無鉛焊接的脆弱性

1、無鉛焊接的脆弱性         最新研究顯示，無鉛焊接可能是很脆弱的，特別是在沖擊負(fù)載下容易出現(xiàn)過早的界面破壞，或者往往由于適度的老化而變得脆弱。脆化機(jī)理當(dāng)然會因焊盤的表面處理而異，但是常用的焊盤鍍膜似乎都不能始終如一地免受脆化過程的影響，這對于長時間承受比較高的工作溫度，和/或機(jī)械沖擊或劇烈振動的產(chǎn)品來說，是非常值得關(guān)注的。就鎳金 (Ni/Au) 化學(xué)鍍和電鍍敷層而言，脆弱性問題以及相關(guān)的脆化機(jī)理早已為人熟知，而就穩(wěn)健性而論，在銅焊盤上無鉛焊接一直被視作'比較安全'。然而，最新觀測結(jié)果顯示，在銅焊盤上進(jìn)行

2、無鉛焊接獲得的焊點中的組織結(jié)構(gòu)存在兩種或以上的脆化機(jī)理或途徑，每一種都會在焊點本體和焊盤表面的交界處導(dǎo)致脆性破裂。由于常用的可焊性表面敷層都伴隨著脆化的風(fēng)險，所以電子工業(yè)當(dāng)前面臨一些非常困難的問題。然而，這些脆化機(jī)理的表現(xiàn)形式存在可變性，故為避免或控制一些問題帶來了希望。在電子行業(yè)內(nèi)，雖然每家公司都必須追求各自的利益，但是在解決無鉛焊接的脆弱性及相關(guān)的可*性問題上，他們無疑有著共同的利害關(guān)系，特別是考慮到過渡至無鉛焊接技術(shù)的時間表甚短。為了解決電子工業(yè)目前面臨的這個問題，'協(xié)會'觀念可能是非常適用的。協(xié)會的努力能夠保障其成員公司避免忽略關(guān)鍵性的現(xiàn)象或觀點，協(xié)會也可以充當(dāng)公共論壇

3、，倡導(dǎo)合理的基礎(chǔ)設(shè)施改造，也可帶來解決這些問題所必需的解決方案。引 言微電子封裝工業(yè)依賴焊接點在各色各樣的組件之間形成穩(wěn)健的機(jī)械連接和電氣互聯(lián)，散熱問題、機(jī)械沖擊或振動往往給焊接點帶來很大的負(fù)荷，不過，我們擁有專業(yè)的工藝知識，并能根據(jù)幾十年的豐富經(jīng)驗評價和預(yù)測錫鉛 (Sn-Pb) 焊接技術(shù)的結(jié)果。在過去幾年里，業(yè)界針對無鉛技術(shù)進(jìn)行了大量的開發(fā)工作。盡管我們現(xiàn)在的無鉛知識遠(yuǎn)遠(yuǎn)不如Sn-Pb合金系的經(jīng)驗和認(rèn)識水平，但是一般認(rèn)為現(xiàn)時較遍選用的無鉛(錫銀銅) (Sn-Ag-Cu)合金系可提供出色的、或可比的熱力學(xué)抗疲勞強(qiáng)度，并在最壞條件下最低限度地降低焊接點的機(jī)械沖擊強(qiáng)度。這些說法雖然仍然是廣泛研究的

4、主題，特別是在高溫和長時間的熱循環(huán)過程中，焊點顯微結(jié)構(gòu)演變所帶來的影響。然而，最新的報告提出了一些出乎意料的建議：脆變問題與Cu和Ni/Au 電鍍的焊盤表面都有關(guān)系。事實上，沒有任何常用的可焊性表面敷層能夠一直免受脆變問題的影響。 隨著無鉛焊接技術(shù)的即將實施，這種境況可能在微電子工業(yè)引起嚴(yán)重的可*性關(guān)注和基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)問題。無論如何，脆變過程表現(xiàn)形式的可變性 (至少是Cu焊盤系統(tǒng))，可以解釋某些脆變機(jī)理，并且有望加以控制。簡而言之，焊點上的機(jī)械應(yīng)力來源于插件板上施加的外力、或焊接結(jié)構(gòu)內(nèi)部的不匹配熱膨脹。在足夠高的壓力下，焊料的蠕變特性有助于限制焊點內(nèi)的應(yīng)力。即使是一般的熱循環(huán)，通常也要求若干焊點能經(jīng)

5、受得住在每次熱循環(huán)中引起蠕變的負(fù)荷，因此，焊盤上金屬間化合物的結(jié)構(gòu)必須經(jīng)受得住焊料蠕變帶來的負(fù)荷。在外加機(jī)械負(fù)荷的情況下，尤其是系統(tǒng)機(jī)械沖擊引起的負(fù)荷， 焊料的蠕變應(yīng)力總是比較大，原因是這種負(fù)荷對焊點施加的變形速度比較大。因此，即使是足以承受熱循環(huán)的金屬間化合物結(jié)構(gòu)，也會在剪力或拉力測試期間最終成為最脆弱的連接點。然而，這不一定是問題的直接決定性因素，因為外加機(jī)械負(fù)荷往往能夠在設(shè)計上加以限制，使之不會引起太大的焊料蠕變，或者至少不會在焊接界面引起斷裂。盡管如此，在這些測試中，從貫穿焊料的裂紋變成焊盤表面或金屬間化合物的斷裂，就是一種不斷脆化的跡象。通常，顯示脆性界面破裂而無明顯塑性變形的焊接是

6、許多應(yīng)用的固有問題，這些應(yīng)用中的焊點沖擊負(fù)荷是可以預(yù)見的。在這些情況下，焊點內(nèi)的能量幾乎沒有多少能夠在斷裂過程中散逸出去，因此焊點的結(jié)構(gòu)自然容易出現(xiàn)沖擊強(qiáng)度問題。在某些應(yīng)用中，一些脆變機(jī)理即使在CTE失配應(yīng)力條件下也可以令焊點弱化，導(dǎo)致過早的焊點失效。事實上，即使在很小的負(fù)載下，金屬間化合物中持續(xù)發(fā)展的空洞也會引起故障。盡管與焊接Ni/Au鍍膜焊盤有關(guān)的問題早已廣為人知， 但是最新觀察結(jié)果卻可能反映出如下所述的新現(xiàn)象。人們以往一直認(rèn)為涂有OSP保護(hù)層、浸銀、浸錫或焊料的Cu焊盤在這一點上是"比較安全"的，但即使對Sn-Pb焊料而言，這并不是表示退化機(jī)理全然不存在。事實上，C

7、u 通過界面上的 Cu3Sn 和 Cu6Sn5 金屬間化合物薄層迅速擴(kuò)散，往往在Cu/Cu3Sn 1、2 和/或 Cu3Sn/Cu6Sn5界面 3 上形成 Kirkendall 空洞。然而，這些空洞通常維持很低的密度，而且小得用光學(xué)顯微鏡也看不見1 1、2，因此常不被視為有任何實際的關(guān)注意義。最近，有關(guān) Cu 焊盤上 Sn-Ag-Cu 焊點在高溫老化過程中機(jī)械強(qiáng)度快速減弱的多項報告，在微電子封裝領(lǐng)域引起了極大的轟動 4、5，這一后果似乎是由 Cu3Sn/Cu 界面的 Kirkendall 空洞生長而造成的 (圖1)，在標(biāo)準(zhǔn)老化條件 (20 至 40天100 ) 下也能觀察到大范圍的空洞，使空洞

8、成為了一個明顯的實際問題，至少對承受很高的工作溫度和機(jī)械沖擊或振動的產(chǎn)品來說是值得關(guān)注的。事實上，顯而易見的溫度依賴性或許使我們想到，即使在相當(dāng)適宜的工作條件下，產(chǎn)品也有可能在幾年之內(nèi)發(fā)生故障。該現(xiàn)象已經(jīng)獲得其它研究證實 5、6，不過，幸好這種脆化問題是可以避免的。環(huán)球儀器公司進(jìn)行的初步實驗沒有再出現(xiàn)上述的空洞現(xiàn)象 7；而IBM 6 所作的研究提出了焊接脆弱性與電鍍批次的相關(guān)性 (圖2)。這些調(diào)查結(jié)果可能暗示雜質(zhì)的影響。在一些情況中已經(jīng)證明污染大大增加 Kirkendall 空洞的形成，因為雜質(zhì)在金屬間相的溶解度較低，所以在變換過程之前被'清理'出來而驟然充當(dāng)異源的空洞成核點

9、8。無論如何，不可排除的脆化因素還有亞微觀孔隙或氣泡，它們在回流過程中不知何故混入銅表面，繼而成為空洞的藏匿之所。此外，IBM還公布了另一個金屬間化合物界面發(fā)生脆變的故障現(xiàn)象，該現(xiàn)象似乎與 Kirkendall 空洞確實無關(guān) 6。在組裝以后立即進(jìn)行的焊球拉力測試顯示，在Cu焊盤的金屬間化合物范圍內(nèi)出現(xiàn)了界面缺陷，而且這一現(xiàn)象總是由于熱老化而加劇。這究竟是否一個有實際意義的關(guān)注問題還有待于證實，因為與空洞現(xiàn)象不同的是，長時間的老化不一定令抗拉強(qiáng)度進(jìn)一步降低。在這個現(xiàn)象中，同樣發(fā)現(xiàn)電鍍批次具有可變性。焊接銅的唯一可取的成熟的替代選擇大概是鎳，為了防止氧化，人們通常在鎳上鍍一層金。有些報告 9 指出

10、，在化學(xué)鍍 Ni (P) 膜與 Sn-Pb 焊料之間，長時間的反應(yīng)也會在Ni 表面的附近形成 Kirkendall 空洞。但是與銅相比，這似乎是一個不太可能發(fā)生的問題。根據(jù)一些報告顯示，當(dāng)元器件上 Sn-Pb 焊點的對側(cè)焊盤采用銅焊盤，而有現(xiàn)成的銅補(bǔ)充給焊料時，脆化過程變得更為復(fù)雜：三元合金 (Cu,Ni) 6Sn5層積聚在 Ni3Sn4 (在鎳表面上形成的) 之上。在這種情況下，老化在Ni3Sn4/(Cu,Ni)6Sn5 界面形成空洞 10。 使用Sn-Ag-Cu焊料焊接鎳預(yù)料會發(fā)生類似的問題，因為這種焊料合金中有現(xiàn)成的銅源。所謂的'黑盤'(black pad) 現(xiàn)象是一個獲

11、廣泛認(rèn)同與脆化有關(guān)的獨特現(xiàn)象，特別是關(guān)系到化鎳浸金 (ENIG)。事實上，'黑盤'現(xiàn)象可算得上一個無處不在的術(shù)語，它涉及的許多與發(fā)生在 Ni(P)/Ni3Sn4 界面上或附近的焊點斷裂有關(guān)的現(xiàn)象，最主要的是指在浸金 過程中，由于過度腐蝕而使Ni(P) 表面缺乏可焊性，但是常常也包括不同的合金或合金化合物在界面附近產(chǎn)生的作用。'黑盤'通常指一種'時間零點'現(xiàn)象，反映在接點焊盤之上或附近出現(xiàn)明顯的脆弱性，或僅僅降低機(jī)械耐疲勞強(qiáng)度。不管怎樣，有害的'黑盤'效應(yīng)也可能關(guān)聯(lián)著另一種脆化機(jī)理觀點：根據(jù)這種機(jī)理，看上去很完美的金屬間化合物結(jié)構(gòu)會

12、隨著時間的推移而退化。這第二個脆化機(jī)理好象涉及 Ni3Sn4 的增加，由此而引起P富集，在下面形成 Ni3P，并在二者之間生成一種三元相。不管是哪一種情況，如果從 Sn-Pb焊料過渡 Sn-Ag-Cu 焊料，這個問題似乎都會惡化 11、12。電解產(chǎn)生的鎳層上通常電解了一層金，采用這個方法的問題是制造公差要求將鍍金層的厚度控制在25 至 50微英寸 (0.63 至 1.3) 以上。在產(chǎn)品使用過程中，這可能會因最大負(fù)荷等因素而出現(xiàn)問題。廣泛的研究 13-19表明，在回流過程中溶入于 Sn-Pb 焊料的金，竟會在以后的老化過程中逐漸返回鎳表面，并導(dǎo)致該表面的Ni3Sn4金屬間化合物上積聚一層 (Ni

13、, Au) Sn4。如此產(chǎn)生的界面，其機(jī)械強(qiáng)度是不穩(wěn)定的，而且隨 (Ni, Au) Sn4 厚度的增加而繼續(xù)減小。多項跡象表明，在Sn-Ag-Cu焊接所需要的較高回流溫度下，鎳溶解度的增加可能有助于穩(wěn)定焊點中Ni-Au-Sn三元沉淀物的金，但是為了量化對不同參數(shù)的影響，也許需要進(jìn)一步研究。Qualcomm 最近公布的跌落測試 (drop testing) 觀察中，發(fā)現(xiàn)Ni/Au鍍層上的Sn-Ag-Cu CSP焊點在'時間零點'斷裂，此問題曾通過降低回流溫度和縮短回流時間得以緩解或消除。這些報告的作者把脆性斷裂歸咎為Ni3Sn4與 (Cu, Ni)6Sn5敷層不匹配 20，但根據(jù)

14、另一些試驗顯示，在 (Ni, Cu)3Sn4表面上涂鍍一層厚度相同的 (Cu, Ni)6Sn5 通?？磥硎欠€(wěn)定的。盡管如此，這個現(xiàn)象似乎與已經(jīng)非常確實的金相關(guān)問題不一様?？偨Y(jié)在過渡至無鉛焊接工藝時，電子工業(yè)看來面對著極大的焊點脆斷風(fēng)險，而且所有常用的焊盤表面鍍膜均無一幸免。在 ENIG 焊盤上引起金屬間化合物結(jié)構(gòu)脆變的'黑盤'效應(yīng)和老化過程，似乎對 Sn-Ag-Cu 焊接比 Sn-Pb 焊接更為關(guān)鍵。無鉛焊接以避免或減少另一個與Ni/Au電鍍敷層中Au厚度增大有關(guān)的脆化過程。然而，用Sn-Ag-Cu焊接鎳焊盤經(jīng)常導(dǎo)致Ni3Sn4 層上積聚 (Cu, Ni)6Sn5 。如此形成的一些結(jié)構(gòu)在用 Sn-Ag-Cu 焊接合金進(jìn)行裝配之后會立即脆斷，而且在某些情況下即使采用 Sn-Pb 焊料，(Cu, Ni)6Sn5 結(jié)構(gòu)老化也會導(dǎo)致難以克服的空洞和多孔缺陷。大范圍的Kirkendall