統(tǒng)計過程控制SPC

1、統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制 (spc)一一波動二波動二控制圖概述三控制圖概述三計量控制圖四計量控制圖四計數(shù)控制圖五計數(shù)控制圖五采用常規(guī)控制圖應(yīng)考慮的問題采用常規(guī)控制圖應(yīng)考慮的問題上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right 1. 1 正常波動正常波動過程處于統(tǒng)計控制狀態(tài)過程處于統(tǒng)計控制狀態(tài)也稱為受控狀態(tài)也稱為受控狀態(tài)特點特點: 過程中存在許多波動源過程中存在許多波動源每個波動源對質(zhì)量特性每個波動源對質(zhì)量特性x的影響都是很微小的的影響都是很微小的通常通常x服從正態(tài)分布服從正態(tài)分布且其分布不隨時間的變化而改變且其分布不

2、隨時間的變化而改變一一波動波動上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right 1.2 異常波動異常波動 過程不處于統(tǒng)計控制狀態(tài)過程不處于統(tǒng)計控制狀態(tài)也稱為失控狀態(tài)也稱為失控狀態(tài) 特點特點過程中存在許多波動源過程中存在許多波動源但有一個或幾個對質(zhì)量特性的影響較大但有一個或幾個對質(zhì)量特性的影響較大而其它的影響均很小而其它的影響均很小由于這些強的波動源的出現(xiàn)由于這些強的波動源的出現(xiàn) 就使就使x的分

3、布會隨時間的變化而發(fā)生改變的分布會隨時間的變化而發(fā)生改變有時是改變了分布的位置有時是改變了分布的位置有時是改變了分布的標準差有時是改變了分布的標準差有時又會使分布的形狀發(fā)生變化有時又會使分布的形狀發(fā)生變化上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right1.3 減小波動的對策波動不可能消除減小波動的對策波動不可能消除但是可能減小但是可能減小 1.3.1 如果存在異常波動如果存在異常波動 這時要設(shè)

4、法找出它這時要設(shè)法找出它用技術(shù)的手段去排除用技術(shù)的手段去排除從而使過程恢復(fù)到正常的受控狀態(tài)從而使過程恢復(fù)到正常的受控狀態(tài)上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right 1.3.2 如果過程處于統(tǒng)計控制狀態(tài)如果過程處于統(tǒng)計控制狀態(tài) 通常一個產(chǎn)品的特性值總有一個目標值和一定的公差范圍通常一個產(chǎn)品的特性值總有一個目標值和一定的公差范圍過程不一定滿足要求過程不一定滿足要求 如果波動在公差范圍內(nèi)這是允

5、許的如果波動在公差范圍內(nèi)這是允許的這時不需要去減小波動這時不需要去減小波動 如果波動超過公差允許的范圍如果波動超過公差允許的范圍那么就要設(shè)法減小波動那么就要設(shè)法減小波動這時往往不是靠簡單的技術(shù)手段所能解決的這時往往不是靠簡單的技術(shù)手段所能解決的有時需要對整個生產(chǎn)系統(tǒng)作改造有時需要對整個生產(chǎn)系統(tǒng)作改造上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right二二控制圖概述控制圖概述控制圖是一個簡單的過程控

6、制系統(tǒng)控制圖是一個簡單的過程控制系統(tǒng) 2.1 作用作用 利用控制圖所提供的信息利用控制圖所提供的信息把一個過程維持在受控狀態(tài)把一個過程維持在受控狀態(tài) 一旦發(fā)現(xiàn)異常波動一旦發(fā)現(xiàn)異常波動就分析對質(zhì)量不利的原因就分析對質(zhì)量不利的原因采取措施加以消除采取措施加以消除使質(zhì)量不斷提高使質(zhì)量不斷提高并把一個過程從失控狀態(tài)變?yōu)槭芸貭顟B(tài)并把一個過程從失控狀態(tài)變?yōu)槭芸貭顟B(tài)以保持質(zhì)量穩(wěn)定以保持質(zhì)量穩(wěn)定上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right 2.2 常規(guī)控制圖的種類常規(guī)控制圖的種類 1計量值控制圖計量值控制圖 均值均值-標準差控制

7、圖標準差控制圖( -s 圖圖) 均值均值-極差控制圖極差控制圖( -r 圖圖) 中位數(shù)中位數(shù)-極差控制圖極差控制圖( -r 圖圖也有也有 用用me-r圖表示圖表示) 單值單值-移動極差控制圖移動極差控制圖(x-rs 圖圖)xxx上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right2計數(shù)值控制圖計數(shù)值控制圖 不合格品率控制圖不合格品率控制圖(p 圖圖) 不合格品數(shù)控制圖不合格品數(shù)控制圖(pn 圖圖) 單位缺陷數(shù)控制圖單位缺陷數(shù)控制圖(u 圖圖) 缺陷數(shù)控制圖缺陷數(shù)控制圖(c 圖圖)上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院jur

8、an institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right 2.3 控制圖的原理控制圖是根據(jù)正態(tài)分布的控制圖的原理控制圖是根據(jù)正態(tài)分布的3原理構(gòu)造的原理構(gòu)造的假如一個統(tǒng)計量假如一個統(tǒng)計量t(x1,x2,xn)服從正態(tài)分布或近似正態(tài)分布服從正態(tài)分布或近似正態(tài)分布即即),(nt2tt其中其中t 是是t的均值的均值 t 是是t的標準差的標準差根據(jù)根據(jù)3 原理原理有有0.9973)3t3(ptttt=+=+上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right控制上限控制上限記為記為ucl為為 t +3t

9、 控制下限控制下限記為記為lcl為為 t -3t 控制中心線控制中心線記為記為cl為為 t 上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right 2.4 構(gòu)構(gòu) 造將這三條水平線畫在一張坐標紙上造將這三條水平線畫在一張坐標紙上,其橫軸為時間或樣本序號其橫軸為時間或樣本序號縱軸為縱軸為 t 的觀察值這就形成了一張控制圖的觀察值這就形成了一張控制圖 當把當把 t 的觀察值按序點在圖上的觀察值按序點在圖上就可用于過程控制就可用于過程控制這些上這些上下控制界限就被用來判斷生產(chǎn)過程有無異常下控制界限就被用來判斷生產(chǎn)過程有無異常 uc

10、l與與lcl稱為行動限稱為行動限當點超出上當點超出上 下控制界限時表示過程失控下控制界限時表示過程失控需要采取措施需要采取措施上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right圖圖3.5 控制圖的示意圖控制圖的示意圖x上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right有時還把控制界限內(nèi)分成幾個區(qū)域有時還把控制界限內(nèi)分成幾個區(qū)域t +2 t 與與t +3 t之間稱為之間稱為a上區(qū)上區(qū)t +t 與與t +2 t之間稱為之間稱為b上區(qū)上區(qū)t -t 與

11、與t + t之間稱為之間稱為c區(qū)區(qū)t -2 t 與與t -t之間稱為之間稱為b下區(qū)下區(qū)t -3 t 與與t -2t之間稱為之間稱為a下區(qū)稱下區(qū)稱 t -2t 與與t +2t為警戒限為警戒限它表示過程失控即將發(fā)生它表示過程失控即將發(fā)生lclclucla上上a下下b上上b下下c上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right 2.5 建立控制圖前期的準備工作建立控制圖前期的準備工作 1選擇質(zhì)量特性選擇質(zhì)量特性 2分析生產(chǎn)過程分析生產(chǎn)過程確定控制點確定控制點 3合理子組合理子組(樣本樣本)的選擇的選擇一般以時間劃分一般以時

12、間劃分 要求要求組內(nèi)變異應(yīng)由隨機原因引起組內(nèi)變異應(yīng)由隨機原因引起 組間差異可能有異常原因為使組內(nèi)差異僅由隨機原因組間差異可能有異常原因為使組內(nèi)差異僅由隨機原因通常是每隔一定時間抽取連續(xù)生產(chǎn)的通常是每隔一定時間抽取連續(xù)生產(chǎn)的n個產(chǎn)品測定其特性值個產(chǎn)品測定其特性值 4適當選取時間間隔適當選取時間間隔 5適當選擇樣本大小適當選擇樣本大小 6預(yù)備數(shù)據(jù)一般應(yīng)有預(yù)備數(shù)據(jù)一般應(yīng)有20到到25組組上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right例例1 某種金屬零件的某種金屬零件的長度長度是一個重要的質(zhì)量特性是一個重要的質(zhì)量特性在生產(chǎn)

13、現(xiàn)場在生產(chǎn)現(xiàn)場每隔每隔1小時小時測量測量5個產(chǎn)品的長度個產(chǎn)品的長度下表給出的是與一個特定長度之差下表給出的是與一個特定長度之差試作均值試作均值-極差極差x-r控制圖控制圖上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy rightr 2.6 建立控制圖建立控制圖進行控制的一般步驟進行控制的一般步驟 1收集收集k組預(yù)備數(shù)據(jù)組預(yù)備數(shù)據(jù)(也稱為參考數(shù)據(jù)也稱為參考數(shù)據(jù))計算每一個樣本的均值與極差計算每一個樣本的均值與極差 2首先計算首先計算k個樣本極差的均值個樣本極差的均值,記為記為 這便是這便是r控制圖的中心線控制圖的中心線并計算并計

14、算r圖的控制限圖的控制限 3作作r圖圖將各樣本點與控制限進行比較將各樣本點與控制限進行比較檢查數(shù)據(jù)點有無失控或異常模式檢查數(shù)據(jù)點有無失控或異常模式 對發(fā)現(xiàn)的失控或異常進行分析對發(fā)現(xiàn)的失控或異常進行分析找出原因找出原因上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right 序號序號 x1 x2 x3 x4 x5 1 12 8 5 12 3 2 11 13 8 11 4 3 10 3 6 2 7 4 12 12 6 12 4 5 6 9 6 5 5 6 8 11 8 9 2 7 10 9 6 3 7 8 7 12 9 1 3

15、9 5 9 11 6 7 10 7 7 6 11 11 11 10 13 9 12 15 12 4 7 6 8 13 13 8 4 13 7 11 14 8 4 7 7 4 15 10 6 9 10 14 16 14 7 8 6 5 17 1 11 2 8 8 18 5 6 3 10 6 19 6 7 4 7 10 20 12 7 9 9 13 21 3 11 6 12 6 22 4 2 5 9 8 23 7 12 7 11 10 24 4 5 8 9 7 25 5 9 6 12 5上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有cop

16、y right0subgroup510152025345678910111213sample meanx=7.7043.0sl=11.93-3.0sl=3.482051015sample ranger=7.3203.0sl=15.48-3.0sl=0.000xbar/r chart for c1-c5上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right 4剔除異常的子組剔除異常的子組重新計算重新計算r圖圖clucl lcu再次確認所有點受控再次確認所有點受控必要時必要時可以反復(fù)可以反復(fù)“識別識別-糾正糾正-重新計算重新計

17、算”這一過程這一過程直到所有點受控直到所有點受控 5當異常的子組剔除后當異常的子組剔除后用留下的子組數(shù)據(jù)用留下的子組數(shù)據(jù)計算計算 和和 并計算它們的上下控制界限并計算它們的上下控制界限 6當當r圖是處于統(tǒng)計控制狀態(tài)時圖是處于統(tǒng)計控制狀態(tài)時認為過程的波動是穩(wěn)定的認為過程的波動是穩(wěn)定的在分析在分析 圖圖類似于對類似于對r圖的分析圖的分析對任意失控情況及異常模式分析原因?qū)θ我馐Э厍闆r及異常模式分析原因也可能要經(jīng)過反復(fù)的也可能要經(jīng)過反復(fù)的“識別識別-糾正糾正-重新計算重新計算”這一過程這一過程xrx上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所

18、有copy right 7當兩個圖都顯示處于統(tǒng)計控制狀態(tài)時當兩個圖都顯示處于統(tǒng)計控制狀態(tài)時,并且滿足過程能力的要求時并且滿足過程能力的要求時可以用于實際的過程控制可以用于實際的過程控制 一旦發(fā)現(xiàn)失控或出現(xiàn)異常模式的信號時一旦發(fā)現(xiàn)失控或出現(xiàn)異常模式的信號時應(yīng)該及時分析原因應(yīng)該及時分析原因并采取行動并采取行動 8當過程發(fā)生變化當過程發(fā)生變化人人材料材料設(shè)備設(shè)備方法方法環(huán)境等因素環(huán)境等因素或控制圖使用了一段時間后或控制圖使用了一段時間后應(yīng)根據(jù)實際的質(zhì)量水平應(yīng)根據(jù)實際的質(zhì)量水平對控制圖的中心線和上對控制圖的中心線和上下控制線進行修正下控制線進行修正使控制水平能夠不斷提高使控制水平能夠不斷提高上海朱蘭質(zhì)

19、量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right 2.7 異常原因的識別常見的異常情況與模式有如下八種異常原因的識別常見的異常情況與模式有如下八種 1一點超出控制界限一點超出控制界限 2九點在中心線的同側(cè)九點在中心線的同側(cè) 3六點呈上升或下降趨勢六點呈上升或下降趨勢 414點交替上升下降點交替上升下降 5三點中有兩點處于三點中有兩點處于a上或上或a下區(qū)下區(qū) 6五點中有四點在五點中有四點在c區(qū)之外區(qū)之外 715點在中心線附近的點在中心線附近的c區(qū)內(nèi)區(qū)內(nèi) 8連續(xù)連續(xù)8點在中心線兩側(cè)而無一點在點在中心線兩側(cè)而無一點在c區(qū)區(qū)上海朱蘭質(zhì)

20、量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right12468357上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right 2.8 過程能力當均值與標準差兩張控制圖都處于統(tǒng)計控制狀態(tài)時過程能力當均值與標準差兩張控制圖都處于統(tǒng)計控制狀態(tài)時還需要分析該過程是否滿足規(guī)范的要求還需要分析該過程是否滿足規(guī)范的要求 過程滿足規(guī)格要求的能力可以用過程能力指數(shù)表示過程滿足規(guī)格要求的能力可以用過程能力指數(shù)表示上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute o

21、f shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right過程能力指數(shù)有多種過程能力指數(shù)有多種 有短期與長期之分有短期與長期之分 有考慮過程中心與規(guī)范中心是否一致之分有考慮過程中心與規(guī)范中心是否一致之分 規(guī)范有單側(cè)與雙側(cè)之分規(guī)范有單側(cè)與雙側(cè)之分主要有如下幾種主要有如下幾種 短期的短期的cp,cpk,cpu,cpl 長期的長期的pp,ppk,ppu,ppl上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right 2.8.1 短期的過程能力指數(shù)短期的過程能力指數(shù) (1) 潛在的過程能力指數(shù)潛在的過程能力指數(shù)cp 這是對雙邊規(guī)范來講

22、的這是對雙邊規(guī)范來講的設(shè)規(guī)范要求特性值的下限與上限分別為設(shè)規(guī)范要求特性值的下限與上限分別為lsl與與usl那么那么stp6lsluslc=其中其中 是短期的標準差的估計是短期的標準差的估計可以用可以用)c/ssx(d/r42st圖中為或在圖中為或在=st 上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right (2) 單側(cè)規(guī)范的過程能力指數(shù)單側(cè)規(guī)范的過程能力指數(shù)上過程能力指數(shù)上過程能力指數(shù)cpu 僅規(guī)定上規(guī)范僅規(guī)定上規(guī)范usl時時用用stpu3xuslc=下過程能力指數(shù)下過程能力指數(shù)cpl 僅規(guī)定下規(guī)范僅規(guī)定下規(guī)范lsl時

23、時用用stpl3lslxc=上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right考慮到過程偏移的影響考慮到過程偏移的影響,過程能力指數(shù)過程能力指數(shù) uslm tlslx上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right (3) 實際的過程能力指數(shù)實際的過程能力指數(shù)cpk 對雙側(cè)規(guī)范來講對雙側(cè)規(guī)范來講cpk是當過程中心與規(guī)范中心不重合時實際的過程能力指數(shù)是當過程中心與規(guī)范中心不重合時實際的過程能力指數(shù)stpplpupk62tc)k1 (c,cmin

24、c= 當當=0時時cpk = cp一般情況下一般情況下cpkcp所以將所以將cp看成是潛在的過程能力指數(shù)看成是潛在的過程能力指數(shù)上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right 2.8.2 長期的過程能力指數(shù)長期的過程能力指數(shù) (1) 潛在的過程性能指數(shù)潛在的過程性能指數(shù)pp ltp6lsluslp=其中其中 是長期的標準差的估計是長期的標準差的估計可以用可以用lt =k1in1j2ijlt)xx(nk1 (2) 實際的過程性能指數(shù)實際的過程性能指數(shù)ppk ltppk62tp)k1(p=估計估計上海朱蘭質(zhì)量研究院上海

25、朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right即便是最佳的過程隨著時間的推移也會存在波動即便是最佳的過程隨著時間的推移也會存在波動通常通常長期過程波動是短期過程能力長期過程波動是短期過程能力1.5 的修正值的修正值一能力為一能力為6 的短期過程的短期過程其長期能力為其長期能力為4.5 predictiontime長期過程能力與短期過程能力長期過程能力與短期過程能力上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right3.1 均值均值-標準差控制圖標準差控制圖 -s圖

26、圖x 均值控制圖主要用于判斷生產(chǎn)過程的均值是否處于或保持在所要求的統(tǒng)計控制狀態(tài)均值控制圖主要用于判斷生產(chǎn)過程的均值是否處于或保持在所要求的統(tǒng)計控制狀態(tài) 標準差控制圖主要用于判斷生產(chǎn)過程的標準差是否處于或保持在所要求的統(tǒng)計控制狀態(tài)標準差控制圖主要用于判斷生產(chǎn)過程的標準差是否處于或保持在所要求的統(tǒng)計控制狀態(tài) 兩張圖一起用兩張圖一起用稱為均值稱為均值-標準差控制圖標準差控制圖三三計量控制圖計量控制圖上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right例例2 某車間生產(chǎn)一種電阻某車間生產(chǎn)一種電阻每隔一小時隨機抽取四個電阻測定其電

27、阻值每隔一小時隨機抽取四個電阻測定其電阻值這樣便得到一個樣本這樣便得到一個樣本共取了共取了25個樣本個樣本試作均值試作均值-標準差標準差x-s控制圖控制圖上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right 序號序號 x1 x2 x3 x4 1 81.86 81.61 82.98 81.33 2 82.09 81.06 80.48 80.07 3 81.21 82.77 79.95 80.72 4 81.23 80.61 81.68 82.13 5 83.20 82.50 82.37 80.54 6 82.68 82.4

28、8 82.96 82.12 7 80.17 81.83 81.12 81.41 8 80.40 81.60 85.00 83.80 9 80.69 80.49 82.16 84.29 10 81.72 81.12 80.77 80.60 11 80.98 81.33 81.60 80.70 12 80.42 82.20 80.13 80.24 13 81.11 81.13 82.22 81.17 14 82.40 81.41 82.93 83.13 15 81.55 80.91 81.31 82.43 16 81.32 80.12 81.23 80.38 17 81.39 80.85 80.6

29、0 80.93 18 81.37 83.12 80.39 81.81 19 82.62 82.06 81.49 80.92 20 79.76 81.17 81.24 79.54 21 81.06 82.06 82.76 82.46 22 82.55 83.53 82.94 81.89 23 83.33 80.33 80.36 80.67 24 81.17 81.33 82.57 80.87 25 81.60 79.88 81.69 81.79上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right0subgroup51015

30、202580818283sample mean5x=81.543.0sl=82.94-3.0sl=80.14012sample stdev1s=0.86093.0sl=1.951-3.0sl=0.000xbar/s chart for c1-c4上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right由于由于#8數(shù)據(jù)點超出上界數(shù)據(jù)點超出上界分析原因后分析原因后將其刪除重新計算控制線將其刪除重新計算控制線上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy righ

31、t252015105subgroup083828180sample meanmean=81.49ucl=82.81lcl=80.18210sample stdevs=0.8100ucl=1.836lcl=0xbar/s chart for x1-x4上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right3.2 均值均值-極差控制圖極差控制圖 -r圖圖 均值控制圖主要用于判斷生產(chǎn)過程的均值是否處于或保持在所要求的統(tǒng)計控制狀態(tài)均值控制圖主要用于判斷生產(chǎn)過程的均值是否處于或保持在所要求的統(tǒng)計控制狀態(tài) 極差控制圖主要用于判斷生產(chǎn)過

32、程的標準差是否處于或保持在所要求的統(tǒng)計控制狀態(tài)極差控制圖主要用于判斷生產(chǎn)過程的標準差是否處于或保持在所要求的統(tǒng)計控制狀態(tài) 兩張圖一起用兩張圖一起用稱為均值稱為均值-極差控制圖極差控制圖x上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right3.3 單值單值-移動極差控制圖移動極差控制圖x-rs圖圖在一些場合取一個子組不可能或不實際在一些場合取一個子組不可能或不實際 測單個值需要很長時間測單個值需要很長時間 用破壞性試驗方法獲得測量值用破壞性試驗方法獲得測量值 任一時刻質(zhì)量相對是均勻的任一時刻質(zhì)量相對是均勻的 有時一次僅能獲

33、得一個觀察值有時一次僅能獲得一個觀察值如原材料的性能如原材料的性能儀表讀數(shù)等儀表讀數(shù)等 在使用單值圖時在使用單值圖時要求數(shù)據(jù)服從正態(tài)分布要求數(shù)據(jù)服從正態(tài)分布上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right3.4 中位數(shù)中位數(shù)-極差控制圖極差控制圖 me -r圖圖 中位數(shù)控制圖主要用于判斷生產(chǎn)過程的均值是否處于或保持在所要求的統(tǒng)計控制狀態(tài)中位數(shù)控制圖主要用于判斷生產(chǎn)過程的均值是否處于或保持在所要求的統(tǒng)計控制狀態(tài) 極差控制圖主要用于判斷生產(chǎn)過程的標準差是否處于或保持在所要求的統(tǒng)計控制狀態(tài)極差控制圖主要用于判斷生產(chǎn)過程的標

34、準差是否處于或保持在所要求的統(tǒng)計控制狀態(tài) 兩張圖一起用兩張圖一起用稱為中位數(shù)稱為中位數(shù)-極差控制圖極差控制圖上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right四四計數(shù)控制圖計數(shù)控制圖 4.1 計件控制圖計件控制圖 只考慮是否具有某種特性譬如只考慮是否具有某種特性譬如產(chǎn)品是否合格產(chǎn)品是否合格記錄不合格的產(chǎn)品數(shù)記錄不合格的產(chǎn)品數(shù)常用的控制圖是常用的控制圖是 不合格品率控制圖不合格品率控制圖p圖圖 不合格品數(shù)控制圖不合格品數(shù)控制圖np圖圖它基于二項分布它基于二項分布僅有一個參數(shù)僅有一個參數(shù)上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院

35、juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right 4.2 計點控制圖計點控制圖 記錄所考察的個體或一定量記錄所考察的個體或一定量一定面積上某種特性出現(xiàn)的次數(shù)譬如一定面積上某種特性出現(xiàn)的次數(shù)譬如 一個鑄件上的氣孔數(shù)一個鑄件上的氣孔數(shù) 一匹布上的疵點數(shù)常用的控制圖是一匹布上的疵點數(shù)常用的控制圖是 缺陷數(shù)控制圖缺陷數(shù)控制圖c圖圖 單位缺陷數(shù)控制圖單位缺陷數(shù)控制圖u圖圖它基于泊松分布它基于泊松分布僅有一個參數(shù)僅有一個參數(shù)上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right采用計數(shù)控制圖的

36、優(yōu)點采用計數(shù)控制圖的優(yōu)點 數(shù)據(jù)的獲得比較容易數(shù)據(jù)的獲得比較容易一般不需要專門的收集技術(shù)一般不需要專門的收集技術(shù)上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right計件控制圖控制界限如下計件控制圖控制界限如下 p圖圖clucllclin/)p1(p3p+in/)p1(p3pp上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right 當樣本大小當樣本大小n不等時不等時ucl與與lcl將隨之而變化將隨之而變化 當樣本大小相差不大時當樣本大小相差不大時 即即n

37、i在在 與與 之間時用代替之間時用代替ni當當lcl0時時取取lcl=0n25.0n n25.0n +n上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right當樣本容量相等時當樣本容量相等時可以用可以用np圖控制界限如下圖控制界限如下 np圖圖clucllcl當當lcl0時時取取lcl=0)p1(pn3pn+pn)p1(pn3pn上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right例例3 某電鍍件某電鍍件25批產(chǎn)品中的外觀質(zhì)量不合格的件數(shù)如下批產(chǎn)品中

38、的外觀質(zhì)量不合格的件數(shù)如下試作試作p圖圖上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right 序號序號 樣本容量樣本容量 不合格品數(shù)不合格品數(shù) 1 724 48 2 763 83 3 748 70 4 748 85 5 724 45 6 727 56 7 726 48 8 719 67 9 759 37 10 745 52 11 736 47 12 739 50 13 723 47 14 748 57 15 770 51 16 756 71 17 719 53 18 757 33 19 760 29 20 737 49

39、21 750 61 22 752 39 23 726 50 24 730 58 25 747 61上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right05101520250.030.040.050.060.070.080.090.100.110.12sample numberproportionp chart for c2p=0.072683.0sl=0.1012-3.0sl=0.04418 這里有四點出界這里有四點出界但是兩點低于下限但是兩點低于下限對質(zhì)量有好處對質(zhì)量有好處所以將它們保留所以將它們保留去掉去掉#2#4所

40、得到的圖如下所得到的圖如下上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right201000.100.090.080.070.060.050.040.03sample numberproportionp chart for dp=0.06926ucl=0.09713lcl=0.04139上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right25201510500.120.110.100.090.080.070.060.050.040.03sample

41、numberproportionp chart for d114441p=0.07261ucl=0.1012lcl=0.04403 由于這里樣本容量相差不大由于這里樣本容量相差不大假定用平均容量假定用平均容量742代替代替所得圖形如下所得圖形如下上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right計點控制圖控制界限如下計點控制圖控制界限如下 u圖圖clucllcln/u3u+un/u3u上海朱蘭質(zhì)量研究院上海朱蘭質(zhì)量研究院juran institute of shanghai版權(quán)所有版權(quán)所有copy right 當樣本大小當樣本大小n不等時不等時