HALM測(cè)試機(jī)校準(zhǔn)流程

1、1. 目的規(guī)定了 halMM試機(jī)以下簡(jiǎn)稱測(cè)試機(jī)的校準(zhǔn)方法及要求。2. 范圍適用于HALM測(cè)試機(jī)的校準(zhǔn)過(guò)程。3. 定義無(wú)4. 職責(zé)4.1品管部電池片檢驗(yàn)員負(fù)責(zé) HALM測(cè)試機(jī)的校準(zhǔn)工作，每次測(cè)試機(jī)停機(jī)，維護(hù)或設(shè)備出現(xiàn)重大異常需要校準(zhǔn)，校驗(yàn)測(cè)試判定異常后需要校準(zhǔn)；4.2校準(zhǔn)時(shí)使用規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)片，使用完畢按?標(biāo)準(zhǔn)片管理規(guī)程?保存；4.3品管部當(dāng)班校準(zhǔn)員負(fù)責(zé)對(duì) HALM測(cè)試機(jī)的校準(zhǔn)，班長(zhǎng)負(fù)責(zé)進(jìn)行監(jiān)督確認(rèn)；4.4生產(chǎn)部工作人員做好校準(zhǔn)的配合工作。5.1校準(zhǔn)要求：校準(zhǔn)的偏差范圍為：Isc : ± 0.05A, Uoc： ± 0.0015V, FF: ± 0.50, Eta: &

2、#177; 0.1%,Pmpp: ± 0.02w， Irradianee : ± 10， Calibration value : ± 0.5。5.2超差處理方法：1經(jīng)校準(zhǔn)后所測(cè)值如達(dá)不到要求偏差，那么重新更換校準(zhǔn)片再次校準(zhǔn)，如果仍達(dá)不到要求偏差范圍屬于設(shè)備異常；2丨經(jīng)重復(fù)校準(zhǔn)判設(shè)備異常的測(cè)試儀，應(yīng)由校準(zhǔn)人員通知工藝技術(shù)部現(xiàn)場(chǎng)技術(shù)員分析問(wèn)題并解決，如遇較復(fù)雜的問(wèn)題由工藝技術(shù)部安排排除；3丨經(jīng)修復(fù)的測(cè)試機(jī)在再次投入使用前應(yīng)進(jìn)行校驗(yàn)測(cè)試，確認(rèn)儀器是否準(zhǔn)確。校準(zhǔn)步驟：使用與所要測(cè)試的電池片相同規(guī)格的標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行校準(zhǔn)。標(biāo)準(zhǔn)片定位將測(cè)試機(jī)的調(diào)節(jié)開(kāi)關(guān)左旋轉(zhuǎn)為手動(dòng)，將標(biāo)片置于探針測(cè)

3、試區(qū)。按測(cè)試機(jī)F5鍵使探針下壓，并觀察探針是否壓在電池片主柵線上，如果探針壓歪再按F5使探針抬起后調(diào)整位置，如此重復(fù)操作使探針壓在電池片主柵線上。注：在校準(zhǔn)前必須先用探針壓一下其他電池片以確保探針正常，防止壓破標(biāo)片；確認(rèn)探針壓在電池片主柵線上后開(kāi)始如下校準(zhǔn)操作：c.點(diǎn)擊菜單Monitor cell,出現(xiàn)界面見(jiàn)右圖，在 Calibration cell下選擇與校準(zhǔn)標(biāo)片相對(duì)a.電腦桌面指標(biāo) Shortcut to PVCT CntrBa 出現(xiàn)界面見(jiàn)右圖，輸入用戶名，密碼, 權(quán)限 User level 選擇 administrator 。b.再點(diǎn)擊菜單Sorter,出現(xiàn)界面見(jiàn)右圖，單擊Stop按鈕，

4、再點(diǎn)擊 Ma in tai nance按鈕應(yīng)的標(biāo)片名稱，點(diǎn)擊Calibration 按鈕進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試。ba staiianlid JffY選擇相對(duì)應(yīng) 的標(biāo)片號(hào)劇J (wia rdll需要新建標(biāo)片資 料時(shí)點(diǎn)擊此處sslTmp WEriccmlklCdkfr SiffcErdexiksiicn Itri?豔mFerj簾-詢帕4知訓(xùn) Mhrigw 詔口出闡$1凱施彳 斛毗dE 轉(zhuǎn)掃4畤町忙01Sd O0YMUoc IcJiyaixih cal)?FF 嘶曲EbacdttitarcelMBanvafcied.測(cè)試完成后出現(xiàn)對(duì)話框見(jiàn)右圖不 管校正結(jié)果是否有異常有參數(shù)顯 示為紅色或都為綠色，都必須點(diǎn)擊Ac

5、cept Calibratio n之后再做參數(shù)調(diào)整；參數(shù)調(diào)整無(wú)誤之后同樣必須點(diǎn)擊Accept Calibratio n，按鈕接受校準(zhǔn)結(jié)果。在操作接受校準(zhǔn)結(jié)果之前，先 做校準(zhǔn)結(jié)果記錄，點(diǎn) 0K后，再點(diǎn)擊Accept Calibration 再點(diǎn)擊菜單 Sorter 圖 b，點(diǎn)擊 Automatic,再點(diǎn) Start Batch 完成校準(zhǔn)'jesuiEFi<*乂網(wǎng)I阿屮咖肝17® 陽(yáng)M竝i謠irTjXO W tcurtri ffmKh畑 | QOUM泌.e.如果是新的標(biāo)準(zhǔn)片，電腦中未有標(biāo)片相 關(guān)參數(shù)，需輸入新標(biāo)片的參數(shù)，出現(xiàn)對(duì)話 框見(jiàn)右圖，點(diǎn)擊 ManageCalibrat

6、ion cells 按鈕，再點(diǎn)擊 NEWS鈕，Edit cell data 下輸入標(biāo)片編號(hào)，在 Setpoi nt values下依次輸入新標(biāo)準(zhǔn)片的參數(shù)數(shù) 據(jù)，在Cell Area左邊輸入標(biāo)片的面積， 在Tki%/K左邊輸入0.07。輸入完成后 點(diǎn)擊Accept完成后開(kāi)始進(jìn)行校準(zhǔn)。f.如果見(jiàn)d圖對(duì)話框中顯示值與標(biāo)準(zhǔn)片 的標(biāo)準(zhǔn)Isc誤差超標(biāo)顯示黃色或紅色，那么 就點(diǎn)擊Flasher(CetisPV-XF2)菜單見(jiàn)右 圖， 選定 With adaption to insolation，如需增加數(shù)值逐次點(diǎn)擊 Test flash withPVCT按鈕，觀察In sol數(shù)值接近1000為OK如右圖第2

7、、3點(diǎn)，如需減小數(shù)值逐次點(diǎn)擊 Feedback cell rated volt 觀察 In sol 數(shù)據(jù)，接近1000為OK如右圖第4點(diǎn)，為 1000±2g. 如果圖d對(duì)話框中顯示值與標(biāo)準(zhǔn)片的標(biāo)準(zhǔn)Uoc誤差超標(biāo)顯示黃色或紅色，點(diǎn)擊 Classification菜單點(diǎn)擊 Change.按鈕，出現(xiàn)對(duì)話框見(jiàn)右圖修改 Temperature offset的溫度數(shù)據(jù)，當(dāng)測(cè)量值高于標(biāo)片設(shè)定 值時(shí)，可適當(dāng)降低Temperature offset 值； 相反，假設(shè)測(cè)量值低于標(biāo)片設(shè)定值時(shí)，可適 當(dāng)升高Temperature offset 值。保存后重新 校準(zhǔn)直至測(cè)試值與標(biāo)準(zhǔn)值相差到規(guī)定的誤差范圍內(nèi)。h. 校準(zhǔn)完成后，直接在軟件的Sorter界面中用 戶下選擇Change更改為Operator用戶登錄 即可。I g匚 kdrqa修改此處溫度數(shù)據(jù)X | IDDnm | 叩 dtb先點(diǎn)擊此處修的*騎網(wǎng)理dId 1幻*<石 "riai e 甘L£f3F0l®：