九種常規(guī)曲線(xiàn)測(cè)井方法

1、常規(guī)測(cè)井曲線(xiàn)方法及應(yīng)用項(xiàng)目符號(hào)單位測(cè)量的物理量理論基礎(chǔ)分辨率主要應(yīng)用影響因素影響結(jié)果表現(xiàn)井徑測(cè)井CALIn/ cm測(cè)量井眼直徑的變化機(jī)械式直接測(cè)量井徑的大小輔助區(qū)分巖性井眼形狀計(jì)算固井水泥用量其他曲線(xiàn)的環(huán)境校正參考檢查套管變形和破裂情況巖性裂縫泥巖段或裂縫發(fā)育段易發(fā)生擴(kuò)徑。自然伽馬測(cè)井GRAPI或R/h地層中天然GR射線(xiàn)放射性強(qiáng)度計(jì)數(shù)率（地面儀器接收到的每分鐘形成的電脈沖數(shù)）巖石具有自然放射性不同地層具有不同的自然放射性垂向：1216In徑向：46 in(1 in = 0.0254m)區(qū)分巖性進(jìn)行地層對(duì)比估算泥質(zhì)含量判斷放射性礦物劃分儲(chǔ)集層影響（為測(cè)井速度，為時(shí)間常數(shù)）放射性漲落的影響層厚對(duì)曲

2、線(xiàn)幅度的影響井的參數(shù)（井徑、泥漿比重，套管，水泥環(huán)等）表現(xiàn)在GRmax下降，且GRmax的位置不在地層中心，而向上移動(dòng)GR曲線(xiàn)上具有許多“小鋸齒”獨(dú)特形態(tài)厚度小于3倍井徑時(shí)，地層變薄，泥巖的GR曲線(xiàn)值會(huì)下降，砂巖層的GR的曲線(xiàn)值則會(huì)上升泥漿、套管、水泥環(huán)吸收GR射線(xiàn)，使得GR值降低自然電位測(cè)井SPmv鉆開(kāi)巖層時(shí)井壁附近產(chǎn)生的電化學(xué)活動(dòng)而形成的自然電場(chǎng)。電極和地面參考電極間的電位井壁附近兩種不同礦化度的溶液（泥漿和地層水）接觸產(chǎn)生電動(dòng)勢(shì)垂向：610 in劃分滲透層估計(jì)泥質(zhì)含量確定地層水電阻率Rw判斷水淹層判斷巖性地層對(duì)比與沉積相研究地層水和泥漿濾液中含鹽度比值Cw/Cmf巖性溫度地層水和泥漿濾液

3、含鹽性質(zhì)地層電阻率地層厚度井徑泥漿侵入Cw>Cmf 砂巖層SP負(fù)異常；Cw<Cmf 砂巖層SP正異常泥質(zhì)含量增大，SP幅度隨之減小溫度越大，SP幅度偏大不同離子的離子價(jià)和遷移率不同，可導(dǎo)致SP不同幅度的正異?；蜇?fù)異常井內(nèi)各部分（Rm,Rsd,Rsh）電阻率相差不大且地層很厚，靜自然幅度靜自然電位；當(dāng)Usp<Ssp, Usp越低隨地層厚度變薄，SP幅度減小，曲線(xiàn)變平緩井徑擴(kuò)大使井的等效電阻Rm隨之減小，Usp減小有泥漿要比無(wú)泥漿侵入要低，侵入越深，Usp越低密度測(cè)井DEN/DNL/RHOBg/cm3記錄散射伽馬光子計(jì)數(shù)率N，根據(jù)密度和N的關(guān)系可以換算地層密度。地層密度不同，對(duì)伽

4、馬光子的散射和吸收的能力不同，探測(cè)器接收到光子的計(jì)數(shù)率也不同確定巖層孔隙度識(shí)別氣層，判斷巖性確定巖性求解孔隙度（中子-密度交會(huì)圖）泥餅氣壓實(shí)未知礦物當(dāng)泥餅密度小于地層密度時(shí)，如果泥餅厚度增大，則在密度相同的地層中，伽馬光子計(jì)數(shù)率增大。補(bǔ)償中子測(cè)井CNL/NPHI%探測(cè)熱中子的密度，記錄熱中子的計(jì)數(shù)率間接測(cè)量地層的含氫指數(shù)利用中子源向地層發(fā)射的快中子與地層中的原子核發(fā)生彈性散射被減速為熱中子熱中子通量的變化垂向：4 in徑向：12 in確定地層孔隙度中子-密度，中子-聲波組合確定地層孔隙度和判斷巖性中子孔隙度-密度孔隙度曲線(xiàn)重疊直觀確定巖性補(bǔ)償中子與補(bǔ)償?shù)貙用芏惹€(xiàn)重疊定性判斷含氣層井徑鉆井液泥

5、餅地層水井溫天然氣聲波速度測(cè)井AC/DTs/m或s/ft滑行波通過(guò)地層傳播的時(shí)差t以臨界角i方向入射到界面上的聲波折射產(chǎn)生沿井壁在地層中傳播的滑行波垂向：2 in徑向：620 in判斷氣層劃分地層確定孔隙度井徑地層厚度“周波跳躍”現(xiàn)象砂巖層底界面（擴(kuò)徑段上界面）出現(xiàn)時(shí)差曲線(xiàn)增大的尖峰分厚層、薄層、薄互層論述裂縫發(fā)育地層和氣層常出現(xiàn)周波跳躍現(xiàn)象聲波幅度測(cè)井CBLmv測(cè)量聲波通過(guò)介質(zhì)的幅度衰減變化聲波在介質(zhì)中傳播，其能量逐漸被吸收，聲波幅度逐漸衰減套管井中，可檢查固井質(zhì)量裸眼井中，可研究地層裂縫帶和疏松巖性的地層套管井聲幅：水泥環(huán)厚度測(cè)井時(shí)間井筒內(nèi)泥漿氣侵裸眼井聲幅：巖層裂縫或溶洞的發(fā)育情況套管井

6、聲幅：厚度大于2cm，水泥環(huán)厚度不影響聲波幅度；小于2cm，厚度越薄水泥膠結(jié)測(cè)井曲線(xiàn)值越高。在未固結(jié)好的井段會(huì)出現(xiàn)高幅度值氣侵會(huì)使聲波能量大幅衰減，出現(xiàn)曲線(xiàn)低值裸眼井聲幅：裂縫性，溶洞性地層聲波能量大幅衰減，聲波幅度出現(xiàn)低值。聲波全波列測(cè)井XMAC記錄聲波的整個(gè)波列可以獲得縱波和橫波的速度和幅度的信息；以及波列中的其他成分，如偽瑞利波和斯通利波估計(jì)儲(chǔ)層孔隙度確定巖性判斷含氣層判斷裂縫估算巖石的力學(xué)參數(shù)各種波受影響的因素不一，需針對(duì)性具體分析各種波受影響的因素不一，需針對(duì)性具體分析雙側(cè)向測(cè)井RLLS/RLLD.m深側(cè)向測(cè)量原狀地層的電阻率；淺側(cè)向主要測(cè)量侵入帶的電阻率各種巖石在外加電場(chǎng)的作用下導(dǎo)

7、電能力各不相同，導(dǎo)電能力的強(qiáng)弱可用電阻率來(lái)表示。確定原狀地層（深側(cè)向）和侵入帶（淺側(cè)向）的真電阻率劃分巖性剖面快速、直觀判斷油、水層淺側(cè)向可評(píng)價(jià)含水飽和度井眼圍巖-層厚泥漿侵入泥漿的電阻率擴(kuò)徑的地方測(cè)到的可能是泥漿的電阻率。地層厚度薄，電阻率曲線(xiàn)呈小尖狀，不做地質(zhì)解釋泥漿侵入對(duì)淺側(cè)向的影響甚大淡水、鹽水泥漿打井各不相同。微電阻率測(cè)井SFLU（球形聚焦）RFOC（八側(cè)向）MSFL (微球形聚焦)MLL（微側(cè)向）.m測(cè)量井壁附近的電阻率（沖洗帶或泥餅）MSFL測(cè)量沖洗帶的電阻率通過(guò)提供人工電流在井內(nèi)建立電場(chǎng)，然后進(jìn)行電位差測(cè)量。此電位差反映電場(chǎng)分布的特點(diǎn)。決定于周?chē)橘|(zhì)電阻率的微電位電極系探測(cè)深度

8、為100mm，而微梯度電極系則為40mm垂向和徑向基本為6 in劃分巖性剖面，特別是薄層的識(shí)別確定巖層界面確定含有砂巖的有效厚度確定擴(kuò)徑段確定沖洗帶的電阻率和泥餅厚度井眼圍巖-層厚泥漿侵入泥漿的電阻率泥餅溫度泥餅擴(kuò)徑的地方測(cè)到的可能是泥漿的電阻率。地層厚度薄，電阻率曲線(xiàn)呈小尖狀，不做地質(zhì)解釋泥漿侵入對(duì)淺側(cè)向的影響甚大淡水、鹽水泥漿打井各不相同。微梯度電極的探測(cè)深度為40mm，主要是泥餅的電阻率雙感應(yīng)測(cè)井RILM/RILD.m測(cè)量二次交變電場(chǎng)產(chǎn)生的電動(dòng)勢(shì)通過(guò)研究交變電磁場(chǎng)的特性反映介質(zhì)電導(dǎo)率探測(cè)深度約為2.5m左右垂向分布率大概為2m劃分滲透層確定巖層的真電阻率劃分油、氣、水層中低阻電阻率和增阻

9、侵入地層條件下求取電阻率。泥漿侵入圍巖-層厚地層和圍巖的電阻率及幾何分布確定巖層真電阻率之前要先進(jìn)行均質(zhì)校正、圍巖-層厚校正、侵入校正。自然伽馬能譜測(cè)井NGSAPI井下儀器與自然GR相同，地面儀器對(duì)測(cè)量到伽馬射線(xiàn)能譜進(jìn)行分析，解譜后得到u、Th、k的含量巖石的放射性和放射性元素的衰變特征垂向：1216In徑向：46 in研究生油層尋找頁(yè)巖儲(chǔ)層尋找高放射性碎屑巖和某些碳酸鹽巖出現(xiàn)利用Th/u比研究沉積環(huán)境求泥質(zhì)含量地層厚度井徑放射性的漲落誤差測(cè)速陣列感應(yīng)測(cè)井AIT.m不同探測(cè)深度的電阻率電場(chǎng)理論及巖石的電性確定Rt和Rxo劃分薄層劃分滲透層識(shí)別低阻環(huán)帶劃分油、氣、水層井眼圍巖-層厚泥漿侵入泥漿的

10、電阻率核磁共振測(cè)井CML射頻線(xiàn)圈提供和靜磁場(chǎng)相垂直的振蕩波，是振蕩波頻率等于拉莫頻率，一遍偶極子從振蕩波磁場(chǎng)中吸收能量發(fā)生轉(zhuǎn)換質(zhì)子自旋回時(shí)間求束縛水飽和度確定儲(chǔ)層有效孔隙度確定儲(chǔ)層滲透率及殘余油飽和度評(píng)價(jià)低阻油氣層地層水狀況儲(chǔ)層的溫度、壓力、含氫指數(shù)?？紫抖软槾盼镔|(zhì)、地層水礦化度、地層中的磁性物質(zhì)。地層傾角測(cè)井SHDT/HDT通過(guò)多個(gè)電極測(cè)量地層界面上下微電阻率相對(duì)大小的差異以及在空間上的方位根據(jù)同一段地層的曲線(xiàn)間相對(duì)位移，確定地層在空間的幾何位置，即可求出地層傾向和傾角。利用傾角測(cè)井的矢量圖解釋地質(zhì)構(gòu)造解釋沉積構(gòu)造識(shí)別裂縫利用雙井徑差異分析現(xiàn)代地應(yīng)力確定砂體延伸方向鉆井液測(cè)距、傾角、波阻抗差異沉積傾向和傾角、構(gòu)造傾斜曲線(xiàn)的處理，計(jì)算