超聲檢測復(fù)習(xí)題

1、1、超聲檢測方法分類與特點（第五章）2、脈沖反射法超聲檢測通用技術(shù)（第六章）復(fù) 習(xí) 題一、是非題1、脈沖反射式和穿透式探傷，使用的探頭是同一類型.( × )2、聲束指向角較小且聲束截面較窄的探頭稱作窄脈沖探頭.( × )3、在液浸式檢測中，返回探頭的聲能還不到最初值的1%.( )4、垂直探傷時探傷面的粗糙度對反射波高的影響比斜角探傷嚴(yán)重.( )5、超聲脈沖通過材料后 ，其中心頻率將變低.( )6、串列法探傷適用于檢查垂直于探側(cè)面的平面缺陷.( )7、“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好.( × )8、所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或

2、材料晶粒粗大引起的 .( × )9、當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸.( × )10、半波高度法用來測量小于聲束截面的缺陷的尺寸.( × )11、串列式雙探頭法探傷即為穿透法.( × )12、厚焊縫采用串列法掃描時，如焊縫余高磨平，則不存在死區(qū).( × )13、曲面工件探傷時，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好.( )14、實際探傷中，為提高掃描速度減少的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低.( × )15、采用當(dāng)量法確定的缺陷尺寸一般小于缺陷的實際尺寸.( )16、只有當(dāng)工件中缺陷在各個方向的尺寸均大于聲束截面時，才能采用測長法確定缺陷

3、長度.( ×)17、絕對靈敏度法測量缺陷指示長度時，測長靈敏度高，測得的缺陷長度大.( )18、當(dāng)工件內(nèi)存在較大的內(nèi)應(yīng)力時，將使超聲波的傳播速度及方向發(fā)生變化.( )19、超聲波傾斜入射至缺陷表面時，缺陷反射波高隨入射角的增大而增高.(×)二、選擇題1、采用什么超聲探傷技術(shù)不能測出缺陷深度？（ D ）A直探頭探傷法 B脈沖反射法 C斜探頭探傷法 D穿透法2、超聲檢驗中，當(dāng)探傷面比較粗糙時，宜選用（ D ）A較低頻探頭 B較粘的耦合劑 C軟保護(hù)膜探頭 D以上都對3、超聲檢驗中，選用晶片尺寸大的探頭的優(yōu)點是（ c ）A曲面探傷時可減少耦合損失 B可減少材質(zhì)衰減損失C輻射聲能大且

4、能量集中 D以上全部4、探傷時采用較高的探測頻率，可有利于（ D ）A發(fā)現(xiàn)較小的缺陷 B區(qū)分開相鄰的缺陷C改善聲束指向性 D以上全部5、工件表面形狀不同時耦合效果不一樣，下面的說法中，哪點是正確的（ A ）A平面效果最好 B凹曲面居中C凸曲面效果最差 D以上全部6、缺陷反射聲能的大小，取決于（ D ）A缺陷的尺寸 B缺陷的類型C缺陷的形狀和取向 D以上全部7、聲波垂直入射到表面粗糙的缺陷時，缺陷表面粗糙度對缺陷反射波高的影響是：（C ）A.反射波高隨粗糙度的增大而增大 B.無影響C.反射波高隨粗糙度的增大而下降 D.以上A和C都可能8、如果在耦合介質(zhì)中的波長為，為使透聲效果好，耦合層厚度為（

5、D ）A. /4的奇數(shù)倍 B. /2的整數(shù)倍C. 小于/4且很薄 D.以上B和C9、表面波探傷時，儀器熒光屏上出現(xiàn)缺陷波的水平刻度值通常代表（ B ）A.缺陷深度 B.缺陷至探頭前沿距離C.缺陷聲程 D.以上都可以10、探頭沿圓柱曲面外壁作周向探測時，如儀器用平試塊按深度1：1調(diào)掃描，下面哪種說法正確（ A ）A.缺陷實際徑向深度總是小于顯示值 B.顯示的水平距離總是大于實際弧長C.顯示值與實際值之差，隨顯示值的增加而減小 D.以上都正確11、采用底波高度法（F/B百分比法）對缺陷定量時，以下哪種說法正確（ B ）A. F/B相同，缺陷當(dāng)量相同 B.該法不能給出缺陷的當(dāng)量尺寸C.適于對尺寸較小

6、的缺陷定量 D.適于對密集性缺陷的定量12、在頻率一定和材料相同情況下，橫波對小缺陷探測靈敏度高于縱波的原因是：（C ）A.橫波質(zhì)點振動方向?qū)θ毕莘瓷溆欣?B.橫波探傷雜波少C.橫波波長短 D.橫波指向性好13、采用下列何種頻率的直探頭在不銹鋼大鍛件超探時，可獲得較好的穿透能力：（A ）A.1.25MHZ B.2.5MHZ C.5MHZ D.10MHZ14、在用5MHZ 10晶片的直探頭作水浸探傷時，所測結(jié)果：（ C ）A.小于實際尺寸 B.接近聲束寬度C.大于實際尺寸 D.等于晶片尺寸15、使用半波高度法測定小于聲束直徑的缺陷尺寸時，所測的結(jié)果：（ B ） A .小于實際尺寸 B .接近聲束

7、寬度 C .稍大于實際尺寸 D .等于晶片尺寸16、棱邊再生波主要用于測定：（ D ）A.缺陷的長度 B.缺陷的性質(zhì)C.缺陷的位置 D.缺陷的高度17、從A型顯示熒光屏上不能直接獲得缺陷性質(zhì)信息、超聲探傷對缺陷的定性是通過下列方法進(jìn)行：（ D ）A.精確對缺陷定位 B.精確測定缺陷形狀C.測定缺陷的動態(tài)波形 D.以上方法須同時使用18、單斜探頭探傷時，在近區(qū)有幅度波動較快，探頭移動時水平位置不變的回波，它們可能時：（ B ）A.來自工件表面的雜波 B.來自探頭的噪聲C.工件上近表面缺陷的回波 D.耦合劑噪聲19、確定脈沖在時基線上的位置應(yīng)根據(jù)：（ B ）A.脈沖波峰 B.脈沖前沿C.脈沖后沿

8、D.以上都可以20、用實測折射角71°的探頭探測板厚為25mm的對接焊縫，熒光屏上最適當(dāng)?shù)穆暢虦y定范圍是：（ D ）A.100mm B.125mm C.150mm D.200mm21、用IIW2調(diào)整時間軸，當(dāng)探頭對準(zhǔn)R50圓弧面時，示波屏的回波位置（聲程調(diào)試）應(yīng)在：（B）A B C D 題4.21圖22、能使K2斜探頭得到圖示深度1：1調(diào)節(jié)波形的鋼半圓試塊半徑R為（ C ）A.50mm B.60mm C.67mm D.40mm23、在厚焊縫斜探頭探傷時，一般宜使用什么方法標(biāo)定儀器時基線？（B ）A水平定位法 B深度定位法C聲程定位法 D一次波法24、在中薄板焊縫斜探頭探傷時，使用什么

9、方法標(biāo)定儀器時基線？（A ）A水平定位法 B深度定位法C聲程定位法 D二次波法25、對圓柱形簡體環(huán)縫探測時的缺陷定位應(yīng)：（ A ）A按平板對接焊縫方法 B作曲面修正C使用特殊探頭 D視具體情況而定采用各種方法26、在探測球形封頭上焊縫中的橫向缺陷時，缺陷定位應(yīng)：（B ）A按平板對接焊縫方法 B作曲面修正C使用特殊探頭 D視具體情況決定是否采用曲面修正27、在筒身外壁作曲面周向探傷時，缺陷的實際深度比按平板探傷時所得讀數(shù)：（B ）A大 B小 C相同 D以上都可以28、在筒身內(nèi)壁作曲面周向探傷時，所得缺陷的實際深度比按平板探傷時的讀數(shù)：（A ） A大 B小 C相同 D以上都可以29、在筒身外壁作曲

10、面周向探傷時，實際的缺陷前沿距離比按平板探傷時所得讀數(shù)：（A ） A大 B小 C相同 D以上都可以30、在筒身內(nèi)壁作曲面周向探傷時，實際的缺陷前沿距離比按平板探傷時所得讀數(shù)：（B ） A大 B小 C相同 D以上都可以31、為保證易于探出垂直于焊縫表面的平面型缺陷，凹曲面周向斜探頭探傷應(yīng)選用（B ）A小K值探頭 B大K值探頭C軟保護(hù)膜探頭 D高頻探頭32、在鍛件直探頭探傷時可能定不準(zhǔn)近側(cè)面缺陷的位置，其原因是：（A ）A側(cè)面反射波帶來干涉 B探頭太大，無法移至邊緣C頻率太高 D以上都不是33、在斜探頭厚焊縫探傷時，為提高缺陷定位精度可采取措施是：（D ）A提高探頭聲束指向性 B校準(zhǔn)儀器掃描線性C

11、提高探頭前沿長度和K值測定精度 D以上都對34、當(dāng)量大的缺陷實際尺寸：（ A）A一定大 B不一定大C一定不大 D等于當(dāng)量尺寸35、當(dāng)量小的缺陷實際尺寸：（ B）A一定小 B不一定小C一定不小 D等于當(dāng)量尺寸36、在超聲探傷時，如果聲束指向不與平面缺陷垂直，則缺陷尺寸一定時，缺陷表面越平滑反射回波越：（B ）A大 B小 C無影響 D不一定37、當(dāng)聲束指向不與平面缺陷垂直時，在一定范圍內(nèi)，缺陷尺寸越大，其反射回波強度越：（B ） A大 B小 C無影響 D不一定38、焊縫探傷中一般不宜選用較高頻率是因為頻率越高：（D）A 探頭及平面缺陷型缺陷指性向越強，缺陷方向不利就不易探出B 裂紋表面不光滑對回波

12、強度影響越大C 雜波太多 DAB都對39、厚度為600mm的鋁試件，用直探頭測得一回波的傳播時間為165µs，若縱波在鋁中聲速為6300m/s則此回波是：（C）A底面回波 B底面二次回波C缺陷回波 D遲到回波40、直探頭縱波探傷時，工件上下表面不平行會產(chǎn)生：（A ）A底面回波降低或消失 B底面回波正常C底面回波變寬 D底面回波變窄41、直探頭探測厚100mm和400mm的兩平底面鍛件，若后者探測面粗糙，與前者耦合差為5db，材質(zhì)衰減均為0.01Db/mm（雙程），今將前者底面回波調(diào)至滿幅(100%)高，則后者的底面回波應(yīng)是滿幅度的：（C ）A40 B20 C10% D542、厚度均為

13、400mm，但材質(zhì)衰減不同的兩個鍛件，采用各自底面校正400/2靈敏度進(jìn)行分別探測，現(xiàn)兩個鍛件中均發(fā)現(xiàn)缺陷，且回波高度和缺陷聲程均相同，則：（B ）A兩個缺陷當(dāng)量相同 B材質(zhì)衰減大的鍛件中缺陷當(dāng)量小C材質(zhì)衰減小的鍛件中缺陷當(dāng)量小 D以上都不對43、在脈沖反射法探傷中可根據(jù)什么判斷缺陷的存在？（D ）A缺陷回波 B底波或參考回波的減弱或消失C接收探頭接收到的能量的減弱 DAB都對44、在直接接觸法直探頭探傷時，底波消失的原因是：（D ）A耦合不良 B存在與聲束不垂直的平面缺陷C存在與始脈沖不能分開的近表面缺陷 D以上都是45、在直探頭探傷時，發(fā)現(xiàn)缺陷回波不高，但底波降低較大，則該缺陷可能是：（C

14、 ） A與表面成較大角度的平面缺陷 B反射條件很差的密集缺陷 CAB都對 DAB都不對46、影響直接接觸法耦合損耗的原因有：（D ）A 耦合層厚度，超聲波在耦合介質(zhì)中的波長及耦合介質(zhì)聲阻抗B 探頭接觸面介質(zhì)聲阻抗C 工件被探測面材料聲阻抗D 以上都對47、被檢工件晶粒粗大，通常會引起：（ D）A草狀回波增多 B信噪比下降C底波次數(shù)減少 D以上全部48、為減少凹面探傷時的耦合損耗，通常采用以下方法：（D ）A使用高聲阻抗耦合劑 B使用軟保護(hù)膜探頭C使用較低頻率和減少探頭耦合面尺寸 D以上都可以49、在平整光潔表面上作直探頭探傷是宜使用硬保護(hù)膜探頭，因為這樣：（B ）A 雖然耦合損耗大，但有利于減

15、小工件中噪聲B 脈沖窄，探測靈敏度高C 探頭與儀器匹配較好D 以上都對50、應(yīng)用有人工反射體的參考試塊主要目的是：（A ）A 作為探測時的校準(zhǔn)基準(zhǔn)，并為評價工件中缺陷嚴(yán)重程度提供依據(jù)B 為探傷人員提供一種確定缺陷實際尺寸的工具C 為檢出小于某一規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供保證D 提供一個能精確模擬某一臨界尺寸自然缺陷的參考反射體51、下面那種參考反射體與入射聲束角度無關(guān)：（ C）A 平底孔B 平行于探測面且垂直于聲束的平底槽C 平行于探測面且垂直于聲束的橫通孔D 平行于探測面且垂直于聲束的V型缺口52、測定材質(zhì)衰減時所得結(jié)果除材料本身衰減外，還包括：（ D）A聲束擴散損失 B耦合損耗C工件幾

16、何形狀影響 D以上都是53、沿細(xì)長工件軸向探傷時，遲到波聲程X的計算公式是：（D ）AB. C. D.54、換能器尺寸不變而頻率提高時：（C ）A橫向分辨力降低 B聲束擴散角增大C近場區(qū)增大 D指向性變鈍55、在確定缺陷當(dāng)量時，通常在獲得缺陷的最高回波時加以測定，這是因為：（D ）A 只有當(dāng)聲束投射到整個缺陷發(fā)射面上才能得到反射回波最大值B 只有當(dāng)聲束沿中心軸線投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值C 只有當(dāng)聲束垂直投射到工件內(nèi)缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值D 人為地將缺陷信號的最高回波規(guī)定為測定基準(zhǔn)56、考慮靈敏度補償?shù)睦碛墒牵海― ）A被檢工件厚度太大 B工件底面與探測面不平行C耦合劑

17、有較大聲能損耗 D工件與試塊材質(zhì)，表面光潔度有差異57、探測粗糙表面的工件時，為提高聲能傳遞，應(yīng)選用：（C）A聲阻抗小且粘度大的耦合劑 B聲阻抗小且粘度小的耦合劑C聲阻抗大且粘度大的耦合劑 D以上都不是58、超聲容易探測到的缺陷尺寸一般不小于：（A ）A波長的一半 B一個波長C四分之一波長 D若干個波長59、與探測面垂直的內(nèi)部平滑缺陷，最有效的探測方法是：（C） A單斜探頭法 B單直探頭法 C雙斜探頭前后串列法 D分割式雙直探頭法60、探測距離均為100mm的底面，用同樣規(guī)格直探頭以相同靈敏度探測時，下列哪種底面回波最高、（C ）A 與探測面平行的大平底面B R200的凹圓柱底面C R200的

18、凹球底面D R200的凸圓柱底面61、鍛件探傷中，熒光屏上出現(xiàn)“林狀波”時，是由于（B ） A工件中有大面積傾斜缺陷 B工件材料晶粒粗大 C工件中有密集缺陷 D以上全部62、下面有關(guān)“幻象波”的敘述哪點是不正確的（C ）A 幻象回波通常在鍛件探傷中出現(xiàn)B 幻象波會在掃描線上連續(xù)移動C 幻象波只可能出現(xiàn)在一次底波前D 降低重復(fù)頻率，可消除幻象波63、下面有關(guān)610反射波的說法，哪一點是錯誤的？（ C）A產(chǎn)生610反射時，縱波入射角與橫波反射角之和為900B產(chǎn)生610反射時，縱波入射角為610橫波反射角為290C產(chǎn)生610反射時，橫波入射角為290縱波反射角為610D產(chǎn)生610反射時，其聲程是恒定

19、的64、長軸類鍛件從斷面作軸向探測時，容易出現(xiàn)的非缺陷回波是（ D） A三角反射波 B61反射波 C輪廓回波 D遲到波65、方形鍛件垂直法探傷時，熒光屏上出現(xiàn)一游動缺陷回波，其波幅較低但底波降低很大、該缺陷取向可能是（C ） A平行且靠近探測面 B與聲束方向平行 C與探測面成較大角度 D平行且靠近底面66、缺陷反射聲壓的大小取決于：（D ） A缺陷反射面大小 B缺陷性質(zhì) C缺陷取向 D以上全部三、問答題1、 何謂缺陷定量？簡述缺陷定量方法有幾種？答：超聲波探傷中，確定工件中缺陷大小和數(shù)量，稱為缺陷定量。缺陷的大小包括缺陷的面積和長度。缺陷的定量方法很多，常用的有當(dāng)量法，底波高度法和測長法。2、

20、 什么是當(dāng)量尺寸？缺陷的當(dāng)量定量法有幾種？答:將工件中自然缺陷的回波與同聲程的某種標(biāo)準(zhǔn)反射體的回波進(jìn)行比較。兩者的回波等高時，標(biāo)準(zhǔn)反射體的尺寸就是該自然缺陷的當(dāng)量尺寸。當(dāng)量僅表示反射體對聲波的反射能力相當(dāng)，并非尺寸相等。當(dāng)量法包括：（1）試塊比較法：將缺陷回波與試塊上人工缺陷回波作比較對缺陷定量的方法。（2）計算法：利用規(guī)則反射體放人理論回波聲壓公式進(jìn)行計算來確定缺陷當(dāng)量尺寸的定量方法。（3）AVG曲線法：利用通用AVG或?qū)嵱肁VG曲線確定缺陷當(dāng)量尺寸的方法.3、 什么是缺陷的指示長度？測定缺陷指示長度的方法分為哪兩大類？答：按規(guī)定的靈敏度基準(zhǔn)，根據(jù)探頭移動距離測定的缺陷長度稱為缺陷的指示長度

21、。測定缺陷長度的方法分為相對靈敏度法和絕對靈敏度法兩大類。（1）相對靈敏度法：是以缺陷最高回波為相對基準(zhǔn)，沿缺陷長度方向移動探頭，以缺陷波幅降低一定的dB值的探頭位置作為缺陷邊界來測定缺陷長度的方法。（2）絕對靈敏度法：是沿缺陷長度方向移動探頭，以缺陷波幅降到規(guī)定的測長靈敏度的探頭位置作為缺陷邊界來測定長度的方法。4、 超聲波探傷的分辨力與哪些因素有關(guān)?答：超聲波探傷分辨力可分為近場分辨力（盲區(qū)），遠(yuǎn)場分辨力，縱向分辨力，橫向分辨力。近場分辨力主要取決于始脈沖占寬和儀器阻塞效應(yīng)?？v向分辨力主要取決于脈沖寬度及探測靈敏度。橫向分辨力主要取決于聲束擴散角、探測靈敏度、測試方法等。5、 怎樣選擇超聲

22、波的頻率？答:超聲頻率在很大程度上決定了超聲波探傷的檢測能力。頻率高、波長短、聲束窄、擴散角小，能量集中，因而發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力強，分辨力高，缺陷定位準(zhǔn)確，但缺點是在材料中衰減大，穿透能力差，對細(xì)晶粒材料，如鍛件、焊縫等，常用頻率為2.55MHz，只有在對很薄工件探傷，并對小缺陷檢出要求很高時，才使用10MHz頻率。對粗晶材料，為減少晶界反射，避免林狀回波，增大穿透能力，常使用低頻。另外，當(dāng)試件表面粗糙度較大時，選擇低頻有助減少耦合時的側(cè)向散射。一般對鑄鋼，奧氏體不銹鋼焊縫，可采用0.51MHZ的頻率，對鑄鐵、非金屬材料，甚至使用幾十千HZ的低頻。6、 超聲波探傷時，缺陷狀況的、對回波高度有哪些

23、影響？答：缺陷回波高度受缺陷的形狀、方位、大小、性質(zhì)等因素的影響。（1）形狀的影響：工作中實際缺陷的形狀是各種各樣的，通?？珊喕癁閳A片形，球形，圓柱形三種，回波高度H是缺陷直徑（），缺陷到聲源的距離X，波長的函數(shù)：（2）方位的影響：聲波垂直缺陷表面時，反射波最高，當(dāng)聲波與缺陷表面不垂直時，回波隨傾角的增大而急劇下降。例如，對光滑反射面，傾角時，波高降至垂直入射的1/10;傾角為時，波高降為1/1000缺陷已不能檢出。（3）表面粗糙度的影響：缺陷表面凹凸1/3時，可認(rèn)為缺陷是光滑平面，當(dāng)表面凹凸度1/3時，是粗糙平面，垂直入射時，聲束被散亂反射，產(chǎn)生干涉，回波高度隨粗糙度增大而下降；傾斜入射時，

24、缺陷回波隨粗糙度增大而增高；當(dāng)凹凸度接近波長時，即使傾角較大，也能接收到一定高度的回波；（1） 缺陷回波指向性的影響：當(dāng)缺陷直徑為波長的23倍時，反射波具有較好的指向性，隨缺陷直徑的減小，指向性變差。當(dāng)缺陷直徑小于1/2時，反射波能量呈球形分布，強度降低，此時垂直入射和傾斜入射的反射特性大致相同。當(dāng)缺陷直徑大于3時，可視為鏡面反射，當(dāng)入射傾角大時就不易接收到缺陷回波。缺陷性質(zhì)的影響：通常含氣體的缺陷，如鋼中的白點，氣孔，裂紋，未焊透等，其界面聲阻抗差很大，可近似認(rèn)為聲波全反射，回波高度大；而相同尺寸的含有非金屬夾雜物的缺陷，界面聲阻抗差異小，透過部分聲能，反射回波相應(yīng)降低。7、 怎樣選擇超聲波

25、探傷的探頭？答：超聲波探頭種類很多，性能各異，應(yīng)根據(jù)檢測對象，合理選擇探頭。a) 頻率選擇：對大厚工件，粗晶材料，或探測表面粗糙的工件，應(yīng)選擇低頻率；對薄工件，細(xì)晶粒材料，或?qū)π∪毕輽z出要求高時，應(yīng)選擇較高頻率。應(yīng)注意的是：裂紋等表面狀缺陷，有顯著的反射指向性，如果超聲波不是近于垂直入射，在探頭方向就不會產(chǎn)生足夠大的回波，頻率越高，這種現(xiàn)象越顯著，所以應(yīng)避免使用不必要的高頻。一般來說，頻率上限由衰減和草狀回波信噪比決定，下限由檢出靈敏度，脈沖寬度，和指向性決定。b) 晶片尺寸選擇：晶片尺寸大，發(fā)射能量大，擴散角遠(yuǎn)距離探測靈敏度高，適用于大型工件探傷，晶片尺寸小，近距離范圍聲束窄，有利于缺陷定位

26、，對凹凸度大曲率半徑小的工件，宜采用尺寸較小的探頭。c) 探頭角度選擇：角度選擇原則是，盡量使聲束相對于缺陷垂直入射。鋼板，鍛件內(nèi)缺陷多平行于表面，常選用直探頭。焊縫中危險性缺陷多垂直于表面，常選用斜探頭。d) 特殊探頭選擇：a) 探測平行于探測面的近表面缺陷用雙晶直探頭。b) 探測薄壁管焊縫根部缺陷用雙晶斜探頭。c) 探測管材、棒材用水浸聚焦探頭。d) 探測薄板（6mm）用板波探頭。e) 用延時法檢測表面裂紋深度用表面波探頭。f) 探測奧氏體不銹鋼焊縫用縱波斜探頭。g) 探測角焊縫近表面缺陷和層狀撕裂用爬波探頭為實現(xiàn)聲能集中，有利于缺陷定位，用點聚焦或線聚焦探頭。8、 試比較橫波探傷幾種缺陷

27、長度測定方法的特點？答：橫波探傷常用的測長方法有絕對靈敏度測長法和相對靈敏度測長法，后者包括6dB法，端點6dB法，20dB法等。應(yīng)用范圍和特點如下：i. 對小于聲束橫截面的缺陷，宜采用當(dāng)量法定量，如采用測長法，所得結(jié)果一般比缺陷實際尺寸偏大。ii. 對缺陷回波波高包絡(luò)線只是一個極大值的缺陷，應(yīng)采用6dB法定量。iii. 對缺陷回波波高包絡(luò)線有數(shù)個極大值的缺陷，可采用端點6dB法。iv. 對條形氣孔，未焊透等缺陷，6dB法和端點6dB法測的結(jié)果較為準(zhǔn)確；對裂紋，未熔合等細(xì)長條狀缺陷，6dB法和端點6dB法測的結(jié)果往往比實際尺寸偏小，此時可考慮采用絕對靈敏度法。20dB法測量準(zhǔn)確性與其他方法不相

28、上下，但使用時需進(jìn)行聲場尺寸修正，比較麻煩。9、 測定缺陷自身高度的方法有哪幾種？試說明每種方法的原理、特點和應(yīng)用。答：1、表面波波高法表面波入射到上表面開口缺陷時，會產(chǎn)生一個反射回波，其波高與缺陷深度有關(guān)，當(dāng)缺陷深度較小時，波高隨缺陷深度增加而升高，實際探測中，常加工一些具有不同深度的人工缺陷試塊，利用試塊比較法來確定缺陷的深度。這種方法只適用于測試深度較小的 表面開口缺陷，當(dāng)缺陷深度超過兩倍波長時，測試誤差大。2、 表面波延時法儀器按表面波聲程1：n調(diào)節(jié)比例，利用表面波在缺陷開口處和尖端處會產(chǎn)生兩個反射波來確定缺陷的深度，以及利用表面波在無缺陷和有缺陷度表面波繞過而產(chǎn)生的時間差出現(xiàn)的波的不

29、同位置來確定缺陷深度的方法，有單探頭和雙探頭法兩種，適用于表面開口缺陷。缺陷表面過于粗糙，缺陷中充滿油或水時誤差較大。3、 端部回波峰值法當(dāng)聲波主聲束軸線入射到缺陷上下端點時，會產(chǎn)生強回波F1、F2，據(jù)上、下端點的聲程和探頭的K值可求的缺陷自身高度 h=(x2-x1) 同樣，利用探頭在兩點的距離也求得h=a/k。橫波端部回波法是目前應(yīng)用比較廣泛的一種方法，其測試誤差與K值有關(guān)，采用點聚焦探頭來測試，精度可明顯提高。4、 橫波端角反射法橫波入射到下表面開口缺陷時產(chǎn)生端角反射回波，其回波高度與缺陷高度h同波長之比h/有關(guān)，因此實測中常用對比試塊來測定缺陷的深度。5、 橫波串列式雙探頭法對于表面光潔

30、且垂直于探測面的缺陷，單探頭接收不到缺陷反射波，需用兩個同K值的斜探頭進(jìn)行串列式探測來確定缺陷的高度，兩個探頭作一收一發(fā)，當(dāng)工件中無缺陷時，接收探頭接收不到回波。當(dāng)工件中存在缺陷時，發(fā)射探頭發(fā)出的波從缺陷反射到底面，再從底面反射至接收探頭，在示波屏上產(chǎn)生一個回波，該回波位置固定不動，而探頭前后平行掃查，確定聲束軸線入射到缺陷上下端點時的位置，根據(jù)探頭位置的距離和K值，求得缺陷深度，此方法適用于測試表面未開口缺陷高度。6、 相對靈敏度10dB法先用一次波找到缺陷最高回波，前后移動探頭，確定缺陷回波下降10dB時探頭的位置，根據(jù)兩次位置的聲程和K值求得缺陷的高度， h=x2cos2- x1cos1

31、相對靈敏度法也可采用6dB，20dB 法測定，方法同10dB法。7、 散射波法（衍射法）將兩個K值相同的斜探頭置于缺陷兩側(cè)，作一收一發(fā)，發(fā)射探頭發(fā)出的波在缺陷端部產(chǎn)生散射衍射，被接收探頭接收，平行對稱移動探頭找到最高回波，這時缺陷深度h為：這種方法適用于檢測高度3mm的表面開口缺陷。10、 分析缺陷性質(zhì)的基本原則是什么？答：缺陷定性在實際工作中常常是根據(jù)經(jīng)驗結(jié)合工件的加工工藝，缺陷特征，缺陷波形和底波情況來分析缺陷的性質(zhì)。(1) 根據(jù)加工工藝分析工件中可形成的各種缺陷與加工工藝密切相關(guān)，在探傷前應(yīng)查閱有關(guān)工件的圖紙和資料，了解工件中的材料，結(jié)構(gòu)特點，幾何尺寸和加工工藝，這對于正確判定缺陷的特質(zhì)

32、是十分有益的。(2) 根據(jù)缺陷特征分析缺陷特征是指缺陷的形狀、大小和密集程度。在不同方向上探測平面形、立體形、點狀及密集形缺陷，其缺陷回波的高度及缺陷波的密集程度會發(fā)生不同的變化。(3) 根據(jù)缺陷波形分析缺陷波形分為靜態(tài)和動態(tài)波形兩大類，靜態(tài)波形是指探頭不動時缺陷波的高度、形狀和密集程度。動態(tài)波形是指探頭在探測面上的移動過程中，缺陷波的變化情況。(4) 根據(jù)底波分析工件內(nèi)存在不同缺陷時，超聲波被缺陷反射，使到達(dá)底面的聲能減少，底波高度降低，甚至消失，不同性質(zhì)的缺陷，反射面不同，底波高度也不一樣，因此在某些情況下，可以利用底波狀況來分析缺陷的性質(zhì)。11、 什么是遲到波？遲到波是怎樣產(chǎn)生的?遲到波

33、有何特點？答：當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長（或扁長）工件或試塊上時，擴散縱波波束在側(cè)壁產(chǎn)生波形轉(zhuǎn)換為橫波，此橫波在另一側(cè)又轉(zhuǎn)換為縱波，最后經(jīng)底面反射回到探頭，被探頭接收，從而在示波屏上出現(xiàn)一個回波，由于轉(zhuǎn)換橫波聲程長、波速小、傳播時間較直接從底面反射的縱波長，因此轉(zhuǎn)換后的波總出現(xiàn)在第一次底波B1 之后，故稱為遲到波，又由于變型橫波可能在兩側(cè)壁產(chǎn)生多次反射，每反射一次就會出現(xiàn)一個遲到波，因此遲到波往往有很多個。由于遲到波總是位于 B1 之后，并且位置特定，而缺陷波一般位于B1 之前，因此遲到波不會干擾缺陷波的判別。12、 什么是三角反射波？三角反射波有何特點？答：當(dāng)縱波直探頭徑向探測實心圓柱體時，由于探

34、頭平面與柱面接觸面積小，使波束擴散角增加，這樣擴散波就會在圓柱面上形成三角反射路徑，從而在示波屏上出現(xiàn)三角反射波，這種反射稱為三角反射。三角反射有不發(fā)生波型轉(zhuǎn)換的等邊三角形反射和發(fā)生波型轉(zhuǎn)換的等腰三角形反射，其反射波總是位于第一次底波B1 之后，位置特定，而缺陷波一般位于B1之前，因此三角反射波也不會干擾缺陷波的判別。13、 什么是反射？反射有什么特點？試舉例說明反射在實際探傷中的應(yīng)用？答：當(dāng)探頭置于直角三角形試件的直邊時，若縱波入射角與橫波反射角的關(guān)系為+=90°則會在高波屏上出現(xiàn)位置特定的反射波由=90°- 得 sin=由反射定律得 對于鋼=1.82，即=61°

35、;故這種反射稱為61°反射。61°反射的聲程為：=BE+EC=BC當(dāng)探頭在AB邊上移動時，反射波位置不變，其聲程恒等于直角三角形61°角所對的直邊邊長BC。對于結(jié)構(gòu)比較復(fù)雜的工件，如焊接結(jié)構(gòu)的汽輪機大軸，為了有效的探測焊縫根部缺陷，特加工61°的斜面，利用61°反射來探測，從而獲得較高的探傷靈敏度。14、 超聲波探傷中常見非缺陷信號回波有哪幾種？如何鑒別缺陷回?fù)芎头侨毕莼夭ǎ看穑撼暡ㄌ絺?，常見的非缺陷回波有始波、底波、遲到波、61°反射、三角反射，還有可能有探頭雜波、工件輪廓回波，耦合劑反射波、幻象波、草狀回波及其它一些非缺陷回波

36、。在超聲波探傷過程中可能會出現(xiàn)各種各樣的非缺陷回波，干擾對缺陷波的判別，探傷人員應(yīng)注意用超聲波反射、折射和波型轉(zhuǎn)換理論，并計算相應(yīng)回波的聲程來分析判別示波屏上可能出現(xiàn)的各種非缺陷回波，從而達(dá)到正確探傷的目的，此外還可采用更換探頭來鑒別探頭雜波，用手指沾油觸摸法來鑒別輪廓界面回波。15、什么是側(cè)壁干涉？側(cè)壁干涉對探傷有何不利于影響？避免側(cè)壁干涉的條件是什么？答：側(cè)壁干涉是指當(dāng)縱波探傷時，探頭若靠近側(cè)壁，則經(jīng)側(cè)壁反射的縱波或橫波與直接傳播的縱波相遇產(chǎn)生干涉，對于靠近側(cè)壁的缺陷，探頭靠近側(cè)壁正對缺陷探傷，缺陷回波低，探頭原理側(cè)壁探傷反而缺陷回波，當(dāng)缺陷位置一定時，存在最佳的探頭位置，使缺陷回波最高，這個最佳探頭位置總是偏離缺陷。這說明由于側(cè)壁干涉的影響，改變了探頭的指向性，缺陷最高回波不在探頭軸線上，不僅會影響缺陷定量，也影響了缺陷定位。在脈沖反射法探傷中，一般脈沖持續(xù)的時間，所對應(yīng)的聲程不大于，因此只要側(cè)壁反射波束與直接傳播的波束聲程差大于就可以避免側(cè)壁干涉。四、計算題1、用2.5P20Z探頭徑向探測500mm的圓柱形工件，CL=5900m/s，如何利用工件底波調(diào)節(jié)500/2靈敏度。 （45.5分貝）解：=c/f