電法勘探基本理論-電阻率法

1、地球物理探測新進(jìn)展地球物理探測新進(jìn)展第二章第二章 電法勘探基本理論電法勘探基本理論安全工程學(xué)院安全工程學(xué)院楊武洋楊武洋第一節(jié)電阻率法電阻率法第二節(jié)充電法和自然電場法充電法和自然電場法第三節(jié)激發(fā)極化法激發(fā)極化法第四節(jié)電磁法電磁法第三章第三章 電法勘探電法勘探第五節(jié)瞬變電磁法瞬變電磁法 第六節(jié)甚低頻法甚低頻法第七節(jié)可控源音頻大地電磁法可控源音頻大地電磁法 第八節(jié)探地雷達(dá)探地雷達(dá) 電法勘探電法勘探 以巖、礦石的電學(xué)性質(zhì)（如導(dǎo)電性）差異電學(xué)性質(zhì)（如導(dǎo)電性）差異為基礎(chǔ)，通過觀測和研究與這些電性差異有關(guān)的（天然或人工)電場或電磁場分布規(guī)律來查明地下地質(zhì)構(gòu)造及有用礦產(chǎn)的一種物探方法，簡稱“電法”。第二部分第

2、二部分 電法勘探電法勘探電法勘探的特點(diǎn)：電法勘探的特點(diǎn)： 可利用的物 性參性多導(dǎo)電性（電阻率電阻率或電導(dǎo)率或電導(dǎo)率=1/ ）電化學(xué)活動(dòng)性（）介電性（）導(dǎo)磁性（）利用場源多人工場源天然場源直流電（穩(wěn)定場）交流電（交變場）第二部分第二部分 電法勘探電法勘探傳導(dǎo)類電法勘探傳導(dǎo)類電法勘探（直流電法）研（直流電法）研究穩(wěn)定電流場究穩(wěn)定電流場感應(yīng)類電法勘探感應(yīng)類電法勘探（交流電法）研（交流電法）研究交變電流場究交變電流場電阻率法電阻率法充電法自然電場法激發(fā)極化法低頻電磁法頻率測深法甚低頻法電磁波法大地電磁法方法種類多第二部分第二部分 電法勘探電法勘探第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法電阻率法的理論基礎(chǔ)電阻率法

3、的理論基礎(chǔ)1電阻率法的儀器和裝備電阻率法的儀器和裝備2345電剖面法電剖面法電測深法電測深法高密度電阻率法高密度電阻率法第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法l 電阻率法電阻率法是傳導(dǎo)類電法勘探方法之一。建立在地殼中各種巖礦石具有各種導(dǎo)電性差異的基礎(chǔ)上，通過觀測和研究與這些差異有關(guān)的天然電場或人工電場的分布規(guī)律，從而達(dá)到查明地下構(gòu)造或者尋找有用礦產(chǎn)的目的。slR電阻R（ ）長度（m）截面積（m）電阻率( m)lsRISl一 、電阻率法的理論基礎(chǔ)（一）（一） 巖、礦石的電阻率巖、礦石的電阻率1.電阻率基本公式2.電阻率單位SI制中制中第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法3.主要巖礦石電阻率及其變化范圍 沉變火

4、 沉積巖：10 102 火成巖：102 105 變質(zhì)巖：介于兩者之間第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法4.影響巖石電阻率的主要因素礦物成分、含量及結(jié)構(gòu) 金屬礦物含量，電阻率 結(jié)構(gòu)：侵染狀細(xì)脈狀巖礦石的孔隙度、濕度 孔隙度，含水量 ，電阻率 風(fēng)化帶、破碎帶，含水量，電阻率水溶液礦化度 礦化度 ，電阻率第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法溫度 溫度T，溶解度，離子活性，電阻率結(jié)冰時(shí)，電阻率壓力 壓力 ，孔隙度 ，電阻率 超過壓力極限，巖石破碎，電阻率構(gòu)造層 這種層狀構(gòu)造巖石的電阻率，則具有各向異性各向異性，即沿層理方向的電阻率小于小于垂直層理方向的電阻率。第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法 地下水及其他天然水地

5、下水及其他天然水的電阻率均較的電阻率均較低低，通常小于，通常小于100100.m.m，并且含鹽分越多，電阻率值越低。巖、礦石，并且含鹽分越多，電阻率值越低。巖、礦石中所含水分的多少中所含水分的多少( (或濕度大小或濕度大小) )對其電阻率值有較大影對其電阻率值有較大影響。響。 一般含水量大的巖石一般含水量大的巖石電阻率較電阻率較低低，而含水量小或干燥巖，而含水量小或干燥巖石的電阻率較高。巖石含水量的大小，主要決定于巖石石的電阻率較高。巖石含水量的大小，主要決定于巖石本身的本身的孔隙度及當(dāng)?shù)氐乃牡刭|(zhì)條件孔隙度及當(dāng)?shù)氐乃牡刭|(zhì)條件。在潛水面以下，。在潛水面以下，巖石孔隙通常被地下水所充滿，此時(shí)，

6、巖石的濕度便等巖石孔隙通常被地下水所充滿，此時(shí)，巖石的濕度便等于其孔隙度。于其孔隙度。 第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法巖（礦）石的電阻率與所含水分的關(guān)系巖（礦）石的電阻率與所含水分的關(guān)系 （二）、均勻各向同性半空間點(diǎn)電源的電場（二）、均勻各向同性半空間點(diǎn)電源的電場 為了研究地下電流場地分布規(guī)律，設(shè)大地是水平的，與不導(dǎo)電的空氣接觸，介質(zhì)充滿整個(gè)地下半空間，且電阻率在介質(zhì)中處處相等，稱這樣的介質(zhì)模型為均勻各向同性半空間均勻各向同性半空間。即第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法空氣地面0 為了建立地下電場，總是用兩個(gè)電極（例如A、B）向地下供電。這兩個(gè)接地的電極（A、B）稱為“供電供電電極電極”。 第一節(jié)

7、第一節(jié) 電阻率法電阻率法任意四裝極置示意圖 兩個(gè)異性點(diǎn)電源的電場兩個(gè)異性點(diǎn)電源的電場第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法)11(2BMAMIVVVBMAMABM在任意的M處的，可按場的疊加原理知：2IVrAMJAB地面空氣AMBMMBMJMJ（三）、電阻率公式及視電阻率（三）、電阻率公式及視電阻率 1.（均勻大地）電阻率公式第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法MNAB地面空氣IUBNBMANAMMN11112第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法BNBMANAMk11112令I(lǐng)UkMN則則均勻大地電阻率公式均勻大地電阻率公式裝置系數(shù)第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法l 上面所討論的情況是在地形水平、地下僅有單一的均勻

8、各向同性介質(zhì)。l 然而實(shí)際中，地下巖石的導(dǎo)電性往往是不均勻的、且地形亦不是水平的，因此有必要進(jìn)一步討論非均勻條件下地中電流場分布的情況。2.非均勻介質(zhì)中的地下電流場及視電阻率（1）非均勻介質(zhì)中的地下電流場（a）均勻巖石；（b）圍巖中賦存良導(dǎo)礦體；（c）圍巖中賦存高阻巖體 （2）視電阻率 當(dāng)?shù)乇聿凰交蛘叩叵码娮杪史植疾痪鶆驎r(shí)（存在兩種或者兩種以上介質(zhì)），仍然采用前述均勻介質(zhì)中的供電方式及測量方式，仍由前述的公式計(jì)算“電阻率值”，不過這時(shí)計(jì)算出的“電阻率值”，既不是1，也不是2和3，而是三者都有關(guān)的一個(gè)量，稱為“視電阻率”，用符號(hào)s表示，即IUkMNs1視電阻率在電場有效作用范圍內(nèi)各種地質(zhì)體電阻

9、率的綜合影響值。23第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法A(+I)B(-I)XS1123(a)(b)地電斷面地電斷面 ？電阻率不均勻時(shí)地下電流分布示意圖 地電斷面的概念地電斷面的概念M NVMNUKIMNU在自然界中，地下地質(zhì)情況是復(fù)雜的，各種不同巖(礦)石分布是不均勻的。在電法勘探中，常把按電阻率劃分的地質(zhì)斷面稱為地電斷面。由視電阻率的計(jì)算公式 可知，其儀器功能就是測量出供電電流I及測量電極M、N間的電位差UMN即可。 除儀器外，其它裝備還有： 供電電極鐵棒或銅棒 測量電極銅棒、導(dǎo)線及供電電源。IUkMNs第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法（四）、電阻率法的儀器和裝備重慶

10、地質(zhì)儀器廠重慶地質(zhì)儀器廠 在電法勘查中，為了解決不同的地質(zhì)問題，常采用不同的裝置。 目前，我國采用的電阻率裝置類型有電剖面法電剖面法、中間梯度法中間梯度法和和電測深法電測深法。 電阻率剖面法簡稱電剖面法。它包括許多分支裝置：二級(jí)裝置、三級(jí)裝置、聯(lián)合剖面裝置、對稱二級(jí)裝置、三級(jí)裝置、聯(lián)合剖面裝置、對稱四級(jí)裝置和偶極裝置四級(jí)裝置和偶極裝置等。第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法（五）、電阻率法的常用電極裝置類型（五）、電阻率法的常用電極裝置類型第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法二級(jí)裝置（二級(jí)裝置（AM）三級(jí)裝置（三級(jí)裝置（AMN）聯(lián)合三級(jí)裝置（聯(lián)合三級(jí)裝置（AMNMNB）對稱四級(jí)裝置（對稱四級(jí)裝置（AMNB

11、）偶極裝置（偶極裝置（ABMN）中間梯度裝置（中間梯度裝置（AMNB）思考題思考題 什么是電法勘探？ 電法勘探的類型？ 影響巖石電阻率的因素有哪些？ 解釋下列名詞：均勻各向同性半空間；裝置系數(shù)；地電斷面；視電阻率； 掌握均勻大地電阻率公式。第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法二、電剖面法研究地電斷面橫向變化的一類方法采用固定的電極距，沿剖面移動(dòng)電極裝置，觀測一定深度范圍內(nèi)視電阻率沿剖面的變化。探測產(chǎn)狀陡立的高、低阻體，如劃分不同巖性接觸帶、追索斷層及構(gòu)造破碎帶。第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法l 裝置特點(diǎn)：裝置特點(diǎn)：各電極間距離保持不變，使整個(gè)或部分裝置沿著測線移動(dòng)，逐個(gè)測量視電阻率的值，探測深度保持

12、在同一范圍內(nèi)。所得到的s曲線是反映測線下某一深度范圍內(nèi)不同電性物質(zhì)沿水平方向的分布情況。l 分類：分類：電阻率法1.1.裝置特點(diǎn)及裝置特點(diǎn)及s s公式公式AO=BO MO=NOOC5AOAAMNAASIUkBBMNBBSIUk（AMN）（ MNB ）MNANAMkkBA2（一）聯(lián)合剖面法（一）聯(lián)合剖面法在測量時(shí)，C極固定不動(dòng)，AMNB間保持距離不變，四個(gè)極沿測線同時(shí)移動(dòng)，逐點(diǎn)進(jìn)行測量，測點(diǎn)為M、N的中點(diǎn)O。每個(gè)點(diǎn)測量兩次，得到兩個(gè)s值由于C極為無窮遠(yuǎn)極，它在M、N處產(chǎn)生的電位很小，故可忽略不計(jì)，因此，聯(lián)合剖面法的電場可視為一個(gè)“點(diǎn)電源”的電場。第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法C2.2.聯(lián)合剖面法

13、聯(lián)合剖面法s s曲線特征分析曲線特征分析直立良導(dǎo)薄脈上的聯(lián)合剖面曲線的分析1正交點(diǎn)；2良導(dǎo)薄脈；3A電極的電流線(示意圖) 0MNjsMNj直立低阻薄脈上聯(lián)合剖面直立低阻薄脈上聯(lián)合剖面法法s曲線特征曲線特征由圖可見：在直立良導(dǎo)薄脈頂部上方， 與 相交， 且 （圍巖）交點(diǎn)左側(cè) 交點(diǎn)右側(cè) ，此交點(diǎn)稱為聯(lián)合剖面法的“正交點(diǎn)”（或低阻交點(diǎn)）； 與 曲線對稱，交點(diǎn)兩側(cè)，兩條曲線明顯張開。ASBSASAS1S交點(diǎn)BSASBSBS第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法BSASBSAS當(dāng)薄脈為直立高阻脈時(shí)：聯(lián)合剖面法曲線s曲線右圖。兩條曲線也有一交點(diǎn)，但交點(diǎn)左側(cè) ，交點(diǎn)右側(cè) ，此交點(diǎn)稱為聯(lián)合剖面法的“反交點(diǎn)”；且反交

14、點(diǎn)不明顯，而且兩條曲線近于重合。第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法S當(dāng)薄脈傾斜時(shí)： 曲線不對稱，交點(diǎn)兩側(cè)兩條曲線所圍的面積不相等。薄脈向兩條曲線所圍面積較大的一側(cè)傾斜。第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法 在實(shí)際工作中，常采用不同極距的聯(lián)合剖面曲線在實(shí)際工作中，常采用不同極距的聯(lián)合剖面曲線交點(diǎn)的位交點(diǎn)的位移移來判斷脈狀體的傾向。來判斷脈狀體的傾向。第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法(二二)中間梯度法中間梯度法采用四極AMNB裝置，A、B供電，M、N兩電極測量，供電電極距AB很大，工作時(shí)，A、B固定不動(dòng)，M、N在AB中部（1/21/3）AB范圍內(nèi)同時(shí)移動(dòng)，逐點(diǎn)進(jìn)行測量，測點(diǎn)為 MN的中點(diǎn)。也可以在AB連線兩側(cè)

15、1/6AB范圍內(nèi)的測線上布置MN進(jìn)行測量?！耙痪€布極，多線測量”AB=(7080)H H 浮土厚MN=(1/301/50)AB1.裝置特點(diǎn)及裝置特點(diǎn)及s公式：公式：IUkMNsBNBMANAMk11112第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法s第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法由圖可見：由圖可見：中間梯度法中間梯度法主要用來尋找陡傾的高阻薄脈陡傾的高阻薄脈（如石英脈、偉晶巖脈等）；原因：原因：在均勻場中，高阻體的屏蔽作用比較明顯，排斥電流使其匯聚于地表附近，使jMN急劇增加，致使s曲線上升，形成突出的高峰。而低阻薄脈易于讓電流垂直通過，只使jMN發(fā)生很小的變化，故s異常不明顯 。A、B、M、N四個(gè)電極排列

16、在一條直線上，并且相對于MN的中點(diǎn)O對稱分布，AO=BO,NO=MO,AMNB又稱為“對稱四極剖面法對稱四極剖面法”（三）對稱剖面法（三）對稱剖面法IUkMNsMNANAMk第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法1.1.裝置形式及裝置形式及s s公式公式BNBMANAMk11112對稱剖面法對稱剖面法與中間梯度法都屬于兩個(gè)異性點(diǎn)電源的場，測量電極都位于剖面的中部，屬均勻場，s異常曲線的特點(diǎn)與中間梯度法類似，但s曲線比中間梯度的s曲線復(fù)雜、生產(chǎn)效率低些。)(21BsAsABs因此，一般能用中間梯度法解決的問題，就不因此，一般能用中間梯度法解決的問題，就不用對稱四級(jí)剖面法。用對稱四級(jí)剖面法。根據(jù)場的疊加原

17、理，易證明對稱剖面法的根據(jù)場的疊加原理，易證明對稱剖面法的S SABAB 為聯(lián)合剖為聯(lián)合剖面法兩個(gè)視電阻率（面法兩個(gè)視電阻率（S SA A 和和S SB B ）值的平均值，即：）值的平均值，即：第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法由圖可見：顯然低阻薄脈上的對稱剖面法由圖可見：顯然低阻薄脈上的對稱剖面法異常不如聯(lián)合異常不如聯(lián)合剖面法的異常反應(yīng)明顯。剖面法的異常反應(yīng)明顯。因此，一般不用對稱四極剖面法因此，一般不用對稱四極剖面法尋找低阻的薄脈狀地質(zhì)體。尋找低阻的薄脈狀地質(zhì)體。第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法AB過大過大AB過小過小012第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法例例1:用對稱四極剖面法尋找地下古河道。某

18、古河道兩側(cè)以及下部巖石由砂粘土組成，電阻率較低。而古河床中充填的沙卵石則為高阻。應(yīng)用實(shí)例應(yīng)用實(shí)例11.電測深法概念 電測深法電測深法是在同一點(diǎn)上逐次擴(kuò)大供電電極距，使探測深度逐漸增大，以此來得到觀測點(diǎn)處沿垂直方向上由淺到深的s變化情況。第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法三、電測深法三、電測深法電測深法主要用于探測水平產(chǎn)狀（或傾角不超過電測深法主要用于探測水平產(chǎn)狀（或傾角不超過20）的不同電性層的分布（如斷裂帶，含水破碎）的不同電性層的分布（如斷裂帶，含水破碎帶等）帶等）2. 裝置形式及視電阻率公式有四極、三級(jí)、偶極四極、三級(jí)、偶極等形式，通常采用對稱四級(jí)裝置對稱四級(jí)裝置 AO=BO;MO=NO k

19、隨電極距地逐次擴(kuò)大而改變。IUkMNsMNANAMk第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法3.電測深曲線 視電阻率s隨著供電極距（AB/2）變化的曲線，稱之為電測深曲線電測深曲線。 電測深曲線的特點(diǎn)：（1）每個(gè)電測深點(diǎn)均可以得到一條電測深曲線（2）該曲線通常以AB/2為橫坐標(biāo)，以s為縱坐標(biāo)，繪制在模數(shù)為6.25cm的雙對數(shù)坐標(biāo)紙上。第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法( )2ABm()sm電測深曲線電測深曲線電測深曲線類型電測深曲線類型aaaaaaaaaaAB/2AB/2AB/2AB/2AB/2AB/2AB/23212132132132121G型D型H型K型A型Q型HA型KH型

20、AA型QQ型HK型KQ型AK型QH型二層曲線二層曲線三層曲線三層曲線四層曲線四層曲線第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法電測深法主要圖件：視電阻率斷面圖視電阻率斷面圖（剖面和平面等值線圖）電測深曲線類型圖電測深曲線類型圖（分為剖面上和平面上）注意曲線類型的變化，一般反應(yīng)了電性層的變化，如構(gòu)造接觸帶、地層尖滅、基底起伏等。第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法（一）高密度電法概述（一）高密度電法概述 (二二) 高密度電阻率法常用裝置高密度電阻率法常用裝置（三）三電位電極系視參數(shù)及特點(diǎn)（三）三電位電極系視參數(shù)及特點(diǎn)四、高密度電阻率法四、高密度電阻率法第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法（四）高密度電阻率法的實(shí)際應(yīng)用（

21、四）高密度電阻率法的實(shí)際應(yīng)用電剖面法測量示意圖電剖面法測量示意圖電測深法測量示意圖電測深法測量示意圖A M N BA M N B(一一) 高密度電阻率法概況高密度電阻率法概況高密度電阻率法高密度電阻率法電測剖面法電測剖面法電測深法電測深法第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法高密度電阻率法高密度電阻率法高密度電阻率法測量儀器1.主機(jī)2.轉(zhuǎn)換開關(guān)3.電池4.電極5.電纜線第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法高密度電阻率法高密度電阻率法第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法高密度電阻率法高密度電阻率法 實(shí)踐證明，高密度電阻率法是一種多快好省實(shí)踐證明，高密度電阻率法是一種多快好省的勘探方法，目前在的勘探方法，目前在地基勘

22、查地基勘查、壩基選址壩基選址、水庫水庫或堤壩查漏或堤壩查漏、地裂縫探測地裂縫探測、巖溶塌陷及煤礦采空巖溶塌陷及煤礦采空區(qū)調(diào)查等方面區(qū)調(diào)查等方面得到了廣泛的應(yīng)用，解決了諸多實(shí)得到了廣泛的應(yīng)用，解決了諸多實(shí)際問題。際問題。第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法高密度電阻率法高密度電阻率法1)1)高密度電阻率法的裝置形式高密度電阻率法的裝置形式 n 采用。第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法高密度電阻率法高密度電阻率法是將溫納四極、偶極及微分裝置按一定方式組合后所構(gòu)成的一種統(tǒng)一測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)在實(shí)際測量時(shí)，只須利用電電極轉(zhuǎn)換開關(guān)，極轉(zhuǎn)換開關(guān)，便可將每四個(gè)相鄰電極進(jìn)行一次組合。從而在一個(gè)測點(diǎn)便可獲得多種電極排列的測

23、量參數(shù)。u施工過程為施工過程為：先以固定間距先以固定間距x x沿測線布置若干根電極，這些電沿測線布置若干根電極，這些電極在整個(gè)測量過程中固定在原處不動(dòng)；取極在整個(gè)測量過程中固定在原處不動(dòng)；取a=na=nx x (n=1 (n=1，2 2，3 3，.).)，對每一個(gè)取定的活動(dòng)電極間距，對每一個(gè)取定的活動(dòng)電極間距a a，將兩兩相距為，將兩兩相距為a a的四的四根電極經(jīng)電極轉(zhuǎn)換開關(guān)連接到儀器上，一次完成各種裝置形式根電極經(jīng)電極轉(zhuǎn)換開關(guān)連接到儀器上，一次完成各種裝置形式的電阻率測量的電阻率測量( (各裝置形式的記錄點(diǎn)均選在電極排列的中點(diǎn)各裝置形式的記錄點(diǎn)均選在電極排列的中點(diǎn)) )；一個(gè)測點(diǎn)的全部測量完

24、成后，將整個(gè)電極排列向前移動(dòng)一個(gè)一個(gè)測點(diǎn)的全部測量完成后，將整個(gè)電極排列向前移動(dòng)一個(gè)x x距距離，然后進(jìn)行下一測點(diǎn)的觀測，這種過程重復(fù)進(jìn)行，直到活動(dòng)離，然后進(jìn)行下一測點(diǎn)的觀測，這種過程重復(fù)進(jìn)行，直到活動(dòng)電極間距為電極間距為a a的整條剖面全部測完為止。的整條剖面全部測完為止。2)2)高密度電阻率法的測量過程高密度電阻率法的測量過程第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法高密度電阻率法高密度電阻率法 由于一條剖面地表測點(diǎn)總數(shù)是固定的，因此，當(dāng)極距擴(kuò)大時(shí)，反映不同勘探深度的測點(diǎn)數(shù)將依次減少。把三電位電極系的測量結(jié)果置于測點(diǎn)下方深度為a的點(diǎn)位上。于是，整條剖面的測量結(jié)果便可以表示成一種倒三角形的二維斷面倒三角

25、形的二維斷面的電性分布。第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法高密度電阻率法高密度電阻率法高密度電阻率法測點(diǎn)分布示意圖高密度電阻率法測點(diǎn)分布示意圖第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法高密度電阻率法高密度電阻率法 點(diǎn)距點(diǎn)距x的選擇主要依據(jù)勘探的詳細(xì)程度（的選擇主要依據(jù)勘探的詳細(xì)程度（110米）。米）。 最大電極距最大電極距 的大小，取決于預(yù)期勘探深度；隔的大小，取決于預(yù)期勘探深度；隔離系數(shù)離系數(shù)n n一般一般1 11515或更大或更大；nxa 無窮遠(yuǎn)極無窮遠(yuǎn)極C要求要求CO （35）AO。說明：說明：第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法高密度電阻率法高密度電阻率法(二二) 高密度電阻率法常用裝置高密度電阻率法常用裝

26、置第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法高密度電阻率法高密度電阻率法第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法高密度電阻率法高密度電阻率法 【特點(diǎn)特點(diǎn)】測量斷面為倒梯形。測量斷面為倒梯形。 【描述描述】測量時(shí)，測量時(shí)，AB=BM=MN=a為一個(gè)電極間距，為一個(gè)電極間距，A、B、M、N逐點(diǎn)同時(shí)向右移動(dòng)，得到第一條剖面線；接著逐點(diǎn)同時(shí)向右移動(dòng)，得到第一條剖面線；接著AB、BM、MN增大一個(gè)電極間距，增大一個(gè)電極間距，A、B、M、N 逐點(diǎn)同時(shí)向右逐點(diǎn)同時(shí)向右移動(dòng)，得到另一條剖面線；這樣不斷掃描測量下去，得到移動(dòng)，得到另一條剖面線；這樣不斷掃描測量下去，得到倒梯形斷面。倒梯形斷面。 偶極裝置排列示意圖偶極裝置排列示意圖 第一節(jié)第一節(jié) 電阻率法電阻率法高密度電阻率法高密度電阻率法（微分）裝置排列示意圖（微分）裝置排列示意圖【特點(diǎn)特點(diǎn)】測量斷面為倒梯形。測量斷面為倒梯形?！久枋雒枋觥繙y量時(shí)，測量時(shí)，AM=MB=BN=a為一個(gè)電極間距，為一個(gè)電極間距，A、M、B、N逐點(diǎn)同