10發(fā)光二極管正向壓降、批亮度。10.11三級管集電極一發(fā)射極反向擊穿電壓。集電極一發(fā)射極漏電流。電流放大倍數(shù)。10.12運算放大器空載電流、失調(diào)電壓、最大輸出幅度。10.13延時電路空載電流、輸出高電平、輸出低電平。10.14穩(wěn)壓管輸入一輸出擊穿電壓、輸出電壓。10.15光電耦合器輸入一輸出轉移特性、輸出集電極一發(fā)射極反向擊穿電壓、輸出集電極一發(fā)射極暗電流。11測量參數(shù)的判據(jù)以元器件廠標準為依據(jù)，

15、配對元器件的參數(shù)的誤差一般不超過10%。以設計資料規(guī)定的技術要求為依據(jù)，檢測出的所有參數(shù)必須在規(guī)定的范圍之內(nèi)。12老化后的參數(shù)測試老化后應在兩小時內(nèi)將參數(shù)測試完畢，測試參數(shù)應記錄在冊，記錄中應包括以下內(nèi)容：元器件型號 規(guī)格、牌號、生產(chǎn)廠家、生產(chǎn)日期、老化參數(shù)、本批數(shù)量、抽樣數(shù)量、不合格數(shù)、不合格原因、合格率、 結論。13老化篩選的中止當測試中發(fā)現(xiàn)不合格數(shù)超過5%時應中止老化篩選。會同質(zhì)檢供應等有關部門分析、處理。14免檢同一個供應單位的同一種牌號的元器件經(jīng)過連續(xù)三批老化篩選，如果不合格率小于0.1%，則這個 單位的這種元器件在今后一年內(nèi)可以免檢。一年后再老化篩選一批，如果不合格率仍小于0.1%，則這 個單位的這種元器件的免檢期再延長一年。格率仍小于0.1%，則這個單位的這種元器件的免檢期再延長一年。15產(chǎn)品高溫老化高溫老化方法及技術要求：高溫老化房的溫度應控制在+45C+ 50C范圍內(nèi)；進入高溫房的產(chǎn)品必須是經(jīng)過調(diào)試合格的產(chǎn)品；高溫老化時間除特殊說明外，均為48小時；產(chǎn)品老化期間每隔四小時檢查一次，并作好記錄，如發(fā)現(xiàn)不正常產(chǎn)品應立即撤除,經(jīng)分析排除故 障后重新進入老化,時間重新開始計算；分勵脫扣器、閉合