電源測試大全

1、電源測試大全（一）：極限測試導讀本文將詳細介紹電源測試中的極限測試，包括模塊輸出電流極限測試、靜態(tài)高壓輸 入、溫升極限測試、 EFT抗擾性測試、溫度沖擊強化試驗、低溫步進試驗、高溫步進試驗、 絕緣強度極限試驗等。1 .模塊輸出電流極限測試模塊輸出電流極限測試是測試模塊在輸出限流點放開（PFC的過流保護也要放開）之后所能輸出的最大電流， 測試的目的是為了驗證模塊的限流點設(shè)計是否適當，模塊的器件選擇是否合適。如果模塊的輸入電流極限值偏小，表明模塊的輸出電流量不夠；如果模塊的輸出電流極限值設(shè)計過大，表明模塊的輸出電流裕量過高，模塊的成本還可以降低。測試方法：將模塊的輸出限流點放開，按額定輸出電流的5

2、%逐步增加模塊的輸出電流，每個電流值保持10分鐘，直至模塊損壞（或輸出熔斷絲斷），記錄模塊損壞時的輸出電流值即為模 塊的輸出電流極限值。為了防止在測試過程中模塊出現(xiàn)積熱損壞，每一個測試點測試完成之后，須將模塊冷卻到測試前的冷機狀態(tài)。測試的電流極限值為模塊額定電流的120% （也就是說，超過120%以后，無需進行測試）。判定標準：模塊的電流極限必須滿足 110%,合格，同時測試結(jié)果作為模塊設(shè)計的依據(jù)（參考數(shù)據(jù)）c否則不合格。2,靜態(tài)高壓輸入測試說明：在靜態(tài)高壓時，PFC電路實現(xiàn)了過壓保護，此測試主要是評估一次電源模塊在靜態(tài)高壓 情況下的可靠性。測試方法：A、按規(guī)格書要求將模塊輸入電壓調(diào)整為最大靜

3、態(tài)耐壓點，運行 1小時。8從最大靜態(tài)耐壓點開始，以 10V/10min的速率向上調(diào)高輸入電壓，直至模塊損壞， 記錄模塊損壞時的輸入電壓值即為模塊的最高靜態(tài)極限輸入電壓。記錄器件損壞情況，分析原因。判定標準:在上述A情況下，一次電源模塊不出現(xiàn)損壞或其他不正?，F(xiàn)象，合格；否則不合格。在B類條件下，記錄模塊的最高靜態(tài)輸入電壓，作為模塊的資料參考，在B類條件下測試的結(jié)果只作為參考，不作為判斷是否合格的標準。3溫升極限測試測試說明：溫升極限測試是指在于模塊過溫保護失效的情況下，使模塊損壞的最高環(huán)境溫度， 測試的目的在于考察模塊所能承受的最高環(huán)境溫度，從而為模塊的設(shè)計提供參考。測試方法：將模塊的溫度保護裝

4、置去掉，然后將模塊置于溫箱中， 模塊的輸入電壓為最低電壓，輸出為最大功率點，監(jiān)測模塊的溫度保護繼電器處的溫度，從模塊的最高環(huán)境溫度開始，以 5oC/30min的速度逐漸升高環(huán)境溫度，直到模塊損壞為止。記錄內(nèi)容：記錄模塊損壞時，內(nèi)部各個關(guān)鍵器件的溫升，分析故障點；記錄溫度極限時的損壞情況 （運行時間、溫度、損壞器件等詳細情況），作為資料參考。判定標準：規(guī)格書定義的工作溫度上限，電源模塊屏蔽過溫保護，長時間滿載工作模塊不損壞，合格；否則不合格。此項測試結(jié)果可以作為模設(shè)計的參考，判定的標準是看模塊損壞時的最高溫度與模塊繼電器把保護處的溫度 （或軟件保護點）的距離，如果兩者相差為負，則表示溫度繼電器保

5、護 功能（或軟件保護功能）沒有作用，如果兩者相差在610oC,則表示模塊的熱裕量太小，如果兩者相差大于 40度，則表示裕量太大。4 EFT抗擾性測試測試說明：測試電源所能承受的最高 EFT抗擾性指標，以確認其裕量。測試產(chǎn)品在抵抗由于如高頻 爐等設(shè)備產(chǎn)生的電網(wǎng) EFT發(fā)生的累積失效的能力。測試方法：A、將EFT可抗擾性開路電壓設(shè)為規(guī)定等級電壓+500V,進行沖擊抗擾性測試。8以500V為一步進電壓等級， 重復A步驟，每一電壓等級試驗按照標準的 EFT測試方 法進行測試，記錄電源性能劣化及損壞的試驗等級電壓值 （試驗最高電壓為 EFT抗擾性設(shè)備 最高電壓）。G確認電源損壞部位，分析原因。判定標準：

6、EFT極限值大于規(guī)格書要求的5%,合格；否則不合格。5溫度沖擊強化試驗測試說明：驗證產(chǎn)品在存儲和運輸過程中所能承受的高低溫沖擊極限。(1) 試驗前按照有關(guān)規(guī)范進行電氣性能和機械性能(外觀和內(nèi)部結(jié)構(gòu))檢查，確保受 試驗樣品在進行溫度沖擊試驗前的電氣性能和機械性能正常。(2) 試驗過程中樣品不通電，不進行功能監(jiān)測。(3) 試驗結(jié)束后通過目測等手段檢查機械性能(外觀和內(nèi)部結(jié)構(gòu))是否正常，同時按通信電源模塊基本性能測試規(guī)范對電氣性能進行測試應(yīng)滿足要求。測試方法：溫度強化沖擊試驗的方法見下圖：HT:高溫箱溫度，取 80度LT低溫箱溫度，取-45度Ncyc：循環(huán)次數(shù)，取 20TDt:樣品在保溫段的停留時間

7、，取4560minCt:高低溫之間的切換時間(由沖擊箱決定，不用選擇)附表一一溫度沖擊強化試驗條件：樣品種類高溫箱溫度HT低溫箱溫度LT保溫時間Dt轉(zhuǎn)換時間Ct循環(huán)次數(shù)Ncyc表貼元件制成板 130 - 70 30min < 5min 50T普通元件制成板 100 - 55 30min < 5min 50T整機 80 -45 45 65min < 5min 20T說明：如果制成板上既有表貼元件，又有普通元件，按普通元件的要求執(zhí)行。22整機保溫時間根據(jù)樣品體積的大小在4565min之間選擇，體積小的短，體積大的長。溫度沖擊測試步驟：(1) 試驗前對受試樣品進行機械性能(外觀和內(nèi)

8、部結(jié)構(gòu))和電氣性能檢查，保證樣品 機械性能和電氣性能正常。(2) 將樣品合理的布置于溫度沖擊箱中，樣品和溫度箱四壁間應(yīng)留有足夠大的空間， 以便于空氣流通。(3) 按上表選擇溫度沖擊試驗條件。(4) 選定溫度沖擊試驗從高溫開始，按起動鍵起動溫度沖擊試驗。(5) 試驗進行設(shè)定的循環(huán)次數(shù)后自動停止。(6) 試驗結(jié)束后將樣品從溫度沖擊箱中取出，在常溫小恢復直至樣品溫度達到穩(wěn)定。(7) 觀察試驗后的樣品有無機械損傷(如表面翹曲、破裂、元器件松動、脫落等)并 檢查電氣性能有無異常。(8) 如果樣品發(fā)生上述的機械損傷或電氣性能指標不符合相關(guān)規(guī)范，即認為樣品也損 壞，詳細填寫試驗記錄表。(9) 對試驗暴露的薄

9、弱環(huán)節(jié)進行分析，提出改進措施。(10) 對樣品進行修復或改進，如沒有出現(xiàn)損傷，應(yīng)增加溫度沖擊量等級，取上表溫度 沖擊試驗條件中普通元件制成板等級或表貼元件制成板等級繼續(xù)試驗，直至樣品損壞。判定標準：樣機外觀，機械性能和電氣性能都正常，合格；否則不合格。導讀驗證樣品正常工作溫度下限和產(chǎn)品損壞溫度下限。6低溫步進試驗測試說明：驗證樣品正常工作溫度下限和產(chǎn)品損壞溫度下限。(1) 試驗前對受試樣品進行機械性能(外觀和內(nèi)部結(jié)構(gòu))和電氣性能檢查，確保樣品 在進行試驗前的機械性能和電氣性能正常。(2) 試驗過程中在保溫一段時間(約 15min)后通電進行功能監(jiān)測。(3) 試驗結(jié)束后進行通過目測等手段檢查機械

10、性能(外觀和內(nèi)部結(jié)構(gòu))是否正常，同時按通信電源模塊基本性能測試規(guī)范對電氣性能進行測試應(yīng)滿足要求。測試方法：低溫步進試驗方法見下圖：試驗條件：根據(jù)規(guī)格書，選擇最低工作溫度，以 -10度作為第一次步進的起點溫度，然后每次降低10度，找到低溫工作極限后改為 5度。低溫試驗步驟：(1) 試驗前對受試樣品進行機械性能(外觀和內(nèi)部結(jié)構(gòu))和電氣性能檢查，確保樣品 在進行試驗前的機械性能和電氣性能正常。(2) 將樣品在無包裝，不通電的狀態(tài)下放置于溫箱內(nèi)，接好輸入輸出及測量引線，試 驗樣品和溫箱四壁之間應(yīng)有適當?shù)木嚯x，試驗樣品不得對箱內(nèi)產(chǎn)生明顯的影響。(3) 將溫箱以最大變化速度降到溫度設(shè)定值，降溫過程中加風扇

11、使溫度達到均衡。(4) 將溫箱溫度達到設(shè)定溫度情況后，樣品在設(shè)定點保溫至少15min,模塊內(nèi)部溫度 和環(huán)境溫度接近一致，本階段溫箱設(shè)定為等待模式。(5) 上電，開機，按照規(guī)范進行基本性能測試，并監(jiān)測輸出電壓波形，并將觀察到的 現(xiàn)象詳細填入記錄表。(6) 如果功能正常，進行(7)步。如果任何一個監(jiān)測項目超標或由異常，即認為發(fā)生失效，記錄失效溫度T和失效現(xiàn)象。將溫度恢復到常溫足夠長的時間進行功能監(jiān)測，如發(fā)現(xiàn)功能恢復正常，說明樣品沒有損壞，T+ 10度即為低溫工作極限，填寫試驗報告中極限溫度， 進行(7)步；如果將溫度恢復到常溫足夠長的時間，如發(fā)現(xiàn)功能不能恢復正常，認為試驗的樣品已發(fā)生損壞，找到樣品

12、損壞極限，填寫試驗報告中極限溫度， 即可停止試驗，進行(8) 步。(7) 繼續(xù)降溫，重復(3)(7)步直到找到樣品的損壞極限或達到溫箱的低溫極限。(8) 對樣品進行失效模式分析，找到薄弱環(huán)節(jié)，并提出改進措施。(9) 改進后的樣品進行驗證試驗，保證改進的有效性。(10) 用改進后的樣品繼續(xù)進行試驗，直到：A、達到溫箱的低溫極限8出現(xiàn)非正常失效G與同類產(chǎn)品比較認為可以終止試驗以繼續(xù)改進需花費較大的成本，得不償失注：（9）（10）可根據(jù)實際情況確定是否進行。判定標準：樣機外觀，機械性能和電氣性能都正常，合格；否則不合格。7 Wj溫步進試驗測試說明：驗證樣品正常工作溫度上限和產(chǎn)品損壞溫度上限。1）試驗

13、前對受試樣品進行機械性能（外觀和內(nèi)部結(jié)構(gòu)）和電氣性能檢查，確保樣品在 進行試驗前的機械性能和電氣性能正常。（2）試驗過程中在保溫一段時間（約 15min）后通電進行功能監(jiān)測。（3）試驗結(jié)束后進行通過目測等手段檢查機械性能（外觀和內(nèi)部結(jié)構(gòu)）是否正常，同 時按通信電源模塊基本性能測試規(guī)范對電氣性能進行測試應(yīng)滿足要求。測試方法：低溫步進試驗方法見下圖：試驗條件：根據(jù)規(guī)格書，選擇最高工作溫度，以+10度作為第一次步進的起點溫度，然后每次增加10度，找到高溫工作極限后改為 5度。低溫試驗步驟：（1）試驗前對受試樣品進行機械性能（外觀和內(nèi)部結(jié)構(gòu)）和電氣性能檢查，確保樣品 在進行試驗前的機械性能和電氣性能正

14、常。（2）將樣品在無包裝，不通電的狀態(tài)下放置于溫箱內(nèi)，接好輸入輸出及測量引線，試 驗樣品和溫箱四壁之間應(yīng)有適當?shù)木嚯x，試驗樣品不得對箱內(nèi)產(chǎn)生明顯的影響。（3）將溫箱以最大變化速度升到溫度設(shè)定值，升溫過程中加風扇使溫度達到均衡。（4） 將溫箱溫度達到設(shè)定溫度情況后，樣品在設(shè)定點保溫至少15min,模塊內(nèi)部溫度 和環(huán)境溫度接近一致，本階段溫箱設(shè)定為等待模式。（5）上電，開機，按照規(guī)范進行基本性能測試，并監(jiān)測輸出電壓波形，并將觀察到的現(xiàn)象詳細填入記錄表。（6） 如果功能正常，進行（7）步。如果任何一個監(jiān)測項目超標或由異常，即認為發(fā)生 失效，記錄失效溫度T和失效現(xiàn)象。將溫度恢復到常溫足夠長的時間進行功

15、能監(jiān)測，如發(fā)現(xiàn) 功能恢復正常，說明樣品沒有損壞，T-10度即為高溫工作極限， 填寫試驗報告中極限溫度， 進行（7）步；如果將溫度恢復到常溫足夠長的時間，如發(fā)現(xiàn)功能不能恢復正常，認為試驗的樣品已發(fā)生損壞，找到樣品損壞極限，填寫試驗報告中極限溫度， 即可停止試驗，進行（8） 步。（7） 繼續(xù)升溫，重復（3）（7）步直到找到樣品的損壞極限或達到溫箱的高溫極限。（8）對樣品進行失效模式分析，找到薄弱環(huán)節(jié)，并提出改進措施。（9）改進后的樣品進行驗證試驗，保證改進的有效性。（10）用改進后的樣品繼續(xù)進行試驗，直到：A、達到溫箱的高溫極限8出現(xiàn)非正常失效G與同類產(chǎn)品比較認為可以終止試驗以繼續(xù)改進需花費較大的

16、成本，得不償失注：（9）（10）可根據(jù)實際情況確定是否進行。判定標準：樣機外觀，機械性能和電氣性能都正常，合格；否則不合格。8絕緣強度極限試驗測試說明：測試樣品所能承受的絕緣強度極限，得出極限數(shù)據(jù)。測試方法：在規(guī)格書規(guī)定的絕緣強度的基礎(chǔ)上逐步增加10% （漏電流的要求與規(guī)格書一致），得出樣品內(nèi)部絕緣擊穿或測試儀無法繼續(xù)輸出高壓。每個電壓等級需持續(xù)測試60s。記錄內(nèi)容：絕緣強度的極限值。如由異常，記錄一切異常現(xiàn)象。判定標準：樣品所能承受的極限值大于規(guī)格書的10%,合格；否則不合格。電源測試大全（二）：可靠性測試導讀以下將詳解電源測試中的可靠性測試。1反復短路測試測試說明在各種輸入和輸出狀態(tài)下將模

17、塊輸出短路，模塊應(yīng)能實現(xiàn)保護或回縮，反復多次短路， 故障排除后，模塊應(yīng)該能自動恢復正常運行。測試方法：A、空載到短路：在輸入電壓全范圍內(nèi)，將模塊從空載到短路，模塊應(yīng)能正常實現(xiàn)輸出 限流或回縮，短路排除后，模塊應(yīng)能恢復正常工作。讓模塊反復從空載到短路不斷的工作， 短路時間為1s,放開時間為1s,持續(xù)時間為2小時。這以后，短路放開，判斷模塊是否能 夠正常工作。8滿載到短路：在輸入電壓全范圍內(nèi)，將模塊從滿載到短路，模塊應(yīng)能正常實現(xiàn)輸出 限流或回縮，短路排除后，模塊應(yīng)能恢復正常工作。 讓模塊從滿載到短路然后保持短路狀態(tài) 2小時。然后短路放開，判斷模塊是否能夠正常工作。G短路開機：將模塊的輸出先短路，再

18、上市電，再模塊的輸入電壓范圍內(nèi)上電，模塊 應(yīng)能實現(xiàn)正常的限流或回縮，短路故障排除后，模塊應(yīng)能恢復正常工作，重復上述試驗10次后，讓短路放開，判斷模塊是否能夠正常工作。判定標準：上述試驗后，電源模塊開機能正常工作； 開機殼檢查，電路板及其他部分無異?，F(xiàn)象 （如 輸入繼電器在短路的過程中觸電是否粘住了等），合格；否則不合格。2反復開關(guān)機測試測試說明：電源模塊輸出帶最大負載情況下，輸入電壓分別為220V,（輸入過壓點-5V）和（輸入欠壓點+5V）條件下，輸入反復開關(guān)，測試電源模塊反復開關(guān)機的性能。測試方法:A、輸入電壓為220V,電源模塊快帶最大負載，用接觸器控制電壓輸入，合 15s,斷開5s （或

19、者可以用 AC SOURCE行模擬），連續(xù)運行 2小時，電源模塊應(yīng)能正常工作；8輸入電壓為過壓點-5V，電源模塊帶最大負載，用接觸器控制電壓輸入，合 15s,斷 開5s （或者可以用 AC SOURC進行模擬），連續(xù)運行 2小時，電源模塊應(yīng)能正常工作；G輸入電壓為欠壓點-5V，電源模塊帶最大負載，用接觸器控制電壓輸入，合 15s,斷 開5s （或者可以用 AC SOURC進行模擬），連續(xù)運行 2小時，電源模塊應(yīng)能正常工作。判斷標準：以上試驗中，電源模塊工作正常，試驗后電源模塊能正常工作， 性能無明顯變化，合格； 否則不合格。3輸入低壓點循環(huán)測試測試說明：一次電源模塊的輸入欠壓點保護的設(shè)置回差，

20、往往發(fā)生以下情況： 輸入電壓較低，接近一次電源模塊欠壓點關(guān)斷， 帶載時欠壓，斷后，由于電源內(nèi)阻原因，負載卸掉后電壓將上升， 可能造成一次電源模塊處于在低壓時反復開發(fā)的狀態(tài)。測試方法：電源模塊帶滿載運行， 輸入電壓從（輸入欠壓點3V到（輸入欠壓點+ 3V）緩慢變化， 時間設(shè)置為58分鐘，反復循環(huán)運行，電源模塊應(yīng)能正常穩(wěn)定工作，連續(xù)運行最少0.5小時，電源模塊性能無明顯變化。判定標準：一次電源模塊正常連續(xù)運行，最少0.5小時后性能無明顯變化，合格；否則不合格。4輸入瞬態(tài)高壓測試測試說明：PFC電路采用平均值電路進行過欠壓保護，因此在輸入瞬態(tài)高壓時，PFC電路可能會很快實現(xiàn)保護，從而造成損壞，測試一

21、次電源模塊在瞬態(tài)情況下的穩(wěn)定運行能力以評估可靠性。測試方法：A、額定電壓輸入，用雙蹤示波器測試輸入電壓波形合過壓保護信號，輸入電壓從限功 率點加5V跳變?yōu)?00V,從示波器上讀出過壓保護前 300V的周期數(shù)n,作為以下試驗的依據(jù)。8額定輸入電壓，電源模塊帶滿載運行，在輸入上疊加300V的電壓跳變，疊加的周期數(shù)為（n 1）,疊加頻率為1次/30s，共運行3小時。判定標準:一次電源模塊在上述條件下能夠穩(wěn)定運行，不出現(xiàn)損壞或其他不正?，F(xiàn)象，合格；否則不合格。5輸入電壓跌落及輸出動態(tài)負載測試說明：一次模塊在實際使用過程中，當輸入電壓跌落時，電源模塊突加負載的極限情況是可能 發(fā)生的，此時功率器件、磁性元

22、件工作在最大瞬態(tài)電流狀態(tài)，試驗可以檢驗控制時序、限流保護等電路及軟件設(shè)計的合理性。測試方法：A、將輸入電壓調(diào)整為在欠壓點+ 5V （持續(xù)時間為5s）、過壓點-5V （持續(xù)時間為5s） 之間跳變，輸出調(diào)整在最大負載（最大額定容量，持續(xù)時間為500ms）、空載（持續(xù)時間為500ms）之間跳變，運行 1小時；8將輸入電壓調(diào)整為欠壓點+ 5V （持續(xù)時間為5s）、過壓點-5V （持續(xù)時間為5s）之 間跳變，輸出調(diào)整在最大負載 （最大額定容量，持續(xù)時間為1s）、空載（持續(xù)時間為500ms） 之間跳變，運行1小時。判定標準：在上述條件下，應(yīng)能穩(wěn)定運行，不出現(xiàn)損壞或其他不正?，F(xiàn)象，合格；否則不合格。若 出現(xiàn)

23、損壞情況，記錄故障問題，以提供分析損壞原因的依據(jù)。導讀高壓空載運行是測試模塊的損耗情況，尤其是帶軟開關(guān)技術(shù)的模塊， 在空載情況下，軟開關(guān)變?yōu)橛查_關(guān)，模塊的損耗相應(yīng)增大。 低壓滿載運行是測試模塊在最大輸入電流時，模塊的損耗情況，通常狀態(tài)下，模塊在低壓輸入、滿載輸出時，效率最低，此時模塊的發(fā)熱最 為嚴重。6高壓空載，低壓限流態(tài)運行試驗測試說明：高壓空載運行是測試模塊的損耗情況，尤其是帶軟開關(guān)技術(shù)的模塊，在空載情況下，軟開關(guān)變?yōu)橛查_關(guān)，模塊的損耗相應(yīng)增大。低壓滿載運行是測試模塊在最大輸入電流時，模塊的損耗情況，通常狀態(tài)下，模塊在低壓輸入、滿載輸出時，效率最低，此時模塊的發(fā)熱最為 嚴重。測試方法：A將

24、模塊的輸入電壓調(diào)整為輸入過壓保護點-3V,模塊的輸出為最低輸出電壓，空載運行，此時，模塊的占空比為最小，連續(xù)運行2小時，模塊不應(yīng)損壞;8將模塊的輸入電壓調(diào)整為欠壓點+3V,模塊的輸出為最高輸出電壓的拐點狀態(tài)，此時模塊的占空比為最大，連續(xù)運行2小時，模塊不應(yīng)出現(xiàn)損壞；G將模塊的輸入電壓調(diào)整為效率最低點時的輸入電壓，模塊輸出為最高輸出電壓的拐 點狀態(tài)，連續(xù)運行 2小時，模塊不應(yīng)損壞；以將模塊的輸入電壓調(diào)整為過壓點-3V ,模塊的輸出為最高輸出電壓的拐點狀態(tài)，此時模塊的占空比為最大，連續(xù)運行2小時，模塊不應(yīng)出現(xiàn)損壞；E、將模塊的輸入電壓調(diào)整為效率最低點時的輸入電壓，模塊輸出為最高輸出電壓的拐 點狀態(tài)

25、，連續(xù)運行 2小時，模塊不應(yīng)損壞。注意：上述的測試，必須在規(guī)格書規(guī)定的最高工作溫度下進行。判定標準：在上述條件下工作，模塊沒有出現(xiàn)損壞，合格；否則不合格。7電源特殊波形試驗測試說明：檢驗電源模塊在電網(wǎng)波形畸變可能形成的尖鋒、毛刺和諧波情形下穩(wěn)定運行能力。以下幾種波形必須輸入進行試驗：(1) 毛刺輸入測試波形電網(wǎng)的毛刺是電網(wǎng)中最常見的波形，毛刺的大小和幅值并沒有限值，一般情況下，通過振蕩波輸入測試和振鈴輸入波形，基本上可以模擬電網(wǎng)中的毛刺輸入，但還需做以下毛刺輸入試驗特點：電網(wǎng)尖鋒有過沖并會跌落到 0V,過沖和跌落脈寬很窄， 一般不會大于100m§過 沖幅度一般不超過100V。跌落的相

26、位并不僅只限于峰值點，在任何相位都有可能發(fā)生。這 種波形在實際電網(wǎng)中很常見，開通任何開關(guān)都會造成該現(xiàn)象。(2) 電壓削波波形輸入這種波形也是電網(wǎng)中很常見的，特點是：電網(wǎng)從不定的相位突然跌落到0V,然后直到下個半波開始才恢復。在 IEC1004-4-11中對于波形的跌落是從大于半個周期開始的，但實 際電網(wǎng)中還是存在很多類似的跌落時間小于半個周期的波形。測試時要求，輸入電壓波形從90度開始跌落，跌落1/4個周期，長時間工作 2小時。(3) 電網(wǎng)的半個波頭陡升至倍電壓，這個波形主要是用來模擬實際電網(wǎng)中會突然出現(xiàn)的諧振過電壓，而且在這種情況下， 模塊的輸入過電壓保護線路不起作用，這種沖擊對于有PFC的

27、電路是存在危險的。測試內(nèi)容：a、在輸入電壓為180V,輸出滿載的情況下，用ACSOURCE 模擬該波形，要求180V工作3分鐘，然后電壓突然增加到380V,持續(xù)100ms,然后恢復到180V,讓模塊在這種情況下長時間工作1小時，不應(yīng)損壞；b、設(shè)置AC SOURCE!得輸入電壓為0V,持續(xù)5分鐘，然后電壓突然增加到380V,持續(xù)100ms,然后恢復到0V,讓模塊在這種情況下長時間工作 1小時，不應(yīng)損壞。具體波形（a情況下的波形）如下：測試方法：利用ACSOURCE模塊供電，模塊滿載輸出；用ACSOURC蟆擬尖鋒、毛刺和諧波電壓輸入，每種特殊的電壓輸入工作 2小時，測量輸入電流和輸出電壓。模塊應(yīng)能

28、穩(wěn)定運行，試 驗中注意X電容，輔助電源，軟啟動電阻等其他可能出現(xiàn)問題的地方。判定方法：在實際中可能出現(xiàn)尖鋒、毛刺、諧波電壓情形下能穩(wěn)定運行，不損壞，合格；否則不合 格。8有源PFG性能測試測試說明：帶有源PFC的電源模塊，對電網(wǎng)尖鋒、毛刺合和諧波比較敏感，應(yīng)進行全面仔細的測試。測試方法：利用ACSOURCE流源作為輸入電壓源，輸出分別帶半載、滿載，測試輸入電流波形和 電壓波形，同時監(jiān)測 PFC后的電壓；測試電網(wǎng)在尖鋒、毛刺、諧波情況下輸入電壓、電流的 相位及幅值關(guān)系；測量 PFC開關(guān)管的電流和電壓，驗證在全電壓范圍和毛刺、尖鋒、諧波等 情況下開關(guān)管和其他功率器件的安全性及電流跟蹤電壓變化的能力

29、。判定標準：PFC測試可以作為可靠性參考，出現(xiàn)嚴重問題時，應(yīng)及時解決。9操作電壓測試測試說明：電網(wǎng)中存在多種操作過電壓， 其中最常見的時空載線路合閘過電壓，這種過電壓對模塊的威脅也較大，本項測試在于驗證模塊抗操作過電壓的能力。測試方法：過電壓線路的模擬十分簡單，原理如下:其中電感的參數(shù)為10mH（供參考：EES的模塊測試方法中， 沒有接地電容，輸入電阻與 電感串聯(lián)，電阻值為 0歐、電感為8mHD電阻為79歐、電感為10mbR種情況的測試），電 容為16.7uF,測試波形如下（未畫出）。將被測試的設(shè)備連接在電容兩端，在K合閘瞬間，在電容兩端會產(chǎn)生過電壓，用來模擬在上電過程中，過電壓對設(shè)備的損害程

30、度。作為極限測試項目，輸入接L、N線，將被測試的設(shè)備接在電容兩端，頻繁開關(guān)機，重復頻率為1次/5分鐘，連續(xù)測試5小時。對于三相輸入設(shè)備，輸入接在 L、L線上，被測試設(shè)備接在電容兩端，重復頻率為1次/5分鐘，連續(xù)測試2小時。判定標準：在測試過程中出現(xiàn)短時功能下降或性能劣化，但能自動恢復的，合格；但出現(xiàn)性能永久性劣化或需要人工干預(yù)才能恢復的，不合格。電源測試大全（三）：白盒測試本文將詳細介紹電源測試中的白盒測試，包括輔助電源測試、 驅(qū)動電路的測試、 功率半導體器件的應(yīng)力測試、磁性器件的測試、DC/DC反饋環(huán)測試、PFC性能測試等1輔助電源測試測試說明：電源中輔助電源有重要意義， 電源模塊的正常工作

31、靠輔助電源來保障， 輔助電源工作要 比主電路要求更可靠， 因為即使在輸入電壓超限的條件下， 輔助電源還要正常工作， 以實現(xiàn) 正常的保護邏輯，而且功率器件的驅(qū)動， 控制芯片的工作都要靠輔助電源來保障， 因此，對 輔助電源的要求是： 無論在動態(tài)的情況下還是在靜態(tài)的情況下， 必須穩(wěn)定可靠，輸出電壓穩(wěn) 定，以滿足控制和通訊電路的要求。測試工作中要充分關(guān)注輔助電源。測試方法：輔助電源要關(guān)注以下幾個問題：A、啟動電阻設(shè)計是否合理， 限流電阻（輔助電源的輸入與高壓直流母線排串聯(lián)的電阻） 設(shè)計是否合理；8靜態(tài)的情況下，輔助電源的電壓是否在全電壓、負載內(nèi)；G大動態(tài)的情況下，輔助電源是否正常；以啟動過程中輸出電壓

32、是否出現(xiàn)過沖，384X Isence端及驅(qū)動波形是否異常；E、輸出電壓波形監(jiān)測;F、開關(guān)管的電應(yīng)力測試;G輔助電源的溫度應(yīng)力測試；K芯片的工作主要參數(shù)，如工作電壓、功耗等。針對這些問題，需要測試相應(yīng)項目：A、啟動電阻和限流電阻測試啟動電阻的功率降額必須滿足設(shè)計要求，計算功率的公式為：P= （BmarV1） /R,其中Vmax為輔助電源在各種情況下最大的輸入電壓，V1為輔助電源控制芯片（UC384X正常工作電壓，計算出來的功率不能超過選用的啟動電阻的功率， 同時啟動電阻的溫升必須滿足降額要求。在最高的環(huán)境溫度、輔助電源最高的輸入電壓 Vmax下，正常工作時，啟動電阻的最高溫度（溫度穩(wěn)定以后）不超

33、過 120oC （15oC的降額， 135oC-15oC= 120oC）,如果在常溫下測試，測試溫升需要轉(zhuǎn)換到最高工作環(huán)境溫度。限流電阻的功率也要滿足降額的要求， 用示波器測試正常情況下，滿載開機，滿載關(guān)機 情況下電阻兩端的電壓波形， 通過電壓波形，測試出電阻兩端的電源有效值， 根據(jù)有效值計 算電阻的功率，要求功率在開機和關(guān)機以及正常情況下要滿足降額要求。8靜態(tài)的情況下，輸出電壓范圍測試測試模塊輸入電壓分別為 Vinmin , Vinnom, Vinmax和輸出lomin , lonom、lomax,輸 出限流點，輸出深度限流狀態(tài)下的輔助電源每一路輸出電壓，要求每一路輸出電壓在每一種情況下都保

34、持穩(wěn)定，而且能夠滿足控制回路和通訊回路的可靠工作要求（注意：Vinmin為輔助電源剛剛開始工作的電壓， Vinmax為模塊輸入過壓保護后的電壓，過壓保護和欠壓保 護以后，模塊都能正常工作）。G動態(tài)的情況下，輔助電源輸出電壓范圍：用ACSOURC蠲節(jié)模塊的輸入電壓和輸出負載同時跳變（輸入電壓在最高電壓和最低輸入電壓之間跳變，跳變時間為50ms,輸出從空載到滿載跳變，跳變時間為 5ms, tr和tf設(shè)置為20us對應(yīng)1A）,在這種情況下，測試輔助電源各路輸出電壓，要求每一路輸出電壓都 能保持穩(wěn)定，而且能夠滿足控制回路和通訊回路的可靠工作要求。DX關(guān)鍵點波形測試：分別在輸入過壓點-5V、欠壓點+ 5

35、V啟動時測試輸出電壓波形， 3844 Isence端及開關(guān) 管驅(qū)動波形，監(jiān)測是否出現(xiàn)輸出電壓過沖、開關(guān)管過流及開關(guān)管驅(qū)動端波形異常等情況。同時在各種動態(tài)的情況下（包括輸入動態(tài)，輸出動態(tài)的情況下），各個關(guān)鍵點的波形測試。E、輸出電壓紋波測試：輸出額定線形負載情況下， 用測試電壓紋波的方法測試輸出電壓波形，其紋波P-P值應(yīng)小于5%輸出電壓。判斷標準：以上測試項目作為檢測輔助電源性能的測試。啟動電阻溫升正常，未出現(xiàn)開關(guān)管電流及驅(qū)動波形異常，在工作范圍內(nèi)輔助電源電壓正常，在異常電壓輸入范圍輔助電源正常（在電源能夠?qū)崿F(xiàn)保護的范圍內(nèi)正常），合格；否則不合格。2驅(qū)動電路的測試測試說明：功率器件的驅(qū)動技術(shù)是電

36、源可靠性的重要保障，好的驅(qū)動方式能夠?qū)崿F(xiàn)有效的開通和關(guān)斷，高效率，低的EMI干擾，快速實現(xiàn)功率器件的保護等功能，測試中應(yīng)對功率管驅(qū)動進行 測試，為了防止由于探頭引起的影響，測試中用應(yīng)采用差分隔離探頭（或采用一般的探頭， 同時示波器的電源用隔離變壓器隔離），并注意以下問題：A、驅(qū)動電路分析；8驅(qū)動電壓；G驅(qū)動波形；以瞬態(tài)情況下驅(qū)動波形；F、驅(qū)動芯片的電壓，如起機過程中的芯片供電電壓等。測試方法：（1）驅(qū)動電路分析審核驅(qū)動電路方式，無論變壓器隔離驅(qū)動和集成IC驅(qū)動，驅(qū)動電阻應(yīng)滿足推薦要求，如果采用加速電容或快速關(guān)斷方式時應(yīng)評估其作用，負壓關(guān)斷時應(yīng)確認其影響，一般情況下GS應(yīng)有穩(wěn)壓管，分析驅(qū)動電路，

37、確認電路設(shè)計合理性。（2）驅(qū)動電壓目前，公司的大部分的開關(guān)管都是使用MOSFE或IGBT, MOSFE和IGBT的驅(qū)動都是使用電壓方式，高的驅(qū)動電壓會擊穿柵極，測試在空載、半載、滿載、限流狀態(tài)、空載滿載跳 變、空載到限流跳變、空載到深度限流跳變（所有的負載跳變條件為：跳變時間5m& tr和tf為1A對應(yīng)20us）,空載到短路及輸入電壓為最低、額定、最高，從最高電壓到最低 電壓跳變（跳變時間為 50ms）條件下的驅(qū)動波形，要保證驅(qū)動電壓低于規(guī)定電壓，一般峰 值應(yīng)小于20V,同時注意驅(qū)動電壓要滿足飽和驅(qū)動。（3）驅(qū)動波形測試在空載、輕載、半載、滿載、限流狀態(tài)、空載滿載跳變、空載到限流跳變、

38、空載到深度限流跳變（所有的負載跳變條件為：跳變時間5ms, tr和tf為1A對應(yīng)20us）,空載到短路及輸入電壓為最低、額定、最高，從最高電壓到最低電壓跳變（跳變時間為50mS條件下的驅(qū)動波形，波形的上升和下降沿應(yīng)平滑，且滿足效率和EMI要求（上升時間較快，管子的開通損壞小，但是電壓尖鋒較高，EMI會較大），開通中不應(yīng)有下跌，關(guān)斷后不會出現(xiàn)尖沖，死區(qū)時間滿足設(shè)計要求。對比PW旭片輸出波形和驅(qū)動波形，確認驅(qū)動波形和PW嘛出波形一致。（4）驅(qū)動回路功率器件（MOSFE和IGBT）驅(qū)動電源要求低的阻抗特性，驅(qū)動回路面積盡可能小，驅(qū) 動線盡量短，且驅(qū)動回路必須與功率回路分開。（5）瞬態(tài)狀態(tài)下的波形在瞬

39、態(tài)條件下，如開關(guān)機、輸出突加負載、突減負載，由限流態(tài)到穩(wěn)壓態(tài)的轉(zhuǎn)換，從穩(wěn) 壓到限流態(tài)的轉(zhuǎn)換，輸出短路，短路開機，輸出短路放開的情況下驅(qū)動正常。由保護到恢復 的過程中，驅(qū)動正常，波形的上升和下降沿應(yīng)平滑，開通中不應(yīng)由下跌，關(guān)斷后不會出現(xiàn)尖 沖，死區(qū)時間滿足設(shè)計要求，驅(qū)動波形不應(yīng)出現(xiàn)振蕩現(xiàn)象。判定標準：符合測試說明，合格；否則不合格。（6）主控制芯片供電電壓的測試用示波器測試主要的控制芯片的供電電壓， 捕捉模塊上電過程、關(guān)機的過程以及正常工 作情況下芯片供電電壓的波形， 芯片供電電壓必須滿足芯片資料的要求， 同時最好工作在芯 片資料推薦的工作電壓下，任何情況都不能出現(xiàn)超過芯片工作電壓范圍的電壓芯片

40、供電。3功率半導體器件的應(yīng)力測試測試說明：功率半導體器件主要包括：DCDC勺主功率管、輸出整流二極管、PFC的主功率管、PFC的整流二極管、PFC的夸接二極管等。這些功率半導體器件的正確使用是電源可靠性的重要 保證，為保證功率器件的合理使用，需要考慮合理的電流、電壓降額和結(jié)溫降額，故測試應(yīng)在以下幾個方面注意：A、滿足電壓降額要求；8滿足電流降額要求；G滿足溫度降額要求導讀功率半導體器件主要包括：DCDC勺主功率管、輸出整流二極管、PFC的主功率管、PFC的整流二極管、PFC的夸接二極管等。這些功率半導體器件的正確使用是電源可靠性的 重要保證，為保證功率器件的合理使用，需要考慮合理的電流、電壓降

41、額和結(jié)溫降額，故測試應(yīng)在以下幾個方面注意。測試方法：A、測試功率半導體器件在最惡劣條件下的Vds電壓波形，確定最高電壓和最大尖鋒電壓。由于Vds的電壓比較高，而且最大的電壓尖鋒的頻率能夠達到30-40MHZ,故一般的測試時，電壓尖鋒小于 300V的，可采用一般的示波器原配探頭（一般額定電壓為300,帶寬為100M或50M測試的波形不會失真），當電壓尖鋒大于300V時，測試以高壓無源探頭的測試結(jié)果為準（帶寬為 100M）,測試的波形一般也不會失真。對于有源高壓探頭，因為帶 寬較窄，一般為20MHz容易失真，不建議使用。對于電壓應(yīng)力的測試， 主要測試在動態(tài)情況下的電壓應(yīng)力（因為穩(wěn)態(tài)情況下的電壓應(yīng)力

42、較小），具體的測試條件如下：（1）輸入電壓為最高電壓，分別測試輸出空載、滿載、限流狀態(tài)、空載滿載跳變、空 載到限流（輸出電壓為 50V左右）、空載到深度限流（輸出電壓小于40V）,（所有的負載跳變條件為：跳變時間 5ms, tr和tf為1A對應(yīng)20us）,空載到短路情況下，器件的電壓 應(yīng)力。改變輸入電壓，在最低輸入電壓和額定輸入電壓下重新以上的測試。記錄測試的最大應(yīng)力，記錄超標的電壓波形。（2）輸入電壓在最大電壓和最下電壓之間跳變（跳變時間為20ms）分別測試輸出空載、滿載、限流狀態(tài)、空載滿載跳變、空載到限流（輸出電壓為50V左右）、空載到深度限流（輸 出電壓小于40V）,（所有的負載跳變條件

43、為：跳變時間5ms, tr和tf為1A對應(yīng)20us）,空載到短路情況下，器件的電壓應(yīng)力。（3）模擬系統(tǒng)上運行的情況測試下，在系統(tǒng)上，當模塊處于浮充狀態(tài)，監(jiān)控使模塊變 為均充，這時由于模塊電壓上升速度不一致，導致電壓上升較快的模塊瞬間承受過高的功率，同時模塊又沒法短路回縮（電壓高于短路回縮點），這是模塊的應(yīng)力比較大，肯可能會導致器件應(yīng)力超標。具體的模擬方法：如測試25A （或50A模塊）時，用100A的模塊和25A模塊（或50A模塊）并聯(lián)，然后帶 100A的負載，調(diào)節(jié)100A模塊的輸出電壓為 43A, 25A （或 50A）模塊的電壓為42V,這時25A （或50A）模塊沒法帶載輸出，突然調(diào)節(jié)

44、25A （或50A） 模塊的電壓為58V,這時25A （或50A）模塊電壓上升，從而瞬時帶100A的負載，測試這時的管子電壓應(yīng)力。對于100A模塊，可以采用機柜進行模擬以上的現(xiàn)象，主要是讓模塊子瞬間帶很大的負 載而又不讓模塊回縮， 測試這時的電壓應(yīng)力。 具體可以根據(jù)實際的使用電路分析和測試分別 模塊的最大電壓應(yīng)力。8電流應(yīng)力測試測試功率器件載最惡劣條件下的Ids電流波形，確定最高工作電流和最大尖鋒電流，具體的測試條件如下：（1） 輸入電壓最低電壓， 輸出電壓為最大，分別測試輸出滿載、 限流、空載滿載跳變、 空載到限流（輸出電壓為 50V左右）、空載到深度限流（輸出電壓小于40V）,（所有的負

45、載跳變條件為：跳變時間 5ms, tr和tf為1A對應(yīng)20us）,空載到短路情況下，器件的電流應(yīng)力。（2） 輸入電壓載最大電壓和最小電壓之間跳變（跳變時間為201ms）,分別測試輸出滿載、限流、空載滿載跳變、空載到限流（輸出電壓為50V左右）、空載到深度限流（輸出電壓小于40V ,（所有的負載跳變條件為：跳變時間5ms，tr和tf為1A對應(yīng)20us）,空載到短路情況下，器件的電流應(yīng)力。具體可根據(jù)實際使用電路分析和測試，分別求出使用的最大額定電流。G溫度應(yīng)力分別測試功率器件的最高溫升，溫升應(yīng)該滿足降額要求。測試最高溫度下器件的殼溫是 最直接的判據(jù)；作為替代方式可以測試常溫下的溫升 T,則器件的最

46、高溫升為：Tcasemax = Tenvmax + TTjmax = Tcasemax + P*RthTcasemax：最高殼溫；Tenvmax：最高環(huán)境溫度； Tjmax :最高結(jié)溫；P：器件的功耗； Rth：從結(jié)到殼的熱阻測試時，溫度測試必須在最高的環(huán)境溫度下測試。測試的條件為：輸入溫最低的輸入電壓，輸出為最大功率（最高的輸出電壓，額定的輸 出電流）用多點溫度測試儀測試各個功率器件的溫升，同時打印溫度曲線，直到溫度曲線為平滑曲線為止（即溫度已達到穩(wěn)定）。同時必須測試風扇損壞時，在最惡劣情況下的溫度應(yīng)力，也必須滿足降額要求。判斷標準：（1） 對于電壓應(yīng)力，在各種條件下，滿足測試的最大Vds小

47、于器件的額定工作電壓， 合格；如果測試的最大 Vds大于器件的額定工作電壓， 項目組能夠出具體器件認證器件合格 的器件超額使用報告，合格，否則不合格。（2）對于電流應(yīng)力，在各種條件下，滿足測試的最大電流小于器件的額定工作電流，合格；如果測試的最大電流大于器件的額定工作電流，項目組能夠出具體器件認證器件合格的器件超額使用報告，合格，否則不合格。（3）對于溫度應(yīng)力，必須有 15oC的降額，也就是說，在最高的環(huán)境溫度下測試，器件 的表面溫度必須小于（器件的額定結(jié)溫-15oC P*Rth）, 一般P*Rth取15oC,符合上述說明，合格；否則不合格。4磁性器件的測試測試說明：電路中磁性元件主要在輸入共

48、模電感、PFC電感、變壓器、濾波電感、輸出共模電感、驅(qū)動變壓器、諧振電感等處使用， 起著EMI濾波及能量傳遞等作用，評價磁性元件應(yīng)用是否恰當主要關(guān)注以下幾個方面：A、是否存在飽和現(xiàn)象8溫升是否滿足要求，磁性溫升是因為鐵損（渦流損耗、磁滯損耗）和銅損造成。常用的磁性材料有：鐵氧體、坡莫合金、非晶態(tài)合金等，根據(jù)其特性，分別應(yīng)用在不同 的場合。正確的設(shè)計才能保證磁性元件應(yīng)用的合理，由于隨溫度的變化磁心的特性有較大的變化，因此最惡劣的條件下的驗證是必要的。測試方法：（1）輸入和輸出共模電感一般不會存在飽和問題，其主要作用是實現(xiàn) EMI要求，同時有抑制輸入的共模串擾的作 用，其考慮主要是良好的絕緣，在要

49、求頻段內(nèi)的電感量，分步電容小，溫升滿足要求。前三 點由EMC試保證，溫升需要測試，測試常溫下最大電流（銅耗最大）條件下的溫升 T,以衡量設(shè)計的合理性。（2）PFC電感PFC電感在功率回路中起能量傳遞的作用，雖然一般PFC控制芯片具有限流作用，但是電感的飽和降引起嚴重溫升和輸入電流波形畸變，因此需測試最惡劣條件下的工作情況。A、測試最低電壓輸入，最大功率輸出時的PFC電感電流波形，電流波形不會出現(xiàn)非正常的上翹，即不會飽和（動態(tài)情況下，不作為磁性器件的要求，但其他器件的降額必須滿足 降額）。8降輸入電壓調(diào)整為在欠壓點 +5V（持續(xù)時間為200ms）、過壓點-5V（持續(xù)時間為200ms） 之間跳變，

50、輸出調(diào)整為最大線形負載時，測試PFC電感電流波形，電流波形不會出現(xiàn)非正常的上翹，即不會飽和。同時，需要在最低輸入電壓時分別測試輸出滿載、限流、空載滿載跳 變、空載到限流、空載到深度限流，電感電流的波形，判斷是否能夠滿足要求。G在最低輸入電壓，最大輸出功率情況下， 測試常溫下的溫升 T,應(yīng)滿足溫升要求。以在最低輸入電壓，最大輸出功率情況下，測試最高工作溫度下的溫升 T,與常溫比較無太大差異，且磁心溫度不會超標。（3）變壓器隨電路拓撲不同，變壓器的要求也不同，不考慮集成磁情況， 一般雙極性變壓器（如全橋、半橋、推挽等開關(guān)電源變壓器），單端正激類變壓器，單端反激類變壓器類型，且與具 體采用的復位技術(shù)

51、有關(guān)。變壓器的飽和溫升問題是值得注意的問題，可以從以下方面考慮：A、變壓器最大輸入電流（變壓器輸入電壓最低，輸出功率最大）情況下的電流波形不 應(yīng)出現(xiàn)異常的上翹。8將輸入電壓調(diào)整為在欠壓點 +5V（持續(xù)時間為50ms）、過壓點-5V （持續(xù)時間為50ms） 之間跳變，輸出調(diào)整為最大線形負載（持續(xù)時間為500ms）、空載（持續(xù)時間為 500ms）之間跳變，測試變壓器的電流波形，電流波形不會出現(xiàn)非正常的上翹，激即不會飽和。同時， 需要在最低輸入電壓時分別測試輸出滿載、限流、空載滿載跳變、空載到限流、空載到深度限流，電感電流的波形，判斷是否能夠滿足要求。G在最低輸入電壓，最大輸出功率情況下， 測試常溫

52、下的溫升 T,應(yīng)滿足溫升要求。以在最低輸入電壓，最大輸出功率情況下，測試最高工作溫度下的溫升 T,與常溫比較無太大差異，且磁心溫度不會超標。（4）輸出濾波電感輸出濾波電感工作在直流狀態(tài)下，電感量的大小影響主電路的工作穩(wěn)定性和特性。輸出濾波電感要求在最惡劣的情況下不出現(xiàn)飽和現(xiàn)象，溫升滿足要求。A、電感中流過最大電流（電流輸出處于限流狀態(tài)，輸出最大電流時）情況下的電流波 形不應(yīng)出現(xiàn)異常的上翹。8在最低輸入電壓，最大輸出功率情況下， 測試常溫下的溫升 T,應(yīng)滿足溫升要求。以在最低輸入電壓，最大輸出功率情況下，測試最高工作溫度下的溫升 T,與常溫比較無太大差異，且磁心溫度不會超標。判斷標準：（1）測試

53、中電感或變壓器中電流在最惡劣狀況下不會出現(xiàn)飽和；（2）常溫下的磁性元件溫升和最高工作溫度下的溫升現(xiàn)象；（3）換算到最高溫度及最惡劣輸出狀態(tài)下磁性元件及其線包上的表面溫度不超過安規(guī)的規(guī)定。對于絕緣等級 A （105度），任何情況下，表面溫度不能超過90度；對于絕緣等級B （130度），任何情況下，表面溫度不能超過110度；對于絕緣等級 F （155度），任何情 況下，表面溫度不能超過 135度；對于絕緣等級 H （180度），任何情況下，表面溫度不能 超過150度。（4）磁性元件內(nèi)部的溫升不能超過器件認證降額規(guī)范要求的降額。導讀每種DC/DC主電路拓撲都有其典型的反饋效正網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)，合適的校正網(wǎng)絡(luò)

54、不但可以 得到穩(wěn)定的靜態(tài)性能，而且可以獲得良好的動態(tài)特性，通過測試和調(diào)整可以獲得滿意的校正 網(wǎng)絡(luò)。5 DC/DC反饋環(huán)測試測試說明：每種DC/DC主電路拓撲都有其典型的反饋效正網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)，合適的校正網(wǎng)絡(luò)不但可以得 到穩(wěn)定的靜態(tài)性能，而且可以獲得良好的動態(tài)特性，通過測試和調(diào)整可以獲得滿意的校正網(wǎng)絡(luò)。在閉回路下測得的系統(tǒng)開環(huán)傳遞函數(shù)，可以反應(yīng)系統(tǒng)的穩(wěn)定性，以及在不穩(wěn)定的情況之下的調(diào)試趨勢。由于溫度對環(huán)路參數(shù)會導致一定的影響，故除了進行常溫下的環(huán)路測試以外，還必須進行高、低溫和濕度下進行環(huán)路測試。測試方法：一般的，測試接線圖如下圖所示：注：R參考基準信號；C輸出信號；H分壓網(wǎng)絡(luò)；S注入測試信號；Y儀器

55、測試端；Z儀 器參考端；G1和G2為部分主電路利用HP4149A和信號耦合變壓器在控制信號的總反饋端結(jié)成如上圖的結(jié)法，利用 HP4149的矢量相除可以直接得出：T/R= -Y/Z= -G1G2H,固定引進180度相移，因此在HP4149 的BODE圖上，可以得到增益為 0dB處的相位為相位裕度，在相位為0deg處的增益為增益裕度。參數(shù)設(shè)置為：電壓環(huán)測試信號：1050mV （視測試點噪音而定）2副邊限流環(huán)測試信號：510mV （視測試點噪音而定）2當輸出電壓高于 42V時，TEST端和REFREREC端要用分壓電路分壓到 42V之內(nèi)，同時 測試信號也要相應(yīng)增大，增大的倍數(shù)為：1/分壓比。2在掃描頻率范圍為：10Hz開關(guān)頻率在全輸入電壓，全負載范圍內(nèi)測試系統(tǒng)的穩(wěn)定性2測試判據(jù):輸入電壓，輸出電壓，負載、溫度、濕度等都將影響環(huán)路的穩(wěn)定性，在不同溫度（高溫、低溫和常溫），不同輸入電壓（最高、最低和額定），不同輸出負載（最小負載為5%額定負載、半載、滿載，對于空載的要求，不能有嘯叫聲），不同輸出電壓（額定、最高、最低）各種情況下組合，所有測試結(jié)果同時滿足相位裕度在30deg到15deg,增益裕度大于60dB,合格；否則不合格。6 PFC性能測試測試說明：APFC技術(shù)隨著對電流諧波的要求將日益應(yīng)用廣泛。公司目