第十一章地質(zhì)工程測(cè)量

1、第十一章第十一章 地質(zhì)工程測(cè)量地質(zhì)工程測(cè)量11-1 地質(zhì)物（化）探工程測(cè)量地質(zhì)物（化）探工程測(cè)量一、物探工程測(cè)量任務(wù)一、物探工程測(cè)量任務(wù)地球物理（化學(xué)）探礦地球物理（化學(xué)）探礦是根據(jù)巖石的物理（化學(xué)）性質(zhì),測(cè)定其物理參數(shù),按磁性、導(dǎo)電性、密度、彈性波等差異來(lái)了解地質(zhì)情況和尋找礦產(chǎn)。常用的物探方法常用的物探方法：磁法，電法，重力與地震等在物探網(wǎng)上進(jìn)行觀測(cè) xyFABCDPKN1N2圖圖11-1 較小工區(qū)的物探網(wǎng)布置較小工區(qū)的物探網(wǎng)布置物（化）探網(wǎng):由基線(xFy)與測(cè)線(AxB,KFP,CyD等)組成,基線的布置須平行于礦體的異常軸走向.礦體異常軸走向基點(diǎn)基點(diǎn):基線上的點(diǎn);控制基點(diǎn)控制基點(diǎn):與國(guó)

2、家控制點(diǎn)連測(cè)的基點(diǎn);測(cè)點(diǎn)測(cè)點(diǎn):根據(jù)物探工作的要求,在測(cè)線上以一定間距測(cè)定的點(diǎn),稱為物探觀測(cè)點(diǎn);點(diǎn)距點(diǎn)距:同一測(cè)線上的兩相鄰測(cè)點(diǎn)的距離;線距線距:兩相鄰測(cè)線的間距; 測(cè)網(wǎng)的密度測(cè)網(wǎng)的密度:線距X點(diǎn)距1000100010002000100030001000400010005000100056002000100030001000400010002000200030002000400020005000200020003000500030004000300030003000500040004000400030004000200040002000500030005000400050005000500020

3、005600300056004000560050005600圖圖11-2 較大工區(qū)物探網(wǎng)的布置較大工區(qū)物探網(wǎng)的布置(基線間距基線間距1000m,測(cè)線線距測(cè)線線距200m)50001000 測(cè)坐標(biāo)之基點(diǎn) 未測(cè)坐標(biāo)之基點(diǎn) 國(guó)家已知控制點(diǎn) 測(cè)線基線1000100050005600物探網(wǎng)編號(hào),從左下角開始;分分母是線號(hào)母是線號(hào),分子分子是點(diǎn)號(hào)是點(diǎn)號(hào)P物探工程測(cè)量的任務(wù)物探工程測(cè)量的任務(wù)就是將設(shè)計(jì)好的物探網(wǎng)施測(cè)到實(shí)地施測(cè)到實(shí)地上,或者將地面上的已布設(shè)的物探網(wǎng)與國(guó)家測(cè)量控制點(diǎn)連測(cè)并繪制到圖上。二、物探網(wǎng)的施測(cè)二、物探網(wǎng)的施測(cè)1、測(cè)設(shè)起始基點(diǎn)、測(cè)設(shè)起始基點(diǎn)1）計(jì)算測(cè)設(shè)數(shù)據(jù)根據(jù)測(cè)區(qū)地形及已知控制點(diǎn)的分布情況，

4、首先確定起始基點(diǎn)，如圖112中的P點(diǎn)，編號(hào)（20002000）。從圖上量出P點(diǎn)的設(shè)計(jì)坐標(biāo)值（XP，YP）。ABPXY A BDAPDBP根據(jù)P點(diǎn)的坐標(biāo)以及已知點(diǎn)A，B的坐標(biāo)，求出測(cè)設(shè)數(shù)據(jù) A 、 DAP 、 B 、 DBP 。 A AB AP， B BP BA，DAP （XPXA）cos APDBP （XPXB）cos BP圖圖113 P點(diǎn)與已知點(diǎn)點(diǎn)與已知點(diǎn)A,B連測(cè)及施測(cè)關(guān)系圖連測(cè)及施測(cè)關(guān)系圖2)現(xiàn)場(chǎng)施測(cè)采用交會(huì)法交會(huì)法與極坐標(biāo)法極坐標(biāo)法施測(cè)。交會(huì)法交會(huì)法1：兩臺(tái)經(jīng)緯儀前方交會(huì)分別在A，B兩已知點(diǎn)上架設(shè)經(jīng)緯儀，對(duì)中整平后，在A站上的經(jīng)緯儀瞄準(zhǔn)B點(diǎn)，順時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)（3600 A ）角，在B點(diǎn)的經(jīng)緯

5、儀瞄準(zhǔn)A點(diǎn)，順時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng) B角后，兩儀器固定，持桿者目估P點(diǎn)的位置，在P點(diǎn)附近聽從兩臺(tái)儀器觀測(cè)者的指揮，移動(dòng)標(biāo)桿，直至標(biāo)桿同時(shí)與兩臺(tái)儀器的十字絲的縱絲相重合為至，在標(biāo)桿打木樁作為P點(diǎn)的標(biāo)志。交會(huì)法交會(huì)法2：1臺(tái)經(jīng)緯儀在A點(diǎn)上架設(shè)經(jīng)緯儀，對(duì)中整平后，瞄準(zhǔn)B點(diǎn)，順時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)（3600 A ）角，用視距法測(cè)定AP的水平距離DAP ，在這點(diǎn)前后各1m處作標(biāo)記，再用細(xì)繩連接這兩點(diǎn)；隨后將儀器搬至B點(diǎn)，對(duì)中整平后，瞄準(zhǔn)A點(diǎn)，順時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng) B角，讓持桿者沿細(xì)繩移動(dòng)，直至標(biāo)桿與儀器的十字絲的縱絲相重合為至，在標(biāo)桿打木樁作為P點(diǎn)的標(biāo)志。極坐標(biāo)法極坐標(biāo)法在A點(diǎn)上架設(shè)經(jīng)緯儀，對(duì)中整平后，瞄準(zhǔn)B點(diǎn)，水平度盤置0度，逆時(shí)針轉(zhuǎn)

6、動(dòng) A角，則此時(shí)望遠(yuǎn)鏡視線方向就是AP的方向，在此方向上量取計(jì)算的水平距離DAP ，即得P點(diǎn)的實(shí)際位置。同理，在B點(diǎn)也可測(cè)設(shè)。測(cè)定起始基點(diǎn)的坐標(biāo)進(jìn)行校核測(cè)定起始基點(diǎn)的坐標(biāo)進(jìn)行校核將起始基點(diǎn)測(cè)設(shè)于地面后，應(yīng)重新根據(jù)周圍的國(guó)家控制點(diǎn)，用前方交會(huì)，側(cè)方交會(huì)或后方交會(huì)測(cè)定其坐標(biāo)值，并與圖上設(shè)計(jì)的坐標(biāo)值進(jìn)行比較，其不符值在圖上不能超過(guò)2mm（詳查）或2.5mm（普查）2、測(cè)設(shè)控制基點(diǎn)、測(cè)設(shè)控制基點(diǎn)測(cè)定坐標(biāo)并埋設(shè)標(biāo)石的基點(diǎn)稱之為控制基點(diǎn)，一般有基線兩端的基點(diǎn)及必要的中間基點(diǎn)。1）計(jì)算控制基點(diǎn)的理論坐標(biāo)值）計(jì)算控制基點(diǎn)的理論坐標(biāo)值根據(jù)起始基點(diǎn)的坐標(biāo)來(lái)推算其它欲測(cè)定控制點(diǎn)的理論坐標(biāo)值。如圖112所示，基線間距

7、為1000m，控制基點(diǎn)間距為1000m及600m，基線和測(cè)線的方位角為已知，假設(shè)基線方位角3500，測(cè)線方位角為=3500900800 。這樣對(duì)于4000mX4600m的物探網(wǎng)，只要計(jì)算出三組不同的坐標(biāo)增量，即可推算所有的控制基點(diǎn)的理論坐標(biāo)值。X11000 x cos 3500 Y11000 x sin 3500 X2600 x cos 3500 Y2600 x sin 3500 X31000 x cos 800 Y31000 x sin800 100010001000200010003000100040001000500010005600200010003000100040001000200

8、0200030002000400020005000200020003000500030004000300030003000500040004000400030004000200040002000500030005000400050005000500020005600300056004000560050005600 圖圖11-3 控制基點(diǎn)坐標(biāo)推算路線圖控制基點(diǎn)坐標(biāo)推算路線圖50001000 測(cè)坐標(biāo)之基點(diǎn) 未測(cè)坐標(biāo)之基點(diǎn) 國(guó)家已知控制點(diǎn) 測(cè)線基線1000100050005600物探網(wǎng)編號(hào),從左下角開始;分分母是線號(hào)母是線號(hào),分子分子是點(diǎn)號(hào)是點(diǎn)號(hào)P推算各控制基點(diǎn)的坐標(biāo)時(shí)，要注意推算路線的選擇應(yīng)使其構(gòu)

9、成閉合（或附合）的圖形，如上圖所示。閉合路線附合路線2）計(jì)算測(cè)設(shè)數(shù)據(jù)及現(xiàn)場(chǎng)施測(cè)）計(jì)算測(cè)設(shè)數(shù)據(jù)及現(xiàn)場(chǎng)施測(cè)根據(jù)已知控制點(diǎn)來(lái)計(jì)算測(cè)設(shè)控制基點(diǎn)的 角及距離D，以及現(xiàn)場(chǎng)施測(cè)的方法，完全與起始基點(diǎn)的計(jì)算及施測(cè)方法相同。控制基點(diǎn)測(cè)設(shè)于地面后應(yīng)全部或部分重新測(cè)算其坐標(biāo)，并檢查是否與理論坐標(biāo)相符。3、測(cè)設(shè)基線、測(cè)設(shè)基線基線測(cè)設(shè)方法有：經(jīng)緯儀視距法，經(jīng)緯儀配合鋼卷尺法1）基線方向的測(cè)設(shè)先計(jì)算基線方向的測(cè)設(shè)數(shù)據(jù) 角。這是由于地形通視條件的限制，往往不能從基線的一端點(diǎn)看到基線的另一端的控制基點(diǎn)。ABP A BXYQPQ為一基線的兩個(gè)端點(diǎn)。 A PQ PA B PB PQ圖圖114 基線方向與已知關(guān)系圖基線方向與已知關(guān)

10、系圖施測(cè)方法施測(cè)方法是將經(jīng)緯儀安置在P點(diǎn)上，經(jīng)對(duì)中整平后瞄準(zhǔn)A點(diǎn)，順時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng) A 角，即為基線PQ的方向，并用木樁在地面作出標(biāo)記。為了檢查施測(cè)過(guò)程中的誤差與錯(cuò)誤，再將儀器對(duì)準(zhǔn)B點(diǎn)，逆時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng) B角，查看望遠(yuǎn)鏡十字絲的縱絲是否通過(guò)場(chǎng)面上的標(biāo)記。2）基點(diǎn)測(cè)設(shè)）基點(diǎn)測(cè)設(shè)A：經(jīng)緯儀視距法基線的方向確定后，則可在此方向上用視距法按設(shè)計(jì)間距測(cè)設(shè)各基點(diǎn)的位置。具體施測(cè)方法：持尺者沿基線方向目估距離，初步選定立尺點(diǎn)并受觀測(cè)者的指揮左右移動(dòng)標(biāo)尺，直至尺子完全在基線方向上，即可讀取視距及豎盤上的讀數(shù)，計(jì)算水平距離D計(jì)。如|D設(shè) D計(jì)|2m，重新立尺測(cè)設(shè),2m則可直接用視距尺改正,確定基點(diǎn)并打木樁標(biāo)定。B：經(jīng)緯儀配

11、合鋼卷尺當(dāng)測(cè)區(qū)地形比較平坦，則可用經(jīng)緯儀瞄準(zhǔn)方向，用鋼卷尺直接量取距離來(lái)測(cè)設(shè)基點(diǎn)。具體施測(cè)方法：前尺手持一標(biāo)桿到欲定的基點(diǎn)處，受觀測(cè)者的指揮將標(biāo)桿立于基線方向上，然后，用鋼卷尺量距，以確定基點(diǎn)的位置，并用木樁標(biāo)記。4、施測(cè)測(cè)線、施測(cè)測(cè)線基線測(cè)設(shè)完畢后即可測(cè)設(shè)測(cè)線，一般用兩種方法：視距直伸導(dǎo)線法，極坐標(biāo) 法。1）視距直伸導(dǎo)線法100010001000105010001100200010002000110020001050將儀器安置在測(cè)線一端的基點(diǎn)上，對(duì)中、整平、定向后，即可按規(guī)定的點(diǎn)距在測(cè)線上施測(cè)測(cè)點(diǎn)。定向可瞄準(zhǔn)相鄰基點(diǎn)（亦可瞄準(zhǔn)測(cè)線的另一端點(diǎn)）轉(zhuǎn)900或2700；測(cè)點(diǎn)的標(biāo)記一般不打木樁，用編好

12、的紅紙條或紅布條貼在竹桿上插于地面。用經(jīng)緯儀視距法測(cè)量距離。轉(zhuǎn)站點(diǎn)必須在地面釘木樁。圖圖115 視距直伸導(dǎo)線法視距直伸導(dǎo)線法2）極坐標(biāo)法在地形開闊，通視良好的丘陵或平原地區(qū)，宜用極坐標(biāo)法測(cè)設(shè)測(cè)點(diǎn)的位置。測(cè)設(shè)時(shí)，可在中間一條測(cè)線上設(shè)站，同時(shí)測(cè)設(shè)兩相鄰測(cè)線的各測(cè)點(diǎn)。ABCDab 在直角三角形ABC中，因直角邊a（即測(cè)線距）及b（為測(cè)點(diǎn)距的倍數(shù)）是已知的，則測(cè)站到測(cè)點(diǎn)間的距離d及偏離主測(cè)線（AC）的角度 ，可由下式求得： =arctg(a/b) d=a/sin =b/cos d圖圖116 極坐標(biāo)法測(cè)設(shè)測(cè)點(diǎn)極坐標(biāo)法測(cè)設(shè)測(cè)點(diǎn)在施測(cè)前，可根據(jù)規(guī)定的測(cè)網(wǎng)密度，應(yīng)用上式計(jì)算出各測(cè)點(diǎn)的測(cè)設(shè)數(shù)據(jù)，并排列成表繪制成

13、一草圖，再將角值 化為以主測(cè)線為00的角值。（按順時(shí)針?lè)较颍?1-2 地質(zhì)勘探工程測(cè)量地質(zhì)勘探工程測(cè)量1、勘探線、勘探網(wǎng)的測(cè)設(shè)、勘探線、勘探網(wǎng)的測(cè)設(shè)勘探網(wǎng)由兩組相交的平行直線組成，這些平行線稱之為勘探線，地質(zhì)勘探工程通常布設(shè)在這些勘探線上。為了控制勘探線、勘探網(wǎng)的測(cè)設(shè)精度，通常沿礦體走向布設(shè)一條基線，基線兩端點(diǎn)與測(cè)量控制點(diǎn)相連接，然后垂直于基線以一定的間距布設(shè)測(cè)線。圖圖117 勘探線、勘探網(wǎng)勘探線、勘探網(wǎng)P000000000753102468001357246810203040919293900192939000102030ABCDMN A B C D P圖圖11-8 勘探網(wǎng)測(cè)設(shè)關(guān)系圖勘探網(wǎng)測(cè)

14、設(shè)關(guān)系圖如圖11-8所示,MN為基線,P為基點(diǎn),A,B,C,D為國(guó)家已知控制點(diǎn),根據(jù)已知控制點(diǎn)與欲定點(diǎn)P,M,N的位置關(guān)系,及野外通視情況,則可計(jì)算測(cè)設(shè)數(shù)據(jù)(水平角與水平距離)根據(jù)測(cè)設(shè)數(shù)據(jù),即可測(cè)設(shè)欲定點(diǎn)P,M,N的實(shí)地位置,具體方法同物探網(wǎng)基點(diǎn)的測(cè)設(shè)。當(dāng)基線端點(diǎn)M，N及基點(diǎn)P確定后，應(yīng)將經(jīng)緯儀安置在其中任意一點(diǎn)上，檢查三點(diǎn)是否在一條直線上，否則應(yīng)重測(cè)?；€測(cè)設(shè)好后，先測(cè)設(shè)各勘探線在基線上的位置。通過(guò)P點(diǎn)的勘探線的編號(hào)點(diǎn)號(hào)：19為零號(hào)勘探線，其左邊的勘探線依次用奇數(shù)號(hào)，右邊的勘探線依次用偶數(shù)號(hào)；各勘探線的點(diǎn)號(hào)，北向用偶數(shù)號(hào)，南向用奇數(shù)號(hào)，各點(diǎn)用分?jǐn)?shù)來(lái)表示，分子代表點(diǎn)號(hào)，分母代表線號(hào)。在基線上P

15、點(diǎn)兩側(cè)按設(shè)計(jì)的勘探線間距定出各勘探線的0號(hào)點(diǎn)。而后在各點(diǎn)上安置經(jīng)緯儀測(cè)設(shè)出與基線相垂直的勘探線，最后在各勘探線上按設(shè)計(jì)要求測(cè)設(shè)出各網(wǎng)點(diǎn)。在勘探線的兩端要埋設(shè)固定樁并編號(hào)，同時(shí)測(cè)出各點(diǎn)間的水平距離及高程，將所測(cè)結(jié)果繪制成勘探線剖面圖。2、鉆孔、探井及探槽等勘探工程位置的測(cè)設(shè)、鉆孔、探井及探槽等勘探工程位置的測(cè)設(shè)1）鉆孔位置測(cè)設(shè)）鉆孔位置測(cè)設(shè)通常鉆孔布置在勘探線上，但有時(shí)根據(jù)地形條件可以允許孔位偏離勘探線一定的距離。鉆孔施測(cè)分：初測(cè)、復(fù)測(cè)及定測(cè)。（1）初測(cè)A：鉆孔測(cè)設(shè)，根據(jù)鉆孔的設(shè)計(jì)坐標(biāo)，計(jì)算出測(cè)設(shè)數(shù)據(jù)（水平距離及角度），然后采用經(jīng)緯儀交會(huì)法或極坐標(biāo)法將鉆孔測(cè)設(shè)于實(shí)地上。B：建立校正點(diǎn)，孔位在實(shí)地

16、一經(jīng)確定，應(yīng)立即在其附近建立校正點(diǎn)。校正點(diǎn)要建立在不妨礙平整機(jī)臺(tái)的地方，以免遭破壞。校正點(diǎn)建立方法有二：十字交叉法、直線通過(guò)法。十字交叉法：在孔四周近于垂直的地方，選擇四個(gè)校正點(diǎn)，使相對(duì)兩連線的交點(diǎn)通過(guò)孔位。直線通過(guò)法：在鉆孔前后確定兩個(gè)校正點(diǎn)，使兩點(diǎn)的連線通過(guò)鉆孔中心，然后量出孔位至兩端點(diǎn)的距離?？孜豢孜?21234孔位孔位 圖圖119 校正點(diǎn)的建立校正點(diǎn)的建立（2）復(fù)測(cè)）復(fù)測(cè)鉆孔位置的復(fù)測(cè)是在平整機(jī)臺(tái)后進(jìn)行。根據(jù)校正點(diǎn)及其記錄數(shù)據(jù)，對(duì)鉆孔位置進(jìn)行校核。若校正點(diǎn)的木樁已損壞或?qū)πＵc(diǎn)有懷疑時(shí)，則需重新測(cè)設(shè)孔位。（3）定測(cè)）定測(cè)鉆孔鉆進(jìn)完畢并進(jìn)行封孔后，再測(cè)定封孔標(biāo)石或封孔套管中心的坐標(biāo)及高程

17、。坐標(biāo)的測(cè)定可采用 前方交會(huì)、側(cè)方交會(huì)、后方交會(huì)以及經(jīng)緯儀鋼尺量距導(dǎo)線法來(lái)確定。高程的測(cè)定可采用水準(zhǔn)測(cè)量或三角高程測(cè)量。對(duì)于不參加儲(chǔ)量計(jì)算的鉆孔，其坐標(biāo)及高程可采用經(jīng)緯儀視距導(dǎo)線施測(cè)。2）探槽、探井位置測(cè)量）探槽、探井位置測(cè)量探槽、探井都屬輕型山地工程，主要用于近地表地質(zhì)現(xiàn)象揭露。其測(cè)量工作分兩個(gè)步驟：（1）初測(cè)將圖紙?jiān)O(shè)計(jì)的探槽、探井位置用經(jīng)緯儀極坐標(biāo)法施測(cè)于實(shí)地上。較長(zhǎng)的探槽要測(cè)設(shè)其兩端的位置。（2）定測(cè)探槽、探井施工完畢后，再測(cè)定探槽兩端點(diǎn)及探井的坐標(biāo)和高程。3、剖面測(cè)量、剖面測(cè)量概念：概念：在磁法、電法勘探中，為了對(duì)已發(fā)現(xiàn)的異常進(jìn)行定量推斷解釋，常需沿給定方向（通常是勘探線方向）精測(cè)剖面

18、，以測(cè)出該方向線上的地形特征點(diǎn)、地物點(diǎn)、工程點(diǎn)、地質(zhì)點(diǎn)及剖面控制點(diǎn)的平面位置及高程，并繪制出剖面圖，這項(xiàng)工作稱之為剖面測(cè)量。剖面測(cè)量方法：剖面測(cè)量方法：經(jīng)緯儀定向鋼尺量距法：經(jīng)緯儀定向鋼尺量距法：剖面比例尺為1：500時(shí)采用；經(jīng)緯儀定向經(jīng)緯儀視距法：經(jīng)緯儀定向經(jīng)緯儀視距法：剖面比例尺1：10001：5000時(shí)采用。具體步驟：具體步驟：1）剖面端點(diǎn)測(cè)設(shè)根據(jù)剖面端點(diǎn)坐標(biāo)與已知點(diǎn)坐標(biāo)，計(jì)算測(cè)設(shè)數(shù)據(jù)并測(cè)設(shè)于實(shí)地后，應(yīng)立即根據(jù)周圍的控制點(diǎn)，采用前方交會(huì)、后方交會(huì)或其它方法重新測(cè)定其坐標(biāo)及高程，采用三角高程測(cè)量或等外水準(zhǔn)測(cè)量方法測(cè)定其高程，與之設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)相比，誤差應(yīng)在規(guī)定范圍之內(nèi)。2）剖面控制測(cè)量根據(jù)剖面的

19、比例尺及剖面線的長(zhǎng)度，在剖面線中間尚需布置若干個(gè)剖面控制點(diǎn)。控制點(diǎn)的間距如下表所示。剖面圖比例尺1：5001：10001：20001：5000控制點(diǎn)間距，m60070015003000剖面控制點(diǎn)的布設(shè)根據(jù)地形條件的不同采用以下兩種不同的方法：（1）視距直伸導(dǎo)線法：在地形起伏不大、通視良好的地區(qū)，可將經(jīng)緯儀架設(shè)在任一端點(diǎn)上，經(jīng)對(duì)中、整平后，瞄準(zhǔn)另一端點(diǎn)，在此剖面線上找出欲定剖面控制點(diǎn)的位置，并以木樁標(biāo)記，然后用測(cè)定端點(diǎn)的方法測(cè)出其坐標(biāo)與高程，并同時(shí)計(jì)算出剖面控制點(diǎn)至剖面端點(diǎn)以及剖面控制點(diǎn)之間的水平距離及高差。（2）極坐標(biāo)法或交會(huì)法：在地形起伏較大，通視不良的地區(qū)，則依據(jù)圖上的設(shè)計(jì)坐標(biāo)，用極坐標(biāo)法

20、或交會(huì)法將剖面控制點(diǎn)測(cè)設(shè)于地面上，然后，再測(cè)定其坐標(biāo)與高程。3）剖面測(cè)量首先將儀器架設(shè)在剖面一端點(diǎn)上，對(duì)中、整平后，瞄準(zhǔn)剖面另一端點(diǎn)或剖面線中任一控制點(diǎn)，然后沿剖面線測(cè)出地形坡度變換點(diǎn)、工程地質(zhì)點(diǎn)、地物點(diǎn)及地質(zhì)界線點(diǎn)的水平距離和高程。當(dāng)前一測(cè) 站的測(cè)量工作將結(jié)束后，立即選定下一個(gè)測(cè)站點(diǎn)。在勘探剖面測(cè)量中，測(cè)量距離的相對(duì)誤差不超過(guò)1200；普查剖面測(cè)量的測(cè)距的相對(duì)誤差不超過(guò)1150；在大于1：1000比例尺時(shí)，應(yīng)直接用鋼尺測(cè)量距離。由剖面的一端點(diǎn)測(cè)量到別一端點(diǎn)時(shí)，就及時(shí)檢查水平距離及高程是否與已知值相符，其閉合差閉合差：距離相對(duì)閉合差 1：500 1700，1：10001：5000 1400；

21、高程閉合差（等高距）1：5001：5000 13。4）、剖面圖的繪制繪制剖面圖的工作步驟: (1)準(zhǔn)備準(zhǔn)備繪制剖面圖之前,應(yīng)先檢查和整理觀測(cè)手薄記錄,根據(jù)觀測(cè)成果,求出剖面線上各控制點(diǎn)、測(cè)站點(diǎn)、地形點(diǎn)、地形地物點(diǎn)、地質(zhì)工程點(diǎn)、地質(zhì)點(diǎn)到起始端點(diǎn)的水平距離，并求出其高程。（2）繪制一組高程線）繪制一組高程線根據(jù)剖面線上各點(diǎn)的高程，設(shè)計(jì)好一組高程線，每條高程線一般為10m或100m的整倍數(shù)，再根據(jù)設(shè)計(jì)好的高程線與選定的垂直比例尺在圖上展繪好高程線。（3）展繪剖面線與坐標(biāo)網(wǎng)格線的交點(diǎn)）展繪剖面線與坐標(biāo)網(wǎng)格線的交點(diǎn)首先將剖面線起始端點(diǎn)展繪在剖面上的最低一條高程線最低一條高程線上，然后根據(jù)計(jì)算的DX與DY

22、值畫出第一條坐標(biāo)線，再根據(jù)計(jì)算的DX及DY值將剖面線與各坐標(biāo)線的交點(diǎn)位置展繪出來(lái),并注上坐標(biāo)值。BX1X2X3X4Y1Y2Y3Y4Y5Y6Y7ADY（Yi-YA）/sin； DX=(Xi-XA)/cos DY （Yi1-Yi）/sin； DX =(Xi1-Xi)/cos -剖面線方位角；Xi ， Yi ， Xi1 ， Yi1 -坐標(biāo)線的值；DX ， DY -第一條坐標(biāo)線與起始端點(diǎn)的距離；DX ， DY -坐標(biāo)網(wǎng)格之間的間隔。圖圖1110 剖面線與坐標(biāo)網(wǎng)的關(guān)系剖面線與坐標(biāo)網(wǎng)的關(guān)系（4）繪制地形剖面）繪制地形剖面按規(guī)定的比例尺，根據(jù)剖面線上各點(diǎn)與起始端點(diǎn)的水平距離，在水平方向上展繪出各點(diǎn)，然后在各

23、點(diǎn)的垂直方向上，按高程與選定的比例尺，展繪出各點(diǎn)的位置；最后，以圓滑的曲線連之，即得地形剖面圖。地質(zhì)工程點(diǎn)、主要地質(zhì)點(diǎn)在剖面圖上應(yīng)編號(hào)。在剖面的左右兩端點(diǎn)應(yīng)注明剖面線的方位角。（5）繪制剖面投影平面圖）繪制剖面投影平面圖剖面投影平面圖的比例尺應(yīng)與剖面比例尺相同。繪制時(shí)，首先在投影平面圖圖廓的中央繪一條與高程線平行的橫線，作為剖面投影線；其次，將剖面圖上的X線及Y線垂直投影于該線上，依剖面方位角繪制投影面的X及Y的坐標(biāo)線，并注記其相應(yīng)的坐標(biāo)值。剖面圖上工程點(diǎn)、主要地質(zhì)點(diǎn)、剖面端點(diǎn)等可直接投影到部面投影線上，并注記編號(hào)；（6）結(jié)束工作）結(jié)束工作最后，寫明剖面圖名稱、編號(hào)、比例尺、繪制日期，并繪出圖

24、例、圖廓線等。平面圖TJ10TJ10ZK12ZK13ZK15ZK16ZK17ZK17ZK16ZK15ZK13ZK122850403210504032-100 0 100 200300400Y20584.2Y20584.2Y20584.4Y20584.4Y20584.6Y20584.6石石VA253.12VB213.50 XX 礦礦 區(qū)區(qū) 第第 V 條條 勘勘 探探 線線 剖剖 面面 圖圖 比例尺 1:2000 圖圖11-11 勘探線剖面示意圖勘探線剖面示意圖ZK16鉆孔及編號(hào)TJ10垂直小探井及編號(hào)VB213.50剖面端點(diǎn)及編號(hào)石石舊采石場(chǎng)單位、圖名單位、圖名圖號(hào)、繪編圖號(hào)、繪編人員、日期人員

25、、日期等等ABBA 5) 對(duì)剖面測(cè)量的要求剖面線一般是沿勘探線方向布設(shè)而成為互相平行、間隔相等的平行線。因此，應(yīng)確保各剖面線的方向及間距的精度要求。剖面線上的勘探工程（尤其是鉆孔尤其是鉆孔）的位置，是用于設(shè)計(jì)和礦產(chǎn)儲(chǔ)量計(jì)算的主要依據(jù)，因此，它比普通的地形地物點(diǎn)及地質(zhì)點(diǎn)的精度要求要高，所以，孔位等重孔位等重要工程要工程位置的測(cè)量要求采用交會(huì)法交會(huì)法；而對(duì)地形地物點(diǎn)及地質(zhì)點(diǎn)，可用視距法視距法測(cè)定。當(dāng)?shù)乇碛械V產(chǎn)露頭礦產(chǎn)露頭時(shí)，對(duì)地形剖面上的任何一點(diǎn)的高程測(cè)量精度應(yīng)有較高的要求高程測(cè)量精度應(yīng)有較高的要求，并要求有實(shí)測(cè)的剖面圖。4、地面地質(zhì)填圖測(cè)量、地面地質(zhì)填圖測(cè)量概述概述填圖階段：在地質(zhì)勘探階段，進(jìn)行大比例尺填圖；填圖目的：詳查地面地質(zhì)情況，為下一步的勘探工作提供可靠依據(jù)。填圖概念：是以相應(yīng)比例尺的地形圖作為底圖，將礦體的分布范圍及品位變化情況、圍巖的巖性及地層的劃分、礦區(qū)的地質(zhì)構(gòu)造類型以及水文地質(zhì)情況等填繪到圖上即成為一張地形地質(zhì)圖。地形地質(zhì)圖用途：可用于地