UT單選題(整理稿含答案)

1、超聲波檢測理論復習題單選題2.1以下關于諧振動的敘述，哪一條是錯誤的（ ）A、諧振動就是質點在作勻速圓周運動。B、任何復雜振動都可視為多個諧振動的合成。C、在諧振動中，質點在位移最大處受力最大，速度為零。D、在諧振動中，質點在平衡位置速度最大，受力為零。2.2以下關于阻尼振動的敘述，哪一條是錯誤的（ ）A、阻尼使振動物體的能量逐漸減小。 B、阻尼使振動物體的振幅逐漸減小。C、阻尼使振動物體的運動速率逐漸減小。 D、阻尼使振動周期逐漸變長。2.3超聲波是頻率超出人耳聽覺的彈性機械波，其頻率范圍約為：（ ）A、高于2萬赫芝 B、110MHz C、高于200Hz D、0.2515MHz2.4在金屬材

2、料的超聲波探傷中，使用最多的頻率范圍是：（ ）A、10251MHz B、11000KHz C、15MHz D、大于20000MHz2.5機械波的波速取決于（ ）A、機械振動中質點的速度 B、機械振動中質點的振幅C、機械振動中質點的振動頻率 D、彈性介質的特性2.6在同種固體材料中，縱波聲速CL，橫波聲速CS，表面波聲速CR，之間的關系是：（ ）A、CRCSCL B、CSCLCR C、CLCSCR D、以上都不對2.7在下列不同類型超聲波中，哪種波的傳播速度隨頻率的不同而改變？（ ）A、表面波 B、扳波 C、疏密波 D、剪切波2.8超聲波人射到異質界面時，可能發(fā)生（ ）A、反射 B、折射 C、波

3、型轉換 D、以上都是2.9超聲波在介質中的傳播速度與（ ）有關。A、介質的彈性 B、介質的密度 C、超聲波波型 D、以上全部2.10在同一固體材料中，縱、橫波聲速之比，與材料的（ ）有關？A、密度 B、彈性模量 C、泊松比 D、以上全部2.11質點振動方向垂直于波的傳播方向的波是：（ ）A、縱波 B、橫渡 C、表面波 D、蘭姆波2.12在流體中可傳播：（ ）A、縱波 B、橫波 C、縱波、橫波及表面波 D、切變波2.13超聲縱波、橫波和表面波速度主要取決于：（ ）A、頻率 B、傳聲介質的幾何尺寸C、傳聲材料的彈性模量和密度 D、以上都不全面，須視具體情況而定2.15鋼中超聲波縱波聲速為5900m

4、s，若頻率為10MHz則其波長為：（ ）A、59rnrn B、5.9mm C、0.59mm D、2.36mm2.16下面哪種超聲波的波長最短（ ）A、水中傳播的2MHz縱波 B、鋼中傳播的2.5MHz橫波C、鋼中傳播的5MHz縱波 D、鋼中傳播的2MHz表面波2.17一般認為表面波作用于物體的深度大約為（ ）A、半個波長 B、個波長 C、兩個波長 D、3.7個波長2.18鋼中表面波的能量大約在距表面多深的距離會降低到原來的1/25。（ ）A、五個波長 B、一個波長 C、1/10波長 D、0.5波長2.19脈沖反射法超聲波探傷主要利用超聲波傳播過程中的（ ）A、散射特性 B、反射特性 C、透射特

5、性 D、擴散特性2.20超聲波在彈性介質中傳播時有（ ）A、質點振動和質點移動 B、質點振動和振動傳遞 C、質點振動和能量傳播 D、B和C2.21超聲波在彈性介質中的速度是（ ）A、質點振動的速度 B、聲能的傳播速度 C、波長和傳播時間的乘積 D、以上都不是2.22若頻率一定，下列哪種波型在固體彈性介質中傳播的波長最短：（ ）A、剪切波 B、壓縮波 C、橫波 D、瑞利表面波2.23材料的聲速和密度的乘積稱為聲阻抗，它將影響超聲波（ ）A、在傳播時的材質衰減 B、從一個介質到達另一個介質時在界面上的反射和透射C、在傳播時的散射 D、擴散角大小2.24聲阻抗是：（ ）A、超聲振動的參數(shù) B、界面的

6、參數(shù) C、傳聲介質的參數(shù) D、以上都不對2.25當超聲縱波由水垂直射向鋼時，其透射系數(shù)大于1，這意味著：（ ）A、能量守恒定律在這里不起作用 B、透射能量大于入射能量C、A與B都對 D、以上都不對2.26當超聲縱波由鋼垂直射向水時，其反射系數(shù)小于0，這意味著：（ ）A、透射能量大于入射能量 B、反射超聲波振動相位與入射聲波互成180C、超聲波無法透入水中 D、以上都不對2.27垂直入射于異質界面的超聲波束的反射聲壓和透射聲壓：（ ）A、與界面二邊材料的聲速有關 B、與界面二邊材料的密度有關C、與界面二邊材料的聲阻抗有關 D、與入射聲波波型有關2.28在液浸探傷中，哪種波會迅速衰減：（ ）A、縱

7、波 B、橫波 C、表面波 D、切變波2.29超聲波傳播過程中，遇到尺寸與波長相當?shù)恼系K物時，將發(fā)生（ ）A、只繞射，無反射 B、既反射叉繞射 C、只反射無繞射 D、以上都可能2.30在同一固體介質中，當分別傳播縱、橫波時，它的聲阻抗將是（ ）A、一樣 B、傳播橫波時大 C、傳播縱波時大 D、無法確定2.31超聲波垂直入射到異質界面時，反射波與透過波聲能的分配比例取決于（ ）A、界面兩側介質的聲速 B、界面兩側介質的衰減系數(shù)C、界面兩側介質的聲阻抗 D、以上全部2.32在同一界面上，聲強透過率T與聲壓反射率r之間的關系是（ ）A、Tr2 B、Ttr2 C、T1r D、T1r2.33在同一界面上，

8、聲強反射率R與聲強透過率T之間的關系是（ ）A、RT1 B、T1R C、R1T D、以上全對2.34超聲波傾斜入射至異質界面時，其傳播方向的改變主要取決于（ ）A、界面兩側介質的聲阻抗 B、界面兩側介質的聲速C、界面兩側介質衰減系數(shù) D、以上全部2.35 傾斜人射到異質界面的超聲波束的反射聲壓與透射聲壓與哪一因素有關（ ）A、反射波波型 B、入射角度 C、界面兩側的聲阻抗 D、以上都是2.36 縱波垂直人射水浸法超聲波探傷，若工件底面全反射，計算底面回波聲壓公式為（ ）A、 B、 C、 D、2.37一般地說，如果頻率相同。則在粗晶材料中穿透能力最強的振動波型為：（ A、表面波 B、縱波 C、橫

9、波 D、三種波型的穿透力相同2.38不同振動頻率，而在鋼中有最高聲速的波型是：（ ）A、0.5MHz的縱波 B、2.5MHz的橫波 C、10MHz的爬波 D、5MHz的表面波2.39在水/鋼界面上，水中入射角為11，在鋼中傳播的主要振動波型為：（ A、表面波 B、橫波 C、縱波 D、B和C2.40當超聲縱波由有機玻璃以入射角15射向鋼界面時，可能存在：（ ）A、反射縱波 B、反射橫波 C、折射縱波和折射橫波 D、以上都有2.41如果將用于鋼的K2探頭去探測鋁（CFe3.23kms，CAl3.10kms）則K值會（ ）A、大于2 B、小于2 C、仍等于2 D、還需其它參數(shù)才能確定2.42如果超聲

10、縱波由水以20入射到鋼界面，則在鋼中橫波折射角為：（ ）A、約48 B、約14 C、39 D、以上都不對2.43第一臨界角是：（ ）A、折射縱波等于90時的橫波入射角 B、折射橫波等于90時的縱波入射角C、折射縱波等于90時的縱波入射角 D、入射縱波接近90時的折射角2.44第二臨界角是：（ ）A、折射縱波等于90時的橫波入射角 B、折射橫波等于90時的縱波入射角C、折射縱波等于90時的縱波入射角 D、入射縱波接近90時的折射角2.45要在工件中得到純橫波，探頭人射角必須：（ ）A、大于第二臨界角 B、大于第一臨界角C、在第一、第二臨界角之間 D、小于第二臨界角2.46一般均要求斜探頭楔塊材料

11、的縱波速度小子被檢材料的縱波聲速，因為只有這樣才有可能：（ ）A、在工件中得到純橫波 B、得到良好的聲束指向性C、實現(xiàn)聲束聚焦 D、減少近場區(qū)的影響2.47縱波以20入射角自水入射至鋼中，下圖中哪一個聲束路徑是正確的？（C）2.48用入射角為52的斜探頭探測方鋼，下圖中哪一個聲束路徑是正確的？（D）2.49直探頭縱波探測具有傾斜底面的鍛鋼件，下圖中哪一個聲束路徑是正確的？（B）2.50第一介質為有機玻璃（CL2700ms），第二介質為銅（CL4700ms； CS3300ms），則第臨界角為（ ）A、 B、 C、 D、以上都不對2.51用4MHz鋼質保護膜直探頭經(jīng)甘油耦合后，對鋼試件進行探測，若

12、要得到最佳透聲效果，其耦合層厚度為（甘油CL1920m/s）（ ）A、1.45mm B、0.20tnm C、0.7375mm D、0.24mm2.52用直探頭以水為透聲楔塊使鋼板對接焊縫中得到橫波檢測，此時探頭聲束軸線相對于探測面的傾角范圍為：（ ）A、14.727.7 B、62.375.3 C、27.256.7 D、不受限制2.53有一不銹鋼復合鋼板，不銹鋼復合層聲阻抗Z1，基體鋼板聲阻抗Z2，今從鋼板一側以2.5MHz直探頭直接接觸法探測，則界面上聲壓透射率公式為：（ ）A、 B、 C、 D、2.54由材質衰減引起的超聲波減弱db數(shù)等于：（ ）A、衰減系數(shù)與聲程的乘積 B、衰減系數(shù)與深度的

13、乘積C、e-S（為衰減系數(shù)，s為聲程） D、以上都不對2.55超聲波（活塞波）在非均勻介質中傳播，引起聲能衰減的原因是：（ ）A、介質對超聲波的吸收 B、介質對超聲波的散射 C、聲束擴散 D、以上全部2.56斜探頭直接接觸法探測鋼板焊縫時，其橫波：（ ）A、在有機玻璃斜楔塊中產(chǎn)生 B、從晶片上直接產(chǎn)生C、在有機玻璃與耦合層界面上產(chǎn)生 D、在耦合層與鋼板界面上產(chǎn)生2.57制作凹曲面的聚焦透鏡時，若透鏡材料聲速為C1，第二透聲介質聲速為C2，則兩者材料應滿足如下關系：（ ）A、C1C2 B、C1C2 D、C1C2 D、Z1Z22.58當聚焦探頭聲透鏡的曲率半徑增大時，透鏡焦距將：（ ）A、增大 B

14、、不變 C、減小 D、以上部不對2.59平面波在曲界面上透過情況，正確的圖是：（B）2.60由材料晶粒粗大而引起的衰減屬于（ ）A、擴散衰減 B、散射衰減 C、吸收衰減 D、以上都是2.61與超聲頻率無關的衰減方式是（ ）A、擴散衰減 B、散射衰減 C、吸收衰減 D、以上都是2.62下面有關材料衰減的敘述，哪句話是錯誤的：（ ）A、橫波衰減比縱波嚴重 B、衰減系數(shù)一般隨材料的溫度上升而增大C、當晶粒度大于波長1/10時對探傷有顯著影響 D、提高增益可完全克服衰減對探傷的影響2.63波束擴散角是晶片尺寸和傳播介質中聲波波長的函數(shù)并且隨（ ）A、頻率增加，晶片直徑減小而減小 B、頻率或晶片直徑減小

15、而增大C、頻率或晶片直徑減小而減小 D、頻率增加，晶片直徑減小而增大2.64晶片直徑D20mm的直探頭，在鋼中測得其零幅射角為10，該探頭探測頻率約為：（ ）A、2.5MHz B、5MHz C、4MHz D、2MHz2.65直徑12mm晶片5MHz直探頭在鋼中的指向角是：（ ）A、5.6 B、3.5 C、6.8 D、24.62.6614mm，2.5MHz直探頭在鋼中近場區(qū)為：（ ）A、27mm B、21mm C、38mm D、以上都不對2.6714mm，2.5MHz直探頭在鋼中的非擴散區(qū)長度約為：（ ）A、35mn： B、63mm C、45mm D、以上部不對2.68在非擴散區(qū)內大平底距聲源距

16、離增大1倍，其回波減弱（ ）A、6db B、12db C、3db D、0db2.69利用球面波聲壓公式（PP0D2/4s）得到的規(guī)則反射體反射聲壓公式應用條件是：（ ）A、S2N近似正確 B、S3N基本正確 C、S6N正確 D、以上都對2.70在超聲探頭遠場區(qū)中： ）A、聲束邊緣聲壓較大 B、聲束中心聲壓最大C、聲束邊緣與中心強度一樣 C、聲壓與聲束寬度成正比2.71活塞波聲場，聲束軸線上最后一個聲壓極大值到聲源的距離稱為（ ）A、近場長度 B、未擴散區(qū) C、主聲束 D、超聲場2.72下列直探頭，在鋼中指向性最好的是（ ）A、2.5P20Z B、3P14Z C、4P20Z D、5P14Z2.7

17、3下面有半擴散角的敘述，哪一條是錯誤的（ ）A、用第一零輻射角表示 B、為指向角的一半C、與指向角相同 D、是主聲束輻射錐角之半2.74超聲場的未擴散區(qū)長度（ ）A、約等于近場長度 B、約等于近場長度0.6倍C、約為近場長度1.6倍 D、約等于近場長度3倍2.75遠場范圍的超聲波可視為（ ）A、平面波 B、柱面波 C、球面波 D、以上都不對2.76在探測條件相同的情況下，面積比為2的兩個平底孔，其反射波高相差（ ）A、6dB B、12dB C、9dB D、3dB2.77在探測條件相同的情況下、孔徑比為4的兩個球形人工缺陷，其反射波高相差（ ）A、6dB B、12dB C、24dB D、18dB

18、2.78在探測條件相同的情況下，直徑比為2的兩個實心圓柱體，其曲底面回波相差（ ）A、12dB B、9dB C、6dB D、3dB2.79外徑為D，內徑為d的實心圓柱體，以相同的靈敏度在內壁和外圓探測，如忽略耦合差異，則底波高度比為（ ）A、1 B、 C、 D、2.80同直徑的平底孔在球面波聲場中距聲源距離增大1倍則回波減弱：（ ）A、6db B、12db C、3db D、9db2.81同直徑的長橫孔在球面波聲場中距離聲源距離增大1倍回波減弱：（A、6db B、12db C、3db D、9db2.82在球面波聲場中大平底距聲源距離增大1倍回波減弱：（ ）A、6db B、12db C、3db D

19、、9db2.83對于柱面波，距聲源距離增大1倍，聲壓變化是：（ ）A、增大6db B、減小6db C、增大3db D、減小3db2.84對于球面波，距聲源距離增大1倍，聲壓變化是：（ ）A、增大6db B、減小6db C、增大3db D、減小3db2.85比3mm平底孔回波小7db的同聲程平底孔直徑是：（ ）A、1 nun B、2mm C、4mm D、0.5mm2.86比3rnm長橫孔反射小7db的同聲程長橫孔直徑是：（ ）A、0.6mm B、lmrn C、2mm D、0.3mm2.87以下敘述中哪一條不是聚焦探頭的優(yōu)點（ ）A、靈敏度高 B橫向分辨率高C、縱向分辨高 D、探測粗晶材料時信噪比

20、高2.88以下敘述中，哪一條不是聚焦探頭的缺點（ ）A、聲束細，每次掃查探測區(qū)域小，效率低B、每只探頭僅適宜探測某一深度范圍缺陷，通用性差C、由于聲波的干涉作用和聲透鏡的球差，聲束不能完全匯聚一點D、以上都是3.1 A型掃描顯示中，從熒光屏上直接可獲得的信息是：（ ）A、缺陷的性質和大小 B、缺陷的形狀和取向C、缺陷回波的大小和超聲傳播的時間 D、以上都是3.2 A型掃描顯示，“盲區(qū)”是指：（ ）A、近場區(qū) B、聲束擴散角以外區(qū)域C、始脈沖寬度和儀器阻塞恢復時間 D、以上均是3.3 A型掃描顯示中，熒光屏上垂直顯示大小表示：（ ）A、超聲回波的幅度大小 B、缺陷的位置 C、被探材料的厚度 D、

21、超聲傳播時間3.4 A型掃描顯示中，水平基線代表：（ ）A、超聲回波的幅度大小 B、探頭移動距離 C、聲波傳播時間 D、缺陷尺寸大小3.5脈沖反射式超聲波探傷儀中，產(chǎn)生觸發(fā)脈沖的電路單元叫做（ ）A、發(fā)射電路 B、掃描電路 C、同步電路 D、顯示電路3.6脈沖反射超聲波探傷儀中，產(chǎn)生時基線的電路單元叫做（ ）A、掃描電路 B、觸發(fā)電路 C、同步電路 D、發(fā)射電路3.7發(fā)射電路輸出的電脈沖，其電壓通?？蛇_（ ）A、幾百伏到上千伏 B、幾十伏 C、幾伏 D、1伏3.8發(fā)射脈沖的持續(xù)時間叫：（ ）A、始脈沖寬度 B、脈沖周期 C、脈沖振幅 D、以上都不是3.9探頭上標的2.5MHz是指：（ ）A、重

22、復頻率 B、工作頻率 C、觸發(fā)脈沖頻率 D、以上都不對3.10影響儀器靈敏度的旋紐有：（ ）A、發(fā)射強度和增益旋紐 B、衰減器和抑制 C、深度補償 D、以上都是3.11儀器水平線性的好壞直接影響：（ ）A、缺陷性質判斷 B、缺陷大小判斷 C、缺陷的精確定位 D、以上都對3.12儀器的垂直線性好壞會影響：（ ）A、缺陷的當量比較 B、AVG曲線面板的使用 C、缺陷的定位 D、以上都對3.13接收電路中，放大器輸人端接收的回波電壓約有（ ）A、幾百伏 B、100V左右 C、10V左右 D、0.0011V3.14同步電路每秒鐘產(chǎn)生的觸發(fā)脈沖數(shù)為（ ）A、l2個 B、數(shù)十個到數(shù)千個 C、與工作頻率相同

23、 D、以上都不對。3.15調節(jié)儀器面板上的“抑制”旋鈕會影響探傷儀的（ ）A、垂直線性 B、動態(tài)范圍 C、靈敏度 D、以上全部3.16放大器的不飽和信號高度與缺陷面積成比例的范圍叫做放大器的：（ ）A、靈敏度范圍 B、線性范圍 C、分辨力范圍 D、選擇性范圍3.17單晶片直探頭接觸法探傷中，與探測面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出、這是因為：（ ）A、近場干擾 B、材質衰減 C、盲區(qū) D、折射3.18同步電路的同步脈沖控制是指：（ ）A、發(fā)射電路在單位時間內重復發(fā)射脈沖次數(shù) B、掃描電路每秒鐘內重復掃描次數(shù)C、探頭晶片在單位時間內向工件重復幅射超聲波次數(shù) D、以上全部都是3.19表示探傷儀與探

24、頭組合性能的指標有：（ ）A、水平線性、垂直線性、衰減器精度 B、靈敏度余量、盲區(qū)、遠場分辨力C、動態(tài)范圍、頻帶寬度、探測深度 D、垂直極限、水平極限、重復頻率3.20使儀器得到滿幅顯示時Y軸偏轉板工作電壓為80V，現(xiàn)晶片接收到的缺陷信號電壓為40mV，若要使此缺陷以50垂直幅度顯示，儀器放大器應有多大增益量？（ ）A、74dB B、66dB C、60dB D、80dB3.21脈沖反射式超聲波探傷儀同步脈沖的重復頻率決定著：（ ）A、掃描長度 B、掃描速度 C、單位時間內重復掃描次數(shù) D、鋸齒波電壓幅度3.22壓電晶片的基頻是：（ ）A、晶片厚度的函數(shù) B、施加的脈沖寬度的函數(shù) C、放大器放大

25、特性的函數(shù) D、以上都不對3.24當激勵探頭的脈沖幅度增大時：（ ）A、儀器分辨力提高 B、儀器分辨力降低，但超聲強度增大C、聲波穿透力降低 D、對試驗無影響3.25探頭晶片背面加上阻尼塊會導致：（ ）A、Qm值降低、靈敏度提高 B、Qm值增大、分辨力提高C、Qm值增大、盲區(qū)增大 D、Qm值降低、分辨力提高3.26為了從換能器獲得最高靈敏度：（ ）A、應減小阻尼塊 B、應使用大直徑晶片C、應使壓電晶片在它的共振基頻上激勵 D、換能器頻帶寬度應盡可能大3.27超聲試驗系統(tǒng)的靈敏度：（ ）A、取決于探頭、高頻脈沖發(fā)生器和放大器 B、取決于同步脈沖發(fā)生器C、取決于換能器機械阻尼 D、隨分辨力提高而提

26、高3.28換能器尺寸不變而頻率提高時：（ ）B、聲束擴散角增大 A、橫向分辨力降低 C、近場長度增大 D、指向性變鈍3.29一般探傷時不使用深度補償是因為它會：（ ）A、影響缺陷的精確定位 B、影響AVG曲線或當量定量法的使用C、導致小缺陷漏檢 D、以上都不對3.30晶片共振波長是晶片厚度的：A、2倍 B、12倍 C、1倍 D、4倍3.31已知PZT4的頻率常數(shù)是2000m/s，2.5MHz的PZT4晶片厚度約為：（ ）A、0.8mm B、1.25mm C、1.6mm D、0.4mm3.32在毛面或曲面工件上作直探頭探傷時，應使用：（ ）A、硬保護膜直探頭 B、軟保護膜直探頭 C、大尺寸直探頭

27、 D、高頻直探頭3.33目前工業(yè)超聲波探傷使用較多的壓電材料是：（ ）A、石英 B、鈦酸鋇 C、鋯鈦酸鉛 D、硫酸鋰3.34聯(lián)合雙直探頭的最主要用途是：（ ）A、探測近表面缺陷 B、精確測定缺陷長度 C、精確測定缺陷高度 D、用于表面缺陷探傷3.35超聲波探傷儀的探頭晶片用的是下面哪種材料：（ ）A、導電材料 B、磁致伸縮材料 C、壓電材料 D、磁性材料3.41窄脈沖探頭和普通探頭相比（ ）A、Q值較小 B、靈敏度較低 C、頻帶較寬 D、以上全部3.42采用聲透鏡方式制作聚焦探頭時，設透鏡材料為介質1，欲使聲束在介質2中聚焦，選用平凹透鏡的條件是（ ）A、Z1Z2 B、C1C2 C、C1C2

28、D、Z1Z23.43探頭軟保護膜和硬保護膜相比，突出優(yōu)點是（ ）A、透聲性能好 B、材質衰減小 C、有利消除耦合差異 D、以上全部3.44以下哪一條，不屬于數(shù)字化智能超聲波探傷儀的優(yōu)點（ ）A、檢測精度高，定位定量準確 B、頻帶寬，脈沖窄C、可記錄存貯信號 D、儀器有計算和自檢功能3.45以下哪一條，不屬于雙晶探頭的優(yōu)點（ ）A、探測范圍大 B、盲區(qū)小 C、工件中近場長度小 D、雜波少3.47斜探頭前沿長度和值測定的幾種方法中，哪種方法精度最高：（ ）A、半圓試塊和橫孔法 B、雙孔法 C、直角邊法 D、不一定，須視具體情況而定3.48超聲探傷系統(tǒng)區(qū)別相鄰兩缺陷的能力稱為：A、檢測靈敏度 B、時

29、基線性 C、垂直線性 D、分辨力3.49用以標定或測試超聲探傷系統(tǒng)的，含有模擬缺陷的人工反射體的金屬塊叫：（ ）A、晶體準直器 B、測角器 C、參考試塊 D、工件3.50對超聲探傷試塊材質的基本要求是：（ ）A、其聲速與被探工件聲速基本一致 B、材料中沒有超過2mm平底孔當量的缺陷C、材料衰減不太大且均勻 D、以上都是3.51 CSKA試塊上的16橫孔，在超聲遠場，其反射波高隨聲程的變化規(guī)律與（ ）相同。A、長橫孔 B、平底孔 C、球孔 D、以上B和C4.1采用什么超聲探傷技術不能測出缺陷深度？（ ）A、直探頭探傷法 B、脈沖反射法 C、斜探頭探傷法 D、穿透法4.2超聲檢驗中，當探傷面比較粗

30、糙時，宜選用（ ）A、較低頻探頭 B、較粘的耦合劑 C、軟保護膜探頭 D、以上都對4.3超聲檢驗中，選用晶片尺寸大的探頭的優(yōu)點是（ ）A、曲面探傷時可減少耦合損失 B、可減少材質衰減損失C、輻射聲能大且能量集中 D、以上全部4.4探傷時采用較高的探測頻率，可有利于（ ）A、發(fā)現(xiàn)較小的缺陷 B、區(qū)分開相鄰的缺陷 C、改善聲束指向性 D、以上全部4.5工件表面形狀不同時耦合效果不一樣，下面的說法中，哪點是正確的（A、平面效果最好 B、凹曲面居中 C、凸曲面效果最差 D、以上全部4.6缺陷反射聲能的大小，取決于（ ）A、缺陷的尺寸 B、缺陷的類型 C、缺陷的形狀和取向 D、以上全部4.7聲波垂直入射

31、到表面粗糙的缺陷時，缺陷表面粗糙度對缺陷反射波高的影響是：（ ）A、反射波高隨粗糙度的增大而增加 B、無影響C、反射波高隨粗糙度的增大而下降 D、以上A和C都可能4.10探頭沿圓柱曲面外壁作周向探測時，如儀器用平試塊按深度1:1調掃描，下面哪種說法正確（ ）A、缺陷實際徑向深度總是小于顯示值 B、顯示的水平距離總是大于實際孤長C、顯示值與實際值之差，隨顯示值的增加而減小 D、以上都正確4.11采用底波高度法（F/B百分比法）對缺陷定量時，下面哪種說法正確（ ）A、F/B相同，缺陷當量相同 B、該法不能給出缺陷的當量尺寸C、適于對尺寸較小的缺陷定量 D、適于對密集性缺陷的定量4.12在頻率一定和

32、材料相同情況下，橫波對小缺陷探測靈敏度高于縱波的原因是：（ ）A、橫波質點振動方向對缺陷反射有利 B、橫波探傷雜波少C、橫波波長短 D、橫波指向性好4.13采用下列何種頻率的直探頭在不銹鋼大鍛件超探時，可獲得較好的穿透能力：（ ）A、1.25MHz B、2.5MHz C、5MHz D、10MHz4.14在用5MHz10晶片的直探頭作水浸探傷時，水層厚度為20rnm，此時在鋼工件中的近場區(qū)長度還有：（ ）A、10.7mm B、1.4mm C、16.3mm D、以上都不對4.17從A型顯示熒光屏上不能直接獲得缺陷性質信息。超聲探傷對缺陷的定性是通過下列方法來進行：（ ）A、精確對缺陷定位 B、精確

33、測定缺陷形狀C、測定缺陷的動態(tài)波形 D、以上方法須同時使用4.18單斜探頭探傷時，在近區(qū)有幅度波動較快，探頭移動時水平位置不變的回波，它們可能是：（ ）A、來自工件表面的雜波 B、來自探頭的噪聲C、工件上近表面缺陷的回波 D、耦合劑噪聲4.19確定脈沖在時基線上的位置應根據(jù)：（ ）A、脈沖波峰 B、脈沖前沿 C、脈沖后沿 D、以上都可以4.20用實測折射角71的探頭探測板厚為25mm的對接焊縫，熒光屏上最適當?shù)穆暢虦y定范圍是：（ ）A、l00mm B、125mm C、150mm D、200tnm4.21用IIW2調整時間軸，當探頭對準R50圓孤面時，示波屏上的回波位置（聲程調試）應在：（D）4

34、.22能使K2斜探頭得到圖示深度1:1調節(jié)波形的鋼半圓試塊半徑R為（ ）A、50mrn B、60mm C、67mrn D、40mm4.23在厚焊縫斜探頭探傷時，一般宜使用什么方法標定儀器時基線？（ ）A、水平定位法 B、深度定位法 C、聲程定位法 D、一次波法4.24在中薄板焊縫斜探頭探傷時，宜使用什么方法標定儀器時基線？（ ）A、水平定位法 B、深度定位法 C、聲程定位法 D、二次波法4.25對圓柱形筒體環(huán)縫探測時的缺陷定位應：（ ）A、按平板對接焊縫方法 B、作曲面定位修正C、使用特殊探頭 D、視具體情況而定采用各種方法4.27在筒身外壁作曲面周向探傷時，缺陷的實際深度比按平板探傷時所得讀

35、數(shù)：（ ）A、大 B、小 C、相同 D、以上都可能4.28在筒身內壁作曲面周向探傷，所得缺陷的實際深度比按平板探傷時的讀數(shù)： （ ）A、大 B、小 C、相同 D、以上都可能4.29在筒身外壁作曲面周向探傷時，實際的缺陷前沿距離比按平板探傷時所得讀數(shù)：（ ）A、大 B、小 C、相同 D、以上都可能4.32在鍛件直探頭探傷時可能定不準近側面缺陷的位置，其原因是：（ ）A、側面反射波帶來干涉 B、探頭太大，無法移至邊緣C、頻率太高 D、以上都不是4.33在斜探頭厚焊縫探傷時，為提高缺陷定位精度可采取措施是：（ ）A、提高探頭聲束指向性 B、校準儀器掃描線性C、提高探頭前沿長度和K值測定精度 D、以上

36、都對4.34當量大的缺陷實際尺寸：（ ）A、一定大 B、不一定大 C、一定不大 D、等于當量尺寸4.35當量小的缺陷實際尺寸：（ ）A、一定小 B、不一定小 C、一定不小 D、等于當量尺寸4.36 在超聲探傷時，如果聲束指向不與平面缺陷垂直，則缺陷尺寸一定時，缺陷表面越平滑反射回波越：（ ）A、大 B、小 C、無影響 D、不一定4.37當聲束指向不與平面缺陷垂直時，在一定范圍內，缺陷尺寸越大，其反射回波強度越：（ ）A、大 B、小 C、無影響 D、不一定4.40直探頭縱波探傷時，工件上下表面不平行會產(chǎn)生：（ ）A、底面回波降低或消失 B、底面回波正常C、底面回波變寬 D、底面回波變窄4.41直

37、探頭探測厚100mm和400mm的兩平底面鍛件，若后者探測面粗糙，與前者耦合差為5db，材質衰減均為0.01dB/mm（雙程），今將前者底面回波調至滿幅（100）高，則后者的底面回波應是滿幅度的：（ ）A、40 B、20 C、10 D、54.43在脈沖反射法探傷中可根據(jù)什么判斷缺陷的存在？（ ）A、缺陷回波 B、底波或參考回波的減弱或消失C、接收探頭接收到的能量的減弱 D、AB都對4.44在直接接觸法直探頭探傷時，底波消失的原因是：（ ）A、耦合不良 B、存在與聲束不垂直的平面缺陷C、存在與始脈沖不能分開的近表面缺陷 D、以上都是4.45在直探頭探傷時，發(fā)現(xiàn)缺陷回波不高，但底波降低較大，則該缺

38、陷可能是：（ ）A、與表面成較大角度的平面缺陷 B、反射條件很差的密集缺陷C、AB都對 D、AB都不對4.46影響直接接觸法耦合損耗的原因有：（ ）A、耦合層厚度，超聲波在耦合介質中的波長及耦合介質聲阻抗B、探頭接觸面介質聲阻抗C、被探測工件材料聲阻抗D、以上都對4.47被檢工件晶粒粗大，通常會引起：（ ）A、草狀回波增多； B、信噪比下降； C、底波次數(shù)減少； D、以上全部。4.49在平整、光潔表面上作直探頭探傷時宜使用硬保護膜探頭，因為這樣：（ ）A、雖然耦合損耗大，但有利于減小工件中噪聲 B、脈沖窄，探測靈敏度高C、探頭與儀器匹配較好 D、以上都對4.50應用有人工反射體的參考試塊主要目

39、的是：（ ）A、作為探測時的校準基準，并為評價工件中缺陷嚴重程度提供依據(jù)B、為探傷人員提供一種確定缺陷實際尺寸的工具C、為檢出小于某工規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供保證D、提供一個能精確模擬某一臨界尺寸自然缺陷的參考反射體4.51下面哪種參考反射體與入射聲束角度無關：（ ）A、平底孔 B、平行于探測面且垂直于聲束的平底槽C、平行于探測面且垂直于聲束的橫通孔 D、平行于探測面且垂直于聲束的型缺口4.54換能器尺寸不變而頻率提高時：（ ）A、橫向分辨力降低 B、聲束擴散角增大 C、近場區(qū)增大 D、指向性變鈍4.55在確定缺陷當量時，通常在獲得缺陷的最高回波時加以測定，這是因為：（ ）A、只有當聲束

40、投射到整個缺陷反射面上才能得到反射回波最大值B、只有當聲束沿中心軸線投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值C、只有當聲束垂直投射到工件內缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值D、人為地將缺陷信號的最高回波規(guī)定為測定基準4.56 考慮靈敏度補償?shù)睦碛墒牵海?）A、被檢工件厚度太大 B、工件底面與探測面不平行C、耦合劑有較大聲能損耗 D、工件與試塊材質，表面光潔度有差異4.57探測粗糙表面的工件時，為提高聲能傳遞，應選用：（ ）A、聲阻抗小且粘度大的耦合劑 B、聲阻抗小且粘度小的耦合劑C、聲阻抗大且粘度大的耦合劑 D、以上都不是4.58超聲容易探測到的缺陷尺寸一般不小于：（ ）A、波長的一半 B、一個

41、波長 C、四分之一波長 D、若干個波長4.59與探測面垂直的內部平滑缺陷，最有效的探測方法是：（ ）A、單斜探頭法 B、單直探頭法 C、雙斜探頭前后串列法 D、分割式雙直探頭法4.60探測距離均為l00mm的底面，用同樣規(guī)格直探頭以相同靈敏度探測時，下列哪種底面回波最高。（ ）A、與探測面平行的大平底面 B、R200的凹圓柱底面C、R200的凹球底面 D、R200的凸圓柱底面4.61鍛件探傷中，熒光屏上出現(xiàn)“林狀波”時，是由于（ ）A、工件中有大面積傾斜缺陷 B、工件材料晶粒粗大C、工件中有密集缺陷 D、以上全部4.62下面有關“幻象波”的敘述哪點是不正確的（ ）A、幻象回波通常在鍛件探傷中出

42、現(xiàn) B、幻象波會在掃描線上連續(xù)移動C、幻象波只可能出現(xiàn)在一次底波前 D、降低復重頻率，可消除幻象波4.64長軸類鍛件從端面作軸向探測時，容易出現(xiàn)的非缺陷回波是（ ）A、三角反射波 B、61反射波 C、輪廓回波 D、遲到波4.65 方形鍛件垂直法探傷時，熒光屏上出現(xiàn)一游動缺陷回波，其波幅較低但底波降低很大。該缺陷取向可能是（ ）A、平行且靠近探測面 B、與聲束方向平行C、與探測面成較大角度 D、平行且靠近底面4.66缺陷反射聲壓的大小取決于：（ ）A、缺陷反射面大小 B、缺陷性質 C、缺陷取向 D、以上全部5.l鍛件的鍛造過程包括：（ ）A、加熱、形變、成型和冷卻 B、加熱、形變 C、形變、成型

43、 D、以上都不全面5.2鍛件缺陷包括：（ ）A、原材料缺陷 B、鍛造缺陷 C、熱處理缺陷 D、以上都有5.3鍛件中的粗大晶粒可能引起：（ ）A、底波降低或消失 B、噪聲或雜波增大 C、超聲嚴重衰減 D、以上都有5.4鍛件中的白點是在鍛造過程中哪個階段形成：（ ）A、加熱 B、形變 C、成型 D、冷卻5.5軸類鍛件最主要探測方向是：（ ）A、軸向直探頭探傷 B、徑向直探頭探傷C、斜探頭外圓面軸向探傷 D、斜探頭外圓面周向探傷5.6餅類鍛件最主要探測方向是：（ ）A、直探頭端面探傷 B、直探頭側面探傷 C、斜探頭端面探傷 D、斜探頭側面探傷5.7筒形鍛件最主要探測方向是：（ ）A、直探頭端面和外圓

44、面探傷 B、直探頭外圓面軸向探傷C、斜探頭外圓面周向探傷 D、以上都是5.8鍛件中非金屬夾雜物的取向最可能的是：（ ）A、與主軸線平行 B、與鍛造方向一致C、與鍛件金屬流線一致 D、與鍛件金屬流線垂直5.9超聲波經(jīng)液體進入具有彎曲表面工件時，聲束在工件內將會產(chǎn)生：（ ）A、與液體中相同的聲束傳播 B、不受零件幾何形狀的影響C、凹圓弧面聲波將收斂，凸圓弧面聲波將發(fā)散 D、與C的情況相反5.10鍛鋼件探測靈敏度的校正方式是：（ ）A、沒有特定的方式 B、采用底波方式C、采用試塊方式 D、采用底波方式和試塊方式5.11以工件底面作為靈敏度校正基準，可以：（ ）A、不考慮探測面的耦合差補償 B、不考慮

45、材質衰減差補償C、不必使用校正試塊 D、以上都是5.12在使用2.5MHz直探頭做鍛件探傷時，如用400mm深底波調整3mm平底孔靈敏度，底波調整后應提高多少db探傷？（晶片直徑Dl4rnm）A、35.5db B、43.5db C、50db D、28.5db5.13在直探頭探傷，用2.5MHz探頭，調節(jié)鍛件200mm底波于熒光屏水平基線滿量程刻度10。如果改用5MHz直探頭，儀器所有旋紐保持不變，則200mm底波出現(xiàn)在： （ ）A、刻度5處 B、越出熒光屏外 C、仍在刻度10處 D、須視具體情況而定5.14化學成份相同，厚度相同，以下哪一類工件對超聲波衰減最大（ ）A、鋼板 B、鋼管 C、鍛鋼

46、件 D、鑄鋼件5.15通用AVC曲線的通用性表現(xiàn)在可適用于：（ ）A、不同的探測頻率 B、不同的晶片尺寸C、不同示波屏尺寸的A型探傷儀 D、以上都是5.16大型鑄件應用超聲波探傷檢查的主要困難是：（ ）A、組織不均勻 B、晶粒非常粗 C、表面非常粗糙 D、以上都對5.17鍛鋼件大平底面與探測面不平行時，會產(chǎn)生：（ ）A、無底面回波或底面回波降低 B、難以發(fā)現(xiàn)平行探測面的缺陷C、聲波穿透能力下降 D、缺陷回波受底面回波影響5.18 利用試塊法校正探傷靈敏度的優(yōu)點是：（ ）A、校正方法簡單 B、對大于3N和小于3N的鍛件都適用C、可以克報探傷面形狀對靈敏度的影響 D、不必考慮材質差異5.19下列哪種方法可增大超聲波在粗晶材料中的穿透能力：（ ）A、用直徑較大的探頭進行檢驗 B、在細化晶粒的熱處理后檢驗C、將接觸法探傷改為液浸法探傷 D、將縱波探傷改為橫波探傷5.20以下有關鍛件白點缺陷的敘述，哪一條是錯誤的（ ）A、白點是一種非金屬夾雜物 B、白點通常發(fā)生在鍛件中心部位C、白點的回波清晰、尖銳、往往有多個波峰