節(jié)點(diǎn)特征分析NSA技術(shù)培訓(xùn)教材

1、節(jié)點(diǎn)特征分析NSA技術(shù)培訓(xùn)教材目錄1 電子裝置故障診斷綜述2 特征分析SA技術(shù)概貌l 物理特征及其最佳表述方式特征圖ST3 特征圖示ST的基本原理與技術(shù)要素4 特征圖示ST相關(guān)儀器概況l 廉價(jià)實(shí)用的“多用特征圖示儀”5 特征分析SA基礎(chǔ)知識(shí)l 四種典型特征6 特征分析SA基本方法l 比較法l 經(jīng)驗(yàn)法7 用ST功能進(jìn)行電路診斷和元件測(cè)試71 掃描幅度Vp的選擇72 限流電阻Rs的選擇73 掃描頻率Fs的選擇74 使用NST的一般方法和原則75 典型示范1電子裝置故障診斷綜述 電子產(chǎn)品的故障排除是個(gè)復(fù)雜的問題，往往是讓人頭疼。大批量的生產(chǎn)過程可以使用昂貴的大型自動(dòng)化在線測(cè)試設(shè)備，但仍然有一些特殊故

2、障需要人來處理；在產(chǎn)品開發(fā)、售后維修和小批量生產(chǎn)過程中，更須水平相當(dāng)?shù)募夹g(shù)人員憑借一大堆各式各樣的測(cè)試設(shè)備和必要的技術(shù)資料，采用“師傅帶徒弟”的傳統(tǒng)方法處理電子故障問題。電路診斷有三大要素：測(cè)試設(shè)備、技術(shù)資料和知識(shí)經(jīng)驗(yàn)。首先，就測(cè)試設(shè)備而言，世上沒有能解決一切問題的“全天候”儀器，要用各種各樣的儀器設(shè)備來應(yīng)付不同的問題。但是隨著科技的發(fā)展，電子產(chǎn)品日益多元化，要用的測(cè)試設(shè)備越趨向多樣化。其次，由于一些廠家“保密”的需要，技術(shù)資料難以得到。第三，有經(jīng)驗(yàn)的工程師更是“難覓”。因此，“傳統(tǒng)的方法”受到挑戰(zhàn)，一些新型測(cè)試手段應(yīng)運(yùn)而生，它們盡力解決以下新型問題： 電路圖等相關(guān)資料難以得到； 技術(shù)人員缺乏

3、經(jīng)驗(yàn)； 大批量生產(chǎn)中的特殊故障急需排除； 對(duì)廉價(jià)實(shí)用的“不加電在線測(cè)試”的迫切需求； 更進(jìn)一步的聯(lián)網(wǎng)自動(dòng)檢測(cè)的期盼。綜觀電路診斷的方法，有“加電測(cè)試”與“不加電測(cè)試”兩種不同的方式。所謂“加電測(cè)試”是指接通被測(cè)對(duì)象的電源，用電壓表、示波器、邏輯分析儀以及相關(guān)的信號(hào)源進(jìn)行測(cè)試。這里又有“靜態(tài)測(cè)試”與“動(dòng)態(tài)測(cè)試”之分?！办o態(tài)測(cè)試”較為簡便，僅靠電壓表就可勝任，也無須過高的技術(shù)水平，但只能作電路靜態(tài)工作點(diǎn)的分析。盡管如此，不少故障靠“靜態(tài)測(cè)試”就可查出?！皠?dòng)態(tài)測(cè)試”能力很強(qiáng)，但必須有較強(qiáng)儀器陣容、較高技術(shù)水平以及詳盡圖紙資料的有力支持。所謂“不加電測(cè)試”是不對(duì)被測(cè)對(duì)象加電，用歐姆表（多用表）等廉價(jià)簡

4、便的測(cè)試工具，靠相應(yīng)的知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)，對(duì)電路節(jié)點(diǎn)的“阻抗特性”進(jìn)行分析的簡便測(cè)試。顯然，“不加電測(cè)試”的能力有限，然而，卻因?yàn)樗畠r(jià)簡便，成為絕大多數(shù)技術(shù)人員的首選。正因?yàn)槿绱耍瑫猩铣霈F(xiàn)了不少用多用表診斷家電等電子產(chǎn)品的專著，由此可見“不加電測(cè)試”應(yīng)用之廣。著力于“不加電測(cè)試”技術(shù)的研究，意義重大。目前，重要的問題在于，怎樣提高“不加電測(cè)試”的效力。經(jīng)分析研究，我們認(rèn)為，“不加電測(cè)試”的能力有限在于，目前多數(shù)人的測(cè)試手段，即各種類型的多用表并不能施行完整意義的“阻抗特性”測(cè)試，因?yàn)樗鼈冎荒軠y(cè)定其中的直流電阻。好在全新的手段已經(jīng)誕生，本教材推薦的“特征分析”SA技術(shù)可彌補(bǔ)這種不足，實(shí)施真正的“阻抗

5、特性”測(cè)試，使人們能增強(qiáng)“不加電測(cè)試”的能力。2 特征分析SA技術(shù)概貌特征分析顧名思義是以某種特征為依據(jù)來診斷電路，問題在于用什么來作為“特征”。電路由元件組成。元件之間的交點(diǎn)就是圖論中所述的節(jié)點(diǎn)。失常的電路必定產(chǎn)出了某些失常的節(jié)點(diǎn)。查找失常的節(jié)點(diǎn)，分析失常的原因，判明故障元件與錯(cuò)誤連接，是電路診斷的有效方法。正常的節(jié)點(diǎn)應(yīng)該有其鮮明的特性表征。某種足以判明節(jié)點(diǎn)正常與否的特性表征就可當(dāng)作該節(jié)點(diǎn)的特征Signature。對(duì)節(jié)點(diǎn)的特征進(jìn)行分析來查找電路故障的方法，就是SA（Signature Analysis），即“特征分析” 技術(shù)。特征分析SA有兩種：物理特征的分析和邏輯特征的分析。邏輯特征是數(shù)字

6、邏輯電路節(jié)點(diǎn)獨(dú)有的特性表征。它是節(jié)點(diǎn)邏輯過程正常與否的表征。它不僅僅與該節(jié)點(diǎn)自己的物理狀態(tài)相關(guān)，而且與相應(yīng)系統(tǒng)的總體邏輯過程息息相關(guān)。邏輯特征是用特征字（Signature Word）標(biāo)識(shí)的。SW（Signature Word）是該節(jié)點(diǎn)的邏輯序列之壓縮結(jié)果四位16進(jìn)制數(shù)字，即一個(gè)“字”（ Word）。這種數(shù)“字”就是數(shù)字電路節(jié)點(diǎn)的邏輯特征。美國HP公司首創(chuàng)了邏輯特征測(cè)試儀器Signature Analyser 與Signature Multi-meter。作為該公司的標(biāo)準(zhǔn)，HP相關(guān)產(chǎn)品中都已配置了測(cè)試驅(qū)動(dòng)程序，產(chǎn)品電路圖的相關(guān)節(jié)點(diǎn)上標(biāo)有各自的特征字SW，以便用上述儀器進(jìn)行診斷測(cè)試。國內(nèi)外還有一

7、些廠商也生產(chǎn)此類儀器。因?yàn)樗鼈兊膽?yīng)用必須有能在被測(cè)對(duì)象中運(yùn)行的驅(qū)動(dòng)程序來配合，所以有很大的局限性。與此相反，物理特征的分析卻沒有這方面的局限，甚至于被測(cè)對(duì)象無須加電。由于Signature Analyser已被此類儀器作為名稱，物理特征分析便被有的人稱為ASA（Analog Signature Analysis），以示區(qū)別。本教材所述SA技術(shù)只涉及電路節(jié)點(diǎn)的物理特征的分析。物理特征及其最佳表述方式特征圖ST物理特征是電路節(jié)點(diǎn)物理狀態(tài)正常與否的表征，它只與該節(jié)點(diǎn)自身的阻抗特性相關(guān)。無論模擬電路或數(shù)字電路，電路中的每個(gè)節(jié)點(diǎn)都應(yīng)有各自的物理特征。物理特征的分析，有人稱之為ASA（Analog Sig

8、nature Analysis），即“模擬特征分析”。我們認(rèn)為，稱其為NSA（Nodal Signature Analysis），即“節(jié)點(diǎn)特征分析”更為合適。此外，也有人稱其為“V-I曲線分析”。無論怎樣叫它，物理特征都是以特征圖（Signature Trace）作為標(biāo)識(shí)。ST（Signature Trace）即特征圖，是目前所知最簡潔、最直觀的方式，即最好的表述方式。ST其實(shí)就是該節(jié)點(diǎn)的電壓-電流關(guān)系曲線，即該節(jié)點(diǎn)的阻抗特性曲線。我們就是用這種曲線圖作為電路節(jié)點(diǎn)的物理特征。ST（Signature Trace）也可解釋為特征圖示，是儀器設(shè)備的一種測(cè)試功能。ST功能就是測(cè)試電路節(jié)點(diǎn)的物理特征并

9、將測(cè)試結(jié)果以曲線圖的方式描繪出來。ST功能既適用于模擬電路，也適用于數(shù)字電路；既適用于分立元件，也適用于集成電路。3 特征圖示ST的基本原理與技術(shù)要素特征圖示ST用于實(shí)施電路節(jié)點(diǎn)的特征分析SA。ST的工作原理如下圖所示。電路節(jié)點(diǎn)的特征分析，即SA是一種在線的（In-Circuit）、不加電的(Power off)故障診斷技術(shù)。它以正弦掃描電壓通過一限流電阻對(duì)被測(cè)對(duì)象產(chǎn)生激勵(lì)，引發(fā)電路節(jié)點(diǎn)上的響應(yīng)，即電流依電壓的變化而變化。對(duì)選定的電路節(jié)點(diǎn)，激勵(lì)條件確定時(shí)，其響應(yīng)即Signature是唯一確定的；響應(yīng)即Signature如有變異，意味著電路節(jié)點(diǎn)特性的變異，這必定是電路元件損傷或電路結(jié)構(gòu)變化（短路

10、或斷線）所致。這種測(cè)試?yán)砟钆c方法有助于技術(shù)人員找出已經(jīng)損傷或即將損傷的元件。儀器的特征圖示功能ST可以產(chǎn)生這種激勵(lì)并采測(cè)電路節(jié)點(diǎn)上的響應(yīng)，測(cè)得數(shù)據(jù)以曲線形式即Signature顯示在CRT或LCD顯示器上。電路節(jié)點(diǎn)的阻抗特性是電路的固有特性，不會(huì)依外部條件而改變，但是，特征圖ST卻會(huì)因激勵(lì)條件的不同而顯現(xiàn)不同。激勵(lì)條件取決于正弦掃描信號(hào)參數(shù)和限流電阻數(shù)值。因此，電路節(jié)點(diǎn)的特征圖ST必然是掃描幅度Vs、掃描頻率Fs與限流電阻Rs三者的函數(shù)，即：ST = ST（Vs，F(xiàn)s，Rs）這就是說，掃描幅度Vs、掃描頻率Fs與限流電阻Rs是影響特征圖ST的三個(gè)基本要素。測(cè)試時(shí)，須對(duì)三者選擇合適的數(shù)值，以得到

11、盡可能明顯適用的特征圖ST。4 特征圖示ST相關(guān)儀器概況采用SA技術(shù)的電路診斷儀器設(shè)備，有專用設(shè)備和兼?zhèn)湓O(shè)備兩類。美國的HUNTRON公司是最早的專用設(shè)備制造商，從單獨(dú)的臺(tái)式儀器到自動(dòng)化的工作站有一系列的產(chǎn)品。已有三十多年歷史。隨后，TEKTRONIX公司推出了具有ST功能的示波器前端附件TR210。前幾年，F(xiàn)LUKE公司在其新型圖形多用表867B型GMM中加入了具有ST功能的“元件測(cè)試”功能。英國的Polar Instruments公司生產(chǎn)ST專用設(shè)備。此外，國內(nèi)外的一些集成電路在線測(cè)試儀中附加了稱為“V-I測(cè)試”的ST功能。他們中包括“海洋儀器”等兩三家北京的民營儀器制造商。上述產(chǎn)品價(jià)格都

12、很昂貴，在ST專用設(shè)備中，價(jià)格最低的示波器附件TR210售價(jià)也要14800元。那些兼?zhèn)銼T功能的集成電路在線測(cè)試儀則需數(shù)萬乃至拾幾萬元。附帶ST功能的FLUKE 867B型GMM最便宜，也要賣七八千元。這些昂貴的設(shè)備很難讓特征分析SA技術(shù)“平民化”。l 廉價(jià)實(shí)用的“多用特征圖示儀”GM128A型多用特征圖示儀Signature Trace Multimeter是具有較強(qiáng)ST功能的一種新型多用表。它是一種廉價(jià)實(shí)用的便攜式智能數(shù)字多用表。它在普通數(shù)字多用表的基礎(chǔ)上增加了“電壓示波”、“邏輯示波”、“晶體管特性圖示”、“特征圖示ST”等四種圖形功能，數(shù)據(jù)可存儲(chǔ)可傳輸。其專利技術(shù)與強(qiáng)勁軟件使昂貴的SA

13、技術(shù)得以“平民化”。GM128A Signature Trace Multimeter售價(jià)千元，性能價(jià)格比很高。GM128A型多用特征圖示儀是兼?zhèn)湫偷腟T測(cè)試工具，將傳統(tǒng)多用表的電壓、電流、電阻測(cè)量功能和“電壓示波”、 “晶體管特性圖示”、 “邏輯示波”、 “邏輯探頭”、“頻率測(cè)量”等等集于一身，最適于維修人員現(xiàn)場(chǎng)使用。5 特征分析SA基礎(chǔ)知識(shí)l 四種典型特征所有的電路節(jié)點(diǎn)特征（Signature）都是由電阻、電容、電感和二極管（P-N結(jié)）等四種基本元件的典型特征構(gòu)成的。理解這些基本的典型特征，可以簡化復(fù)雜特征的分析。因?yàn)槿魏螐?fù)雜的器件或電路都是這四種元件的組合，它們的特征圖中必定包含這四種典

14、型特征的“痕跡”。在ST儀器的顯示屏上（圖1），將電壓顯示在水平方向，電流顯示在垂直方向。開路時(shí)沒有電流，畫出一水平線（圖2）。短路時(shí)電流最大，畫出一垂直線（圖3）。電阻是電壓與電流的比率常數(shù)，它的特征圖就是一條傾斜的直線（圖4），傾斜角度正比于電阻值。開路時(shí)的水平線（圖2）與短路時(shí)垂直線（圖3），其實(shí)是電阻特征圖的兩個(gè)特例。同一被測(cè)電阻選用儀器內(nèi)部限流電阻的不同量程，呈現(xiàn)出不一樣的特征圖（圖5），說明了選擇合適的限流電阻量程十分必要。原則上應(yīng)選用最接近被測(cè)電阻值的限流量程。電容是“慣性元件”，會(huì)引起電流對(duì)電壓的“超前”，即產(chǎn)生所謂的“相移”，因此，它的特征圖是一個(gè)軸長正比于電容量的橢圓或圓（

15、圖6）。電容對(duì)頻率十分敏感，選用不同的測(cè)試頻率會(huì)得到不一樣的特征圖（圖7）。對(duì)測(cè)試頻率Fs的選擇，以圖形鮮明為準(zhǔn)。電感是另一種“慣性元件”，會(huì)引起電流對(duì)電壓的“滯后”，它的特征圖是一個(gè)軸長正比于電感量的傾斜橢圓（圖8）。圖形的傾斜說明它有數(shù)值可觀的導(dǎo)線電阻，傾斜程度與此電阻成正比。由于電感中的電阻通常較小，測(cè)試時(shí)應(yīng)選小的Rs量程。電感同樣對(duì)頻率敏感，對(duì)測(cè)試頻率Fs的選擇，以圖形鮮明為準(zhǔn)。二極管是最簡單的半導(dǎo)體器件，它單向?qū)щ?，這種特性使其特征圖成為正交的“折線”：與水平軸重合的水平線表示反向電流為零，垂直線表示大于導(dǎo)通電壓（硅管為0.6V）的正電壓作用下電流很大（圖9）。復(fù)雜或合成的特征，是這

16、四種基本典型特征的組合。例如，集成電路是晶體管（二極管的化合物）、電阻、電容構(gòu)成的。從集成電路顯示出的特征就是合成的特征。這些器件內(nèi)置雙向保護(hù)電路，顯示的特征圖ST中間是水平線，其兩端連著上下兩條垂直線（圖10）。這種特征圖很典型，被稱為“椅子圖”。普通的齊納二極管也將顯示一個(gè)“椅子圖”，其第一個(gè)垂線折拐點(diǎn)為0.6V（硅器件的導(dǎo)通電壓），第二個(gè)折拐點(diǎn)為齊納二極管的額定電壓（圖11）。由于電阻和電容的存在會(huì)導(dǎo)致集成電路特征圖的變化。例如CMOS集成電路內(nèi)部的電容導(dǎo)致它們的特征“椅子圖”背部呈現(xiàn)一個(gè)“環(huán)形”（圖12）。以下是一些常見的故障特征：1、在二極管或“椅子圖”上直線部分的彎曲或拐角變圓使我

17、們可以看到漏電流的存在（圖13）。2、特征圖中的間隙指示電流通路有中斷存在。3、在完好的器件特征圖中不應(yīng)該出現(xiàn)的斜線部分指出有損壞的元件。4、在特征圖中電容性的“環(huán)形”的跳動(dòng)、尺寸改變或形狀的變化指出其電介質(zhì)可能存在問題。6 特征分析SA基本方法這里有兩種基本的SA方法：首先，大量普遍使用的是“比較法”。這里你必須能訪問一個(gè)已知完好的參考對(duì)象。第二，是“經(jīng)驗(yàn)法”。依靠你的知識(shí)經(jīng)驗(yàn)等等，偵測(cè)期望的特征。我們將分別介紹每種方法，首先是最吸引人的比較法，大概有95% 的情況要用到它。l 比較法這種方法是用一個(gè)已知完好的參考對(duì)象與被測(cè)對(duì)象進(jìn)行對(duì)比。完好的參考對(duì)象可能是下述的其中之一：一、 同類產(chǎn)品之間

18、；二、 相同的電路板組件之間；三、 同一電路板組件上相同的電路單元或電路通道之間；四、 一個(gè)器件或集成電路上相同的單元或通道，如74HC14的六個(gè)反相器相互之間；五、 CPU、RAM、ROM、接口芯片等大規(guī)模集成電路的數(shù)據(jù)/地址總線上每條線之間；六、 事先測(cè)得并存儲(chǔ)在儀器內(nèi)或保存在其它電腦中的“標(biāo)樣”。在缺乏資料與經(jīng)驗(yàn)的情況下，這種方法十分有用。l 經(jīng)驗(yàn)法這種方法是憑借自己對(duì)被測(cè)電路的理解和經(jīng)驗(yàn)，加上前述四種典型特征圖的基礎(chǔ)知識(shí)，來分析測(cè)得的特征圖，以判斷好壞。經(jīng)驗(yàn)是學(xué)習(xí)并積累起來的。要善于將測(cè)得的特征圖保存在儀器中作為“標(biāo)樣”，并及時(shí)轉(zhuǎn)存于電腦的“標(biāo)樣庫”中，編號(hào)整理，以備后用。如同用多用表

19、的電阻擋來檢查修理各種家用電器時(shí)一樣，會(huì)有許多技巧，需要人們?nèi)ヌ剿鞣e累。只要多用善用多交流，SA技術(shù)和ST功能一定會(huì)成為您的得力幫手。請(qǐng)留意下邊的敘述中所涉及的技巧和經(jīng)驗(yàn)。7 用ST功能進(jìn)行電路診斷和元件測(cè)試在第3章中已經(jīng)指出，掃描幅度Vs、掃描頻率Fs與限流電阻Rs是影響特征圖ST的三個(gè)基本要素。測(cè)試時(shí)，須對(duì)三者選擇合適的數(shù)值，以得到盡可能明顯適用的特征圖ST。這一章先講一下它們的選用原則，然后介紹使用NST的一般方法、原則和典型范例。71 掃描幅度Vs的選擇各廠家的ST儀器設(shè)備對(duì)Vs的量程設(shè)置各不相同。在GM128A中有低（L）、中（M）、高（H）三個(gè)量程可選。三個(gè)量程的激勵(lì)信號(hào)峰值分別為

20、0.25V、3V、15V，對(duì)絕大多數(shù)測(cè)試需求已可滿足。絕大多數(shù)情況下，在測(cè)試由集成電路、晶體管、電阻、電容等構(gòu)成的電路時(shí)先選用峰值為3V的M量程。如果檢查高于3V的穩(wěn)壓管等器件時(shí)，應(yīng)選用峰值為15V的H量程。若要“濾去”P-N結(jié)的影響，或測(cè)試某種電感時(shí)，則應(yīng)選用峰值為0.25V的L量程。初用者，可以在各個(gè)量程上試探性的測(cè)一下。各種情況效果不同，但不會(huì)造成損壞。下面，圖14所示的范例，足以展示Vs的變化對(duì)特征圖ST的影響。72 限流電阻Rs的選擇各廠家的ST儀器設(shè)備對(duì)Rs的量程設(shè)置也各不相同。在GM128A中限流電阻Rs有100K、10K、1K、250W、10W（僅限于Vs =0.25V）等五種

21、可選量程。原則上，選用最接近被測(cè)節(jié)點(diǎn)間估計(jì)阻抗值的Rs。前述的圖5就是一個(gè)例子。無法作出估計(jì)時(shí)，可由大到小進(jìn)行試探，以圖形明顯適用為佳。測(cè)電感時(shí)，先選10W（Vs =0.25V）進(jìn)行試探，必要時(shí)再加大Rs。若要顯現(xiàn)小電容的表現(xiàn)，應(yīng)選擇100K等較大的Rs（同時(shí)選用較高的頻率），必要時(shí)可作適當(dāng)調(diào)整。73 掃描頻率Fs的選擇掃描頻率Fs對(duì)“電抗性”元件的影響很大，對(duì)“電阻性”元件影響甚微。如果被測(cè)對(duì)象中存在電容、電感等“電抗性” 元件，就需要選擇適當(dāng)?shù)腇s，以求最佳的特征圖形。在GM128A特征多用表中，掃描頻率Fs有4.8KHz、2.4KHz、200Hz、20Hz和2Hz等五種可選量程。原則上，

22、電容或電感較大時(shí)選用較低的頻率Fs，反之選用較高的頻率Fs?？傊?，通過試探以圖形明顯適用為準(zhǔn)。測(cè)試集成電路通常使用較低的頻率Fs。使用較高的頻率量程可能會(huì)因IC中存在的電容導(dǎo)致特征圖中出現(xiàn)環(huán)形。下面，圖15所示的圖形，足以展示Vs、Fs、Rs三者的變化對(duì)特征圖ST產(chǎn)生的影響。在這里順便提一下，特征分析法與特征圖示儀器在“電工學(xué)”和“電子線路”教學(xué)中的演示作用。從以上的講述不難看出，SA與ST對(duì)電路工作的初學(xué)者是非常直觀的教學(xué)手段。通過它們可以加深對(duì)電路元件特性的認(rèn)識(shí)，使人們對(duì)電壓、電流與阻抗三者的關(guān)系有更全面更深刻的理解。74 使用NST的一般方法和原則NST，即節(jié)點(diǎn)特征圖示儀器的主要功能是電

23、路診斷，其次才是元件測(cè)試。這里著重講述用NST進(jìn)行電路診斷的一般方法和原則。NST 的使用與普通多用表一樣簡便。它們都是以“不加電”的“在線測(cè)試”來找毛病，但效果大不相同。普通多用表只能測(cè)得電阻，而NST則可測(cè)的完整的阻抗特性，由此獲取更多更全面的電路信息。相信前面的講述已經(jīng)使你有了這種印象。NST適合于所有的電路、器件與各種封裝形式。無論模擬電路還是數(shù)字電路，無論分立元件還是集成電路，無論直插式還是貼片式，只要有端口有引線，就能用上NST。NST的使用，并不苛求使用者有較高的技術(shù)水平與較完備的技術(shù)資料。即便缺乏專業(yè)知識(shí)、沒有經(jīng)驗(yàn)甚至沒有任何技術(shù)資料，都不會(huì)妨礙你使用NST進(jìn)行電路診斷。相反，

24、通過NST的使用，你能獲得知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)。在電路診斷過程中，最麻煩的莫過于查找集成電路，尤其是引腳很多的IC中的毛病。然而，經(jīng)驗(yàn)指出，在一個(gè)有缺陷的IC中許多毛病出現(xiàn)在它的輸入/輸出區(qū)域，往往表現(xiàn)在IC的外部端子上，這就是所謂的“端口型故障”。而端口上總會(huì)有特征顯現(xiàn)，因此，許多IC的缺點(diǎn)可通過節(jié)點(diǎn)特征分析顯現(xiàn)出來。事實(shí)上，大多數(shù)電子電路中展示了P-N結(jié)獨(dú)有的特征圖形。無論多么復(fù)雜，在IC中數(shù)量眾多的器件的結(jié)構(gòu)都基于這種簡單的P-N結(jié)。同時(shí)我們將發(fā)現(xiàn)，不管引腳的數(shù)量有多大，在IC中僅僅只有少量幾種明顯不同的特征圖形。因此，是有規(guī)律可循的。許多數(shù)字電路含有成組的信號(hào)總線，用來并行地傳送數(shù)據(jù)或信號(hào)（例如

25、，CPU、ROM、RAM、I/O接口等大規(guī)模集成電路的數(shù)據(jù)/地址總線）。這些總線上的每條信號(hào)線通常顯示同樣的特征。在測(cè)試復(fù)雜的IC 時(shí)，這種安排很適合于使用NST的比較法。具體地說，每一次完整的NST測(cè)試過程，大體上要作三件事，即三個(gè)步驟：第一、 調(diào)整儀器選擇量程；第二、 連線目標(biāo)探測(cè)節(jié)點(diǎn)；第三、 得出結(jié)果分析判別。首先，NST的量程選擇涉及Vs、Fs、Rs三個(gè)參數(shù)，前面已有詳細(xì)敘述。簡而言之，大多數(shù)情況下，在測(cè)試由集成電路、晶體管、電阻、電容等構(gòu)成的電路時(shí)Vs先選用峰值為3V的M量程，測(cè)試頻率Fs為20Hz，限流電阻Rs為10KW或1KW。然后，依實(shí)測(cè)情況分別進(jìn)行調(diào)整。其次，測(cè)試引線與普通多用表一樣，通常只用紅黑兩條。在NST儀器上，將帶探針的紅色測(cè)試線插入 “+”插孔，帶“鱷魚夾”或探針的黑色測(cè)試線插入 “-COM”插孔。黑色引線應(yīng)該與被測(cè)電路的公共參考點(diǎn)相連，通常就連電路的接地端。用紅色的探針觸及被測(cè)節(jié)點(diǎn)，即可觀測(cè)期望的特征。如有