實驗二 單級共射放大電路實驗

1、實驗二單級共射放大電路一、實驗?zāi)康?、 學(xué)會放大電路靜態(tài)工作點(diǎn)的調(diào)試方法，分析靜態(tài)工作點(diǎn)對放大電路性能的影響。2、 掌握放大電路電壓放大倍數(shù)、輸入電阻、輸出電阻及最大不失真輸出電壓的測試方法。3、 熟悉常用電子儀器及模擬電路實驗設(shè)備的使用。二、實驗設(shè)備與器件1、模擬電路實驗裝置2、雙蹤示波器3、交流毫伏表4、萬用表三、實驗原理圖21為電阻分壓式工作點(diǎn)穩(wěn)定單管共射放大電路實驗原理圖。它的偏置電路采用RB1和RB2組成的分壓電路，并在發(fā)射極中接有電阻RE，以穩(wěn)定放大電路的靜態(tài)工作點(diǎn)。當(dāng)在放大電路的輸入端加入輸入信號ui后，在放大電路的輸出端便可得到一個與ui相位相反，幅值被放大了的輸出信號u0，從

2、而實現(xiàn)了電壓放大。47µF47µFRP1100KRB114.7KRB1210KRE151510C3RC12K圖21 共射極單管放大電路實驗電路在圖21電路中，當(dāng)流過偏置電阻RB1和RB2 的電流遠(yuǎn)大于晶體管T 的 基極電流IB時（一般510倍），則它的靜態(tài)工作點(diǎn)可用下式估算: UCEUCCIC（RCRE）電壓放大倍數(shù) 輸入電阻RiRB1 / RB2 / rbe輸出電阻 RORC由于電子電路件性能的分散性比較大，因此在設(shè)計和制作晶體管放大電路時，離不開測量和調(diào)試技術(shù)。在設(shè)計前應(yīng)測量所用元電路件的參數(shù)，為電路設(shè)計提供必要的依據(jù)，在完成設(shè)計和裝配以后，還必須測量和調(diào)試放大電路的靜

3、態(tài)工作點(diǎn)和各項性能指標(biāo)。一個優(yōu)質(zhì)放大電路，必定是理論設(shè)計與實驗調(diào)整相結(jié)合的產(chǎn)物。因此，除了學(xué)習(xí)放大電路的理論知識和設(shè)計方法外，還必須掌握必要的測量和調(diào)試技術(shù)。放大電路的測量和調(diào)試一般包括：放大電路靜態(tài)工作點(diǎn)的測量與調(diào)試，消除干擾與自激振蕩及放大電路各項動態(tài)參數(shù)的測量與調(diào)試等。1、放大電路靜態(tài)工作點(diǎn)的測量與調(diào)試1)靜態(tài)工作點(diǎn)的測量測量放大電路的靜態(tài)工作點(diǎn)，應(yīng)在輸入信號ui0的情況下進(jìn)行， 即將放大電路輸入端與地端短接，然后選用量程合適的直流毫安表和直流電壓表，分別測量晶體管的集電極電流IC以及各電極對地的電位UB、UC和UE。一般實驗中，為了避免斷開集電極，所以采用測量電壓UE或UC，然后算出I

4、C的方法，例如，只要測出UE，即可用算出IC（也可根據(jù)，由UC確定IC），同時也能算出UBEUBUE，UCEUCUE。為了減小誤差，提高測量精度，應(yīng)選用內(nèi)阻較高的直流電壓表。2)靜態(tài)工作點(diǎn)的調(diào)試 放大電路靜態(tài)工作點(diǎn)的調(diào)試是指對管子集電極電流IC（或UCE）的調(diào)整與測試。靜態(tài)工作點(diǎn)是否合適，對放大電路的性能和輸出波形都有很大影響。如工作點(diǎn)偏高，放大電路在加入交流信號以后易產(chǎn)生飽和失真，此時uO的負(fù)半周將被削底，如圖22(a)所示；如工作點(diǎn)偏低則易產(chǎn)生截止失真，即uO的正半周被縮頂（一般截止失真不如飽和失真明顯），如圖22(b)所示。這些情況都不符合不失真放大的要求。所以在選定工作點(diǎn)以后還必須進(jìn)行

5、動態(tài)調(diào)試，即在放大電路的輸入端加入一定的輸入電壓ui，檢查輸出電壓uO的大小和波形是否滿足要求。如不滿足，則應(yīng)調(diào)節(jié)靜態(tài)工作點(diǎn)的位置。 (a) (b)圖22 靜態(tài)工作點(diǎn)對uO波形失真的影響改變電路參數(shù)UCC、RC、RB（RB1、RB2）都會引起靜態(tài)工作點(diǎn)的變化，如圖23所示。但通常多采用調(diào)節(jié)偏置電阻RB2的方法來改變靜態(tài)工作點(diǎn)，如減小RB2，則可使靜態(tài)工作點(diǎn)提高等。圖23 電路參數(shù)對靜態(tài)工作點(diǎn)的影響最后還要說明的是，上面所說的工作點(diǎn)“偏高”或“偏低”不是絕對的，應(yīng)該是相對信號的幅度而言，如輸入信號幅度很小，即使工作點(diǎn)較高或較低也不一定會出現(xiàn)失真。所以確切地說，產(chǎn)生波形失真是信號幅度與靜態(tài)工作點(diǎn)設(shè)

6、置配合不當(dāng)所致。如需滿足較大信號幅度的要求，靜態(tài)工作點(diǎn)最好盡量靠近交流負(fù)載線的中點(diǎn)。放大電路動態(tài)指標(biāo)包括電壓放大倍數(shù)、輸入電阻、輸出電阻、最大不失真輸出電壓（動態(tài)范圍）和通頻帶等。1)電壓放大倍數(shù)AV的測量調(diào)整放大電路到合適的靜態(tài)工作點(diǎn)，然后加入輸入電壓ui，在輸出電壓uO不失真的情況下，用交流毫伏表測出ui和uo的有效值Ui和UO，則: 2)輸入電阻Ri的測量為了測量放大電路的輸入電阻，按圖24 電路在被測放大電路的輸入端與信號源之間串入一已知電阻R，在放大電路正常工作的情況下， 用交流毫伏表測出US和Ui，則根據(jù)輸入電阻的定義可得： 圖24 輸入、輸出電阻測量電路測量時應(yīng)注意下列幾點(diǎn): 由

7、于電阻R兩端沒有電路公共接地點(diǎn)，所以測量R兩端電壓 UR時必須分別測出US和Ui，然后按URUSUi求出UR值。 電阻R的值不宜取得過大或過小，以免產(chǎn)生較大的測量誤差，通常取R與Ri為同一數(shù)量級為好，本實驗可取R12K。3)輸出電阻R0的測量按圖2-4電路，在放大電路正常工作條件下，測出輸出端不接負(fù)載 RL的輸出電壓UO和接入負(fù)載后的輸出電壓UL，根據(jù) 即可求出： 在測試中應(yīng)注意，必須保持RL接入前后輸入信號的大小不變。4)最大不失真輸出電壓UOPP的測量（最大動態(tài)范圍）如上所述，為了得到最大動態(tài)范圍，應(yīng)將靜態(tài)工作點(diǎn)調(diào)在交流負(fù)載線的中點(diǎn)。為此在放大電路正常工作情況下，逐步增大輸入信號的幅度，并

8、同時調(diào)節(jié)RW（改變靜態(tài)工作點(diǎn)），用示波電路觀察uO，當(dāng)輸出波形同時出現(xiàn)削底和縮頂現(xiàn)象（如圖25）時，說明靜態(tài)工作點(diǎn)已調(diào)在交流負(fù)載線的中點(diǎn)。然后反復(fù)調(diào)整輸入信號，使波形輸出幅度最大，且無明顯失真時，用交流毫伏表測出UO（有效值），則動態(tài)范圍等于?；蛴檬静娐分苯幼x出UOPP來。圖 25 靜態(tài)工作點(diǎn)正常，輸入信號太大引起的失真5)放大電路幅頻特性的測量放大電路的幅頻特性是指放大電路的電壓放大倍數(shù)AU與輸入信號頻率f 之間的關(guān)系曲線。單管阻容耦合放大電路的幅頻特性曲線如圖26所示，Aum為中頻電壓放大倍數(shù)，通常規(guī)定電壓放大倍數(shù)隨頻率變化下降到中頻放大倍數(shù)的倍，即0.707Aum所對應(yīng)的頻率分別稱為下

9、限頻率fL和上限頻率fH，則通頻帶fBWfHfL放大電路的幅率特性就是測量不同頻率信號時的電壓放大倍數(shù)AU。為此，可采用前述測AU的方法，每改變一個信號頻率，測量其相應(yīng)的電壓放大倍數(shù)，測量時應(yīng)注意取點(diǎn)要恰當(dāng)，在低頻段與高頻段應(yīng)多測幾點(diǎn)，在中頻段可以少測幾點(diǎn)。此外，在改變頻率時，要保持輸入信號的幅度不變，且輸出波形不得失真。 3DG 9011(NPN) 3CG 9012(PNP) 9013(NPN) 圖 26 幅頻特性曲線 圖27晶體三極管管腳排列四、實驗內(nèi)容實驗電路如圖21所示。各電子儀器可按實驗一中圖11所示方式連接，為防止干擾，各儀器的公共端必須連在一起。1、調(diào)試靜態(tài)工作點(diǎn)接通直流電源前，

10、先將RW調(diào)至最大， 函數(shù)信號發(fā)生電路輸出旋鈕旋至零。接通12V電源、調(diào)節(jié)Rp，使IC2.0mA（即UC4.0V）， 用直流電壓表測量UBE、UCE及用萬用電表測量RB （RB=RP1+RB11）值；分別用萬用表測量IB、IC填入表21。表2-1 IC2mA測 量 值計算數(shù)據(jù)UB（V）UE（V）UC（V）IB（µA）IC（mA）RB (K)2、測量電壓放大倍數(shù)在放大電路輸入端加入頻率為1KHz的正弦信號uS，調(diào)節(jié)函數(shù)信號發(fā)生電路的輸出旋鈕使放大電路輸入電壓Ui10mV，同時用示波電路觀察放大電路輸出電壓uO波形，在波形不失真的條件下用交流毫伏表測量下述三種情況下的UO值，并用雙蹤示波電

11、路觀察uO和ui的相位關(guān)系，記入表22。表22 Ic2.0mA Ui10mVRL(K)Uo(V)AV觀察記錄一組uO和u1波形15.13、觀察靜態(tài)工作點(diǎn)對電壓放大倍數(shù)的影響置RL，Ui適量，調(diào)節(jié)RP，用示波電路監(jiān)視輸出電壓波形，在uO不失真的條件下，測量五組數(shù)據(jù)IC和UO值，記入表23。表23 RL Ui10mVIC(mA)2.0UO(V)AV測量IC時，要先將信號源輸出旋鈕旋至零（即使Ui0）。4、觀察靜態(tài)工作點(diǎn)對輸出波形失真的影響置RL5.1K， ui0，調(diào)節(jié)Rp使IC2.0mA，測出UCE值，再逐步加大輸入信號，使輸出電壓u0 足夠大但不失真。 然后保持輸入信號不變，分別增大和減小Rp，

12、使波形出現(xiàn)失真，繪出u0的波形，并測出失真情況下的IC和UCE值，記入表24中。每次測IC和UCE 值時都要將信號源的輸出旋鈕旋至零。表24 RL Ui10mVIC(mA)UCE(V)u0波形失真情況管子工作狀態(tài)2.05、測量最大不失真輸出電壓置RL5.1K，按照實驗原理2.4中所述方法，同時調(diào)節(jié)輸入信號的幅度和電位器Rp，用示波電路和交流毫伏表測量UOPP及UO值，記入表25。 表25 RL5.1KIC(mA)Uim(mV)Uom(V)UOPP(V)*6、測量輸入電阻和輸出電阻 置RL5.1K，IC2.0mA。輸入f1KHz的正弦信號，在輸出電壓uo不失真的情況下，用交流毫伏表測出US，Ui

13、和UL記入表2-6。保持US不變，斷開RL，測量輸出電壓Uo，記入表2-6。表2-6 Ic2mA RL5.1KUS(mv)Ui(mv)Ri（K）UL（V）UO（V）R0（K）測量值計算值測量值計算值*7、測量幅頻特性曲線取IC2.0mA，RL5.1K。 保持輸入信號ui的幅度不變，改變信號源頻率f，逐點(diǎn)測出相應(yīng)的輸出電壓UO，記入表27。 表27 Ui10mV fL fo fn f（KHz）UO（V）AVUO/Ui 為了信號源頻率f取值合適，可先粗測一下，找出中頻范圍， 然后再仔細(xì)讀數(shù)。 說明：本實驗內(nèi)容較多，其中6、7可作為選作內(nèi)容。五、實驗總結(jié)1、 列表整理測量結(jié)果，并把實測的靜態(tài)工作點(diǎn)、電壓放大倍數(shù)、輸入電阻、輸出電阻之值與理論計算值比較（取一組數(shù)據(jù)進(jìn)行比較），分析產(chǎn)生誤差原因。2、總結(jié)RC，RL及靜態(tài)工作點(diǎn)對放大電路電壓放大倍數(shù)、輸入電阻、輸出電阻的影響。3、討論靜態(tài)工作點(diǎn)變化對放大電路輸出波形的影響。4、分析討論在調(diào)試過程中出現(xiàn)的問題。六、預(yù)習(xí)要求1、閱讀教材中有關(guān)單管放大電路的內(nèi)容并估算實驗電路的性能指標(biāo)。估算放大電路的靜態(tài)工作點(diǎn)，電壓放大倍數(shù)AV，輸入電阻Ri和輸出電阻RO2、能否用直流電壓表直接測量晶體管的UBE？ 為什么實驗中要采用測UB、UE，再間接算出UBE的方法？3、怎樣測量RB阻值？ 4、當(dāng)