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EMC電子學(xué)系統(tǒng)BESIIIEMC電子學(xué)系統(tǒng)由前放、主放、Q插件、測(cè)試控制器、扇出插件等部分構(gòu)成。前放的設(shè)計(jì)采用了假設(shè)干低噪聲技術(shù)和抗干擾措施，對(duì)探測(cè)器輸出的微弱信號(hào)進(jìn)展放大，保證了后端電荷丈量精度;電荷丈量采用分三個(gè)量程數(shù)字化的方法實(shí)現(xiàn)15bit動(dòng)態(tài)范圍；采用FPGA來(lái)完成數(shù)據(jù)的緩存、預(yù)處置，提高的系統(tǒng)的集成度、添加了數(shù)據(jù)處置的并行度靈敏性 經(jīng)過(guò)了三次束流測(cè)試和384通道小系統(tǒng)的長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試證明， EMC電子學(xué)系統(tǒng)曾經(jīng)到達(dá)或超越預(yù)定的設(shè)計(jì)目的.BES EMC電子學(xué)系統(tǒng)的主要功能是丈量電荷量，從而確定粒子在CsI晶體中的能量損失，同時(shí)給出粗略的粒子擊中晶體的時(shí)間信息。另外一個(gè)重要義務(wù)是向觸發(fā)判選系統(tǒng)提供晶體的能量信息作為事例挑選的根據(jù)之一。EMC電子學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)框圖.安裝EMC電子學(xué)系統(tǒng)前放.EMC電子學(xué)系統(tǒng)主放和電荷丈量插件.EMC電子學(xué)384通道測(cè)試系統(tǒng).EMC與在線系統(tǒng)結(jié)合測(cè)試.安裝在晶體上的前放和電纜.

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